JPH0119112Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0119112Y2 JPH0119112Y2 JP1982133392U JP13339282U JPH0119112Y2 JP H0119112 Y2 JPH0119112 Y2 JP H0119112Y2 JP 1982133392 U JP1982133392 U JP 1982133392U JP 13339282 U JP13339282 U JP 13339282U JP H0119112 Y2 JPH0119112 Y2 JP H0119112Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- light
- signal
- distance
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、投光器から光パルスを発生した時
点から、受光器で反射光パルスを受光した時点ま
での遅延時間に基づいて被測距体までの距離を求
める光レーダ装置に関し、特に前記遅延時間を精
度良く検出するようにした光レーダ装置に関す
る。
点から、受光器で反射光パルスを受光した時点ま
での遅延時間に基づいて被測距体までの距離を求
める光レーダ装置に関し、特に前記遅延時間を精
度良く検出するようにした光レーダ装置に関す
る。
従来の光レーダ装置としては、例えば第１図に
示すように、投光器１と、受光器２と、制御回路
３とから概略構成されている。
示すように、投光器１と、受光器２と、制御回路
３とから概略構成されている。
上記投光器１は、前記制御回路３のパルス発生
器６から、例えば第３図ａに示すような繰返し周
期Tp、パルス幅Twの駆動信号Ａが、上記投光
器１内の半導体レーザ等の発光素子４へ供給され
ると、この発光素子４から、第３図ｂに示すよう
に前記駆動信号Ａによつてパルス変調されたレー
ザ光等のコヒーレントな光パルスLt（波長をλと
する）が発生される。
器６から、例えば第３図ａに示すような繰返し周
期Tp、パルス幅Twの駆動信号Ａが、上記投光
器１内の半導体レーザ等の発光素子４へ供給され
ると、この発光素子４から、第３図ｂに示すよう
に前記駆動信号Ａによつてパルス変調されたレー
ザ光等のコヒーレントな光パルスLt（波長をλと
する）が発生される。
この光パルスLtは、集光レンズ９によつて広
がり角θtの放射光線に整形されて、前方の距離を
求めようとする目標物体（以下、被測距体と称
す）へ向けて照射される。
がり角θtの放射光線に整形されて、前方の距離を
求めようとする目標物体（以下、被測距体と称
す）へ向けて照射される。
上記被測距体に上記光パルスLtが反射されて
戻つてくる反射光パルスLrは、第３図ｃに示す
ような微弱なもので、この反射光パルスLrは、
前記受光器２の集光レンズ１０によつて集光さ
れ、干渉フイルタ１１を介して背光ノイズ（太陽
光や人工照明光等）を除去した後、集光レンズの
焦点位置に配設された受光素子５へ入射される。
戻つてくる反射光パルスLrは、第３図ｃに示す
ような微弱なもので、この反射光パルスLrは、
前記受光器２の集光レンズ１０によつて集光さ
れ、干渉フイルタ１１を介して背光ノイズ（太陽
光や人工照明光等）を除去した後、集光レンズの
焦点位置に配設された受光素子５へ入射される。
すると、上記受光素子５から第２図ｄに示すよ
うな受光信号Ｂが出力されて制御回路３へ供給さ
れる。
うな受光信号Ｂが出力されて制御回路３へ供給さ
れる。
そして、前記受光信号Ｂは、パルス検出器７で
増幅されてパルス整形された後、距離検出回路８
へ供給される。上記パルス整形を行なう際には、
上記受光信号Ｂのパルス前縁を検出して第３図ｆ
に示すようなトリガ信号Ｄに整形している。
増幅されてパルス整形された後、距離検出回路８
へ供給される。上記パルス整形を行なう際には、
上記受光信号Ｂのパルス前縁を検出して第３図ｆ
に示すようなトリガ信号Ｄに整形している。
上記距離検出回路８では、上記トリガ信号Ｄの
