JPH0119182B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0119182B2 JPH0119182B2 JP55502619A JP50261980A JPH0119182B2 JP H0119182 B2 JPH0119182 B2 JP H0119182B2 JP 55502619 A JP55502619 A JP 55502619A JP 50261980 A JP50261980 A JP 50261980A JP H0119182 B2 JPH0119182 B2 JP H0119182B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shift register
- monitor
- string
- ram
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2236—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
- G06F11/0727—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment in a storage system, e.g. in a DASD or network based storage system
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
- G06F11/073—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment in a memory management context, e.g. virtual memory or cache management
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3024—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a central processing unit [CPU]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3037—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a memory, e.g. virtual memory, cache
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3089—Monitoring arrangements determined by the means or processing involved in sensing the monitored data, e.g. interfaces, connectors, sensors, probes, agents
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/18—Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
- G11C29/30—Accessing single arrays
- G11C29/32—Serial access; Scan testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2294—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by remote test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
請求の範囲
1 デイジタルデータ処理システムであつて、
前記システムにおけるデータ処理動作を制御す
る際に用いられるための命令データを有する選択
的にアドレス指定可能な複数個のRAMと、 前記RAMへのアドレス指定手段と、 複数個のマルチビツト記憶装置からなる、各
RAMに対するRAM入出力レジスタとを備え、 各RAMは読出信号に応答して、前記アドレス
指定手段によつて選択されたRAM記憶場所から
命令データをそのそれぞれの対応のRAM入出力
レジスタへ読出すようにされており、 各RAMはまた書込信号に応答して、そのそれ
ぞれの対応のRAM入出力レジスタに保持されて
いる命令データを前記アドレス指定手段によつて
選択されたRAM記憶場所へ書込むようにされて
おり、 各入出力レジスタの記憶装置に対する接続を選
択的に再配置して選択可能なストリング装置を形
成する制御可能なゲート手段と、 モニタおよびロード手段を備え、 前記モニタおよびロード手段は前記アドレス指
定手段へ選択的にアドレスを与えかつ読出または
書込信号を選択されたRAMへ選択的に与えるた
めの手段を含んでおり、 前記モニタおよびロード手段はまた、選択され
たストリング装置の記憶装置に与えられる予め定
められた複数個のクロツク信号とともに前記ゲー
ト手段へ与えられる複数個のストリング選択信号
のうちの1個を選択的に発生して、この選択され
たストリング装置内の記憶装置から導出された選
択されたストリング出力ビツトを前記モニタおよ
びロード手段へ伝搬させかつ次にそのそれぞれ対
応の記憶装置へ復帰させるための手段を含み、 前記モニタおよびロード手段はさらに選択され
たストリング装置から与えられる記憶装置のビツ
トをモニタし、かつ選択されたRAMへ書込むこ
とを望まれる別の命令データに対応して自身へ与
えられる特定の記憶装置ビツトを選択的に変化さ
せるための手段を含み、 前記モニタおよびロード手段はさらにそのそれ
ぞれ対応のRAM入出力レジスタ記憶装置へ別の
命令データが復帰した後に選択されたRAMに書
込信号を与えるための手段を含む、デイジタルデ
ータ処理システム。
る際に用いられるための命令データを有する選択
的にアドレス指定可能な複数個のRAMと、 前記RAMへのアドレス指定手段と、 複数個のマルチビツト記憶装置からなる、各
RAMに対するRAM入出力レジスタとを備え、 各RAMは読出信号に応答して、前記アドレス
指定手段によつて選択されたRAM記憶場所から
命令データをそのそれぞれの対応のRAM入出力
レジスタへ読出すようにされており、 各RAMはまた書込信号に応答して、そのそれ
ぞれの対応のRAM入出力レジスタに保持されて
いる命令データを前記アドレス指定手段によつて
選択されたRAM記憶場所へ書込むようにされて
おり、 各入出力レジスタの記憶装置に対する接続を選
択的に再配置して選択可能なストリング装置を形
成する制御可能なゲート手段と、 モニタおよびロード手段を備え、 前記モニタおよびロード手段は前記アドレス指
定手段へ選択的にアドレスを与えかつ読出または
書込信号を選択されたRAMへ選択的に与えるた
めの手段を含んでおり、 前記モニタおよびロード手段はまた、選択され
たストリング装置の記憶装置に与えられる予め定
められた複数個のクロツク信号とともに前記ゲー
ト手段へ与えられる複数個のストリング選択信号
のうちの1個を選択的に発生して、この選択され
たストリング装置内の記憶装置から導出された選
択されたストリング出力ビツトを前記モニタおよ
びロード手段へ伝搬させかつ次にそのそれぞれ対
応の記憶装置へ復帰させるための手段を含み、 前記モニタおよびロード手段はさらに選択され
たストリング装置から与えられる記憶装置のビツ
トをモニタし、かつ選択されたRAMへ書込むこ
とを望まれる別の命令データに対応して自身へ与
えられる特定の記憶装置ビツトを選択的に変化さ
せるための手段を含み、 前記モニタおよびロード手段はさらにそのそれ
ぞれ対応のRAM入出力レジスタ記憶装置へ別の
命令データが復帰した後に選択されたRAMに書
込信号を与えるための手段を含む、デイジタルデ
ータ処理システム。
2 前記システムは前記ゲート手段によつて形成
された特定のストリング装置に含まれる1個また
はそれ以上の付加的な記憶装置を含み、それによ
りその対応するビツトはまた、対応するストリン
