JPH0119224Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0119224Y2 JPH0119224Y2 JP1982014622U JP1462282U JPH0119224Y2 JP H0119224 Y2 JPH0119224 Y2 JP H0119224Y2 JP 1982014622 U JP1982014622 U JP 1982014622U JP 1462282 U JP1462282 U JP 1462282U JP H0119224 Y2 JPH0119224 Y2 JP H0119224Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic head
- circuit
- potential
- measurement
- wear
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、磁気ヘツド寿命判別装置に関するも
のである。
のである。
従来の磁気ヘツド寿命判別装置においては、変
成器ブリツジ法で磁気ヘツドのインダクタンスの
変化量を測定することにより、磁気ヘツドの摩耗
による寿命を判別するようにしていた。すなわ
ち、磁気ヘツドの抵抗成分と等価な抵抗器を変成
器ブリツジに付加するとともに測定周波数を高周
波にし、そして磁気ヘツドのインダクタンス成分
（ωL）を磁気ヘツドの抵抗成分（Ｒ）より大きく
してインダクタンスの変化量に対して感度を上
げ、かつ磁気ヘツドのリード線及び測定リード線
の抵抗成分からなる測定回路内の抵抗成分のバラ
ツキをおさえることによつて、抵抗成分のバラツ
キによる測定値への影響を小さくし、測定精度を
確保していたが、これにおいては、磁気ヘツドの
摩耗量を測定回路内の抵抗成分を含んだインピー
ダンスの変化量としてとらえるようにしているた
め、測定精度は満足し得るものではなかつた。
成器ブリツジ法で磁気ヘツドのインダクタンスの
変化量を測定することにより、磁気ヘツドの摩耗
による寿命を判別するようにしていた。すなわ
ち、磁気ヘツドの抵抗成分と等価な抵抗器を変成
器ブリツジに付加するとともに測定周波数を高周
波にし、そして磁気ヘツドのインダクタンス成分
（ωL）を磁気ヘツドの抵抗成分（Ｒ）より大きく
してインダクタンスの変化量に対して感度を上
げ、かつ磁気ヘツドのリード線及び測定リード線
の抵抗成分からなる測定回路内の抵抗成分のバラ
ツキをおさえることによつて、抵抗成分のバラツ
キによる測定値への影響を小さくし、測定精度を
確保していたが、これにおいては、磁気ヘツドの
摩耗量を測定回路内の抵抗成分を含んだインピー
ダンスの変化量としてとらえるようにしているた
め、測定精度は満足し得るものではなかつた。
本考案は上記従来の欠点に鑑み、測定精度を向
上させることを目的とするもので、この目的を達
成するための本考案の構成は、磁気ヘツドの摩耗
量が増大するに従い、磁気ヘツドのインダクタン
スが小さくなる特性を有するものにおいて、前記
磁気ヘツドの摩耗量を定電流法で検出し、メータ
ー等の指示計によつて磁気ヘツドの摩耗による寿
命を判別するように構成したものである。
上させることを目的とするもので、この目的を達
成するための本考案の構成は、磁気ヘツドの摩耗
量が増大するに従い、磁気ヘツドのインダクタン
スが小さくなる特性を有するものにおいて、前記
磁気ヘツドの摩耗量を定電流法で検出し、メータ
ー等の指示計によつて磁気ヘツドの摩耗による寿
命を判別するように構成したものである。
本考案は上記構成とすることにより、磁気ヘツ
ドの摩耗量を磁気ヘツドのインダクタンスの変化
量としてとらえることができるため、磁気ヘツド
の抵抗成分、磁気ヘツドのリード線及び測定リー
ド線の抵抗成分からなる測定回路内の抵抗成分の
バラツキによる測定値への影響ということはなく