他に第３図ｅに示すように駆動信号Ａに同期して
発生するトリガ信号Ｃが供給されており、距離検
出回路８は、上記トリガ信号Ｃに対する、上記ト
リガ信号Ｄの遅延時間τを求めて、距離データＥ
として出力している。
他に第３図ｅに示すように駆動信号Ａに同期して
発生するトリガ信号Ｃが供給されており、距離検
出回路８は、上記トリガ信号Ｃに対する、上記ト
リガ信号Ｄの遅延時間τを求めて、距離データＥ
として出力している。
上記距離検出回路８は、例えば第２図に示すよ
うに、上記トリガ信号Ｃと反射光パルス信号Ｄと
によつてセツト、リセツトされるフリツプフロツ
プ８１と、高周波発振器８２と、ANDゲート８
３および、高速カウンタ８４とから構成されてい
る。
うに、上記トリガ信号Ｃと反射光パルス信号Ｄと
によつてセツト、リセツトされるフリツプフロツ
プ８１と、高周波発振器８２と、ANDゲート８
３および、高速カウンタ８４とから構成されてい
る。
そして、第３図ｇに示すような、上記フリツプ
フロツプ８１の出力Ｆによつて、上記ANDゲー
ト８３が遅延時間τの期間だけ開かれて、第３図
ｈに示すような高周波発振器８２の出力Ｇのう
ち、第３図ｉに示すように上記遅延時間τに相当
するパルス数の信号Ｈが高速カウンタ８４へ供給
される。
フロツプ８１の出力Ｆによつて、上記ANDゲー
ト８３が遅延時間τの期間だけ開かれて、第３図
ｈに示すような高周波発振器８２の出力Ｇのう
ち、第３図ｉに示すように上記遅延時間τに相当
するパルス数の信号Ｈが高速カウンタ８４へ供給
される。
これによつて、高速カウンタ８４からは、前記
遅延時間τに比例した距離データＥが出力され
る。
遅延時間τに比例した距離データＥが出力され
る。
この距離データＥは、例えばマイクロコンピユ
ータ等の演算回路へ供給されて、前記被測距体ま
での距離Ｒ（Ｒ＝（光速）・τ／２）が算出される
こととなる。
ータ等の演算回路へ供給されて、前記被測距体ま
での距離Ｒ（Ｒ＝（光速）・τ／２）が算出される
こととなる。
しかしながら、上記のような従来の光レーダ装
置にあつては、上記反射光パルスLrのパルス前
縁を検出して、前記遅延時間τを求める構成とな
つているため、前記被測距体までの距離や被測距
体における反射率の変化等に起因して、第４図に
示す出力Ｂ１，Ｂ２のように、反射光パルスLr
の受光出力の波高値が大きく変化すると、上記受
光出力Ｂ１とＢ２に基づいて検出される遅延時間
τ1とτ2は大きく異なるものとなり、このため、被
測距体までの距離を正確に求めることができなく
なる。
置にあつては、上記反射光パルスLrのパルス前
縁を検出して、前記遅延時間τを求める構成とな
つているため、前記被測距体までの距離や被測距
体における反射率の変化等に起因して、第４図に
示す出力Ｂ１，Ｂ２のように、反射光パルスLr
の受光出力の波高値が大きく変化すると、上記受
光出力Ｂ１とＢ２に基づいて検出される遅延時間
τ1とτ2は大きく異なるものとなり、このため、被
測距体までの距離を正確に求めることができなく
なる。
この考案は、上記の事情に鑑みてなされたもの
で、光パルスの発生時点から、受光した反射光パ
ルスの前縁までの時間および反射光パルスの後縁
までの時間を検出するとともに、これら検出され
た遅延信号を交互に選択して出力する手段を設
け、前記両検出信号のパルス幅の平均値に比例し
た直流電圧信号を取り出すことにより、被測距体
までの距離を正確にしかも簡易な手段で検出する
ことのできる光レーダ装置を提供することを目的
とする。
で、光パルスの発生時点から、受光した反射光パ
ルスの前縁までの時間および反射光パルスの後縁
までの時間を検出するとともに、これら検出され
た遅延信号を交互に選択して出力する手段を設
け、前記両検出信号のパルス幅の平均値に比例し
た直流電圧信号を取り出すことにより、被測距体
までの距離を正確にしかも簡易な手段で検出する
ことのできる光レーダ装置を提供することを目的
とする。
以下、この考案の一実施例を第５図以下の図面
を用いて詳細に説明する。
を用いて詳細に説明する。
