JPH01147961A - 画像処理装置 - Google Patents
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- JPH01147961A JPH01147961A JP62307285A JP30728587A JPH01147961A JP H01147961 A JPH01147961 A JP H01147961A JP 62307285 A JP62307285 A JP 62307285A JP 30728587 A JP30728587 A JP 30728587A JP H01147961 A JPH01147961 A JP H01147961A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K20/00—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
- B23K20/12—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating the heat being generated by friction; Friction welding
- B23K20/122—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating the heat being generated by friction; Friction welding using a non-consumable tool, e.g. friction stir welding
- B23K20/1275—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating the heat being generated by friction; Friction welding using a non-consumable tool, e.g. friction stir welding involving metallurgical change
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K20/00—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating
- B23K20/12—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating the heat being generated by friction; Friction welding
- B23K20/122—Non-electric welding by applying impact or other pressure, with or without the application of heat, e.g. cladding or plating the heat being generated by friction; Friction welding using a non-consumable tool, e.g. friction stir welding
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F28—HEAT EXCHANGE IN GENERAL
- F28D—HEAT-EXCHANGE APPARATUS, NOT PROVIDED FOR IN ANOTHER SUBCLASS, IN WHICH THE HEAT-EXCHANGE MEDIA DO NOT COME INTO DIRECT CONTACT
- F28D15/00—Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies
- F28D15/02—Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies in which the medium condenses and evaporates, e.g. heat pipes
