JPH01143974A

JPH01143974A - インサーキットテスト装置

Info

Publication number: JPH01143974A
Application number: JP30260987A
Authority: JP
Inventors: Katsumi Nagano; 克己長野
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1987-11-30
Filing date: 1987-11-30
Publication date: 1989-06-06

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）この発明は、例えば回路基板に部品を実装した状態で回
路部品の特性を測定するインサーキットテスト装置に係
わり、特に、小容量を高精度で測定することが可能なイ
ンサーキットテスト装置に関する。

（従来の技術）周知のように、印刷配線基板に対する電子部品の実装状
態を検査することが可能なインサーキットテスト装置が
開発されている。

この種のインサーキットテスト装置は、抵抗、コイル、
コンデンサ等の受動部品の特性値を測定し、部品が印刷
配線基板に対して確実に半田付は実装されているか否か
を検査するようになっている。

ところで、従来のインサーキットテスト装置では、装置
本体内部にある測定系から、被測定素子まで、リレーを
経由して長配線がある。このため、これら配線間の浮遊
容量が誤差要因となり、小容量の測定精度が低下する問
題を有していた。

（発明が解決しようとする問題点）この発明は、インサーキットテスト装置にょる小容量の
測定に関する問題を解決するものであり、その目的とす
るところは、小容量を高精度に測定することが可能なイ
ンサーキットテスト装置を提供しようとするものである
。

［発明の構成］（問題点を解決するための手段）この発明は、容量が接続されることのない第１、第２の
端子と、これら第１、第２の端子に接触される第１、第
２の接触手段と、被測定容量が接続された第３、第４の
端子と、これら第３、第４の端子に接触される第３、第
４の接触手段と、前記第１、第２の接触手段の出力信号
より浮遊容量を測定し、前記第３、第４の接触手段の出
力信号を前記ｎ１定した浮遊容量によって補正し前記波
１ｔ）Ｊ定容量の容量値を測定する測定手段とから構成
されている。

（作用）この発明は、容量が接続されることのない第１、第２の
端子に第１、第２の接触手段を接触し、測定手段によっ
て第１、第２の接触手段の出力信号より浮遊容量を測定
し、被測定容量が接続される第３、第４の端子に第３、
第４の接触手段を接触し、ｎ１定手段により第３、ｍ４
の接触手段の出力信号を前記浮遊容量によって補正する
ことにより、被ｎ１定容量を高精度に測定可能としてい
る。

（実施例）以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。

第１図はこの発明に係わるインサーキットテスト装置を
示すものである。

印刷配線基板ＰＣＢには、コンデンサが接続されること
のないパターンランドＰＬ１、Ｐｂ０が設けられるとと
もに、例えばチップコンデンサからなるコンデンサＣの
両端部が半田付けされるパターンランドＰＬ３、Ｐｂ０
が設けられている。

第２図は、パターンランドＰＬ１〜ＰＬ４の構成を示す
ものであり、これらパターンランドＰＬ１〜ＰＬ４には
、それぞれ連続してテストランドＴＬｌ−ＴＬ４が設け
られている。これらパターンランドＰＬ１〜ＰＬ４、テ
ストランドＴＬ、−ＴＬ４は、浮遊容量の相関をとるた
め全て同一形状とされ、パターンランドＰＬ、とＰｂ０
の間隔、およびパターンランドＰＬ３とＰｂ０の間隔は
同一とされている。

また、接触手段としてのプローブピンＣＰ１、ＣＰ　２
　、ＣＰ　３　、ＣＰ　４は、基体ＰＬＴに装着されて
いる。これらプローブピンＣＰ１〜ｃＰ４のうち、プロ
ーブピンＣＰ１、Ｃ２０は前記テストランドＴＬ１、Ｔ
Ｌ２に接触され、プローブピンＣＰ３　、ＣＰ　４は前
記テストランドＴＬ３、ＴＬ、に接触される。これらプ
ローブピンＣＰ１〜ＣＰ４と印刷配線基板ＰＣＢとの接
触方法としては、印刷配線基板ＰＣＢを加圧するプレス
方式、あるいは吸引するバキューム方式が適用される。

また、プローブピンＣＰ１〜ＣＰ４のうち、プローブピ
ンＣＰ１、ＣＦ２のリード線１１．１３は、それぞれリ
レースイッチＲＬ１１ＲＬ３を介してパスラインＢＳ１
に接続され、プローブピンＣＰ　２　、ＣＰ　４のリー
ド線１□、１４は、それぞれリレースイッチＲＬ２、Ｒ
Ｌ４を介してパスラインＢＳ２に接続されている。

また、パスラインＢＳ１はリレースイッチＲＬ６、リー
ド線１５を介して交流電源Ｖｓに接続され、パスライン
ＢＳ２はリレースイッチＲＬ６、リード線１６を介して
測定用演算増幅器ＭＯＡの反転入力端に接続されている
。この測定用演算増幅器ＭＯＡの非反転入力端は接地さ
れ、出力端は変換用抵抗Ｒｒｅｆを介して前記反転入力
端に接続されるとともに、電圧測定器Ｖを介して接地さ
れている。この電圧測定器■は、例えば電圧をディジタ
ル的に測定するものであり、周知のＡ／Ｄ変換回路等に
よって構成されている。この電圧測定器Ｖの出力信号は
、制御部ＣＴに供給される。この制御部ＣＴはインサー
キットテスト装置全体の動作を制御するものであり、こ
の制御部ＣＴによって前記リレースイッチＲＬ、〜ＲＬ
６が切換え制御され、浮遊容量およびコンデンサＣの測
定が行われる。