第５図は、本考案に係る光レーダ装置の一実施
例を示す回路図である。なお、この実施例におい
ては、前記第１図で示した従来例のパルス検出器
７および距離検出回路８の部分を改良したもので
あり、その他の構成部分は全て上記従来例のもの
と同一であるため、それらの図示および説明は省
略する。
例を示す回路図である。なお、この実施例におい
ては、前記第１図で示した従来例のパルス検出器
７および距離検出回路８の部分を改良したもので
あり、その他の構成部分は全て上記従来例のもの
と同一であるため、それらの図示および説明は省
略する。
第５図に示す如く、前記第１図に示した受光素
子５からの反射光パルス受光信号Ｂと、パルス発
生器６からのトリガ信号Ｃとがそれぞれ入力端子
１１，１２へ印加されている。
子５からの反射光パルス受光信号Ｂと、パルス発
生器６からのトリガ信号Ｃとがそれぞれ入力端子
１１，１２へ印加されている。
上記トリガ信号Ｃは、前縁検出回路１３と1/2
分周期１４へ供給され、上記受光信号Ｂは、後縁
検出回路１５および上記前縁検出回路１３へ供給
されている。
分周期１４へ供給され、上記受光信号Ｂは、後縁
検出回路１５および上記前縁検出回路１３へ供給
されている。
上記前縁検出回路１３は、上記トリガ信号Ｃの
立上がりを検出して高速パルスＨを出力するイン
バータ１３ａおよびANDゲート１３ｂと、上記
高速パルスＨによつてセツトされるとともに、上
記受光信号Ｂの立上がり、すなわちパルス前縁に
よつてリセツトされるフリツプフロツプ１３ｃと
から構成されており、フリツプフロツプ１３ｃか
らは、上記トリガ信号Ｃの立上がりから上記受光
信号Ｂのパルス前縁までの遅延時間に対応する前
縁検出信号Ｋが出力される。
立上がりを検出して高速パルスＨを出力するイン
バータ１３ａおよびANDゲート１３ｂと、上記
高速パルスＨによつてセツトされるとともに、上
記受光信号Ｂの立上がり、すなわちパルス前縁に
よつてリセツトされるフリツプフロツプ１３ｃと
から構成されており、フリツプフロツプ１３ｃか
らは、上記トリガ信号Ｃの立上がりから上記受光
信号Ｂのパルス前縁までの遅延時間に対応する前
縁検出信号Ｋが出力される。
上記後縁検出回路１５は、上記受光信号Ｂの立
下がりの終了点、すなわちパルス後縁を検出して
高速パルスＩを出力するインバータ１５ａおよび
NANDゲート１５ｂと、上記前縁検出回路１３
のANDゲート１３ｂからの高速パルスＨによつ
てセツトされるとともに、上記NANDゲート１
５ｂからの高速パルスＩによつてリセツトされる
フリツプフロツプ１５ｃとから構成されており、
フリツプフロツプ１５ｃからは、上記トリガ信号
Ｃの立上がりから上記受光信号Ｂのパルス後縁ま
での遅延時間に対応する後縁検出信号Ｊが出力さ
れる。
下がりの終了点、すなわちパルス後縁を検出して
高速パルスＩを出力するインバータ１５ａおよび
NANDゲート１５ｂと、上記前縁検出回路１３
のANDゲート１３ｂからの高速パルスＨによつ
てセツトされるとともに、上記NANDゲート１
５ｂからの高速パルスＩによつてリセツトされる
フリツプフロツプ１５ｃとから構成されており、
フリツプフロツプ１５ｃからは、上記トリガ信号
Ｃの立上がりから上記受光信号Ｂのパルス後縁ま
での遅延時間に対応する後縁検出信号Ｊが出力さ
れる。
上記２つのフリツプフロツプ１３ｃ，１５ｃか
ら出力された前縁検出信号Ｋと後縁検出信号Ｊ
は、上記1/2分周期１４の出力ＭとＱ出力Ｌと
ともに、各々ANDゲート１６，１７へ供給され、
上記ANDゲート１６，１７の出力Ｎ，ＯはORゲ
ート１８を介して平均化回路１９へ供給されてい
る。
ら出力された前縁検出信号Ｋと後縁検出信号Ｊ
は、上記1/2分周期１４の出力ＭとＱ出力Ｌと
ともに、各々ANDゲート１６，１７へ供給され、
上記ANDゲート１６，１７の出力Ｎ，ＯはORゲ
ート１８を介して平均化回路１９へ供給されてい
る。
上記平均化回路１９は、上記OR回路１８の出
力Ｐに応答してスイツチングする高速トランジス
タ（高速FETでもよい）２０と、このトランジ
スタ２０のスイツチング出力を直流電圧信号に変
