JPH01158788A - レーザービーム制御装置 - Google Patents
レーザービーム制御装置Info
- Publication number
- JPH01158788A JPH01158788A JP31694787A JP31694787A JPH01158788A JP H01158788 A JPH01158788 A JP H01158788A JP 31694787 A JP31694787 A JP 31694787A JP 31694787 A JP31694787 A JP 31694787A JP H01158788 A JPH01158788 A JP H01158788A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- laser beam
- wavelength
- detection signal
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/139—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/10—Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
- H01S3/13—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude
- H01S3/131—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation
- H01S3/1312—Stabilisation of laser output parameters, e.g. frequency or amplitude by controlling the active medium, e.g. by controlling the processes or apparatus for excitation by controlling the optical pumping
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、光計測などに用いられるレーザービームの
光量、波長の変動を防止するレーザービーム制御装置に
関する。
光量、波長の変動を防止するレーザービーム制御装置に
関する。
従来、非接触、高感度の測定を行なうため、レーザービ
ームを利用した光1ト測が種々の分野で行なわれている
。
ームを利用した光1ト測が種々の分野で行なわれている
。
ところで、レーザービーム全用いた光計前jは、原理」
二、その計側梢度も非常に高くなるはずであるが、実際
には、レーザービームを出力fるレーサー光源装置の環
境温度などの変化にもとつき、レーザービームの光量、
波長が容易に変動して計温時の干渉コントラストの変動
、ホログラフィ−のほけなどが生じ、計測8度があまり
高くならない。
二、その計側梢度も非常に高くなるはずであるが、実際
には、レーザービームを出力fるレーサー光源装置の環
境温度などの変化にもとつき、レーザービームの光量、
波長が容易に変動して計温時の干渉コントラストの変動
、ホログラフィ−のほけなどが生じ、計測8度があまり
高くならない。
そこで、従来は、レーザー光源装置の各部を熱膨張率の
小さな材料で形成したり、水冷、空冷によって光源装置
全体の環境温度全一定に保持することにより、レーザー
ビームの光量、波長の変動を防止することが行なわれて
いる。
小さな材料で形成したり、水冷、空冷によって光源装置
全体の環境温度全一定に保持することにより、レーザー
ビームの光量、波長の変動を防止することが行なわれて
いる。
ところで、前記従来のように熱膨張率の小さな材料を使
用してレーザー光源装置全形成する場合は、使用材料が
限定されるため、設計の自由度が制限されて軽量化、低
価格化などを図ることが困難になる問題点がある。
用してレーザー光源装置全形成する場合は、使用材料が
限定されるため、設計の自由度が制限されて軽量化、低
価格化などを図ることが困難になる問題点がある。
また、水冷、空冷によって光源装置全体の環境もに、軽
量化語よび低価格化が図れない問題点がある。
量化語よび低価格化が図れない問題点がある。
しかも、熱膨張率の小さな材料を使用して光源装置f6
tk形成する場合、3よび水冷、空冷を行なう場合のい
ずれvCsいても、槙境温反の大きな変化および急な変
