JPH01163632A - 測光回路 - Google Patents
測光回路Info
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- JPH01163632A JPH01163632A JP32337387A JP32337387A JPH01163632A JP H01163632 A JPH01163632 A JP H01163632A JP 32337387 A JP32337387 A JP 32337387A JP 32337387 A JP32337387 A JP 32337387A JP H01163632 A JPH01163632 A JP H01163632A
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- 238000005375 photometry Methods 0.000 title description 27
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 28
- 230000002411 adverse Effects 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、測光回路、詳しくはビデオカメラや電子カメ
ラにおいてダイレクト測光を採用した測光回路における
暗電流の改善に関するものである。
ラにおいてダイレクト測光を採用した測光回路における
暗電流の改善に関するものである。
[従来の技術]
従来、ダイレクト測光方式は周知である。この測光方式
の測光回路は、第3図にその従来用いられていたものの
一例を示すように、fltll光用のフォI・ダイオー
ドを含んで構成されている。即ち、ボルテージフォロワ
を形成したオペアンプ1の非反転入力端子T1には基準
電圧■か印加されている。
の測光回路は、第3図にその従来用いられていたものの
一例を示すように、fltll光用のフォI・ダイオー
ドを含んで構成されている。即ち、ボルテージフォロワ
を形成したオペアンプ1の非反転入力端子T1には基準
電圧■か印加されている。
また同端子には基準電圧Vに重畳して入力される雑音を
バイパスするためのコンデンサ13が接続されている。
バイパスするためのコンデンサ13が接続されている。
上記オペアンプ1の出力端子はFETで形成されるアナ
ログスイッチ2を介して高入力インピーダンスのオペア
ンプ3の非反転入力端子に接続されている。上記アナロ
グスイッチ2のゲートは、抵抗4,5を介し、上記オペ
アンプ1の出力端子および反転入力端子に接続されると
共に、上記両抵抗4,5の接続点は、ハイインピーダン
スのバッファを形成するF、ETからなるアナログスイ
ッチ6を介して、図示されないゲートアレイか接続され
る端子T2に接続されている。そして、上記オペアンプ
3の非反転入力端子と接地間には積分用コンデンサ7が
接続されている。この積分用コンデンサ7は、アナログ
スイッチ4のオン時にオペアンプ1の出力電圧によって
端子電圧■に充電されるようになっている。
ログスイッチ2を介して高入力インピーダンスのオペア
ンプ3の非反転入力端子に接続されている。上記アナロ
グスイッチ2のゲートは、抵抗4,5を介し、上記オペ
アンプ1の出力端子および反転入力端子に接続されると
共に、上記両抵抗4,5の接続点は、ハイインピーダン
スのバッファを形成するF、ETからなるアナログスイ
ッチ6を介して、図示されないゲートアレイか接続され
る端子T2に接続されている。そして、上記オペアンプ
3の非反転入力端子と接地間には積分用コンデンサ7が
接続されている。この積分用コンデンサ7は、アナログ
スイッチ4のオン時にオペアンプ1の出力電圧によって
端子電圧■に充電されるようになっている。
一方、撮影レンズ(図示されず)を透過した光を測光す
るフォトダイオード8は、そのアノード。
るフォトダイオード8は、そのアノード。
カソードをそれぞれオペアンプ3の反転入力端子。
非反転入力端子に接続されており、オペアンプ3の出力
端子は、同オペアンプ3の反転入力端子およびコンパレ
ータ9の非反転入力端子に接続されると共に、上記フォ
トダイオード8の光電流を出力する端子T4に接続され
ている。この端子T4は波形観測用等のチエツク端子で
ある。また、この端子T4とコンパレータ9の出力端に
は抵抗10が接続されており、コンパレータ9の同出力
端は出力端子T5に接続されると共に、同出力端には抵
抗11を介して電源電圧V。か印加されている。
端子は、同オペアンプ3の反転入力端子およびコンパレ
ータ9の非反転入力端子に接続されると共に、上記フォ
トダイオード8の光電流を出力する端子T4に接続され
