JPH01185928A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPH01185928A JPH01185928A JP1118688A JP1118688A JPH01185928A JP H01185928 A JPH01185928 A JP H01185928A JP 1118688 A JP1118688 A JP 1118688A JP 1118688 A JP1118688 A JP 1118688A JP H01185928 A JPH01185928 A JP H01185928A
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- sheet
- solder
- metal heat
- vacuum
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistors electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、金属放熱板上に絶縁板を介して金属1it8
iI板を有する半導体素子の複数個を固着し組立てる半
導体装置の製造方法である。
iI板を有する半導体素子の複数個を固着し組立てる半
導体装置の製造方法である。
このような半導体装置の組立てのためには、各部品間を
はんだを用いて結合する方法がとられている。半導体素
子単体の場合は、第2図ta+に示すように一方の電極
を蓋ねる金属基板1の上にはんだ板21.シリコンチッ
プ3.はんだ板22.上部電極4を積重ね、上部電橋に
はまる重錘5を載せて水素と窒素の混合ガス中で加熱す
る。これによりはんだ板21.22が溶融し、冷却後第
2図(′b)のよう第2図に示したようなはんだ付の面
積が10u角程度の場合には良好なはんだ付けができる
。ところが、第3図のように第2図に示した素子の複数
個を互いに絶縁するために、セラミック仮6を介して放
熱板としての金属基板7の上に固着する場合、表面にメ
タライズを施したセラミック仮6と金属基板7の間のは
んだ付は面積が大きくなると、重錘の荷重が均一に加わ
らない、温度上昇が均一でないためはんだが同時に溶融
しない、その他の理由で気体が気泡としてはんだの中に
残るため、第4図のようにはんだ24によるはんだ行部
分に多数の巣10が発生し、はんだ付けの有効面積が減
少する。
はんだを用いて結合する方法がとられている。半導体素
子単体の場合は、第2図ta+に示すように一方の電極
を蓋ねる金属基板1の上にはんだ板21.シリコンチッ
プ3.はんだ板22.上部電極4を積重ね、上部電橋に
はまる重錘5を載せて水素と窒素の混合ガス中で加熱す
る。これによりはんだ板21.22が溶融し、冷却後第
2図(′b)のよう第2図に示したようなはんだ付の面
積が10u角程度の場合には良好なはんだ付けができる
。ところが、第3図のように第2図に示した素子の複数
個を互いに絶縁するために、セラミック仮6を介して放
熱板としての金属基板7の上に固着する場合、表面にメ
タライズを施したセラミック仮6と金属基板7の間のは
んだ付は面積が大きくなると、重錘の荷重が均一に加わ
らない、温度上昇が均一でないためはんだが同時に溶融
しない、その他の理由で気体が気泡としてはんだの中に
残るため、第4図のようにはんだ24によるはんだ行部
分に多数の巣10が発生し、はんだ付けの有効面積が減
少する。
この弊害を防ぐ工夫としては、第5図fa)、(blの
ようにセラミック板6と金属基板7にそれぞれ予めはん
だ層8を付けてその面を組合わせし、フォーミングガス
中にてはんだ付けする方法もあるが、この方法では第4
図より若干巣は減少するもののまだ良好なはんだ付けは
得られない、そのため、固着面積の大きい半導体装置の
はんだ付けに一般的に採用されているのは、第5図のよ
うに予備はんだ付けした部品を第5図fclのように熱
illの上に乗せ、はんだ溶融後治具12を用いて人手
13によって部品をこすり合わせて、気泡を追い出す方
法である。この方法の欠点は、工数がかかること、人手
によるため巣のばらつきが大きく、最良の場合でも巣が
皆無にならない、などがあげられる。
ようにセラミック板6と金属基板7にそれぞれ予めはん
だ層8を付けてその面を組合わせし、フォーミングガス
中にてはんだ付けする方法もあるが、この方法では第4
図より若干巣は減少するもののまだ良好なはんだ付けは
得られない、そのため、固着面積の大きい半導体装置の
はんだ付けに一般的に採用されているのは、第5図のよ
うに予備はんだ付けした部品を第5図fclのように熱
illの上に乗せ、はんだ溶融後治具12を用いて人手
13によって部品をこすり合わせて、気泡を追い出す方
法である。この方法の欠点は、工数がかかること、人手
によるため巣のばらつきが大きく、最良の場合でも巣が
皆無にならない、などがあげられる。
本発明の目的は、大面積のはんだ付は部分においても巣
が発生せず、部品間の固着の[1!性の高い半導体装置
の製造方法を提供することにある。
が発生せず、部品間の固着の[1!性の高い半導体装置
の製造方法を提供することにある。
(門門譬を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために、本発明は、金属放熱板上
に絶縁板を介して金属電極板を有する半導体素子の複数
個を固着し組立てる際に、絶縁板としての両面にメタラ