化に対しては対応することができす、レーザービームの
光量、波長の安定化の精度’に4められない問題点があ
る。
tk形成する場合、3よび水冷、空冷を行なう場合のい
ずれvCsいても、槙境温反の大きな変化および急な変
化に対しては対応することができす、レーザービームの
光量、波長の安定化の精度’に4められない問題点があ
る。
この発明は、前記の各問題点に留意してなされたもので
ある。
ある。
[問題点全解決するための手段]
前記各問題点を解決するための手段を、つぎに説明する
。
。
この発明は、レーザー光源装置からのレーザービームの
光路に格子■′に前記光路に直角にして設けられた回折
格子と、 前記回折格子の近傍に受光面を前記格子面に平行にして
設けられ、前記受光用」に前記回折格子の2次回折光が
入射され、入射光量に応じてレベル変化し受光位置を示
す検出信号を出力する光センサと、 前記検出信号のレベルが一定になるように前記光源装置
の光源電力全制動し、前記レーザービームの光量を一定
に制御する光量制御平膜と、前記検出信号から前記受光
位置全検出するとともに、前記受光位置が所定位置にな
るように前記光源装置のミラー間隔なとの共振条件を制
御し。
光路に格子■′に前記光路に直角にして設けられた回折
格子と、 前記回折格子の近傍に受光面を前記格子面に平行にして
設けられ、前記受光用」に前記回折格子の2次回折光が
入射され、入射光量に応じてレベル変化し受光位置を示
す検出信号を出力する光センサと、 前記検出信号のレベルが一定になるように前記光源装置
の光源電力全制動し、前記レーザービームの光量を一定
に制御する光量制御平膜と、前記検出信号から前記受光
位置全検出するとともに、前記受光位置が所定位置にな
るように前記光源装置のミラー間隔なとの共振条件を制
御し。
前記レーザービームの波長を制御する波長制御手段と、
前記回折格子および前記光センサが設けられた局部範囲
の温度を測定するとともに、測定結果にもとづく電子温
度制御によって前記局部範囲の温度を一定に制御する温
度制御手段と 全備えるという技術的手段を講じている。
の温度を測定するとともに、測定結果にもとづく電子温
度制御によって前記局部範囲の温度を一定に制御する温
度制御手段と 全備えるという技術的手段を講じている。
[作用]
したがって、この発明によると、回折格子の2次回折光
が光センサで受光され、このとき、光センサの検出信号
のレベルがレーザービームの光量に比例して変化すると
ともに、回折格子、光センサの温度制御にもとづき、温
度による回折格子。
が光センサで受光され、このとき、光センサの検出信号
のレベルがレーザービームの光量に比例して変化すると
ともに、回折格子、光センサの温度制御にもとづき、温
度による回折格子。
光センサの機械的変化の影響を受けることなく、前記検
出信号から検出される受光位置がレーザービームの波長
に比例して変化する。
出信号から検出される受光位置がレーザービームの波長
に比例して変化する。
そして、光センサの検出信号のレベルが一定になるよう
に光源装置の光源電力がフィードバック制御されてレー
ザービームの光量が一定に制御され、かつ、前記検出信
号から検出された受光位置が所定位置になるように光源
装置のミラー間隔などがフィードバック制御されてレー
ザービームの波長が制御」されるため、光源装置の各部
を熱膨張率の小さな材料で形成することなく、レーザー
ビームの光量、波長が一定に制御される。
に光源装置の光源電力がフィードバック制御されてレー
ザービームの光量が一定に制御され、かつ、前記検出信
号から検出された受光位置が所定位置になるように光源
装置のミラー間隔などがフィードバック制御されてレー
ザービームの波長が制御」されるため、光源装置の各部
を熱膨張率の小さな材料で形成することなく、レーザー
ビームの光量、波長が一定に制御される。
また、回折格子2工び光センサが設けられた狭い範囲の
温友全′電子的に制御してレーザービームの光量、波長
が高精度に検出され、しかも、前述のフィードバック制
御により、レーザービームの光量、波長の広い範囲の変
動が迅速に補償される。
温友全′電子的に制御してレーザービームの光量、波長
が高精度に検出され、しかも、前述のフィードバック制
御により、レーザービームの光量、波長の広い範囲の変
動が迅速に補償される。
そのため、従来より小型、軽量かつ安価にレーザービー
ムの光量、波長が高い精度で安定化され、技術的課題が
解決される。
ムの光量、波長が高い精度で安定化され、技術的課題が
解決される。