ている。この端子T4は波形観測用等のチエツク端子で
ある。また、この端子T4とコンパレータ9の出力端に
は抵抗10が接続されており、コンパレータ9の同出力
端は出力端子T5に接続されると共に、同出力端には抵
抗11を介して電源電圧V。か印加されている。
上記出力端子T5に出力されるコンパレータ出力は、図
示されないゲートアレイに入力されるンヤッタ閉信号ま
たは測光終了信号として用いられる。
示されないゲートアレイに入力されるンヤッタ閉信号ま
たは測光終了信号として用いられる。
また上記コンパレータ9の反転入力端子には、D/A変
換された入力信号VTRが印加される端子T6に接続さ
れており、この端子T6には入力信号VTRに重畳され
ている雑音をバイパスするコンデンサ]2が接続されて
いる。なお、端子T3は接地端子である。
換された入力信号VTRが印加される端子T6に接続さ
れており、この端子T6には入力信号VTRに重畳され
ている雑音をバイパスするコンデンサ]2が接続されて
いる。なお、端子T3は接地端子である。
このように構成された測光回路においては、平生の測光
待機状態では端子T2に供給されている信号が“L”レ
ベルなので、アナログスイッチ6がオフである。従って
アナログスイッチ2がオン状態であるから、端子T、に
印加されている基準電圧Vは、オペアンプ1.アナログ
スイッチ2を介し積分用コンデンサ7を基準電圧Vに充
電する。
待機状態では端子T2に供給されている信号が“L”レ
ベルなので、アナログスイッチ6がオフである。従って
アナログスイッチ2がオン状態であるから、端子T、に
印加されている基準電圧Vは、オペアンプ1.アナログ
スイッチ2を介し積分用コンデンサ7を基準電圧Vに充
電する。
ここで、端子T2に測光開始信号がゲートアレイから出
力されると、同端子T2は“H”レベルになるので、ア
ナログスイッチ6がオン状態となり、アナログスイッチ
2がオフ状態となり積分用コンデンサ7の充電路が断た
れる。また、これと同時にフォトダイオード8は測光を
開始し上記積分用コンデンサ7に充電されていた電荷は
フォトダイオード8を通じて第4図に示すようにフォト
ダイオード8への入射光量に応じた光電流iとなって端
子T4に向けて放電される。この放電電流iはコンパレ
ータ9にも供給されるので、コンパレータ9はこの電流
iによる電圧と上記端子T6に供給されている入力信号
VTRとを比較する。
力されると、同端子T2は“H”レベルになるので、ア
ナログスイッチ6がオン状態となり、アナログスイッチ
2がオフ状態となり積分用コンデンサ7の充電路が断た
れる。また、これと同時にフォトダイオード8は測光を
開始し上記積分用コンデンサ7に充電されていた電荷は
フォトダイオード8を通じて第4図に示すようにフォト
ダイオード8への入射光量に応じた光電流iとなって端
子T4に向けて放電される。この放電電流iはコンパレ
ータ9にも供給されるので、コンパレータ9はこの電流
iによる電圧と上記端子T6に供給されている入力信号
VTRとを比較する。
そして、同信号VTRより低くなると、コンパレータ9
の出力、つまり端子T5から出力されるコンパレータ出
力が“L”レベルに反転するから、これがシャツタ閉信
号または測光終了信号としてゲートアレ偵に入力されて
、ここに測光が終了する。また測光が終了すると端子T
2に印加される信号が“L”レベルとなり、アナログス
イッチ6がオフするから、アナログスイッチ2がオン状
態となり積分用コンデンサ7が再度、基準電圧Vに充電
されることになる。
の出力、つまり端子T5から出力されるコンパレータ出
力が“L”レベルに反転するから、これがシャツタ閉信
号または測光終了信号としてゲートアレ偵に入力されて
、ここに測光が終了する。また測光が終了すると端子T
2に印加される信号が“L”レベルとなり、アナログス
イッチ6がオフするから、アナログスイッチ2がオン状
態となり積分用コンデンサ7が再度、基準電圧Vに充電
されることになる。
このように動作する測光回路においては、上記積分用コ
ンデンサ7から放電される電荷MQはQ=CV=it で表わされる。
ンデンサ7から放電される電荷MQはQ=CV=it で表わされる。
ここで、Cは積分用コンデンサ7の静電容量Vは積分用
コンデンサの放電開始前の 端子電圧 1は放電電流 tは放電時間である。
コンデンサの放電開始前の 端子電圧 1は放電電流 tは放電時間である。
上式を変形すると、
1=CV/l
となるから、放電電流iと放電時間tとは逆比例の関係
となる。従って、光電流1による電圧が直線的に下降し
ている時間tを知れば測光光量を知ることができる。即
ち、フォトダイオード8に入射する光量が多い場合には
、放電時間tは短くなり、入射光量か少ない場合には、