- F28D15/0233—Heat-exchange apparatus with the intermediate heat-transfer medium in closed tubes passing into or through the conduit walls ; Heat-exchange apparatus employing intermediate heat-transfer medium or bodies in which the medium condenses and evaporates, e.g. heat pipes the conduits having a particular shape, e.g. non-circular cross-section, annular
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は画像データを量子化する画像処理方法に関する
ものである。
ものである。
従来より画像のデータの量子化、特に２値化力式として
は濃度パターン法、ベイヤー法、誤差拡散法、又誤差拡
散法と実質的に同一である平均誤差最小法等が知られて
いる。
は濃度パターン法、ベイヤー法、誤差拡散法、又誤差拡
散法と実質的に同一である平均誤差最小法等が知られて
いる。
〔発明が解決しようとしている問題点〕濃度パターン法
、ベイヤー法は注目原画像のデータ値と閾値マトリクス
内の注目閾値とを比較し、２値化データを生成するもの
である。
、ベイヤー法は注目原画像のデータ値と閾値マトリクス
内の注目閾値とを比較し、２値化データを生成するもの
である。
しかしながら、これら手法では全体的な画像の濃度が原
画と２値化後の再生画像では異なるといった欠点がある
。一方誤差拡散法、平均値最小法は、各画素の２値化処
理の際、発生する原画のデータと、出力後のデータの誤
差を周辺画素に伝搬するため濃度が保存される利点があ
る。
画と２値化後の再生画像では異なるといった欠点がある
。一方誤差拡散法、平均値最小法は、各画素の２値化処
理の際、発生する原画のデータと、出力後のデータの誤
差を周辺画素に伝搬するため濃度が保存される利点があ
る。
しかし、この誤差拡散法の処理では以下に述べる欠点が
生じる。
生じる。
（１）原画のハイライト部分で誤差拡散法を行なうと、
濃度データが全体的に低いため、誤差が加算されても、
閾値を越えるのに時間がかかるためドツトの出現に遅延
を生じる欠点がある。例えば濃度パターンパッチの様な
画像を出力すると周辺部に遅れが生じ、第６図の様に斜
線部分にプリント遅れが生じ、画質を劣化させてしまう
。
濃度データが全体的に低いため、誤差が加算されても、
閾値を越えるのに時間がかかるためドツトの出現に遅延
を生じる欠点がある。例えば濃度パターンパッチの様な
画像を出力すると周辺部に遅れが生じ、第６図の様に斜
線部分にプリント遅れが生じ、画質を劣化させてしまう
。
（２）誤差拡散法は原画の微少なノイズ成分も誤差とし
て累積するため印刷されるドツト位置は比較的ランダム
に印刷される。しかし人間はハイライト部で印刷される
ドツトは規則正しく周期性をもって印刷された方が粒状
性かめたたな（感じる。その点誤差拡散法で印刷された
方式ではハイライト部で粒状性ノイズが目立つ欠点があ
る。
て累積するため印刷されるドツト位置は比較的ランダム
に印刷される。しかし人間はハイライト部で印刷される
ドツトは規則正しく周期性をもって印刷された方が粒状
性かめたたな（感じる。その点誤差拡散法で印刷された
方式ではハイライト部で粒状性ノイズが目立つ欠点があ
る。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明によれ
ば、原画の濃度を保存しつつ、量子化を行う画像処理方
法において、量子化の際の閾値として、周期的に変動す
る閾値マトリクスを用いるとともに、前記閾値マトリク
スを原画の情報に応じて変化させることにより、高分解
能及び高階調の両者を維持し、ハイライト部での粒状性
ノイズ及びドツト出現の遅れを防止するものである。
ば、原画の濃度を保存しつつ、量子化を行う画像処理方
法において、量子化の際の閾値として、周期的に変動す
る閾値マトリクスを用いるとともに、前記閾値マトリク
スを原画の情報に応じて変化させることにより、高分解
能及び高階調の両者を維持し、ハイライト部での粒状性
ノイズ及びドツト出現の遅れを防止するものである。
〔実施例〕
以下、図面を参照し本発明の一実施例を詳細に説明する
。
。
第１図は、原画の濃度を保存しつつ２値化処理を行なう
誤差拡散法を説明するためのブロック図である。第１図
ではまず、２値化の際の閾値が固定である一般的な方法