グ装置が選択されたときにモニタまたは変化させ
られる、請求の範囲第1項記載のデイジタルデー
タ処理システム。
された特定のストリング装置に含まれる1個また
はそれ以上の付加的な記憶装置を含み、それによ
りその対応するビツトはまた、対応するストリン
グ装置が選択されたときにモニタまたは変化させ
られる、請求の範囲第1項記載のデイジタルデー
タ処理システム。
3 前記デイジタルデータ処理システムは、各々
が前記複数個のRAMの1個を有し、そのそれぞ
れのモジユールにおけるデータ処理動作を制御す
るための複数のデータ処理モジユールを含む、請
求の範囲第1項記載のデイジタルデータ処理シス
テム。
が前記複数個のRAMの1個を有し、そのそれぞ
れのモジユールにおけるデータ処理動作を制御す
るための複数のデータ処理モジユールを含む、請
求の範囲第1項記載のデイジタルデータ処理シス
テム。
4 前記アドレス指定手段は複数個のマルチビツ
ト記憶装置からなる各RAMのためのアドレスレ
ジスタを備え、かつ前記ゲート手段はそのそれぞ
れの対応のRAM入出力レジスタの記憶装置と同
一のストリング装置の各アドレスレジスタの記憶
装置の接続を与える、請求の範囲第1項ないし第
3項のいずれかに記載のデイジタルデータ処理シ
ステム。
ト記憶装置からなる各RAMのためのアドレスレ
ジスタを備え、かつ前記ゲート手段はそのそれぞ
れの対応のRAM入出力レジスタの記憶装置と同
一のストリング装置の各アドレスレジスタの記憶
装置の接続を与える、請求の範囲第1項ないし第
3項のいずれかに記載のデイジタルデータ処理シ
ステム。
5 前記マルチビツト記憶装置の各々は、ノーマ
ルおよびシフト動作モードを有する可変モードシ
フトレジスタ記憶装置であり、かつ前記制御可能
なゲート手段は前記モニタおよびロード手段から
の信号に応答して、選択されたストリング装置内
の複数個の可変モードシフト装置をノーマルモー
ドからシフトモードへ切換え、かつ前記モニタお
よびロード手段へ結合さるれる直列ストリング経
路を形成するようにそこへの接続を再編し、かつ
そのストリング経路に沿つて前記ストリング装置
内の可変モードシフト装置のビツトが前記クロツ
ク信号に応答してシフトされる、請求の範囲第1
項ないし第3項のいずれかに記載のデイジタルデ
ータ処理システム。
ルおよびシフト動作モードを有する可変モードシ
フトレジスタ記憶装置であり、かつ前記制御可能
なゲート手段は前記モニタおよびロード手段から
の信号に応答して、選択されたストリング装置内
の複数個の可変モードシフト装置をノーマルモー
ドからシフトモードへ切換え、かつ前記モニタお
よびロード手段へ結合さるれる直列ストリング経
路を形成するようにそこへの接続を再編し、かつ
そのストリング経路に沿つて前記ストリング装置
内の可変モードシフト装置のビツトが前記クロツ
ク信号に応答してシフトされる、請求の範囲第1
項ないし第3項のいずれかに記載のデイジタルデ
ータ処理システム。
6 各可変モードシフトレジスタ記憶装置は、ク
ロツク信号入力と、装置内に記憶されるべきビツ
トを並列に受けるための複数個の入力と、装置か
ら記憶されたビツトを並列に出力するための対応
する複数個の出力と、与えられるクロツク信号に
応答して装置を介して直列にシフトさせるための
ビツトを受けるシフト入力と、可変モードシフト
装置が前記データ処理システムに対し並列入出力
を与えるように機能するノーマルモードで可変モ
ードシフト装置を動作させるかまたはそのシフト
入力へ与えられたビツトが直列にそこを介してシ
フトされるシフトモードで動作せるかを決定する
ためのモード制御データを前記制御可能なゲート
手段から受ける少なくとも1個のモード制御入力
とを有する、請求の範囲第5項記載のデイジタル
データ処理システム。
ロツク信号入力と、装置内に記憶されるべきビツ
トを並列に受けるための複数個の入力と、装置か
ら記憶されたビツトを並列に出力するための対応
する複数個の出力と、与えられるクロツク信号に
応答して装置を介して直列にシフトさせるための
ビツトを受けるシフト入力と、可変モードシフト
装置が前記データ処理システムに対し並列入出力
を与えるように機能するノーマルモードで可変モ
ードシフト装置を動作させるかまたはそのシフト
入力へ与えられたビツトが直列にそこを介してシ
フトされるシフトモードで動作せるかを決定する
ためのモード制御データを前記制御可能なゲート
手段から受ける少なくとも1個のモード制御入力
とを有する、請求の範囲第5項記載のデイジタル
データ処理システム。
発明の背景
この発明はデータ処理システムに対し最小の負
担でデイジタル回路およびメモリのモニタおよび
診断を与える改良された手段および方法に関する
ものである。この発明はまたRAM(ランダムア
クセスメモリ)に記憶するためプログラム制御デ
ータ(マイクロコード)をロードし、変化させお
よび/またはチエツクするための改良された手段
および方法に関する。
担でデイジタル回路およびメモリのモニタおよび
診断を与える改良された手段および方法に関する
ものである。この発明はまたRAM(ランダムア
クセスメモリ)に記憶するためプログラム制御デ
ータ(マイクロコード)をロードし、変化させお
よび/またはチエツクするための改良された手段
および方法に関する。
発明の概要
この発明の特に好ましい態様において、データ
処理システム内の内部状態は、正常なまたはモニ
タモードのいずれかにおいてオペレーテイングの
能力を有する特定の選択された記憶装置間に直列
モニタ経路または「ストリング」を与えることに
よつてアクセスできるようにされている。選択さ
れたストリング経路上で1またはそれ以上の記憶
装置の状態をモニタするのが望まれるとき、正常
なオペレーシヨンが割込まれかつ選択されたスト
リング経路に関する記憶装置がそれらのモニタモ
ードへ切換えられる。クロツキングがついで制御
されて、選択されたストリング経路上の内部記憶
装置の内部状態が選択されたストリング経路を介
して、モニタユニツトへ伝播され、かつついで選
択されたストリング経路を介して再び戻され、選
択されたストリングに関する内部記憶装置はそれ
らの初期の状態へ戻され、それに続いて正常動作
が再開される。選択されたストリング経路の1ま
たはそれ以上の内部記憶装置の状態に関してモニ
タユニツトによりエラーが検出される場合、エラ
ーの適当な表示が与えられかつまた所望すれば、
補正された状態が対応する内部記憶装置において
置換のために与えられてもよい。
処理システム内の内部状態は、正常なまたはモニ
タモードのいずれかにおいてオペレーテイングの
能力を有する特定の選択された記憶装置間に直列
モニタ経路または「ストリング」を与えることに
よつてアクセスできるようにされている。選択さ
れたストリング経路上で1またはそれ以上の記憶
装置の状態をモニタするのが望まれるとき、正常
なオペレーシヨンが割込まれかつ選択されたスト
リング経路に関する記憶装置がそれらのモニタモ
ードへ切換えられる。クロツキングがついで制御
されて、選択されたストリング経路上の内部記憶
装置の内部状態が選択されたストリング経路を介
して、モニタユニツトへ伝播され、かつついで選
択されたストリング経路を介して再び戻され、選
択されたストリングに関する内部記憶装置はそれ
らの初期の状態へ戻され、それに続いて正常動作
が再開される。選択されたストリング経路の1ま
たはそれ以上の内部記憶装置の状態に関してモニ
タユニツトによりエラーが検出される場合、エラ
ーの適当な表示が与えられかつまた所望すれば、
補正された状態が対応する内部記憶装置において
置換のために与えられてもよい。
容易にアクセス可能なメモリ(たとえば
RAM)内に内部状態を作るために、メモリ入力
−出力レジスタが同様に、それぞれのストリング
において順次接続される1またはそれ以上の可変
モード記憶装置を用いて設けられる。選択された
メモリ記憶状態へのアクセスが望まれるとき、モ
ニタユニツトはメモリアドレスレジスタに、選択
されたメモリ記憶状態をメモリ入力−出力レジス
タへ読出すように選ばれた選択されたアドレスを
ロードする。メモリ入力−出力レジスタを含むス
トリングは次いで、選択され、かつその状態が連