なり、その結果、測定精度を向上させることがで
きるとともに、磁気ヘツドの摩耗による寿命の判
別も、容易に、しかも正確に判別することができ
るものである。
ドの摩耗量を磁気ヘツドのインダクタンスの変化
量としてとらえることができるため、磁気ヘツド
の抵抗成分、磁気ヘツドのリード線及び測定リー
ド線の抵抗成分からなる測定回路内の抵抗成分の
バラツキによる測定値への影響ということはなく
なり、その結果、測定精度を向上させることがで
きるとともに、磁気ヘツドの摩耗による寿命の判
別も、容易に、しかも正確に判別することができ
るものである。
以下、本考案の一実施例を図面にもとづいて説
明する。第１図は磁気ヘツドの摩耗量と磁気ヘツ
ドのインダクタンスとの関係を示したもので、こ
の第１図からも明らかなように、磁気ヘツドの摩
耗量が増大するに従い、磁気ヘツドのインダクタ
ンスは小さくなる特性を有している。第２図は本
考案の一実施例におけるビデオ磁気ヘツド寿命判
別装置の回路構成を示したもので、１は交流定電
流電源、２は直流定電流電源、３，４はマルチプ
ライア等よりなる２乗回路、５は全波整流回路、
９は増巾回路、７は基準電圧発生回路、８は差動
増巾器による減算回路で、この減算回路８の２つ
の入力の増巾率は等しくなつている。９は反転型
増巾回路、１０は平方根演算回路、１１はＮチヤ
ンネル電界効果型トランジスタ（FET）による
拡大等分割目盛回路、１２はメーター等の指示
計、Ａ，A′は測定端子、SW1〜SW4は４回路２
接点の切替スイツチである。
明する。第１図は磁気ヘツドの摩耗量と磁気ヘツ
ドのインダクタンスとの関係を示したもので、こ
の第１図からも明らかなように、磁気ヘツドの摩
耗量が増大するに従い、磁気ヘツドのインダクタ
ンスは小さくなる特性を有している。第２図は本
考案の一実施例におけるビデオ磁気ヘツド寿命判
別装置の回路構成を示したもので、１は交流定電
流電源、２は直流定電流電源、３，４はマルチプ
ライア等よりなる２乗回路、５は全波整流回路、
９は増巾回路、７は基準電圧発生回路、８は差動
増巾器による減算回路で、この減算回路８の２つ
の入力の増巾率は等しくなつている。９は反転型
増巾回路、１０は平方根演算回路、１１はＮチヤ
ンネル電界効果型トランジスタ（FET）による
拡大等分割目盛回路、１２はメーター等の指示
計、Ａ，A′は測定端子、SW1〜SW4は４回路２
接点の切替スイツチである。
上記回路構成において動作を説明する。SW1〜
SW4のコモン（COM）端子をRF端子側に倒す
と、被測定物（磁気ヘツド＝インダクタンス成分
Ｌと抵抗成分Ｒより成る）及び磁気ヘツドのリー
ド線の抵抗成分RL、測定リード線の抵抗成分
RMからなる測定回路内の抵抗成分（RC＝RL＋
RM）に、直流の一定電流Ｉが流れて、Ｉ×（Ｒ
＋RC）の電位が生じ、かつ２乗回路３により２
乗されてI2×（Ｒ＋RC）2の電位が減算回路８の一
方の入力として加わる。また減算回路８の他方の
入力には、基準電圧発生回路７により、指示計１
２に流れる電流が零となるように、I2×（Ｒ＋
RC）2に調整された電位を加える。次いで、切替
スイツチSW1〜SW4のコモン（COM）端子を
LM端子側に倒すと、前述した被測定物及び磁気
ヘツドのリード線の抵抗成分RL、測定リード線
の抵抗成分RMからなる測定回路内に、交流の一
定電流Ｉ（実効値）が流れ、Ｉ×√（）2＋（＋
RC）2の実効値をもつ交流の電位が生じ、かつこ
れは全波整流回路５及び増巾回路６により、Ｉ×
√（）2＋（＋）2の実効値に等しい直流電位
に変換され、かつ２乗回路４により２乗されてI2
×｛（ωL）2＋（Ｒ＋RC）2｝の電位が減算回路８の
一方の入力として加わる。この場合、減算回路８
の他方の入力には、先に調整されたI2×（Ｒ＋
RC）2の電位が加わつているため、減算回路８の
出力は、I2×（Ｒ＋RC）2−I2×｛（ωL）2＋（Ｒ＋