換する平滑回路２１とから構成されている。
力Ｐに応答してスイツチングする高速トランジス
タ（高速FETでもよい）２０と、このトランジ
スタ２０のスイツチング出力を直流電圧信号に変
換する平滑回路２１とから構成されている。
第６図は上記各構成部分の出力波形を示したタ
イムチヤートである。
イムチヤートである。
同図に示すように、前記投光器１から光パルス
Ltを発生する時期に同期して出力されるトリガ
信号Ｃに応答して、上記前縁検出回路１３の
ANDゲート１３ｂから高速パルスＨが出力され
る。
Ltを発生する時期に同期して出力されるトリガ
信号Ｃに応答して、上記前縁検出回路１３の
ANDゲート１３ｂから高速パルスＨが出力され
る。
この高速パルスＨによつて、２つのフリツプフ
ロツプ１５ｃ，１３ｃがセツトされて、これらの
出力Ｊ，Ｋは“Ｈ”となる。
ロツプ１５ｃ，１３ｃがセツトされて、これらの
出力Ｊ，Ｋは“Ｈ”となる。
次に、反射光パルスLrが受光されて、受光素
子５から受光信号Ｂが供給されると、この受光信
号Ｂのパルス前縁において、上記前縁検出回路１
３のフリツプフロツプ１３ｃがリセツトされて、
その出力Ｋが“Ｌ”となる。
子５から受光信号Ｂが供給されると、この受光信
号Ｂのパルス前縁において、上記前縁検出回路１
３のフリツプフロツプ１３ｃがリセツトされて、
その出力Ｋが“Ｌ”となる。
また、上記受光信号Ｂのパルス後縁において、
上記後縁検出回路１５のNANDゲート１５ｂか
ら高速パルスＩが出力されて、フリツプフロツプ
１５ｃがリセツトされる。
上記後縁検出回路１５のNANDゲート１５ｂか
ら高速パルスＩが出力されて、フリツプフロツプ
１５ｃがリセツトされる。
以後、上記の動作が繰返される。
そして、上記1/2分周期１４の出力Ｍ，Ｌによ
つて、ANDゲート１６，１７が、上記トリガ信
号Ｃの一周期毎に交互に開閉されるため、AND
ゲート１６，１７からは、上記前縁検出信号Ｋと
後縁検出信号Ｊとが、１つおきに出力され、よつ
て、上記OR回路１８からは、上記前縁検出信号
Ｋと後縁検出信号Ｊとが交互に現れる信号Ｐが出
力されることとなる。
つて、ANDゲート１６，１７が、上記トリガ信
号Ｃの一周期毎に交互に開閉されるため、AND
ゲート１６，１７からは、上記前縁検出信号Ｋと
後縁検出信号Ｊとが、１つおきに出力され、よつ
て、上記OR回路１８からは、上記前縁検出信号
Ｋと後縁検出信号Ｊとが交互に現れる信号Ｐが出
力されることとなる。
上記OR回路１８から出力された信号Ｐは、上
記平均化回路１９へ供給されて、上記前縁検出信
号Ｋと後縁検出信号Ｊのパルス幅の平均値に比例
した直流電圧信号Ｒに変換されて出力される。
記平均化回路１９へ供給されて、上記前縁検出信
号Ｋと後縁検出信号Ｊのパルス幅の平均値に比例
した直流電圧信号Ｒに変換されて出力される。
すなわち、第７図に示すように、上記前縁検出
信号Ｋのパルス幅をτ3、後縁検出信号Ｊのパルス
幅をτ4、上記トリガ信号Ｃの繰返し周期Tpと上
記２つのパルス幅τ3，τ4の差を各々τ5，τ6とし、
上記トランジスタ２０のコレクタ電位信号Ｑにお
ける上記τ3，τ4，τ5，τ6に対応する電圧変化をそ
れぞれV1，V2，V3，V4とすれば、以下の関係が
成立する。
信号Ｋのパルス幅をτ3、後縁検出信号Ｊのパルス
幅をτ4、上記トリガ信号Ｃの繰返し周期Tpと上
記２つのパルス幅τ3，τ4の差を各々τ5，τ6とし、
上記トランジスタ２０のコレクタ電位信号Ｑにお
ける上記τ3，τ4，τ5，τ6に対応する電圧変化をそ
れぞれV1，V2，V3，V4とすれば、以下の関係が
成立する。
V1＝It・τ3／C2…(1)
V2＝（Vo・τ5）／（R1・C2）…(2)
V3＝It・τ4／C2…(3)
V4＝（Vo・τ6）／（R1・C2）…(4)
但し、Itは上記コレクタ電位信号Ｑの波高値と
エミツタ抵抗Reとによつて定まる定電流源、C2
はコンデンサC2の容量、R1は抵抗R1の抵抗値、
Voは上記コレクタ電位信号Ｑの電源電圧Vccか
らの電圧降下値である。
エミツタ抵抗Reとによつて定まる定電流源、C2