この放電時間tが長くなる。
となる。従って、光電流1による電圧が直線的に下降し
ている時間tを知れば測光光量を知ることができる。即
ち、フォトダイオード8に入射する光量が多い場合には
、放電時間tは短くなり、入射光量か少ない場合には、
この放電時間tが長くなる。
以上が従来用いられていた測光回路の動作原理である。
[発明が解決しようとする問題点コ
ところで、上記従来の測光回路においては、フォトダイ
オードの暗電流が大きく影響を及はし、使用温度範囲を
広げることがてきないという問題点かあった。一般にフ
ォトダイオードだけに限らずオペアンプの場合にも暗電
流は問題になるか、特に上記測光回路においては被写体
光を受光していないのに、温度上昇に伴ってフォトダイ
オードには逆方向の漏れ電流か大きく流れる。温度上昇
時のフォトダイオードの暗電流は、温度が10°C上る
毎に略2倍にもなる。従って、測光回路の使用温度範囲
を、−10℃〜」−60°Cに設定したところ、上記従
来の測光回路ではフォトダイオードの暗電流のために+
35℃までしか使用できないという結果を得ていた。
オードの暗電流が大きく影響を及はし、使用温度範囲を
広げることがてきないという問題点かあった。一般にフ
ォトダイオードだけに限らずオペアンプの場合にも暗電
流は問題になるか、特に上記測光回路においては被写体
光を受光していないのに、温度上昇に伴ってフォトダイ
オードには逆方向の漏れ電流か大きく流れる。温度上昇
時のフォトダイオードの暗電流は、温度が10°C上る
毎に略2倍にもなる。従って、測光回路の使用温度範囲
を、−10℃〜」−60°Cに設定したところ、上記従
来の測光回路ではフォトダイオードの暗電流のために+
35℃までしか使用できないという結果を得ていた。
また、上記従来の測光回路においては、測光開始時点に
第4図に示すように、光電変換されたオペアンプ3の出
力電圧に、スパイク状電圧へ■か発生し、測光精度が低
下するという欠点がある。
第4図に示すように、光電変換されたオペアンプ3の出
力電圧に、スパイク状電圧へ■か発生し、測光精度が低
下するという欠点がある。
即ち、積分用コンデンサ7が基準電圧Vに充電されてい
る初期状態からアナログスイッチ2かオフ状態になった
測光開始時に、本来ならば第4図に破線Ω1で示す如く
、直ちにフォトダイオード8への入射光量に応じた傾斜
で電圧Vは低下するべさところ、測光開始の瞬間にスパ
イク状に電圧へVたけ」二昇し、■十ΔVの電位の点か
ら実線β2て示すように下降する。従って、このΔVの
電圧により測光精度は悪くなる。これは測定の結果、電
源電圧■。か5■で、基準電圧■が2±0.4vの場合
、Δ■は140mVにもなり、低照度側では20%位の
誤差となる。
る初期状態からアナログスイッチ2かオフ状態になった
測光開始時に、本来ならば第4図に破線Ω1で示す如く
、直ちにフォトダイオード8への入射光量に応じた傾斜
で電圧Vは低下するべさところ、測光開始の瞬間にスパ
イク状に電圧へVたけ」二昇し、■十ΔVの電位の点か
ら実線β2て示すように下降する。従って、このΔVの
電圧により測光精度は悪くなる。これは測定の結果、電
源電圧■。か5■で、基準電圧■が2±0.4vの場合
、Δ■は140mVにもなり、低照度側では20%位の
誤差となる。
更にまた、上記従来の測光回路では、測光値による露出
補正をコンパレータ9の反転入力端子に印加される電圧
、即ち端子T6に加えられる入力信号VTRの電圧を変
化させて行なっている。ところが、測光精度を増して補
正段数を増加させたい場合には、端子T4への出力信号
のダイナミックレンジが小さいのでこれを行なうことが
できない。上記測光回路では電源電圧■が5■と低く設
定されているため、端子T4に出力される信号のダイナ
ミックレンジは2v程度しかとれない。この信号のダイ
ナミックレンジを広くてきれば、露出の補正段数も増え
、fllll光精度を上げることかできる。
補正をコンパレータ9の反転入力端子に印加される電圧
、即ち端子T6に加えられる入力信号VTRの電圧を変
化させて行なっている。ところが、測光精度を増して補
正段数を増加させたい場合には、端子T4への出力信号
のダイナミックレンジが小さいのでこれを行なうことが
できない。上記測光回路では電源電圧■が5■と低く設
定されているため、端子T4に出力される信号のダイナ
ミックレンジは2v程度しかとれない。この信号のダイ
ナミックレンジを広くてきれば、露出の補正段数も増え
、fllll光精度を上げることかできる。
このように、上記従来の測光回路においては多くの問題
点を含んでいる。
点を含んでいる。
従って、本発明の1」的は、温度上昇による暗電流の悪
影響を除き、使用温度範囲を拡張でき、かつ他の欠点も