続的にモニタする目的のためモニタ装置へシフト
される。補正された値を、ストリングを介してメ
モリ入力−出力レジスタへ戻しかつ次いでこれら
の補正された値をメモリへ書込むことによつて補
正を行なうことができる。
RAM)内に内部状態を作るために、メモリ入力
−出力レジスタが同様に、それぞれのストリング
において順次接続される1またはそれ以上の可変
モード記憶装置を用いて設けられる。選択された
メモリ記憶状態へのアクセスが望まれるとき、モ
ニタユニツトはメモリアドレスレジスタに、選択
されたメモリ記憶状態をメモリ入力−出力レジス
タへ読出すように選ばれた選択されたアドレスを
ロードする。メモリ入力−出力レジスタを含むス
トリングは次いで、選択され、かつその状態が連
続的にモニタする目的のためモニタ装置へシフト
される。補正された値を、ストリングを介してメ
モリ入力−出力レジスタへ戻しかつ次いでこれら
の補正された値をメモリへ書込むことによつて補
正を行なうことができる。
この発明の有利な特徴は、メモリがマイクロコ
ードを記憶するために用いられるRAMである場
合、モニタするために用いられるのと同じストリ
ングもまた、RAMに現在含まれているマイクロ
コードの精度をチエツクするためのみならず、新
しいまたは変えられたマイクロコードをRAMに
ロードするためにも用いられるということであ
る。この特徴は、モジユラデータ処理システムが
その記憶されたマイクロコードがモジユールオペ
レーシヨンを制御するRAMを含む各モジユール
とともに用いられる場合に特に価値がある。
ードを記憶するために用いられるRAMである場
合、モニタするために用いられるのと同じストリ
ングもまた、RAMに現在含まれているマイクロ
コードの精度をチエツクするためのみならず、新
しいまたは変えられたマイクロコードをRAMに
ロードするためにも用いられるということであ
る。この特徴は、モジユラデータ処理システムが
その記憶されたマイクロコードがモジユールオペ
レーシヨンを制御するRAMを含む各モジユール
とともに用いられる場合に特に価値がある。
この発明の特定的な性質、ならびに他の目的、
特徴、利点およびその用途は、添付図面とともに
行なう以下の詳細な説明からより一層明らかとな
ろう。
特徴、利点およびその用途は、添付図面とともに
行なう以下の詳細な説明からより一層明らかとな
ろう。
第1図は従来のデータプロセサにおける論理回
路によつてどのようにして記憶装置が典型的に相
互接続されるかを図解する一般化されたブロツク
図である。
路によつてどのようにして記憶装置が典型的に相
互接続されるかを図解する一般化されたブロツク
図である。
第2図はこの発明を組み込んでいるデータ処理
システムにおけるデイジタル記憶を与えるために
好ましく用いられる可変モードのシフトレジスタ
記憶装置のブロツク表示である。
システムにおけるデイジタル記憶を与えるために
好ましく用いられる可変モードのシフトレジスタ
記憶装置のブロツク表示である。
第3図は、第2図の可変モードのシフトレジス
タ記憶装置が、モニタユニツトと協働するためス
トリングを形成するようにこの発明に従つていか
に相互接続されるかを図解するためのブロツク図
である。
タ記憶装置が、モニタユニツトと協働するためス
トリングを形成するようにこの発明に従つていか
に相互接続されるかを図解するためのブロツク図
である。
第4図はこの発明に従つて用いられるモニタユ
ニツトの一例を示すブロツク図である。
ニツトの一例を示すブロツク図である。
第5図はこの発明がいかにしてモジユラ構成さ
れたデータプロセサとともに有利に用いられるか
を示すブロツク図である。
れたデータプロセサとともに有利に用いられるか
を示すブロツク図である。
第6図はメモリ内の選択可能な記憶状態がいか
にして、この発明に従つてモニタしおよび/また
はマイクロ−コードロードしまたは変化するため
にアクセス可能であるかを図解するブロツク図で
ある。
にして、この発明に従つてモニタしおよび/また
はマイクロ−コードロードしまたは変化するため
にアクセス可能であるかを図解するブロツク図で
ある。
詳細な説明
同一の記号および数字は図面を通じて同一のエ
レメントおよびコンポーネントを示す。
レメントおよびコンポーネントを示す。
まず第1図を参照して、データプロセサ10の
従来の形式が、データ処理オペレーシヨンを与え
る際に論理回路12と協働する複数個の記憶装置
S1−Soを含んで典型的に図解される。データプロ
セサの他の従来の部分は簡略化の目的のため第1
図には示されていないが、そのような部分は従来
の態様で記憶装置S1−Soおよび論理回路12と協
働して作動するものと考えられる。ここに開示す
るこの発明の好ましい実施例では、第2図に示さ
れる可変モードの、4−ビツトシフトレジスタ1
5で示されるような可変モードの多ビツトシフト
レジスタ記憶装置を用いるのが特に有利である。
そのようなシフトレジスタ15は、たとえば、集
積回路チツプに対して商業的に入手可能なテキサ
スインスツルメンツ(Texas Instruments)
74S914を用いて実現されてもよい。
従来の形式が、データ処理オペレーシヨンを与え
る際に論理回路12と協働する複数個の記憶装置
S1−Soを含んで典型的に図解される。データプロ
セサの他の従来の部分は簡略化の目的のため第1
図には示されていないが、そのような部分は従来
の態様で記憶装置S1−Soおよび論理回路12と協
働して作動するものと考えられる。ここに開示す
るこの発明の好ましい実施例では、第2図に示さ
れる可変モードの、4−ビツトシフトレジスタ1
5で示されるような可変モードの多ビツトシフト
レジスタ記憶装置を用いるのが特に有利である。
そのようなシフトレジスタ15は、たとえば、集
積回路チツプに対して商業的に入手可能なテキサ
スインスツルメンツ(Texas Instruments)
74S914を用いて実現されてもよい。
第2図に示されるように、4−ビツト可変モー
ドのシフトレジスタ15は、入力I1,I2,I3およ
びI4と、それぞれの出力O1,O2,O3およびO4と、
レジスタを通じてシフトされるべき入力信号を受
けるための「シフト−アツプ(Shift−Up)」入
力と、シフトレジスタをすべて「0」の値へクリ
アする際に用いるためのクリア入力と、その前縁
が、たとえば、シフトレジスタオペレーシヨンを
始動させるために用いられるクロツク信号を受信
するためのクロツク入力と、シフトレジスタが作
動すべき特定モードを決定するためにモード制御
信号が印加されるモード制御入力K1およびK2を
含む。典型的には、入力K1およびK2へ印加され
るモード制御信号は次の意味を有する。すなわ
ち、K1K2=00=No Change(変化なし);K1K2
=11=並列ロード;およびK1K2=01=シフトア
ツプ。
ドのシフトレジスタ15は、入力I1,I2,I3およ
びI4と、それぞれの出力O1,O2,O3およびO4と、
レジスタを通じてシフトされるべき入力信号を受
けるための「シフト−アツプ(Shift−Up)」入
力と、シフトレジスタをすべて「0」の値へクリ
アする際に用いるためのクリア入力と、その前縁
が、たとえば、シフトレジスタオペレーシヨンを
始動させるために用いられるクロツク信号を受信
するためのクロツク入力と、シフトレジスタが作
動すべき特定モードを決定するためにモード制御
信号が印加されるモード制御入力K1およびK2を
含む。典型的には、入力K1およびK2へ印加され
るモード制御信号は次の意味を有する。すなわ
ち、K1K2=00=No Change(変化なし);K1K2
=11=並列ロード;およびK1K2=01=シフトア
ツプ。
K1K2=11=並列ロードであるとき、入力2進
信号は、印加されたクロツクの前縁に応答してシ
フトレジスタ15のそれぞれの入力I1−I4へロー
ドされることが理解されよう。そのようにロード
されるとき、そのそれぞれの2進値はそれぞれの
対応の出力O1−O4に現われる。したがつて、並
列ロードモード(K1K2=11)において、第2図
のシフトレジスタ15は従来の態様で、第1図に
おいて論理回路12へ接続されるそれぞれの入力
I1,I2,I3およびI4ならびにそれぞれの対応する