つき゛に、この発明を、その1実施例を示した第1図と
ともに詳細に説明する。
ともに詳細に説明する。
第1図において、(1)はレーザー光源装置であり、励
起用光源(21,対向するハーフミラ−(3)1反射ミ
ラー+41.gよびミラー(4)の位置を可変してミラ
ー+31.141の間隔を゛制御する匡′亀素子(5)
ケ有し、ミラー(3)を通過したレーザービーム(6)
ヲ出射口(7)から放出する。
起用光源(21,対向するハーフミラ−(3)1反射ミ
ラー+41.gよびミラー(4)の位置を可変してミラ
ー+31.141の間隔を゛制御する匡′亀素子(5)
ケ有し、ミラー(3)を通過したレーザービーム(6)
ヲ出射口(7)から放出する。
(8)は格子面がレーザービーム(6)の光路に直角に
なるようにレーザービーム(6)の光路に設けられた(
口)折格子であり、直進通過する1次回折光(91,E
よび1次回折光(91に対して角度θだけ異なる方向に
進む2次回光αqを出力する。
なるようにレーザービーム(6)の光路に設けられた(
口)折格子であり、直進通過する1次回折光(91,E
よび1次回折光(91に対して角度θだけ異なる方向に
進む2次回光αqを出力する。
(111は回折格子(8)の近傍に設けられた光センサ
であり、PSDと呼ばれる半導体装置検出素子または分
割型フォトダイオードセンサからなり、1次回折光(9
)の光軸方向に回折格子(8)の後側の格子面から距離
ノだけ離れた2次回折光(10の光路に、受光面を回折
格子(8)の格子面に平行にして設置され、2次回指光
αOが受光■にスポット状に入射され、後述の受光位置
の検出信号を出力する。
であり、PSDと呼ばれる半導体装置検出素子または分
割型フォトダイオードセンサからなり、1次回折光(9
)の光軸方向に回折格子(8)の後側の格子面から距離
ノだけ離れた2次回折光(10の光路に、受光面を回折
格子(8)の格子面に平行にして設置され、2次回指光
αOが受光■にスポット状に入射され、後述の受光位置
の検出信号を出力する。
(12)はセンサ(11)の検出信号が入力される光量
制御回路であり、入力される検出信号のレベルが一定に
なるように、光源用電源(13)から光源+21への供
給電力(′電流または電圧)全制御し、レーザービーム
(6)の光量ヲ一定に制御する。
制御回路であり、入力される検出信号のレベルが一定に
なるように、光源用電源(13)から光源+21への供
給電力(′電流または電圧)全制御し、レーザービーム
(6)の光量ヲ一定に制御する。
(131はセンサ(11)の検出信号が入力される波長
制御回路であり、入力さカーる検出信号から2次回折光
α0の受光位置を検出し、受光位置が一定位置になるよ
うに、圧電素子ドライブ回路(15)から圧電素子(5
)への印加′電圧を制御してミラー+31 、 +41
の間隔全調整し、レーザービーム(6)の波長λ奮一定
に制御する。
制御回路であり、入力さカーる検出信号から2次回折光
α0の受光位置を検出し、受光位置が一定位置になるよ
うに、圧電素子ドライブ回路(15)から圧電素子(5
)への印加′電圧を制御してミラー+31 、 +41
の間隔全調整し、レーザービーム(6)の波長λ奮一定
に制御する。
(16)は回折格子(8)、センサ(111が設けられ
た局部範囲の温度を測定する温度センサ、f17]はセ
ンサ(16)の検出信号が入力される温度制御回路であ
り、センサ(161の検出信号のレベルが一定になるよ
うにペルチェ素子などからなる電子冷却素子(18]へ
の供給電流を制御し、前記局部範囲の温度を一定に制御
する。
た局部範囲の温度を測定する温度センサ、f17]はセ
ンサ(16)の検出信号が入力される温度制御回路であ
り、センサ(161の検出信号のレベルが一定になるよ
うにペルチェ素子などからなる電子冷却素子(18]へ
の供給電流を制御し、前記局部範囲の温度を一定に制御
する。
な8、回折格子(8)、センサI11 、 (l[il
、冷却素子(18)などが非常に小型の素子からなる
とともに、距離ノSよび1次回折光(9)の光軸からセ
ンサ(11)の受光位置の中心までの距離yが非常に短
いため、実際には、回折格子(8)、センサfl11.
1161.冷却素子(18)などがモジュール化されて
コンパクトにまとめられている。
、冷却素子(18)などが非常に小型の素子からなる
とともに、距離ノSよび1次回折光(9)の光軸からセ
ンサ(11)の受光位置の中心までの距離yが非常に短
いため、実際には、回折格子(8)、センサfl11.