を説明する。第１図に於て、２０１は原画データを読み
とるスキャナー等より構成される入力部である。スキャ
ナー２０１からの出力ｆ０゜は座標（ｍ、ｎ）点の画素
の濃度データを示している。２０２は加算器で、誤差拡
散テーブル２０８にて重み付けされ累積加算されたデー
タがラインバッファメモリ２０９に格納されており、ラ
インバッファ２０９からの累積誤差分ｘ、とｆ４゜が加
算される。この累積誤差をＸ９とすると濃度データｆ□
０に累積誤差Ｘ。が加算されたｇ、ｎ、＝ｘｎ＋ｆ、、
、、が２値化回路２０３に入力される。２０３は固定閾
値格納部２０５からの閾値データ■、とｇ、、、。値と
の比較を行ない、ｇ ｆｆ１Ｔｌ≧ｖｌｈのときは１を
又ｇ、〈Ｖｌｈのときは０をり。
誤差拡散法を説明するためのブロック図である。第１図
ではまず、２値化の際の閾値が固定である一般的な方法
を説明する。第１図に於て、２０１は原画データを読み
とるスキャナー等より構成される入力部である。スキャ
ナー２０１からの出力ｆ０゜は座標（ｍ、ｎ）点の画素
の濃度データを示している。２０２は加算器で、誤差拡
散テーブル２０８にて重み付けされ累積加算されたデー
タがラインバッファメモリ２０９に格納されており、ラ
インバッファ２０９からの累積誤差分ｘ、とｆ４゜が加
算される。この累積誤差をＸ９とすると濃度データｆ□
０に累積誤差Ｘ。が加算されたｇ、ｎ、＝ｘｎ＋ｆ、、
、、が２値化回路２０３に入力される。２０３は固定閾
値格納部２０５からの閾値データ■、とｇ、、、。値と
の比較を行ない、ｇ ｆｆ１Ｔｌ≧ｖｌｈのときは１を
又ｇ、〈Ｖｌｈのときは０をり。
とじ出力する。Ｄｏ。の結果は２０６の係数器でに倍さ
れる。このｋは入力部２０１で読み取られたデータを何
ビットに量子化するかにより変化し、入力部２０１で８
ビツトでデータを扱う場合にはプリンタ１ドツトの濃度
は２５５となる。誤差ｅ０は２０７でｅ、＝に−Ｄ−、
−ｇ、、と計算され、誤差拡散テーブル２０８に伝達さ
れる。誤差拡散テーブル２０８では拡散マトリクスを用
い誤差ｅｏに所定の重み付けを行ない、ラインバッファ
メモリ２０９に格納する。例えば今までの誤差をライン
バッファ２０９に示した様に格納しているとすると、ｘ
ｎ＋＋の位置を処理する時の誤差は新たに となる。そして原画の１ライン分の走査が完了すると、
２０９の第１ラインには第２ラインのデータが、第２ラ
インには第３ラインのデータが入り、第３ラインにはＯ
が入る。この様に処理を繰り返すことにより誤差拡散法
による２値化処理が行われる。出力部２０４はり、の１
，０値に応じてドツトをオン、オフ制御して、再生画像
を出力する。
れる。このｋは入力部２０１で読み取られたデータを何
ビットに量子化するかにより変化し、入力部２０１で８
ビツトでデータを扱う場合にはプリンタ１ドツトの濃度
は２５５となる。誤差ｅ０は２０７でｅ、＝に−Ｄ−、
−ｇ、、と計算され、誤差拡散テーブル２０８に伝達さ
れる。誤差拡散テーブル２０８では拡散マトリクスを用
い誤差ｅｏに所定の重み付けを行ない、ラインバッファ
メモリ２０９に格納する。例えば今までの誤差をライン
バッファ２０９に示した様に格納しているとすると、ｘ
ｎ＋＋の位置を処理する時の誤差は新たに となる。そして原画の１ライン分の走査が完了すると、
２０９の第１ラインには第２ラインのデータが、第２ラ
インには第３ラインのデータが入り、第３ラインにはＯ
が入る。この様に処理を繰り返すことにより誤差拡散法
による２値化処理が行われる。出力部２０４はり、の１
，０値に応じてドツトをオン、オフ制御して、再生画像
を出力する。
次に、第２図〜第５図を用いて、閾値に周期的に変動す
る閾値マトリクスを用いるとともに、その閾値マトリク
スを原画の濃度に応じて変化させる場合を説明する。ス
キャナー３０１からは、座標（ｍ、ｎ）上の濃度ｆ ｍ
ｎが読み取られ、加算器３０２に入る。加算器３０２に
はこのｆ、と誤差拡散テーブル３０８で拡散マトリクス
を用い重み付けされた誤差Ｘ０が入力される。従って加
算器３０２での加算値ｇｍ＋＋はｇ ｍ＋＋−ｆ 、ｎ
ｎ＋ ｘ、となる。一方スキャナーからの位置を示すパ
ルス又はアドレスデータとしてｐ□、ｐｌが閾値テーブ
ル３０５に入力される。同様に原画の濃度情報ｆ。
る閾値マトリクスを用いるとともに、その閾値マトリク
スを原画の濃度に応じて変化させる場合を説明する。ス
キャナー３０１からは、座標（ｍ、ｎ）上の濃度ｆ ｍ
ｎが読み取られ、加算器３０２に入る。加算器３０２に