出力O1,O2,O3およびO4を有する4個の独立し
たクロツク制御される記憶装置(フリツプフロツ
プまたはラツチに類似する)として機能する。変
化なし(No Change)モード(K1K2=00)にお
いて、シフトレジスタ値は入力I1−I4へ印加され
る2進信号にかかわらず変化されないままであ
る。シフトアツプモード(K1K2=01)において、
各クロツクに応答して直列シフトが上方向に生
じ、すなわち、シフトアツプ入力からI1へ、I1か
らI2へ、I2からI3へ、かつI3からI4へシフトし、か
つ応じて、O1からO2へ、O2からO3へかつO3から
O4へシフトする。並列ロードおよび変化なしモ
ードは正常なデータ処理オペレーシヨンの間に用
いられ、他方、シフトアツプモードはあとでさら
に詳細に説明されるようにモニタオペレーシヨン
の間に用いられる。
信号は、印加されたクロツクの前縁に応答してシ
フトレジスタ15のそれぞれの入力I1−I4へロー
ドされることが理解されよう。そのようにロード
されるとき、そのそれぞれの2進値はそれぞれの
対応の出力O1−O4に現われる。したがつて、並
列ロードモード(K1K2=11)において、第2図
のシフトレジスタ15は従来の態様で、第1図に
おいて論理回路12へ接続されるそれぞれの入力
I1,I2,I3およびI4ならびにそれぞれの対応する
出力O1,O2,O3およびO4を有する4個の独立し
たクロツク制御される記憶装置(フリツプフロツ
プまたはラツチに類似する)として機能する。変
化なし(No Change)モード(K1K2=00)にお
いて、シフトレジスタ値は入力I1−I4へ印加され
る2進信号にかかわらず変化されないままであ
る。シフトアツプモード(K1K2=01)において、
各クロツクに応答して直列シフトが上方向に生
じ、すなわち、シフトアツプ入力からI1へ、I1か
らI2へ、I2からI3へ、かつI3からI4へシフトし、か
つ応じて、O1からO2へ、O2からO3へかつO3から
O4へシフトする。並列ロードおよび変化なしモ
ードは正常なデータ処理オペレーシヨンの間に用
いられ、他方、シフトアツプモードはあとでさら
に詳細に説明されるようにモニタオペレーシヨン
の間に用いられる。
第3図は第2図に示されるような可変モードの
シフトレジスタ記憶装置をモニタユニツト20と
協働するため「ストリング」へ相互接続するため
のこの発明による好ましい態様を図解する。第3
図は4個の4−ビツト可変モードシフトレジスタ
装置15a−15dから成る1個のストリング装
置のみを図解するが、多くのそのようなストリン
グ装置は通常データプロセサに設けられかつより
多くのまたはより少ないシフトレジスタ記憶装置
が各ストリング装置に設けられてもよいというこ
とを理解されよう。
シフトレジスタ記憶装置をモニタユニツト20と
協働するため「ストリング」へ相互接続するため
のこの発明による好ましい態様を図解する。第3
図は4個の4−ビツト可変モードシフトレジスタ
装置15a−15dから成る1個のストリング装
置のみを図解するが、多くのそのようなストリン
グ装置は通常データプロセサに設けられかつより
多くのまたはより少ないシフトレジスタ記憶装置
が各ストリング装置に設けられてもよいというこ
とを理解されよう。
さて、第3図をより詳細に考慮すると、可変モ
ード記憶装置15a−15dが、ゲート回路G1
がモニタユニツト20によつて与えられるモニタ
能動信号Msによつて能動化されるときにストリ
ングを形成するようにゲート回路G1によつて相
互接続されるということが理解されよう。モニタ
能動信号Msはまた、モード制御回路22がシフ
トレジスタ記憶装置15a−15dのモード制御
入力K1K2へシフトアツプモード制御信号(K1K2
=01)を与えるように用いられ、それによつて4
個の4−ビツトシフトレジスタ記憶装置15a−
15dのそれぞれの16個の状態を、モニタユニツ
ト20によつて与えられるモニタクロツクCnの
制御に従つて、モニタユニツト20へ直列に送り
かつ次いで再びそれらのそれぞれのシフトレジス
タ記憶装置15a−15dへ戻す。モニタクロツ
クCnはゲート回路G2を介してシフトレジスタ装
置15a−15dの各々のクロツク入力へ与えら
れ、ゲート回路G2は、モニタ制御信号Msに応答
して、モニタクロツクCnがストリングのシフト
レジスタ記憶装置のクロツク入力へそれを通じて
与えながら、一方において通常与えられるプロセ
サクロツクを遮断する。第3図の4個のシフトレ
ジスタ装置15a−15dは16ビツトストリング
を形成するので、合計16個のモニタクロツクCn
は4個のシフトレジスタ装置15a−15dの16
個の状態を診断および/または補正の目的でモニ
タユニツト20へ送りかつ次いで、シフトレジス
タ装置がそれらの元の状態または補正された状態
へ戻るように再び戻されることが要求され、その
後で正常な動作が再開されるということが理解さ
れよう。第3図から明らかなように、ストリング
装置出力はシフトレジスタ出力O1a,O2a,O3a,
O4a,O1b,O2b,O3b,O4b,O1c,O2c,O3c,O4c,
O1d,O2d,O3d,O4d、によつて構成される16ビ
ツトを含み、ここにおいて、a,b,cおよびd
は出力O1,O2,O3,O4が対応するシフトレジス
タ15a,15b,15c,15dのそれぞれの
ものを示す。
ード記憶装置15a−15dが、ゲート回路G1
がモニタユニツト20によつて与えられるモニタ
能動信号Msによつて能動化されるときにストリ
ングを形成するようにゲート回路G1によつて相
互接続されるということが理解されよう。モニタ
能動信号Msはまた、モード制御回路22がシフ
トレジスタ記憶装置15a−15dのモード制御
入力K1K2へシフトアツプモード制御信号(K1K2
=01)を与えるように用いられ、それによつて4
個の4−ビツトシフトレジスタ記憶装置15a−
15dのそれぞれの16個の状態を、モニタユニツ
ト20によつて与えられるモニタクロツクCnの
制御に従つて、モニタユニツト20へ直列に送り
かつ次いで再びそれらのそれぞれのシフトレジス
タ記憶装置15a−15dへ戻す。モニタクロツ
クCnはゲート回路G2を介してシフトレジスタ装
置15a−15dの各々のクロツク入力へ与えら
れ、ゲート回路G2は、モニタ制御信号Msに応答
して、モニタクロツクCnがストリングのシフト
レジスタ記憶装置のクロツク入力へそれを通じて
与えながら、一方において通常与えられるプロセ
サクロツクを遮断する。第3図の4個のシフトレ
ジスタ装置15a−15dは16ビツトストリング
を形成するので、合計16個のモニタクロツクCn
は4個のシフトレジスタ装置15a−15dの16
個の状態を診断および/または補正の目的でモニ
タユニツト20へ送りかつ次いで、シフトレジス
タ装置がそれらの元の状態または補正された状態
へ戻るように再び戻されることが要求され、その
後で正常な動作が再開されるということが理解さ
れよう。第3図から明らかなように、ストリング
装置出力はシフトレジスタ出力O1a,O2a,O3a,
O4a,O1b,O2b,O3b,O4b,O1c,O2c,O3c,O4c,
O1d,O2d,O3d,O4d、によつて構成される16ビ
ツトを含み、ここにおいて、a,b,cおよびd
は出力O1,O2,O3,O4が対応するシフトレジス
タ15a,15b,15c,15dのそれぞれの
ものを示す。
さて、用いられるモニタユニツト20の一形式
を示す第4図を参照する。第4図に示されるよう
に、モニタ装置20のオペレーシヨンは、デコー
ダ30へ与えられるモニタ命令によつて始動さ
れ、デコーダ30はそこからストリングアドレス
SAおよび比較データアドレスCDAを抽出し、これ
らはそれぞれアドレスレジスタ32および34へ
供給される。
を示す第4図を参照する。第4図に示されるよう
に、モニタ装置20のオペレーシヨンは、デコー
ダ30へ与えられるモニタ命令によつて始動さ
れ、デコーダ30はそこからストリングアドレス
SAおよび比較データアドレスCDAを抽出し、これ
らはそれぞれアドレスレジスタ32および34へ
供給される。
第4図のアドレスレジスタ32へ与えられるス