イズを施したセラミック板を用い、金属放熱板の絶縁板
との固着領域および絶縁板の各素子の電極板との固着領
域に予めクリーム状はんだを印刷したのち、金属放熱板
、絶縁板、半導体素子を積重ね、真空中で加熱するもの
とする。
に絶縁板を介して金属電極板を有する半導体素子の複数
個を固着し組立てる際に、絶縁板としての両面にメタラ
イズを施したセラミック板を用い、金属放熱板の絶縁板
との固着領域および絶縁板の各素子の電極板との固着領
域に予めクリーム状はんだを印刷したのち、金属放熱板
、絶縁板、半導体素子を積重ね、真空中で加熱するもの
とする。
はんだ付けずべき領域にクリーム状はんだを予め印刷し
ておいて、各部品を重ねておき、真空中で加熱すること
により、部品間の間隙およびはんだ材料に含まれるガス
が排気されるので、重錘による荷重を加えることなく良
好なはんだ付けができる。
ておいて、各部品を重ねておき、真空中で加熱すること
により、部品間の間隙およびはんだ材料に含まれるガス
が排気されるので、重錘による荷重を加えることなく良
好なはんだ付けができる。
以下、前出の各図と共通の部分には同一の符号を付した
図を引用して本発明の一実施例について説明する。第6
図(a)、〜)に示すメタライズを施したセラミック基
板6および金属基板7にスクリーン印刷によりクリーム
状はんだN9を被着する。
図を引用して本発明の一実施例について説明する。第6
図(a)、〜)に示すメタライズを施したセラミック基
板6および金属基板7にスクリーン印刷によりクリーム
状はんだN9を被着する。
印刷される領域は、セラミック基板6では半導体素子の
金属電極板がはんだ付けされる領域、金属基板7ではセ
ラミック基板6のはんだ付けする領域である。これらを
第1図に示すように二つの治具14 、15に組入れ、
さらにセラミック板6のクリーム状はんだ層9の領域の
上に金属電極板1が接触するように半導体素子を組入れ
る。
金属電極板がはんだ付けされる領域、金属基板7ではセ
ラミック基板6のはんだ付けする領域である。これらを
第1図に示すように二つの治具14 、15に組入れ、
さらにセラミック板6のクリーム状はんだ層9の領域の
上に金属電極板1が接触するように半導体素子を組入れ
る。
このように各部品を組入れた治具14.15を真空炉に
入れて加熱する。第7図は真空炉中のはんだ付はプロセ
スを示す、実′IJA81は温度、 11M82は真空
度を示し、83は炉内温度である0時点Aで真空炉の扉
を開いて治具14.15を入れ、炉内の熱板の上に載せ
る0時点Bにおいて真空炉の扉を閉じ、真空ポンプによ
つて真空引きをはじめる。真空炉内は時点Cにおいて真
空度10−1気圧に到達する。
入れて加熱する。第7図は真空炉中のはんだ付はプロセ
スを示す、実′IJA81は温度、 11M82は真空
度を示し、83は炉内温度である0時点Aで真空炉の扉
を開いて治具14.15を入れ、炉内の熱板の上に載せ
る0時点Bにおいて真空炉の扉を閉じ、真空ポンプによ
つて真空引きをはじめる。真空炉内は時点Cにおいて真
空度10−1気圧に到達する。
この時点Cが治具内の部品の温度がはんだの融点183
℃に達するよりも以前であることが重要である。それに
よりはんだの溶融特にはんだより出る空気またはフォー
ミングガスなどを排気し、巣を防止するためである。時
点りで部品の温度がはんだの融点を超え一定の温度に達
し、設定した時間の時点Eで真空ポンプが停止するとと
もに窒素ガスが封入するので、時点Fで真空炉の中は大
気、圧となる0時点Eで治具は熱板から浮き上がり、窒
素の封入によって部品は冷却されはんだは凝固し、凝固
点以下の温度の時点Gで真空炉より取り出し、大気中で
放置冷却することによってはんだ付けが完了する0時点
Aから時点Gまでは8〜9分要するのみである。
℃に達するよりも以前であることが重要である。それに
よりはんだの溶融特にはんだより出る空気またはフォー
ミングガスなどを排気し、巣を防止するためである。時
点りで部品の温度がはんだの融点を超え一定の温度に達
し、設定した時間の時点Eで真空ポンプが停止するとと
もに窒素ガスが封入するので、時点Fで真空炉の中は大
気、圧となる0時点Eで治具は熱板から浮き上がり、窒
素の封入によって部品は冷却されはんだは凝固し、凝固
点以下の温度の時点Gで真空炉より取り出し、大気中で
放置冷却することによってはんだ付けが完了する0時点
Aから時点Gまでは8〜9分要するのみである。
(発明の効果)
本発明によれば、複数の半導体素子をメタライズを施し
たセラミック板を介して金属放熱板の上に固着する際、
はんだ付けすべき領域に予めクリーム状はんだを印刷し
、真空中で加熱することにより、金属放熱板とセラミン
ク板との間の大面積のはんだ付け、各素子の電極板とセ
ラミック板との均一なはんだ付けが1!錘を用いなくて
も可能となり、多数の半導体素子を複合した半導体装置
を従来の173の工数で製造することができた。
たセラミック板を介して金属放熱板の上に固着する際、
はんだ付けすべき領域に予めクリーム状はんだを印刷し
、真空中で加熱することにより、金属放熱板とセラミン
ク板との間の大面積のはんだ付け、各素子の電極板とセ
ラミック板との均一なはんだ付けが1!錘を用いなくて
も可能となり、多数の半導体素子を複合した半導体装置
を従来の173の工数で製造することができた。
第1図は本発明の一実施例のはんだ付工程の治具の断面
図、第2図(a)、(1))は単一半導体素子でta+