1161.冷却素子(18)などがモジュール化されて
コンパクトにまとめられている。
また、制御回路t121 、電源(131旧よび光源(
21によって光量制御手段が形成され、制御回路(14
1、ドライブ回路++5+、E電素子(5)によって波
長制御手段が形成され、かつ、センサ116)、制御回
路t171.冷却素子f181によって温度制御手段が
形成されている。
21によって光量制御手段が形成され、制御回路(14
1、ドライブ回路++5+、E電素子(5)によって波
長制御手段が形成され、かつ、センサ116)、制御回
路t171.冷却素子f181によって温度制御手段が
形成されている。
そして、光源(21の光ヲミラー+31. +41の光
共振器で増幅して光源装置(1)から出射されレーザー
ビーム(6)は、その波長λがミラー+31. +41
の間隔などの共振条件によって定”ばるとともに、光量
が光源121の光量に応じて変化する。
共振器で増幅して光源装置(1)から出射されレーザー
ビーム(6)は、その波長λがミラー+31. +41
の間隔などの共振条件によって定”ばるとともに、光量
が光源121の光量に応じて変化する。
さらに、光源装置(1)から出射されたレーザービーム
(6)が回折格子(8)に入力され、このとき、計測な
どに用いられる1次回折光(9)はそのまま直進すると
ともに、2次回路折光(1Gは1次回折光(9)の進行
方向に対して角度θたけ異なる方向に進み、このとき、
回折格子(8)の格子間隔idとすると、角度θはつぎ
の(11式で示される。
(6)が回折格子(8)に入力され、このとき、計測な
どに用いられる1次回折光(9)はそのまま直進すると
ともに、2次回路折光(1Gは1次回折光(9)の進行
方向に対して角度θたけ異なる方向に進み、このとき、
回折格子(8)の格子間隔idとすると、角度θはつぎ
の(11式で示される。
0 = sin ’(2λ/d)−−−=fn式そして
、2次回指光αOがセンサ(11)の受光面にスポット
状に入射され、このとき、受光面上の受光位置y、すな
わち、1次回折光(9)の光軸に直角方向の受光中心の
位置yは、つぎの(2)式で示される。
、2次回指光αOがセンサ(11)の受光面にスポット
状に入射され、このとき、受光面上の受光位置y、すな
わち、1次回折光(9)の光軸に直角方向の受光中心の
位置yは、つぎの(2)式で示される。
yユ2人ル4石[扉口r ・・叫・・(2;式また、2
次回指光αOの受光にもとづき、センサ山)は、たとえ
ば受光面全四分割した領域それぞれの受光量に比例した
信号を受光位置の検出信号として制御回路+121 、
+141に出力する。
次回指光αOの受光にもとづき、センサ山)は、たとえ
ば受光面全四分割した領域それぞれの受光量に比例した
信号を受光位置の検出信号として制御回路+121 、
+141に出力する。
そして、2次回折光00の受光量に比例したセンサ(1
1)の検出信号の総合レベルが予め設定した一定レベル
になるように、制御回路(121は電源(12)から光
源121への供給電力を制御する。
1)の検出信号の総合レベルが予め設定した一定レベル
になるように、制御回路(121は電源(12)から光
源121への供給電力を制御する。
また、センサ(11)の検出信号が入力される制御回路
(14)は、たとえば前記4分割した領域の検出信号の
レベルが等しくなり、受光位置yが一定位置になるよう
に、ドライブ回路(15+ f介して圧電素子(15)
の変位量を制御し、ミラー+31 、 +41の間隔を
調整する。
(14)は、たとえば前記4分割した領域の検出信号の
レベルが等しくなり、受光位置yが一定位置になるよう
に、ドライブ回路(15+ f介して圧電素子(15)
の変位量を制御し、ミラー+31 、 +41の間隔を
調整する。
一方、回折格子(8)、センサ(11)が設けられた非
常に狭い局部範囲の温度が、センサ(16)によって測
定されるとともに、センサ(16)の測定温度に比例し
た検出信号にもとづき、制御回路(1ηによって冷却素
子(18]への電流が制御され、このとき、冷却素子(
18)がたとえば回折格子(8)に接合され、冷却素子
(18)の冷却にもとづき、前記局部範囲の温度が予め
設定された一定温度に制御される。
常に狭い局部範囲の温度が、センサ(16)によって測
定されるとともに、センサ(16)の測定温度に比例し
た検出信号にもとづき、制御回路(1ηによって冷却素
子(18]への電流が制御され、このとき、冷却素子(
18)がたとえば回折格子(8)に接合され、冷却素子
(18)の冷却にもとづき、前記局部範囲の温度が予め
設定された一定温度に制御される。
そして、前記温度の制御にもとづき、回折格子(8)、
センサ(11)は、材質によらす、熱膨張がほとんど生
じなく、このとき、前述の距離ノ、dが常にほぼ一定と
なる。
センサ(11)は、材質によらす、熱膨張がほとんど生
じなく、このとき、前述の距離ノ、dが常にほぼ一定と
なる。
そのため、(1)式の角度θ3よび(2(式の受光位置
yが、はぼ波長大のみに依存して変化することになり、
検出信号のレベルを一定にする光源12)の光量のフィ
ーババック制御により、レーザービーム(6]の光量が
一定に制御されるとともに、受光位置yを所定位置に制
御するミラーt3) 、 +4)の間隔のフィードバッ
ク制御により、レーザービーム(6)の波長λが一定に
市1征jされる。
yが、はぼ波長大のみに依存して変化することになり、
検出信号のレベルを一定にする光源12)の光量のフィ