兄事に解消した測光回路を提供するにある。
影響を除き、使用温度範囲を拡張でき、かつ他の欠点も
兄事に解消した測光回路を提供するにある。
[問題点を解決するための手段および作用コ本発明の測
光回路は、給電手段により一定量充電された積分用コン
デンサがフォトダイオードへの入射光量に応じて放電す
るときの上記コンデンサの放電レートに基づいて入射光
量を検出するようにした測光装置において、上記給電手
段から積分用コンデンサに至る給電路に介挿されたスイ
ッチング手段に、上記フォトダイオードと実質的に同一
の特性を有するフォトダイオードを遮光された状態で並
設したことを特徴とするものである。
光回路は、給電手段により一定量充電された積分用コン
デンサがフォトダイオードへの入射光量に応じて放電す
るときの上記コンデンサの放電レートに基づいて入射光
量を検出するようにした測光装置において、上記給電手
段から積分用コンデンサに至る給電路に介挿されたスイ
ッチング手段に、上記フォトダイオードと実質的に同一
の特性を有するフォトダイオードを遮光された状態で並
設したことを特徴とするものである。
[実 施 例]
以下、図示の一実施例により本発明を説明する。
なお、本実施例の測光回路において、上記第3図に示し
た従来の測光回路と同一の構成部材については、同一の
符号を付すに止め、その説明が重複するのを避ける。
た従来の測光回路と同一の構成部材については、同一の
符号を付すに止め、その説明が重複するのを避ける。
第1図は、本発明の一実施例を示す測光回路の電気回路
図である。
図である。
本実施例においては、ダイレクト測光用のフォトダイオ
ード8の近傍に同ダイオード8と実質的に同一の特性を
有する補償用のフォトダイオード16が、遮光した状態
で、アナログスイッチ2と並列に接続されている。即ち
、このフォトダイオード16は、そのアノード、カソー
ドをそれぞれFETで形成されたアナログスイッチ2の
ドレイン、ソースに接続されて配設されている。また、
本実施例においては電源電圧V。を、例えば7Vに上昇
して設定し、オペアンプ1に印加する基準電圧■を可変
抵抗器]4で調節できるようにして、例えば4■に設定
してあり、更にコンパレータ9の反転入力端子への印加
電圧を可変抵抗器15によって調節して印加し得るよう
に構成しである。
ード8の近傍に同ダイオード8と実質的に同一の特性を
有する補償用のフォトダイオード16が、遮光した状態
で、アナログスイッチ2と並列に接続されている。即ち
、このフォトダイオード16は、そのアノード、カソー
ドをそれぞれFETで形成されたアナログスイッチ2の
ドレイン、ソースに接続されて配設されている。また、
本実施例においては電源電圧V。を、例えば7Vに上昇
して設定し、オペアンプ1に印加する基準電圧■を可変
抵抗器]4で調節できるようにして、例えば4■に設定
してあり、更にコンパレータ9の反転入力端子への印加
電圧を可変抵抗器15によって調節して印加し得るよう
に構成しである。
このように構成されている本実施例においては、平生の
測光待機状態でアナログスイッチ2がオンしているので
、積分用コンデンサ7は基準電圧Vに充電される。そし
て、測光開始信号が端子T2に加えられると、アナログ
スイッチ2がオフ状態になり、測光が開始される。この
とき、測光用フォトダイオード8へ入射する被写体光が
非常に弱くて殆んど光電流1が流れないような場合、積
分用コンデンサ7に充電された電荷はそのまま保持され
る筈であるが、実際には温度に影響されてフォトダイオ
ード8の暗電流■1により放電し、同コンデンサ7の電
位は徐々に低下する。
測光待機状態でアナログスイッチ2がオンしているので
、積分用コンデンサ7は基準電圧Vに充電される。そし
て、測光開始信号が端子T2に加えられると、アナログ
スイッチ2がオフ状態になり、測光が開始される。この
とき、測光用フォトダイオード8へ入射する被写体光が
非常に弱くて殆んど光電流1が流れないような場合、積
分用コンデンサ7に充電された電荷はそのまま保持され
る筈であるが、実際には温度に影響されてフォトダイオ
ード8の暗電流■1により放電し、同コンデンサ7の電
位は徐々に低下する。
ところが、本発明においては測光用のフォトダイオード
8の側近に配設されていて、アナログスイッチ2に並列
に挿入された温度補償用のフォトダイオード16が設け
られているため、積分用コンデンサ7とフォトダイオー
ド このフォトダイオード16からillll光用のフォト
ダイオード8と同じ温度」1昇による暗電流■2が流れ
込む。従って、遮光されたフォトダイオード16から流
入する暗電流■2と測光用フォトダイオード8から流出
する暗電流11とが大略等しいので、見かけ上、暗電流
は零と見做すことかでき、P点における電流の出入はな