トリングアドレスSAは、第3図に関連して先に
説明したように、ストリングセレクタメモリ35
から、モニタ能動信号Ms-1−Ms-oの特定の信号
を選択して、選択されたストリング装置のゲート
回路G1およびG2を能動化し、選択されたストリ
ング装置を形成するシフトレジスタ記憶装置のシ
フトレジスタ状態をモニタユニツト20へ送りか
つ再び戻される。
トリングアドレスSAは、第3図に関連して先に
説明したように、ストリングセレクタメモリ35
から、モニタ能動信号Ms-1−Ms-oの特定の信号
を選択して、選択されたストリング装置のゲート
回路G1およびG2を能動化し、選択されたストリ
ング装置を形成するシフトレジスタ記憶装置のシ
フトレジスタ状態をモニタユニツト20へ送りか
つ再び戻される。
デコーダ30はまたカウント信号Jをモニタク
ロツク発生器36へ与えて、選択されたストリン
グ装置におけるビツトの数によつて決定される予
め定められた多数のモニタクロツクを発生させ
る。
ロツク発生器36へ与えて、選択されたストリン
グ装置におけるビツトの数によつて決定される予
め定められた多数のモニタクロツクを発生させ
る。
さらに第4図を参照して、アドレスレジスタ3
4へ与えられた比較データアドレスCDAは比較デ
ータメモリ38から、選択されたストリング装置
のシフトレジスタ記憶装置の状態に対応する値を
有する特定の比較データワードCDを選択し、そ
の選択された比較データワードは従来の形式のも
のであつてもよいシフトレジスタ記憶装置42へ
与えられる。4個の4ビツトシフトレジスタ記憶
装置はモニタされるべき合計16個のビツトを与え
るので、対応する比較データワードは同様に16ビ
ツトを有し、かつシフトレジスタ記憶装置42は
したがつて少なくとも16ビツトを記憶するように
されている。選択されたストリング装置の出力ビ
ツト(第3図に示されるように与えられる)は直
列にシフトレジスタ記憶装置44へロードされ、
この装置44はまた従来のものであつてもよく、
かつ同様に、モニタクロツクCnの制御に従つて
選択されたストリング装置内のシフトレジスタ記
憶装置によつてそこへ送られる16個のビツトを収
納するようにされている。
4へ与えられた比較データアドレスCDAは比較デ
ータメモリ38から、選択されたストリング装置
のシフトレジスタ記憶装置の状態に対応する値を
有する特定の比較データワードCDを選択し、そ
の選択された比較データワードは従来の形式のも
のであつてもよいシフトレジスタ記憶装置42へ
与えられる。4個の4ビツトシフトレジスタ記憶
装置はモニタされるべき合計16個のビツトを与え
るので、対応する比較データワードは同様に16ビ
ツトを有し、かつシフトレジスタ記憶装置42は
したがつて少なくとも16ビツトを記憶するように
されている。選択されたストリング装置の出力ビ
ツト(第3図に示されるように与えられる)は直
列にシフトレジスタ記憶装置44へロードされ、
この装置44はまた従来のものであつてもよく、
かつ同様に、モニタクロツクCnの制御に従つて
選択されたストリング装置内のシフトレジスタ記
憶装置によつてそこへ送られる16個のビツトを収
納するようにされている。
シフトレジスタ装置42および44のロードの
タイミングは、選択されたストリング装置からの
16ビツトおよび対応するデータワードがそれぞれ
シフトレジスタ記憶装置42および44へ同時に
ストアされるように選ばれており、そのときに、
それらはコンパレータ48によつて比較され、か
つその比較の結果は表示装置50または他の適当
な装置によつて表示される。その間に、選択され
たストリングからの16個のビツトはモニタクロツ
クCnの制御にしたがつてシフトされ続け、かつ
合計16個のクロツクの後、第3図のそれぞれのシ
フトレジスタ装置15a−15dへゲート回路5
5を介して戻される。コンパレータ48は1また
はそれ以上の選択されたストリングのビツトと対
応する比較データワードとの間のエラーを検出し
た場合、適当な信号をゲート回路55へ与え、こ
のゲート回路55によつて、シフトレジスタ記憶
装置42内の比較データワードのビツト(または
任意の所望の数のビツト)がシフトレジスタ記憶
装置44内のデータに代わつて選択されたストリ
ング装置のシフトレジスタ記憶装置へシフトされ
る。
タイミングは、選択されたストリング装置からの
16ビツトおよび対応するデータワードがそれぞれ
シフトレジスタ記憶装置42および44へ同時に
ストアされるように選ばれており、そのときに、
それらはコンパレータ48によつて比較され、か
つその比較の結果は表示装置50または他の適当
な装置によつて表示される。その間に、選択され
たストリングからの16個のビツトはモニタクロツ
クCnの制御にしたがつてシフトされ続け、かつ
合計16個のクロツクの後、第3図のそれぞれのシ
フトレジスタ装置15a−15dへゲート回路5
5を介して戻される。コンパレータ48は1また
はそれ以上の選択されたストリングのビツトと対
応する比較データワードとの間のエラーを検出し
た場合、適当な信号をゲート回路55へ与え、こ
のゲート回路55によつて、シフトレジスタ記憶
装置42内の比較データワードのビツト(または
任意の所望の数のビツト)がシフトレジスタ記憶
装置44内のデータに代わつて選択されたストリ
ング装置のシフトレジスタ記憶装置へシフトされ
る。
第5図に一般的に示される態様でデータプロセ
サを構成することによつて上述したモニタアプロ
ーチから特定的な利点が作られる。示したよう
に、データプロセサは複数個の別々に作動するモ
ジユールM1−MNとして実現されることができ、
その各々はRAMを含み、その記憶されたマイク
ロコードはモジユールオペレーシヨンを制御す
る。簡略化のため、非モニタデータ処理目的のた
めモジユール間に設けられかつ各モジユールとそ
のそれぞれのRAMとの間に設けられる種々の相
互接続は、それらがこの発明にとつて関係がない
ので示されていない。この発明の目的のために
は、第5図に示したように、モジユールM1−MN
の各々に、第2図および第3図に示した形式のシ
フトレジスタ記憶装置の1またはそれ以上のスト
リングのそれ自体の組およびマイクロコードを記
憶するRAMが設けられるということを理解すれ
ば十分である。そのような各ストリングはモジユ
ール番号を示す第1のサブスクリプトと、そのモ
ジユールの特定のストリングを示す第2のサブス
クリプトを有する大文字「S」によつて第5図に
示される。たとえば、S12はモジユールM1の第2
のストリングを示す。第5図に示されるようなス
トリングの構成はゲート回路58によつて、各モ
ジユールにおける記憶装置が別々にかつ個別的に
モニタされ、補正されかつ/または診断されるの
を許容するということを理解されよう。
サを構成することによつて上述したモニタアプロ
ーチから特定的な利点が作られる。示したよう
に、データプロセサは複数個の別々に作動するモ
ジユールM1−MNとして実現されることができ、
その各々はRAMを含み、その記憶されたマイク
ロコードはモジユールオペレーシヨンを制御す
る。簡略化のため、非モニタデータ処理目的のた
めモジユール間に設けられかつ各モジユールとそ
のそれぞれのRAMとの間に設けられる種々の相
互接続は、それらがこの発明にとつて関係がない
ので示されていない。この発明の目的のために
は、第5図に示したように、モジユールM1−MN
の各々に、第2図および第3図に示した形式のシ
フトレジスタ記憶装置の1またはそれ以上のスト
リングのそれ自体の組およびマイクロコードを記
憶するRAMが設けられるということを理解すれ
ば十分である。そのような各ストリングはモジユ
ール番号を示す第1のサブスクリプトと、そのモ
ジユールの特定のストリングを示す第2のサブス
クリプトを有する大文字「S」によつて第5図に
示される。たとえば、S12はモジユールM1の第2
のストリングを示す。第5図に示されるようなス
トリングの構成はゲート回路58によつて、各モ
ジユールにおける記憶装置が別々にかつ個別的に
モニタされ、補正されかつ/または診断されるの
を許容するということを理解されよう。
少なくとも1個のモニタストリングを備えた1