はこのｆ、と誤差拡散テーブル３０８で拡散マトリクス
を用い重み付けされた誤差Ｘ０が入力される。従って加
算器３０２での加算値ｇｍ＋＋はｇ ｍ＋＋−ｆ 、ｎ
ｎ＋ ｘ、となる。一方スキャナーからの位置を示すパ
ルス又はアドレスデータとしてｐ□、ｐｌが閾値テーブ
ル３０５に入力される。同様に原画の濃度情報ｆ。
も閾値テーブル３０５に入力される。これらは閾値テー
ブルの選択と、選択した閾値テーブル内の閾値を選択す
るための情報とし使用される。この様にして決定された
閾値は３０３の２値化回路に入り、ｇ Ｉｎ１１と比較
され２値化される。以降は第°１図の誤差拡散法と同様
の処理が行なわれる。
ブルの選択と、選択した閾値テーブル内の閾値を選択す
るための情報とし使用される。この様にして決定された
閾値は３０３の２値化回路に入り、ｇ Ｉｎ１１と比較
され２値化される。以降は第°１図の誤差拡散法と同様
の処理が行なわれる。
第３図は閾値パターンを選択するのに原画の明度データ
を利用するのでなく、誤差分を加えた結果のデータｇ□
０を用いて閾値パターンを選択するものである。尚、第
２図と同じ番号を付した部分では第２図と同様の処理が
行なわれる。
を利用するのでなく、誤差分を加えた結果のデータｇ□
０を用いて閾値パターンを選択するものである。尚、第
２図と同じ番号を付した部分では第２図と同様の処理が
行なわれる。
第４図は閾値テーブル３０５を更に詳細に記したもので
ある。５０１，５０２はＸ軸方向及びｙ軸方向の歩進カ
ウンタである。例えば５０３の閾値パターンメモリＴＲ
ＯＭＩが第５図（Ａ）とするとＣＮＴｌ、ＣＮＴ２共に
８進カウンターとなる。入力ｐｒｎ、ｐ、は前述入力部
３０１から又は画像データを格納したファイル等から得
られるｘ、ｙ軸方向画素歩進パルスである。従って、Ｃ
ＮＴｌ、ＣＮＴ２で決まるアドレスの閾値データがＴＲ
ＯＭＩから選択され、ＤＰＩラインを通じ出力される。
ある。５０１，５０２はＸ軸方向及びｙ軸方向の歩進カ
ウンタである。例えば５０３の閾値パターンメモリＴＲ
ＯＭＩが第５図（Ａ）とするとＣＮＴｌ、ＣＮＴ２共に
８進カウンターとなる。入力ｐｒｎ、ｐ、は前述入力部
３０１から又は画像データを格納したファイル等から得
られるｘ、ｙ軸方向画素歩進パルスである。従って、Ｃ
ＮＴｌ、ＣＮＴ２で決まるアドレスの閾値データがＴＲ
ＯＭＩから選択され、ＤＰＩラインを通じ出力される。
同様にして、第５図の（Ｂ）の閾値パターンメモリに相
当するメモリ５０７（ＴＲ０Ｍ２）１，１は４進カウン
９−（７）ＣＮＴ３゜ＣＮＴ４が制御にあたる。同様に
して、第５図（Ｃ）の閾値パターンメモリは第４図５１
１（ＴＲ０Ｍ３）に当るので、ＣＮＴ５．ＣＮＴ６は各
々２進カウンターとなる。各カウンターから出力された
データはＤＰＩ〜ＤＰ３を通じ出力される。５１３は固
定閾値で、例えば１２８のデータが入っている。
当するメモリ５０７（ＴＲ０Ｍ２）１，１は４進カウン
９−（７）ＣＮＴ３゜ＣＮＴ４が制御にあたる。同様に
して、第５図（Ｃ）の閾値パターンメモリは第４図５１
１（ＴＲ０Ｍ３）に当るので、ＣＮＴ５．ＣＮＴ６は各
々２進カウンターとなる。各カウンターから出力された
データはＤＰＩ〜ＤＰ３を通じ出力される。５１３は固
定閾値で、例えば１２８のデータが入っている。
以上のデータは５０４，５０８，５１２，５１４のゲー
トにより選択される。一方、５１６は第２図では入力部
３０１からの原画データの濃度ｆ ｍｎ又、第３図では
誤差が加えられたデータｇ。
トにより選択される。一方、５１６は第２図では入力部
３０１からの原画データの濃度ｆ ｍｎ又、第３図では
誤差が加えられたデータｇ。
に応じ、例えば４段階に分類された信号が出力されるも
のである。例えば入力データのＯ〜６３゜６４〜１２７
，１２８〜１９１，１９２〜２５５の４段階にわけ、入
力データがＯ〜６３の明るいデータに対しては５１６の
Ａ１ポートがｈｉｇｈになり、６４〜１２７の入力デー
タに対してはＡ２ポートがｈｉｇｈになり、１２８〜１
９１の入力データに対してはＡ３ポートがｈｉｇｈにな
り、１９２〜２５５の入力データに対してはＡ４ポート
がｈｉｇｈになるように５１６でセレクトされる。つま
り、原画の濃度データが高い暗部は。
のである。例えば入力データのＯ〜６３゜６４〜１２７
，１２８〜１９１，１９２〜２５５の４段階にわけ、入
力データがＯ〜６３の明るいデータに対しては５１６の
Ａ１ポートがｈｉｇｈになり、６４〜１２７の入力デー
タに対してはＡ２ポートがｈｉｇｈになり、１２８〜１