くなる。
8の側近に配設されていて、アナログスイッチ2に並列
に挿入された温度補償用のフォトダイオード16が設け
られているため、積分用コンデンサ7とフォトダイオー
ド このフォトダイオード16からillll光用のフォト
ダイオード8と同じ温度」1昇による暗電流■2が流れ
込む。従って、遮光されたフォトダイオード16から流
入する暗電流■2と測光用フォトダイオード8から流出
する暗電流11とが大略等しいので、見かけ上、暗電流
は零と見做すことかでき、P点における電流の出入はな
くなる。
つまり、温度補償用のフォトダイオード]6が無い場合
には、非常に長い時間間隔で見たとき、フォトダイオー
ド8の暗電流によって積分用コンデンサ7の充電電圧は
零になるまで放電されてしまう筈であるか、補償用ダイ
オード]6の働きにより、殆ど暗電流を無視することが
できる。
には、非常に長い時間間隔で見たとき、フォトダイオー
ド8の暗電流によって積分用コンデンサ7の充電電圧は
零になるまで放電されてしまう筈であるか、補償用ダイ
オード]6の働きにより、殆ど暗電流を無視することが
できる。
第2図(A)(B)は、」二記第1図の測光回路におけ
るそれぞれ端子T2に印加される信号波形と積分用コン
デンサ7の電圧波形をオシロスコープで観測したもので
、第2図(A)は温度補償用のフ第1・ダイオード]6
の無い場合、第2図(B)は補償用のフォトダイオード
16の有る場合をそれぞれ示す。第2図(A)に示され
るように、フォトダイオード8に被写体光か入射されて
いなくても、同ダイオード8の暗電流によって積分用コ
ンデンサ7の電位は低下する。これに対して第2図(B
)に示す如く、フォトダイオード16を設けた場合には
、暗電流が殆ど流れないと見做せるので積分用コンデン
ザ7の電位は変化しないことが解る。
るそれぞれ端子T2に印加される信号波形と積分用コン
デンサ7の電圧波形をオシロスコープで観測したもので
、第2図(A)は温度補償用のフ第1・ダイオード]6
の無い場合、第2図(B)は補償用のフォトダイオード
16の有る場合をそれぞれ示す。第2図(A)に示され
るように、フォトダイオード8に被写体光か入射されて
いなくても、同ダイオード8の暗電流によって積分用コ
ンデンサ7の電位は低下する。これに対して第2図(B
)に示す如く、フォトダイオード16を設けた場合には
、暗電流が殆ど流れないと見做せるので積分用コンデン
ザ7の電位は変化しないことが解る。
一般に、温度と暗電流との間には、前述のように、温度
が10℃上昇する毎に暗電流は2倍になるという電気的
には指数関数的な関係にある。よって、本実施例の如く
、フォトダイオード8と16とが距離的に近接されて配
置されていると、両ダイオード8,16の温度は同じよ
うに上昇する。
が10℃上昇する毎に暗電流は2倍になるという電気的
には指数関数的な関係にある。よって、本実施例の如く
、フォトダイオード8と16とが距離的に近接されて配
置されていると、両ダイオード8,16の温度は同じよ
うに上昇する。
従って、常温では勿論のこと、高温時にも常温時と同様
に暗電流を効率良く防止することができる。
に暗電流を効率良く防止することができる。
また、本発明のように補償用のフォトダイオード16を
設けない場合、140mV程度あったスパイク状電圧Δ
■も、フォトダイオード16を設けて暗電流が防止され
ることによって約40mVに低減されたことか実験によ
り確められた。更に」1記実施例においては電源電圧を
、例えば7Vに上昇したので、これによりダイナミック
レンジも拡大され、露出段数を増加でき、測光精度を向
上させることができた。
設けない場合、140mV程度あったスパイク状電圧Δ
■も、フォトダイオード16を設けて暗電流が防止され
ることによって約40mVに低減されたことか実験によ
り確められた。更に」1記実施例においては電源電圧を
、例えば7Vに上昇したので、これによりダイナミック
レンジも拡大され、露出段数を増加でき、測光精度を向
上させることができた。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば、測光用のフオドダイ
オードと実質的に同一の特性を有するフォトダイオード
を遮光された状態で、上記測光用フォトダイオードの近
傍のアナログスイッチに並設することにより、この並設
されたフォトダイオードのリーク電流により、測光用の
フォトダイオードの暗電流を見掛上、零とすることかで
きるので、従来の測光回路の欠点を除去し、広範囲で有
効な温度補償特性を有する測光回路を提供することがで
きる。
オードと実質的に同一の特性を有するフォトダイオード
を遮光された状態で、上記測光用フォトダイオードの近
傍のアナログスイッチに並設することにより、この並設