またはそれ以上の第5図のモジユールを与えるの
がさらに有利であり、これらは第5図において、
対応するモジユールを示すサブスクリプトを有す
る大文字「T」によつて示されている。これらの
モニタストリング経路は、各々が構成されるシフ
トレジスタ記憶装置がデータ処理オペレーシヨン
においてそれら自体含まれなく、むしろそれらの
それぞれのモジユール内でモニタの目的のために
用いられるような態様で設けられる。したがつ
て、これによつて、各モジユールは正常なデータ
処理オペレーシヨンが行なわれている間、それぞ
れのモニタストリング経路を介して個別的にモニ
タされることができる。
またはそれ以上の第5図のモジユールを与えるの
がさらに有利であり、これらは第5図において、
対応するモジユールを示すサブスクリプトを有す
る大文字「T」によつて示されている。これらの
モニタストリング経路は、各々が構成されるシフ
トレジスタ記憶装置がデータ処理オペレーシヨン
においてそれら自体含まれなく、むしろそれらの
それぞれのモジユール内でモニタの目的のために
用いられるような態様で設けられる。したがつ
て、これによつて、各モジユールは正常なデータ
処理オペレーシヨンが行なわれている間、それぞ
れのモニタストリング経路を介して個別的にモニ
タされることができる。
メモリ(たとえば、第5図のモジユールの
RAM)内の選択可能な記憶状態もまたモニタの
目的のためにアクセスできるようにされる態様を
第6図を参照して考察する。第6図は、たとえ
ば、2個の可変モードシフトレジスタ記憶装置1
5−1および15−2から成る入力−出力レジス
タ63を有するメモリ60を示しており、その
各々は好ましくは第2図に示される形式のもので
ある。第6図にも示されるように、メモリアドレ
スレジスタ65はまた2個のそのような可変モー
ドのシフトレジスタ記憶装置15−3および15
−4を用いて設けられており、それらのシフトレ
ジスタ記憶装置15−3および15−4は、見ら
れるように、第3図に示されると同じ態様でスト
リング装置を形成するように装置15−1および
15−2に接続される。第5図に示されるモジユ
ールの各々のRAMは好ましくは第6図に示され
る態様で構成されるということが理解されよう。
RAM)内の選択可能な記憶状態もまたモニタの
目的のためにアクセスできるようにされる態様を
第6図を参照して考察する。第6図は、たとえ
ば、2個の可変モードシフトレジスタ記憶装置1
5−1および15−2から成る入力−出力レジス
タ63を有するメモリ60を示しており、その
各々は好ましくは第2図に示される形式のもので
ある。第6図にも示されるように、メモリアドレ
スレジスタ65はまた2個のそのような可変モー
ドのシフトレジスタ記憶装置15−3および15
−4を用いて設けられており、それらのシフトレ
ジスタ記憶装置15−3および15−4は、見ら
れるように、第3図に示されると同じ態様でスト
リング装置を形成するように装置15−1および
15−2に接続される。第5図に示されるモジユ
ールの各々のRAMは好ましくは第6図に示され
る態様で構成されるということが理解されよう。
典型的なオペレーシヨンの一例が、選択された
モジユール内でRAMの選択されたメモリ状態の
モニタ、ロードおよび/またはチエツクがこの発
明に従つていかに典型的に設けられるかを示すた
めに、第6図を参照して提示される。モニタユニ
ツト20はまずメモリモニタ制御信号Mnを選択
されたモジユールのモード制御回路72へ与え、
その回路72は、それに応答して、並列ロードモ
ードを表わすK1K2=11出力信号を与える。並列
ロードを表わすこれらのK1K2=11信号は、選択
されたモジユールのRAM入力−出力レジスタ6
3を形成する可変モードシフトレジスタ記憶装置
15−1および15−2のK1K2入力へ与えられ、
かつまた選択されたモジユールにRAMアドレス
レジスタ65を形成する可変モードシフトレジス
タ装置15−3および15−4へ与えられる。モ
ニタユニツト20は、次いで、RAMアドレスレ
ジスタ65へ並列にロードされるRAMアドレス
を与える。このRAMアドレスはアクセスされる
のが望まれる選択されたRAM状態に対応する。
モニタユニツト20は、次いで、メモリ読出信号
Mrを与え、この信号によつて、メモリ60はそ
のようにして選択されたメモリ状態を読出し、そ
のメモリ状態は入力−出力レジスタ62へ並列に
ロードされる。モニタまたはチエツクオペレーシ
ヨンが行なわれる場合、モニタユニツト20は次
に、可変モードシフトレジスタ記憶装置15−
1,15−2,15−3および15−4を含む選
択されたモジユールにおいてストリング装置を選
択し、かつここで前述したと同じ態様でそのシフ
トモードオペレーシヨン(すなわち、K1K2=01)
を与え、それによつて入力−出力レジスタ63へ
読込まれていた選択されたRAM状態は、ここで
前述したようにモニタユニツトへ送られかつまた
戻される。補正がモニタユニツトによつて与えら
れるべきであれば、そのとき、可変モードシフト
レジスタ装置15−1,15−2,15−3、お
よび15−4へそれぞれのビツトを戻した後、モ
ニタユニツト20はメモリ書込信号Mwを与へ、
この信号によつて、メモリ入力−出力レジスタ6
3へ戻された補正されたメモリ状態が、最初にア
ドレスレジスタ65へロードされた、もとのアド
レス指定されたメモリ60の記憶場所へ書込まれ
る。
モジユール内でRAMの選択されたメモリ状態の
モニタ、ロードおよび/またはチエツクがこの発
明に従つていかに典型的に設けられるかを示すた
めに、第6図を参照して提示される。モニタユニ
ツト20はまずメモリモニタ制御信号Mnを選択
されたモジユールのモード制御回路72へ与え、
その回路72は、それに応答して、並列ロードモ
ードを表わすK1K2=11出力信号を与える。並列
ロードを表わすこれらのK1K2=11信号は、選択
されたモジユールのRAM入力−出力レジスタ6
3を形成する可変モードシフトレジスタ記憶装置
15−1および15−2のK1K2入力へ与えられ、
かつまた選択されたモジユールにRAMアドレス
レジスタ65を形成する可変モードシフトレジス
タ装置15−3および15−4へ与えられる。モ
ニタユニツト20は、次いで、RAMアドレスレ
ジスタ65へ並列にロードされるRAMアドレス
を与える。このRAMアドレスはアクセスされる
のが望まれる選択されたRAM状態に対応する。
モニタユニツト20は、次いで、メモリ読出信号
Mrを与え、この信号によつて、メモリ60はそ
のようにして選択されたメモリ状態を読出し、そ
のメモリ状態は入力−出力レジスタ62へ並列に
ロードされる。モニタまたはチエツクオペレーシ
ヨンが行なわれる場合、モニタユニツト20は次
に、可変モードシフトレジスタ記憶装置15−
1,15−2,15−3および15−4を含む選
択されたモジユールにおいてストリング装置を選
択し、かつここで前述したと同じ態様でそのシフ
トモードオペレーシヨン(すなわち、K1K2=01)
を与え、それによつて入力−出力レジスタ63へ
読込まれていた選択されたRAM状態は、ここで
前述したようにモニタユニツトへ送られかつまた
戻される。補正がモニタユニツトによつて与えら
れるべきであれば、そのとき、可変モードシフト
レジスタ装置15−1,15−2,15−3、お
よび15−4へそれぞれのビツトを戻した後、モ
ニタユニツト20はメモリ書込信号Mwを与へ、
この信号によつて、メモリ入力−出力レジスタ6
3へ戻された補正されたメモリ状態が、最初にア
ドレスレジスタ65へロードされた、もとのアド
レス指定されたメモリ60の記憶場所へ書込まれ
る。
第4図に示されたモニタユニツトの典型的な実
施例を参照して、第6図の例示的な実施例に用い
るためのモニタユニツトによつて与えられるメモ
リアドレスおよび制御信号Mo,MrおよびMwは、
説明したメモリモニタオペレーシヨンを与える目
的でそのような信号を含むように特定的に設けら
れるモニタ命令のデコードの結果として第4図に
おいてデコーダ30から得られるということが理
解されよう。また、第4図を参照して、そのよう
なモニタ命令に応答して、デコーダ30によつて
モニタクロツク発生器36が、前述したシフトの