９１の入力データに対してはＡ３ポートがｈｉｇｈにな
り、１９２〜２５５の入力データに対してはＡ４ポート
がｈｉｇｈになるように５１６でセレクトされる。つま
り、原画の濃度データが高い暗部は。
ど閾値マトリクスのサイズを濃度データが低い明部より
小さ（する。
小さ（する。
第４図（Ｂ）は第４図（Ａ）とは別の閾値セレクタ３０
５の構成を示した図である。５２０゜５２１はカウンタ
で２次元座標を計算するものである。５２３ではｆ。。
５の構成を示した図である。５２０゜５２１はカウンタ
で２次元座標を計算するものである。５２３ではｆ。。
又はｇｆｆｉ、、に応じて４段階に分割される２ｂｉｔ
信号が生成され、ＣＮＴｌ。
信号が生成され、ＣＮＴｌ。
ＣＮＴ２に入力されている。これによりＣＮＴ１、ＣＮ
Ｔ２は第４図（Ａ）と同様に８進カウンタになったり、
４進カウンタになったり、２進カウンタになったりする
。カウンタ５２０，５２１により入力されたアドレス及
び５２３より４段階分割したデータはＴＲ０Ｍ５２２に
入り、第４図（Ａ）と同様に、入力データの濃度及び座
標位置カウンタにより閾値マトリクス内の特定閾値が選
択される。
Ｔ２は第４図（Ａ）と同様に８進カウンタになったり、
４進カウンタになったり、２進カウンタになったりする
。カウンタ５２０，５２１により入力されたアドレス及
び５２３より４段階分割したデータはＴＲ０Ｍ５２２に
入り、第４図（Ａ）と同様に、入力データの濃度及び座
標位置カウンタにより閾値マトリクス内の特定閾値が選
択される。
第５図（Ａ）〜（Ｄ）は閾値マトリクスの１例で、第５
図（Ａ）は入力データの値が０〜６３のとき選択され、
第５図（Ｂ）は６４〜１２７のとき選択され、第５図（
Ｃ）は１２８〜１９１のとき選択されるマトリクスで、
第５図（Ｄ）は１９２〜２５５の場合に選択される閾値
である。
図（Ａ）は入力データの値が０〜６３のとき選択され、
第５図（Ｂ）は６４〜１２７のとき選択され、第５図（
Ｃ）は１２８〜１９１のとき選択されるマトリクスで、
第５図（Ｄ）は１９２〜２５５の場合に選択される閾値
である。
尚、閾値データは１６進法で表示されている。しかも各
閾値マトリクスは平均値が１２８（入力がＯ〜２５５の
とき）で入力の中間値になる様に設定しである。この閾
値は閾値マトリクスサイズが大きいときは平均値（例え
ば１２８）に対し大きく振らし、サイズが小さくなるに
つれ平均値に対し小さく振ってもよい。これによりハイ
ライト部はより周期性を強くし、ダーク部はよりランダ
ム性を強（することも出来る。第５図（Ｂ）′は第５図
（Ｂ）の変形で平均値１２８で閾値振巾を（Ｂ）より小
さ（した例を示す。
閾値マトリクスは平均値が１２８（入力がＯ〜２５５の
とき）で入力の中間値になる様に設定しである。この閾
値は閾値マトリクスサイズが大きいときは平均値（例え
ば１２８）に対し大きく振らし、サイズが小さくなるに
つれ平均値に対し小さく振ってもよい。これによりハイ
ライト部はより周期性を強くし、ダーク部はよりランダ
ム性を強（することも出来る。第５図（Ｂ）′は第５図
（Ｂ）の変形で平均値１２８で閾値振巾を（Ｂ）より小
さ（した例を示す。
このように、前述の実施例によれば、誤差拡散法の欠点
であったハイライト部における粒状性ノイズを、２値化
の閾値に閾値マトリクスを用い、周期性構造をとらせる
ことにより、防止することができ、しかも、ダーク部で
は誤差拡散法の長所であった高分解能性を比較的小さな
マトリクスサイズを用いることにより保持することがで
きる。
であったハイライト部における粒状性ノイズを、２値化
の閾値に閾値マトリクスを用い、周期性構造をとらせる
ことにより、防止することができ、しかも、ダーク部で
は誤差拡散法の長所であった高分解能性を比較的小さな
マトリクスサイズを用いることにより保持することがで
きる。
又、一定量値を用いて処理する際発生していたハイライ
ト部でのドツトの出遅れも、閾値マトリクスしかもダー
ク部よりも大きな閾値マトリクスも用いて２値化するの
で、防止することができる。これは大きなマトリクスの
方が小さな閾値を発生することができるためである。
ト部でのドツトの出遅れも、閾値マトリクスしかもダー
ク部よりも大きな閾値マトリクスも用いて２値化するの
で、防止することができる。これは大きなマトリクスの
方が小さな閾値を発生することができるためである。
尚、本実施例では画像の２値化方法について説明したが
、多値化の場合も同様に用いることができる。
、多値化の場合も同様に用いることができる。