はコンデンサC2の容量、R1は抵抗R1の抵抗値、
Voは上記コレクタ電位信号Ｑの電源電圧Vccか
らの電圧降下値である。
また、上記抵抗R1とコンデンサC2からなる積
分回路が定常状態であるとすれば、 V1＋V3＝V2＋V4…(5) が成立するから、上記式(5)へ式(1)〜(4)を代入し
て、 It（τ3＋τ4）／C2＝Vo（τ5＋τ6） ／R1・C2…(6) ここで、2Tp≫（τ3＋τ4）となるようにTpを
設定しておけば、 It（τ3＋τ4）＝2VoTp／R1…(7) よつて、Vo∝（τ3＋τ4）／２…(8) 従つて、上記式(8)から明らかなように、平均化
回路１９の出力Ｒは、上記前縁検出信号Ｋと後縁
検出信号Ｊのパルス幅τ3，τ4の平均値に比例した
直流電圧信号となる。
分回路が定常状態であるとすれば、 V1＋V3＝V2＋V4…(5) が成立するから、上記式(5)へ式(1)〜(4)を代入し
て、 It（τ3＋τ4）／C2＝Vo（τ5＋τ6） ／R1・C2…(6) ここで、2Tp≫（τ3＋τ4）となるようにTpを
設定しておけば、 It（τ3＋τ4）＝2VoTp／R1…(7) よつて、Vo∝（τ3＋τ4）／２…(8) 従つて、上記式(8)から明らかなように、平均化
回路１９の出力Ｒは、上記前縁検出信号Ｋと後縁
検出信号Ｊのパルス幅τ3，τ4の平均値に比例した
直流電圧信号となる。
すなわち、上記直流電圧信号Ｒは、第８図に示
す如く、パルス光Ltの発生時点Ｓから反射光パ
ルスLrの受光信号Ｂのパルス中心までの遅延時
間τrに比例した信号となつている。
す如く、パルス光Ltの発生時点Ｓから反射光パ
ルスLrの受光信号Ｂのパルス中心までの遅延時
間τrに比例した信号となつている。
上記の如く、光パルスLtの発生時点から反射
光Lrのパルス前縁とパルス後縁までの遅延時間
の平均をとることによつて受光信号Ｂの強弱変化
に伴つて変動することのない正確な距離データを
得ることができる。
光Lrのパルス前縁とパルス後縁までの遅延時間
の平均をとることによつて受光信号Ｂの強弱変化
に伴つて変動することのない正確な距離データを
得ることができる。
また、第２図に示した従来例のように、高周波
発振器や高速カウンタ等の高価な部品を必要とせ
ず、装置の製造コストを低減させることができ
る。
発振器や高速カウンタ等の高価な部品を必要とせ
ず、装置の製造コストを低減させることができ
る。
以上詳細に説明したように、この考案に係る光
レーダ装置にあつては、被測距体までの距離や被
測距体における反射率の変化に影響されず、被測
距体までの距離を安定かつ正確に求めることがで
きる等の利点を有する。
レーダ装置にあつては、被測距体までの距離や被
測距体における反射率の変化に影響されず、被測
距体までの距離を安定かつ正確に求めることがで
きる等の利点を有する。
また、この考案にあつては送光パルスから反射
光までの時間間隔を積分回路を用いて測定してい
るため、高速クロツク発生回路、高速カウンタ等
の高速論理回路を必要とせず、装置が安価に実現
できるという効果を有する。
光までの時間間隔を積分回路を用いて測定してい
るため、高速クロツク発生回路、高速カウンタ等
の高速論理回路を必要とせず、装置が安価に実現
できるという効果を有する。
第１図は従来の光レーダ装置を示す図、第２図
は第１図における距離検出回路の構成を示す図、
第３図は第１図で示した光レーダ装置の各主要出
力を示すタイムチヤート、第４図は従来の光レー
ダ装置の測距動作を示す波形図、第５図は本考案
に係る光レーダ装置の一実施例を示すブロツク回
路図、第６図は同装置の各主要出力を示すタイム
チヤート、第７図は同装置の平均化回路の動作を
説明するための波形図、第８図は同装置の測距動
作を示す波形図である。 １……投光器、２……受光器、Lt……光パル
ス、Lr……反射光パルス、３……制御回路、１
３……前縁検出回路、１５……後縁検出回路、１
９……平均化回路。
は第１図における距離検出回路の構成を示す図、
第３図は第１図で示した光レーダ装置の各主要出