目的のためにクロツクパルスを与えるのみなら
ず、第6図におけるメモリアドレス65および入
力−出力レジスタ63へロードするのに用いるた
めの適当なクロツク信号を与えるということもま
た理解されよう。
施例を参照して、第6図の例示的な実施例に用い
るためのモニタユニツトによつて与えられるメモ
リアドレスおよび制御信号Mo,MrおよびMwは、
説明したメモリモニタオペレーシヨンを与える目
的でそのような信号を含むように特定的に設けら
れるモニタ命令のデコードの結果として第4図に
おいてデコーダ30から得られるということが理
解されよう。また、第4図を参照して、そのよう
なモニタ命令に応答して、デコーダ30によつて
モニタクロツク発生器36が、前述したシフトの
目的のためにクロツクパルスを与えるのみなら
ず、第6図におけるメモリアドレス65および入
力−出力レジスタ63へロードするのに用いるた
めの適当なクロツク信号を与えるということもま
た理解されよう。
RAMの選択された記憶場所へのロードオペレ
ーシヨンが行なわれるべきであれば、そのオペレ
ーシヨンは補正の場合において、RAMの選択さ
れた記憶場所へ書込まれた新しい状態がその
RAM記憶場所にロードされるように望まれる新
しいマイクロコードを構成するということを除い
て上述したものと同様である。第4図を参照し
て、このRAMのロードオペレーシヨンのため
に、ロード命令がデコーダ30へ与えられ、この
デコーダ30によつてアドレスレジスタ34は、
モニタまたはチエツクオペレーシヨンにおけるよ
うな比較データよりもむしろ、ロードされるべき
所望の新しいマイクロコードデータをメモリ38
からシフトレジスタ42へと読込むということが
理解されよう。このようなロードオペレーシヨン
のために、コンパレータ48は、都合よく、選択
されたRAM記憶場所へ書込むためRAM入力−
出力レジスタへ新しいマイクロ−コードデータ
(現存するマイクロ−コードと異なるとき)を復
帰(ゲート回路55および選択されたストリング
を介して)させる働きをするということも理解さ
れよう。
ーシヨンが行なわれるべきであれば、そのオペレ
ーシヨンは補正の場合において、RAMの選択さ
れた記憶場所へ書込まれた新しい状態がその
RAM記憶場所にロードされるように望まれる新
しいマイクロコードを構成するということを除い
て上述したものと同様である。第4図を参照し
て、このRAMのロードオペレーシヨンのため
に、ロード命令がデコーダ30へ与えられ、この
デコーダ30によつてアドレスレジスタ34は、
モニタまたはチエツクオペレーシヨンにおけるよ
うな比較データよりもむしろ、ロードされるべき
所望の新しいマイクロコードデータをメモリ38
からシフトレジスタ42へと読込むということが
理解されよう。このようなロードオペレーシヨン
のために、コンパレータ48は、都合よく、選択
されたRAM記憶場所へ書込むためRAM入力−
出力レジスタへ新しいマイクロ−コードデータ
(現存するマイクロ−コードと異なるとき)を復
帰(ゲート回路55および選択されたストリング
を介して)させる働きをするということも理解さ
れよう。
ここにおける説明は主としてこの発明の特定の
実施例および例に関するものであるが、この発明
はその真の範囲から逸脱することなく広範囲な可
能な修正および変形を受けるということを理解す
べきである。したがつて、この発明は添付の請求
の範囲によつて規定されるこの発明の広い範囲内
にあるすべての可能な修正、変形および代替の実
現を包括するものとして考慮されるべきである。
実施例および例に関するものであるが、この発明
はその真の範囲から逸脱することなく広範囲な可
能な修正および変形を受けるということを理解す
べきである。したがつて、この発明は添付の請求
の範囲によつて規定されるこの発明の広い範囲内
にあるすべての可能な修正、変形および代替の実
現を包括するものとして考慮されるべきである。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/085,388 US4322812A (en) | 1979-10-16 | 1979-10-16 | Digital data processor providing for monitoring, changing and loading of RAM instruction data |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56501423A JPS56501423A (ja) | 1981-10-01 |
| JPH0119182B2 true JPH0119182B2 (ja) | 1989-04-10 |
Family
ID=22191297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55502619A Expired JPH0119182B2 (ja) | 1979-10-16 | 1980-10-14 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4322812A (ja) |
| EP (1) | EP0040219B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0119182B2 (ja) |
| DE (1) | DE3072161D1 (ja) |
| WO (1) | WO1981001208A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2512980B1 (ja) * | 1981-09-14 | 1983-12-23 | Aero Etudes Conseils | |
| DE3373729D1 (en) * | 1983-12-08 | 1987-10-22 | Ibm Deutschland | Testing and diagnostic device for a digital calculator |
| JPS60138483A (ja) * | 1983-12-27 | 1985-07-23 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 超音波診断装置 |
| US4878168A (en) * | 1984-03-30 | 1989-10-31 | International Business Machines Corporation | Bidirectional serial test bus device adapted for control processing unit using parallel information transfer bus |
| US4584640A (en) * | 1984-06-27 | 1986-04-22 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for a compare and swap instruction |
| JPS61125665A (ja) * | 1984-11-19 | 1986-06-13 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 直列データ・リンクと入出力端末装置をインターフェースするアダプタ |
| EP0186724B1 (de) * | 1985-01-04 | 1990-12-12 | Ibm Deutschland Gmbh | Prüf- und Diagnoseeinrichtung für Digitalrechner |
| US4811413A (en) * | 1987-10-22 | 1989-03-07 | International Business Machines Corp. | System of reconfigurable pipelines of generalized neighborhood function morphic image processors |