ははんだ付は工程時の断面図、(blははんだ付は後の
断面図、第3図は従来の複合半導体装置のはんだ付は工
程時の断面図、第4図は第3図の工程において生ずるは
んだ付けの不良を示す平面図、第5図(al〜+c+は
従来の改良されたはんだ付は工程を示し、(al、(b
)はそれぞれ予備はんだを施したセラミック板および金
属基板の平面図、(C1ははんだ付は作業時の正面図、
第6図(a)、(至))は第1図に示した治具に入れる
前のセラミンク板および金属基板の平面図、第7図は本
発明の一実施例のはんだ付は工程の温度および真空度の
経過を示す線図である。 1:半導体素子金属電橋板、3:Siチップ、4:上部
電極、6:セラミック板、7:金属基板、9:クリーム
状はんだ層、14.15:治具。 第2図 第3図 第4図
図、第2図(a)、(1))は単一半導体素子でta+
ははんだ付は工程時の断面図、(blははんだ付は後の
断面図、第3図は従来の複合半導体装置のはんだ付は工
程時の断面図、第4図は第3図の工程において生ずるは
んだ付けの不良を示す平面図、第5図(al〜+c+は
従来の改良されたはんだ付は工程を示し、(al、(b
)はそれぞれ予備はんだを施したセラミック板および金
属基板の平面図、(C1ははんだ付は作業時の正面図、
第6図(a)、(至))は第1図に示した治具に入れる
前のセラミンク板および金属基板の平面図、第7図は本
発明の一実施例のはんだ付は工程の温度および真空度の
経過を示す線図である。 1:半導体素子金属電橋板、3:Siチップ、4:上部
電極、6:セラミック板、7:金属基板、9:クリーム
状はんだ層、14.15:治具。 第2図 第3図 第4図
Claims (1)
- 1)金属放熱板上に絶縁板を介して金属電極板を有する
半導体素子の複数個を固着し組立てる際に、絶縁板とし
て両面にメタライズを施したセラミック板を用い、金属
放熱板の絶縁板との固着領域および絶縁板の各素子の電
極板との固着領域に予めクリーム状はんだを印刷したの
ち金属放熱板、絶縁板、半導体素子を積重ね、真空中で
加熱することを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1118688A JPH01185928A (ja) | 1988-01-21 | 1988-01-21 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1118688A JPH01185928A (ja) | 1988-01-21 | 1988-01-21 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01185928A true JPH01185928A (ja) | 1989-07-25 |
Family
ID=11771038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1118688A Pending JPH01185928A (ja) | 1988-01-21 | 1988-01-21 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01185928A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5145980A (en) * | 1974-10-17 | 1976-04-19 | Matsushita Electronics Corp | Handotaisochino seizohoho |
| JPS53109477A (en) * | 1977-03-07 | 1978-09-25 | Toshiba Corp | Mounting method of semiconductor element |
| JPS5848926A (ja) * | 1981-09-18 | 1983-03-23 | Hitachi Ltd | 絶縁型半導体装置 |
| JPS61220345A (ja) * | 1985-03-26 | 1986-09-30 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置の製造方法 |
-
1988
- 1988-01-21 JP JP1118688A patent/JPH01185928A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5145980A (en) * | 1974-10-17 | 1976-04-19 | Matsushita Electronics Corp | Handotaisochino seizohoho |
| JPS53109477A (en) * | 1977-03-07 | 1978-09-25 | Toshiba Corp | Mounting method of semiconductor element |
| JPS5848926A (ja) * | 1981-09-18 | 1983-03-23 | Hitachi Ltd | 絶縁型半導体装置 |
| JPS61220345A (ja) * | 1985-03-26 | 1986-09-30 | Nec Kansai Ltd | 半導体装置の製造方法 |
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