ーババック制御により、レーザービーム(6]の光量が
一定に制御されるとともに、受光位置yを所定位置に制
御するミラーt3) 、 +4)の間隔のフィードバッ
ク制御により、レーザービーム(6)の波長λが一定に
市1征jされる。
そして、レーザービーム(6)の光量、波長をいわゆる
フィードバック市;1州]によってそれぞ゛れ一定に制
御するため、電源装置(1)の各部を従来のような熱膨
張率の小さな林料で形成しなくても、レーザービーム(
6)の光量、波長の温良変化などにもとづく変動を防止
し、レーザービーム(6)の光量、波長全安定化するこ
とができ、設計の自由度が狭くならす、安価にすること
ができる。
フィードバック市;1州]によってそれぞ゛れ一定に制
御するため、電源装置(1)の各部を従来のような熱膨
張率の小さな林料で形成しなくても、レーザービーム(
6)の光量、波長の温良変化などにもとづく変動を防止
し、レーザービーム(6)の光量、波長全安定化するこ
とができ、設計の自由度が狭くならす、安価にすること
ができる。
しかも、制御回路(12]を用いた電源電力の供給。
制御ど工び匍]御回路1141 、 ドライブ回路(
151、圧電素子(5)を用いたミラー+31 、 +
41の間隔調整により、レーザービーム(6)の光量、
波長を制御し、かつ、冷却素子(18)を用いた小規模
の電子温度制御により、回折格子(8)、センサfll
lが設けら、f′Lだ狭い局部範囲の温度を一定に制御
するため、従来の水冷、空冷によって電源装置(1)の
使用環境全体の広範囲の幅Kk一定に1611 ?mi
lする場合に比し、構成を小型化するとともl/C軽量
化し、安価にすることができる。
151、圧電素子(5)を用いたミラー+31 、 +
41の間隔調整により、レーザービーム(6)の光量、
波長を制御し、かつ、冷却素子(18)を用いた小規模
の電子温度制御により、回折格子(8)、センサfll
lが設けら、f′Lだ狭い局部範囲の温度を一定に制御
するため、従来の水冷、空冷によって電源装置(1)の
使用環境全体の広範囲の幅Kk一定に1611 ?mi
lする場合に比し、構成を小型化するとともl/C軽量
化し、安価にすることができる。
さらに、回折格子(8)、センサ(111が設けられた
狭い範囲の温度のみを一定に制御するため、電源装置f
l+の使用環境全体の温度を一定に制御する場合より、
非常に高精度の湯度制御を行なってセンサ(11)の検
出信号からレーザービーム(61の光量、波長を正確に
検出することができ、従来より高精度にレーサー ビー
ム(61の光量、波長を安定化することができ、かつ、
温度などの大きな変化、急変化が生じても、前述のフィ
ードバック制御によって従来より迅速に広い変動範囲の
補償を行なうことができる。
狭い範囲の温度のみを一定に制御するため、電源装置f
l+の使用環境全体の温度を一定に制御する場合より、
非常に高精度の湯度制御を行なってセンサ(11)の検
出信号からレーザービーム(61の光量、波長を正確に
検出することができ、従来より高精度にレーサー ビー
ム(61の光量、波長を安定化することができ、かつ、
温度などの大きな変化、急変化が生じても、前述のフィ
ードバック制御によって従来より迅速に広い変動範囲の
補償を行なうことができる。
そのため、計測装置として用いたときは、たとえは、光
量の安定化にもとづき、レーザー干渉のコントラストが
安定化されて位相検出まで行なえ、波長の安定化にもと
づき、ホログラフィの鮮明化が図れ、高精度の計測が行
なえる。
量の安定化にもとづき、レーザー干渉のコントラストが
安定化されて位相検出まで行なえ、波長の安定化にもと
づき、ホログラフィの鮮明化が図れ、高精度の計測が行
なえる。
じたがって、小型、軽量かつ安価にレーザービーム(6
)の光量、波長を高い、消夏で安定化することができ、
低価格で肝油1稍度の高い肝油1装りなどを提供するこ
とができる。
)の光量、波長を高い、消夏で安定化することができ、
低価格で肝油1稍度の高い肝油1装りなどを提供するこ
とができる。
な3、前記実施例では、ミラー+31. +41の間隔
ヲ制征jしてレーザービーム(6)の波長を調整したが
、磁界、電界、E力?加えて共振条件を制御し、レーザ
ービーム(6)の波長を調整してもよい。
ヲ制征jしてレーザービーム(6)の波長を調整したが
、磁界、電界、E力?加えて共振条件を制御し、レーザ
ービーム(6)の波長を調整してもよい。
また、光源装置(2)が種々の固体、半導体などの棟々
のレーザ光源装置であってよいのも勿論である。
のレーザ光源装置であってよいのも勿論である。
以上のように、この発明のレーザービーム制御装置によ
ると、回折格子の2次回折光全受光する光センサの検出
イg号のレベルにもとづくレーザー光源装置の光源電力
のフィードバック制御と、前記検出信号から検出きれた
受光位置にもとづく前記電源装置の共振条件のフィード
バック制御とにより、レーザービームの光量、波長が一
定に制御されるとともに、回折格子δ工び光センサが設
けられた狭い範囲の温度が電子的に制御されるため、電
源装置の各部を熱膨張率の小さな材料音用いることなく
形成し、しかも、電源装置全体の環境温Ijl−一定に
制御Jすることなく、レーザービームの光量、波長を一
定に制御することができ、小型。
ると、回折格子の2次回折光全受光する光センサの検出
イg号のレベルにもとづくレーザー光源装置の光源電力
のフィードバック制御と、前記検出信号から検出きれた