| US5261084A (en) * | 1988-05-06 | 1993-11-09 | Nec Corporation | Error judgment method |
| EP0858630B1 (en) * | 1995-06-09 | 2005-03-23 | Fujitsu Limited | Method, system and apparatus for efficiently generating binary numbers for testing storage devices |
| JP4282390B2 (ja) * | 2003-07-04 | 2009-06-17 | 富士通テン株式会社 | マイコンのロジック開発装置 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3374467A (en) * | 1965-05-27 | 1968-03-19 | Lear Siegler Inc | Digital data processor |
| US3582902A (en) * | 1968-12-30 | 1971-06-01 | Honeywell Inc | Data processing system having auxiliary register storage |
| US3651472A (en) * | 1970-03-04 | 1972-03-21 | Honeywell Inc | Multistate flip-flop element including a local memory for use in constructing a data processing system |
| US3742456A (en) * | 1972-04-05 | 1973-06-26 | Pitney Bowes Inc | Apparatus for selectively formatting serial data bits into separate data characters |
| FR2256706A5 (ja) * | 1973-12-27 | 1975-07-25 | Cii | |
| US4031512A (en) * | 1975-05-29 | 1977-06-21 | Burroughs Corporation | Communications network for general purpose data communications in a heterogeneous environment |
| US4099229A (en) * | 1977-02-14 | 1978-07-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Variable architecture digital computer |
| JPS5833576B2 (ja) * | 1977-03-14 | 1983-07-20 | 株式会社東芝 | 計算機システムの故障診断装置 |
| US4128873A (en) * | 1977-09-20 | 1978-12-05 | Burroughs Corporation | Structure for an easily testable single chip calculator/controller |
-
1979
- 1979-10-16 US US06/085,388 patent/US4322812A/en not_active Expired - Lifetime
-
1980
- 1980-10-14 JP JP55502619A patent/JPH0119182B2/ja not_active Expired
- 1980-10-14 WO PCT/US1980/001376 patent/WO1981001208A1/en not_active Ceased
- 1980-10-14 EP EP80902214A patent/EP0040219B1/en not_active Expired
- 1980-10-14 DE DE8080902214T patent/DE3072161D1/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4322812A (en) | 1982-03-30 |
| DE3072161D1 (en) | 1989-08-17 |
| EP0040219A4 (en) | 1984-03-27 |
| JPS56501423A (ja) | 1981-10-01 |
| WO1981001208A1 (en) | 1981-04-30 |
| EP0040219B1 (en) | 1989-07-12 |
| EP0040219A1 (en) | 1981-11-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| AU734278B2 (en) | Diagnostic memory access | |
| KR960001948B1 (ko) | 에러 조정 및 테스트 기능을 가진 프로그램 가능 메모리 제어 방법 및 장치 | |
| KR100206128B1 (ko) | 선형 궤환 쉬프트레지스터, 다중 입력기호 레지스터 및 이들을 이용한 내장 자기 진단회로 | |
| US4326290A (en) | Means and methods for monitoring the storage states of a memory and other storage devices in a digital data processor | |
| EP0053665A1 (en) | Testing embedded arrays in large scale integrated circuits | |
| JPH0527831B2 (ja) | ||
| US5726584A (en) | Virtual high density programmable integrated circuit having addressable shared memory cells | |
| EP0845788B1 (en) | A memory array test circuit with failure notification | |
| JPH0119182B2 (ja) | ||
| JP2002216499A (ja) | シリアルアクセス機能付きアドレスマルチプレクサメモリのテスト方式 | |
| JPH01137500A (ja) | 埋込み2進パターンを有するメモリ・アレイ装置 | |
| KR940002904B1 (ko) | 데이타 처리 시스템 및 이 시스템에 있어서의 다수 메모리 어레이 테스팅 방법 | |
| KR100276504B1 (ko) | 오류 데이터 저장 시스템 | |
| US6611929B1 (en) | Test circuit for memory | |
| US4326251A (en) | Monitoring system for a digital data processor | |
| KR930020458A (ko) | 파이프라인 동작형 메모리 시스템 | |
| JP2518039B2 (ja) | デ―タ処理装置の制御記憶ロ―ド方法 | |
| WO1996036886A1 (en) | Addressable serial test system | |
| JP2806645B2 (ja) | スキャンパスエラー検出回路 | |
| JPH09281192A (ja) | 論理集積回路の自己診断回路 | |
| JP2544494B2 (ja) | プログラマブル・ロジックアレイの論理規模拡張構成 | |
| JPS6144342B2 (ja) | ||
| JPH04106793A (ja) | メモリインタフェース回路 | |
| JP3221585B2 (ja) | スキャンレジスタ回路及びテスト補助回路 | |
| JPS6113611B2 (ja) |