又、カラー画像に応用する場合はＹ、Ｍ、Ｃ各色につい
て、それぞれ処理を行なうことで実現できる。
て、それぞれ処理を行なうことで実現できる。
以上説明した如く、本発明によれば、原画の濃度を保存
しつつ、量子化を行う画像処理方法において、量子化の
際の閾値として、周期的に変動する閾値マトリクスを用
いるとともに、前記閾値マトリクスを原画の情報に応じ
て変化させることにより、高分解能及び高階調の両者を
維持し、ハイライト部での粒状性ノイズ及びドツト出現
の遅れを防止することができる。
しつつ、量子化を行う画像処理方法において、量子化の
際の閾値として、周期的に変動する閾値マトリクスを用
いるとともに、前記閾値マトリクスを原画の情報に応じ
て変化させることにより、高分解能及び高階調の両者を
維持し、ハイライト部での粒状性ノイズ及びドツト出現
の遅れを防止することができる。
４、発明の詳細な説明
第１図は固定閾値を用いて２値化処理する際のブロック
図、 第２図、第３図は本発明の実施例である閾値マトリクス
を用いて２値化処理をする際のブロック図、 第４図は第２図、第３図の閾値テーブルの詳細を示した
図、 第５図は閾値マトリクスの一例を示した図、第６図は従
来の問題点を示した図である。
図、 第２図、第３図は本発明の実施例である閾値マトリクス
を用いて２値化処理をする際のブロック図、 第４図は第２図、第３図の閾値テーブルの詳細を示した
図、 第５図は閾値マトリクスの一例を示した図、第６図は従
来の問題点を示した図である。
図中３０１は入力部、３０２は加算器、３０３は２値化
回路、３０４は出力部、３０５は閾値テーブル、３０６
は係数器、３０７は誤差演算器、３０８は誤差拡散テー
ブル、３０９はラインバッファメモリである。
回路、３０４は出力部、３０５は閾値テーブル、３０６
は係数器、３０７は誤差演算器、３０８は誤差拡散テー
ブル、３０９はラインバッファメモリである。
８ηｈ
１ン臼も ４Ｘ（Ｂ）
日°°゛竿５７
第６凹
特許庁長官 小 川 邦 夫 殿
１、事件の表示
昭和６２年特許願第３０７２８５号
２、発明の名称
画像処理方法
３、補正をする者
事件との関係 特許出願人
住所 東京都大田区下丸子３−３０−２名称 （１００
） キャノン株式会社代表者 賀 来 龍 三
部 ４、代理人 居所 〒１４６東京都大田区下丸子３−３０−２キャノ
ン株式会社内（電話７５８−２１１１）５、補正の対象 明細書及び図面 ６、補正の内容 （１）明細書第１２頁第５行の「発明」を「図面」に補
正する。
） キャノン株式会社代表者 賀 来 龍 三
部 ４、代理人 居所 〒１４６東京都大田区下丸子３−３０−２キャノ
ン株式会社内（電話７５８−２１１１）５、補正の対象 明細書及び図面 ６、補正の内容 （１）明細書第１２頁第５行の「発明」を「図面」に補
正する。
（２）第３図を別紙の如く補正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 原画の濃度を保存しつつ、量子化を行う画像処理方法に
おいて、 前記量子化の際、閾値として、周期的に変動する閾値マ
トリクスを用いるとともに、前記閾値マトリクスを原画
の情報に応じて変化させることを特徴とする画像処理方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62307285A JP2703911B2 (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62307285A JP2703911B2 (ja) | 1987-12-03 | 1987-12-03 | 画像処理装置 |
Publications (2)
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-
1987
- 1987-12-03 JP JP62307285A patent/JP2703911B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| WO2002058380A1 (fr) * | 2001-01-22 | 2002-07-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede et programme de traitement d'image |
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