受光位置にもとづく前記電源装置の共振条件のフィード
バック制御とにより、レーザービームの光量、波長が一
定に制御されるとともに、回折格子δ工び光センサが設
けられた狭い範囲の温度が電子的に制御されるため、電
源装置の各部を熱膨張率の小さな材料音用いることなく
形成し、しかも、電源装置全体の環境温Ijl−一定に
制御Jすることなく、レーザービームの光量、波長を一
定に制御することができ、小型。
軽量かつ安価にレーザービームの光量、波長を高い精度
で安定化することができるものである。
で安定化することができるものである。
第1図はこの発明のレーザービーム制飢装置の1実施例
のブロック図である。 (1)・・・レーザー光源装置、(21励起用電源、(
3)ハーフミラ−2(4) 反射ミラー、(5)
圧電素子、(8) 回折格子、(11)光センサ、1
12)・・−光量制御回路、(13)光源用電源、(1
41・波長制御回路、(15) 圧電素子ドライブ回
路、(16)・温度センサ、f171 温度制御回路
、(18) 電子冷却素子。 代理人 弁理士 藤 1)龍太部
のブロック図である。 (1)・・・レーザー光源装置、(21励起用電源、(
3)ハーフミラ−2(4) 反射ミラー、(5)
圧電素子、(8) 回折格子、(11)光センサ、1
12)・・−光量制御回路、(13)光源用電源、(1
41・波長制御回路、(15) 圧電素子ドライブ回
路、(16)・温度センサ、f171 温度制御回路
、(18) 電子冷却素子。 代理人 弁理士 藤 1)龍太部
Claims (1)
- (1)レーザー光源装置からのレーザービームの光路に
格子面を前記光路に直角にして設けられた回折格子と、 前記回折格子の近傍に受光面を前記格子面に平行にして
設けられ、前記受光面に前記回折格子の2次回折光が入
射され、入射光量に応じてレベル変化し受光位置を示す
検出信号を出力する光センサと、 前記検出信号のレベルが一定になるように前記光源装置
の光源電力を制御し、前記レーザービームの光量を一定
に制御する光量制御手段と、前記検出信号から前記受光
位置を検出するとともに、前記受光位置が所定位置にな
るように前記光源装置のミラー間隔などの共振条件を制
御し、前記レーザービームの波長を制御する波長制御手
段と、 前記回折格子および前記光センサが設けられた局部範囲
の温度を測定するとともに、測定結果にもとづく電子温
度制御によつて前記局部範囲の温度を一定に制御する温
度制御手段と を備えたことを特徴とするレーザービーム制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31694787A JPH01158788A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | レーザービーム制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31694787A JPH01158788A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | レーザービーム制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01158788A true JPH01158788A (ja) | 1989-06-21 |
Family
ID=18082710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31694787A Pending JPH01158788A (ja) | 1987-12-15 | 1987-12-15 | レーザービーム制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01158788A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6370169B1 (en) | 1998-04-22 | 2002-04-09 | Nippon Telegraph & Telephone Corporation | Method and apparatus for controlling optical wavelength based on optical frequency pulling |
| JP2008048914A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Kazumasa Yamamoto | 掛止具 |
| JP2009117566A (ja) * | 2007-11-06 | 2009-05-28 | Mitsutoyo Corp | 周波数安定化レーザ装置及びレーザ周波数安定化方法 |
| JP2014016247A (ja) * | 2012-07-09 | 2014-01-30 | Shimadzu Corp | 波長可変単色光光源 |
-
1987
- 1987-12-15 JP JP31694787A patent/JPH01158788A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6370169B1 (en) | 1998-04-22 | 2002-04-09 | Nippon Telegraph & Telephone Corporation | Method and apparatus for controlling optical wavelength based on optical frequency pulling |