RC）2｝＝−I2×（ωL）2となり、したがつて、これ
により抵抗成分による電位が除去され、そして反
転型増巾回路９によりKI2×（ωL）2となり、かつ
平方根演算回路１０によりK′I×ωLの磁気ヘツド
のインダクタンスＬの変化量に比例した出力が得
られる。この磁気ヘツドのインダクタンスＬの変
化量に比例した出力は微小であるが、次のＮチヤ
ンネル電界効果型トランジスタによる拡大等分割
目盛回路１１により、メーター等の指示計１２に
流れる電流の変化を大きくすることによつて、そ
の出力は伸長されてメーター等の指示計１２に表
示される。
SW4のコモン（COM）端子をRF端子側に倒す
と、被測定物（磁気ヘツド＝インダクタンス成分
Ｌと抵抗成分Ｒより成る）及び磁気ヘツドのリー
ド線の抵抗成分RL、測定リード線の抵抗成分
RMからなる測定回路内の抵抗成分（RC＝RL＋
RM）に、直流の一定電流Ｉが流れて、Ｉ×（Ｒ
＋RC）の電位が生じ、かつ２乗回路３により２
乗されてI2×（Ｒ＋RC）2の電位が減算回路８の一
方の入力として加わる。また減算回路８の他方の
入力には、基準電圧発生回路７により、指示計１
２に流れる電流が零となるように、I2×（Ｒ＋
RC）2に調整された電位を加える。次いで、切替
スイツチSW1〜SW4のコモン（COM）端子を
LM端子側に倒すと、前述した被測定物及び磁気
ヘツドのリード線の抵抗成分RL、測定リード線
の抵抗成分RMからなる測定回路内に、交流の一
定電流Ｉ（実効値）が流れ、Ｉ×√（）2＋（＋
RC）2の実効値をもつ交流の電位が生じ、かつこ
れは全波整流回路５及び増巾回路６により、Ｉ×
√（）2＋（＋）2の実効値に等しい直流電位
に変換され、かつ２乗回路４により２乗されてI2
×｛（ωL）2＋（Ｒ＋RC）2｝の電位が減算回路８の
一方の入力として加わる。この場合、減算回路８
の他方の入力には、先に調整されたI2×（Ｒ＋
RC）2の電位が加わつているため、減算回路８の
出力は、I2×（Ｒ＋RC）2−I2×｛（ωL）2＋（Ｒ＋
RC）2｝＝−I2×（ωL）2となり、したがつて、これ
により抵抗成分による電位が除去され、そして反
転型増巾回路９によりKI2×（ωL）2となり、かつ
平方根演算回路１０によりK′I×ωLの磁気ヘツド
のインダクタンスＬの変化量に比例した出力が得
られる。この磁気ヘツドのインダクタンスＬの変
化量に比例した出力は微小であるが、次のＮチヤ
ンネル電界効果型トランジスタによる拡大等分割
目盛回路１１により、メーター等の指示計１２に
流れる電流の変化を大きくすることによつて、そ
の出力は伸長されてメーター等の指示計１２に表
示される。
以上のように本考案によれば、磁気ヘツドの摩
耗量が増大するに従い、磁気ヘツドのインダクタ
ンスが小さくなる特性を有するものにおいて、前
記磁気ヘツドの摩耗量を交流の一定電流を流し、
その出力を直流に変換して減算回路で減算処理
し、メーター等の指示計によつて磁気ヘツドの摩
耗による寿命を判別するように構成したもので、
磁気ヘツドの摩耗量を磁気ヘツドのインダクタン
スの変化量としてとらえることができるため、磁
気ヘツドの抵抗成分、磁気ヘツドのリード線及び
測定リード線の抵抗成分からなる測定回路内の抵
抗成分のバラツキによる測定値への影響というこ
とはなくなり、その結果、測定精度を向上させる
ことができるとともに、磁気ヘツドの摩耗による
寿命の判別も、容易に、しかも正確に判別するこ
とができるものである。
耗量が増大するに従い、磁気ヘツドのインダクタ
ンスが小さくなる特性を有するものにおいて、前
記磁気ヘツドの摩耗量を交流の一定電流を流し、
その出力を直流に変換して減算回路で減算処理
し、メーター等の指示計によつて磁気ヘツドの摩
耗による寿命を判別するように構成したもので、
磁気ヘツドの摩耗量を磁気ヘツドのインダクタン
スの変化量としてとらえることができるため、磁