上記構成において動作について説明する。

先ず、浮遊容量の測定を行う場合、制御部ＣＴによって
リレースイッチＲＬ１、Ｒｂ２、Ｒｂ２、Ｒｂ２がオン
状態とされる。

第３図（ａ）は浮遊容量測定時における第１図の等価回
路である。ここで、Ｃｐは測定系からテストランドＴＬ
１、ＴＬ２までの配線間浮遊容量である。この場合にお
ける測定用演算増幅器ＭＯＡの出力電圧ＶＯＩは次式に
よって表わされる。

Ｖｏ　１ｍ−ｊωｃｐ＊Ｒｒｅｆ　＊Ｖｓ・・・（１）ここで、交流電源Ｖｓは電圧と周波数が既知であり、変
換用抵抗Ｒｒｅｆも既知である。また、出力電圧Ｖ。１
は電圧測定器Ｖの測定値であるから、（１）式より浮遊
芯ｆｌｃｐを求めることが可能である。

次に、コンデンサＣの容量を測定する場合、制御部ＣＴ
によってリレースイッチＲＬ３、Ｒｂ４、Ｒｂ２、Ｒｂ
２がオン状態とされる。

第３図（ｂ）は、コンデンサＣを測定する場合における
、第１図の等価回路を示すものである。

この場合、測定用演算増幅器ＭＯＡの出力電圧ＶＯ２は
次式によって表わされる。

ＶＯ２■−ｊω（Ｃｐ＋Ｃ） −Ｒｒｅｆ−Ｖｓ　　−（２）電圧測定器Ｖの測定１ｉｉＶｏ２には、浮遊容量Ｃｐが
含まれているため、測定誤差を有しているが、（２）式
から（Ｃｐ＋Ｃ）の値を計算することができる。

浮遊容量Ｃｐの補正は、（１）式によって求めた容量値
を０１、（２）式によって求めた容量値を０２とすると
、容量値Ｃ２から容量値Ｃ１を減算（Ｃ２−Ｃ１）すれ
ばよい。このように、容量１ｉｆｆ　Ｃ２をＣ，によっ
て補正することにより、コンデンサＣの真の容量を求め
ることができる。

第４図は、上述した制御部ＣＴの動作を示すものである
。ここで、ステップＳＴＩ〜３と、ステップＳＴ４〜６
を入替え、先ず、コンデンサＣの測定を行い、この後、
浮遊芯ｆｆ１ｃｐの測定を行うようにしてもよい。

また、ステップＳＴ１．２、およびステップＳＴ４．５
の測定を先に行い、この後、ステップＳＴ３．６．７の
データ処理を一括して行うようにすることも可能である
。

上記測定動作によって、実際のインサーキットテスト装
置（株式会社横河ヒユーレットパーカー社製３０６５Ｃ
ＸＩＨＬ型）の浮遊容量を測定した結果、約５９Ｆであ
った。コンデンサの許容誤差が数％である場合、容量値
が１００９Ｆ以下では浮遊容量の方が許容誤差よりも大
きくなり、無補正では測定誤差が大きくなってしまう。

しかし、この実施例のように浮遊容量を補正すれば、小
容量を正確に測定することが可能となる。

第５図は、この発明の他の実施例を示すものであり、リ
ード線付きのコンデンサが印刷配線基板ＰＣＢに実装さ
れている場合を示すものである。

同図において、スルーホールＴＨ，、ＴＨ２は浮遊容量
測定用であり、部品が実装されていない。

また、スルーホールＴＨ３、ＴＨ４には被測定コンデン
サＣ１のリードｌ。Ｉ、１０２が半田付けされている。

これらスルーホールＴＨ１〜ＴＨ４には、プローブビン
ＣＰｌ〜ＣＰ４がそれぞれ接触されるテストランドＴＬ
５〜ＴＬ８が設けられている。

このような構成とすれば、リード線を有するコンデンサ
の容量を測定することができる。

尚、この発明は上記実施例に限定されるものではなく、
この発明の要旨を変えない範囲において、種々変形実施
可能なことは勿論である。

［発明の効果］以上、詳述したようにこの発明によれば、容量が接続さ
れることのない第１　ｍ２の端子に第１、第２の接触手
段を接触し、測定手段によって第１、第２の接触手段の
出力信号より浮遊容量を測定し、被測定容量が接続され
る第３、第４の端子に第３、第４の接触手段を接触し、
測定手段により第３、第４の接触手段の出力信号を前記
浮遊容量によって補正することにより、小容量の被測定
容量を高精度に測定することが可能なインサーキットテ
スト装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明に係わるインサーキットテスト装置の
一実施例を示す構成図、第２図はランドの構成を説明す
るために示す図、第３図は測定動作を説明するために示
す等価回路図、第４図はａ？１定動作を説明するために
示す図、第５図はこの発明の他の実施例を示す要部の構
成図である。ＰＣＢ・・・印刷配線基板、ＴＬｌ−ＴＬ４・・・テス
トランド、Ｃ・・・コンデンサ、Ｃｐ・・・浮遊容量、
ｃｐ、〜ＣＰ４・・・プローブビン、ＭＯＡ・・・１ｌ
ｐ１定用演算増幅器、ＣＴ・・・制御部。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦第１図第２図（ａ）第３図第４図

Claims

【特許請求の範囲】容量が接続されることのない第１、第２の端子と、これら第１、第２の端子に接触される第１、第２の接触
手段と、被測定容量が接続された第３、第４の端子と、これら第
３、第４の端子に接触される第３、第４の接触手段と、前記第１、第２の接触手段の出力信号より浮遊容量を測
定し、前記第３、第４の接触手段の出力信号を前記測定
した浮遊容量によって補正し前記被測定容量の容量値を
測定する測定手段とを具備したことを特徴とするインサ
ーキットテスト装置。