| US6909732B2 (en) | 1998-04-22 | 2005-06-21 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Method and apparatus for controlling optical wavelength based on optical frequency pulling |
| US7023887B2 (en) | 1998-04-22 | 2006-04-04 | Nippon Telegraph & Telephone Corp. | Method and system for controlling optical wavelength based on optical frequency pulling |
| JP2008048914A (ja) * | 2006-08-24 | 2008-03-06 | Kazumasa Yamamoto | 掛止具 |
| JP2009117566A (ja) * | 2007-11-06 | 2009-05-28 | Mitsutoyo Corp | 周波数安定化レーザ装置及びレーザ周波数安定化方法 |
| JP2014016247A (ja) * | 2012-07-09 | 2014-01-30 | Shimadzu Corp | 波長可変単色光光源 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0140022B1 (en) | Optical self-alignment system | |
| US7061619B2 (en) | Chemical substance measuring apparatus using optical waveguides | |
| US5141318A (en) | Laser interferometer type length measuring apparatus and positioning method using the same | |
| US4952056A (en) | Method of determining the autocollimation angle of a grating coupler | |
| US8861084B2 (en) | Polarization-modulating optical element | |
| Brandenburg et al. | Grating couplers as chemical sensors: a new optical configuration | |
| JP2001516017A (ja) | 波長及び角感度を有する略垂直入射式光学的検定方法及びシステム | |
| US20100103403A1 (en) | Wavelength shift measuring apparatus, optical source apparatus, interference measuring apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method | |
| EP1875205B1 (en) | Interference filter | |
| US7418025B2 (en) | Wavelength monitoring method and apparatus and method of making same | |
| US20070009010A1 (en) | Wafer temperature measuring method and apparatus | |
| JPH10325874A (ja) | レーザー・ドップラー原理に基づく速度測定方法 | |
| JPH01158788A (ja) | レーザービーム制御装置 | |
| US4806778A (en) | Micro-displacement measuring apparatus using a semiconductor laser | |
| JPH0640071B2 (ja) | 水蒸気光吸収線の2次微分曲線を利用した高精度湿度測定方法 | |
| JPS6177388A (ja) | 半導体レ−ザの共振端面反射率測定装置 | |
| US7414730B2 (en) | High precision interferometer apparatus employing a grating beamsplitter | |
| JPH06188502A (ja) | 波長検出装置 | |
| JP2828090B2 (ja) | 露光装置 | |
| JP3516891B2 (ja) | エタロン装置 | |
| JP2617320B2 (ja) | レーザの波長制御装置 | |
| JPS63201504A (ja) | 光学式物理量測定装置 | |
| Hashimoto et al. | Concept of MEMS ring laser gyroscope with movable optical parts | |
| EP0458276B1 (en) | Doppler velocimeter | |
| KR100982346B1 (ko) | 레이저간섭계 및 이를 포함하는 레이저 리페어시스템 |