気ヘツドの抵抗成分、磁気ヘツドのリード線及び
測定リード線の抵抗成分からなる測定回路内の抵
抗成分のバラツキによる測定値への影響というこ
とはなくなり、その結果、測定精度を向上させる
ことができるとともに、磁気ヘツドの摩耗による
寿命の判別も、容易に、しかも正確に判別するこ
とができるものである。
第１図は磁気ヘツドの摩耗量と磁気ヘツドのイ
ンダクタンスとの関係を示す特性図、第２図は本
考案の一実施例を示すビデオ磁気ヘツド寿命判別
装置の回路構成図である。 １……交流定電流電源、２……直流定電流電
源、３，４……２乗回路、５……全波整流回路、
６……増巾回路、７……基準電圧発生回路、８…
…減算回路、９……反転型増巾回路、１０……平
方根演算回路、１１……拡大等分割目盛回路、１
２……メーター等の指示計。
ンダクタンスとの関係を示す特性図、第２図は本
考案の一実施例を示すビデオ磁気ヘツド寿命判別
装置の回路構成図である。 １……交流定電流電源、２……直流定電流電
源、３，４……２乗回路、５……全波整流回路、
６……増巾回路、７……基準電圧発生回路、８…
…減算回路、９……反転型増巾回路、１０……平
方根演算回路、１１……拡大等分割目盛回路、１
２……メーター等の指示計。
Claims (1)
- 磁気ヘツドの摩耗量が増大するに従い、インダ
クタンスが小さくなる特性を利用して磁気ヘツド
の寿命を判別する装置であつて、被測定物である
磁気ヘツド及びそのリード線ならびに測定リード
線を含む測定回路に交流の一定電流を流す交流定
電流電源と、測定回路より出力される交流電位を
直流電位に変換する整流回路と、直流変換された
電位を一方の入力端に取り入れるとともに、他方
の入力端に基準電圧発生回路よりの電位を取り入
れて減算処理する減算回路と、この減算回路の出
力を表示する指示計とからなる磁気ヘツド寿命判
別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1462282U JPS58118525U (ja) | 1982-02-04 | 1982-02-04 | 磁気ヘツド寿命判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1462282U JPS58118525U (ja) | 1982-02-04 | 1982-02-04 | 磁気ヘツド寿命判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58118525U JPS58118525U (ja) | 1983-08-12 |
| JPH0119224Y2 true JPH0119224Y2 (ja) | 1989-06-05 |
Family
ID=30027080
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1462282U Granted JPS58118525U (ja) | 1982-02-04 | 1982-02-04 | 磁気ヘツド寿命判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58118525U (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55169635U (ja) * | 1979-05-23 | 1980-12-05 |
-
1982
- 1982-02-04 JP JP1462282U patent/JPS58118525U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58118525U (ja) | 1983-08-12 |
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