力を示すタイムチヤート、第４図は従来の光レー
ダ装置の測距動作を示す波形図、第５図は本考案
に係る光レーダ装置の一実施例を示すブロツク回
路図、第６図は同装置の各主要出力を示すタイム
チヤート、第７図は同装置の平均化回路の動作を
説明するための波形図、第８図は同装置の測距動
作を示す波形図である。 １……投光器、２……受光器、Lt……光パル
ス、Lr……反射光パルス、３……制御回路、１
３……前縁検出回路、１５……後縁検出回路、１
９……平均化回路。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 投光器より被測距体へ向けて光パルスを発生し
た時点から、前記光パルスが被測距体に反射して
くる反射光パルスを受光器で受光した時点までの
時間に基づいて前記被測距体までの距離を求める
車両用の光レーダ装置において； 前記光パルスの発生時点から、前記受光した反
射光パルスのパルス前縁までの時間を検出する第
１の遅延時間検出手段と； 前記光パルスの発生時点から、前記受光した反
射光パルスのパルス後縁までの時間を検出する第
２の遅延時間検出手段と； 前記投光器より被測距体へ向けて発生する光パ
ルス信号の１周期毎に、前記第１の遅延時間検出
手段で検出される遅延信号と前記第２の遅延時間
検出手段で検出される遅延信号とを交互に選択し
て出力する手段と； 前記交互に選択されて出力する遅延信号に応答
してスイツチングし定電流源として働く半導体ス
イツチ、前記半導体スイツチと直列に接続され電
源電圧を印加される抵抗および前記半導体スイツ
チと並列に接続されたコンデンサとを含み、該抵
抗と該コンデンサとの接続点から前記距離に対応
した直流電圧信号を出力する手段と； を備えたことを特徴とする光レーダ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13339282U JPS5937574U (ja) | 1982-09-02 | 1982-09-02 | 光レ−ダ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13339282U JPS5937574U (ja) | 1982-09-02 | 1982-09-02 | 光レ−ダ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5937574U JPS5937574U (ja) | 1984-03-09 |
| JPH0119112Y2 true JPH0119112Y2 (ja) | 1989-06-02 |
Family
ID=30300912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13339282U Granted JPS5937574U (ja) | 1982-09-02 | 1982-09-02 | 光レ−ダ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5937574U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011080893A (ja) * | 2009-10-08 | 2011-04-21 | Toshiba Corp | 距離測定装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5122465A (ja) * | 1974-08-19 | 1976-02-23 | Hitachi Ltd | Hikariparususotsukyoho |
-
1982
- 1982-09-02 JP JP13339282U patent/JPS5937574U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5937574U (ja) | 1984-03-09 |
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