されたフォトダイオードのリーク電流により、測光用の
フォトダイオードの暗電流を見掛上、零とすることかで
きるので、従来の測光回路の欠点を除去し、広範囲で有
効な温度補償特性を有する測光回路を提供することがで
きる。
第1図は、本発明の一実施例を示す測光回路の電気回路
図、 第2図(A) 、 (B)は、上記第1図における端子
T2と積分用コンデンサの電圧波形をそれぞれ示す図、 第3図は、従来の測光回路の電気回路図、第4図は、上
記第3図における各端子に入出力される信号電圧の波形
図である。 1・・・・・・・・・・オペアンプ(給電手段)2・・
・・・・・・・・・・アナログスイッチ(スイッチング
手段)
図、 第2図(A) 、 (B)は、上記第1図における端子
T2と積分用コンデンサの電圧波形をそれぞれ示す図、 第3図は、従来の測光回路の電気回路図、第4図は、上
記第3図における各端子に入出力される信号電圧の波形
図である。 1・・・・・・・・・・オペアンプ(給電手段)2・・
・・・・・・・・・・アナログスイッチ(スイッチング
手段)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 給電手段により一定量充電されたキャパシタがフォトダ
イオードへの入射光量に応じて放電するときの上記キャ
パシタの放電レートに基づいて入射光量を検出するよう
になされた測光装置において、 上記給電手段からキャパシタに至る給電路に介挿された
スイッチング手段に上記フォトダイオードと実質的に同
一の特性を有するフォトダイオードを遮光された状態で
並設したことを特徴とする測光回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32337387A JPH01163632A (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | 測光回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32337387A JPH01163632A (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | 測光回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01163632A true JPH01163632A (ja) | 1989-06-27 |
Family
ID=18154036
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32337387A Pending JPH01163632A (ja) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | 測光回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01163632A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010040981A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器 |
| JP2014162139A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Konica Minolta Inc | 光書き込み装置および画像形成装置 |
| WO2023165126A1 (zh) * | 2022-03-01 | 2023-09-07 | 青岛海尔空调器有限总公司 | 空调除菌的控制方法、控制系统、电子设备和存储介质 |
-
1987
- 1987-12-21 JP JP32337387A patent/JPH01163632A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010040981A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置、及び当該光電変換装置を具備する電子機器 |
| JP2014162139A (ja) * | 2013-02-26 | 2014-09-08 | Konica Minolta Inc | 光書き込み装置および画像形成装置 |
| WO2023165126A1 (zh) * | 2022-03-01 | 2023-09-07 | 青岛海尔空调器有限总公司 | 空调除菌的控制方法、控制系统、电子设备和存储介质 |
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