JPH01194134A - 光ディスク記録装置 - Google Patents
光ディスク記録装置Info
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- JPH01194134A JPH01194134A JP63018428A JP1842888A JPH01194134A JP H01194134 A JPH01194134 A JP H01194134A JP 63018428 A JP63018428 A JP 63018428A JP 1842888 A JP1842888 A JP 1842888A JP H01194134 A JPH01194134 A JP H01194134A
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 abstract description 17
- 230000008018 melting Effects 0.000 abstract description 17
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、レーザ光によりディスク上にピットを形成
してデータの記録を行なうマーク長記録方式の光ディス
ク記録装置に関し、ピット長く光スポツト進行方向の長
さ)あるいはブランク長(ピットとピットの間にあるブ
ランク部の光スポツト進行方向の長さ)の誤差を少なく
することにより、再生信号中のジッタを減少させて、S
/Nの向上等により再生信号の品位を高めたものである
。
してデータの記録を行なうマーク長記録方式の光ディス
ク記録装置に関し、ピット長く光スポツト進行方向の長
さ)あるいはブランク長(ピットとピットの間にあるブ
ランク部の光スポツト進行方向の長さ)の誤差を少なく
することにより、再生信号中のジッタを減少させて、S
/Nの向上等により再生信号の品位を高めたものである
。
コンパクトディスク(CD)、ビデオディスク等の原盤
や文書ファイル用ディスクメモリとして書込可能なりR
AW(追記形)ディスク等は、テルル、ビスマス等の記
録膜を均一に塗布したディスクを回転速度一定または線
速度一定で回転し、レーザ光により該膜を溶融してピッ
トを形成し、情報の記録を行なう。従来においては、こ
の記録を行なう場合、第2図に示すようなレーザ発生回
路が用いられていた。
や文書ファイル用ディスクメモリとして書込可能なりR
AW(追記形)ディスク等は、テルル、ビスマス等の記
録膜を均一に塗布したディスクを回転速度一定または線
速度一定で回転し、レーザ光により該膜を溶融してピッ
トを形成し、情報の記録を行なう。従来においては、こ
の記録を行なう場合、第2図に示すようなレーザ発生回
路が用いられていた。
第2図において、トランジスタT r 1 、 T r
2は差動スイッチを構成し、共通エミッタはトランジ
スタT r 3および抵抗Rpを介して電源−■o。
2は差動スイッチを構成し、共通エミッタはトランジ
スタT r 3および抵抗Rpを介して電源−■o。
に接続されている。VpはトランジスタTr3のオンオ
フ用直流電圧であり、実際には図示しないレーザダイオ
ード熱補償サーボ回路から制御電圧が重畳されるもので
あるが、ここでは便宜上単なるオンオフ制御電圧と考え
る。
フ用直流電圧であり、実際には図示しないレーザダイオ
ード熱補償サーボ回路から制御電圧が重畳されるもので
あるが、ここでは便宜上単なるオンオフ制御電圧と考え
る。
レーザダイオードLDはI・ランジスタTr2のコレク
タとアース間に挿入されている。また、トランジスタT
r 2のコレクタと電源−760間にはレーザダイオ
ードLDのバイアス電流IBを決定するバイアス回路1
0が接続されている。このバイアス回路10は、トラン
ジスタTr2がオフのとき(すなわちブランク部を形成
するときまたは非記録時すなわち再生するとき)にレー
ザダイオードLDに一定のバイアス電流■8を与えて、
記録膜を溶融しない程度のバイアス光を発光させるため
のものである。
タとアース間に挿入されている。また、トランジスタT
r 2のコレクタと電源−760間にはレーザダイオ
ードLDのバイアス電流IBを決定するバイアス回路1
0が接続されている。このバイアス回路10は、トラン
ジスタTr2がオフのとき(すなわちブランク部を形成
するときまたは非記録時すなわち再生するとき)にレー
ザダイオードLDに一定のバイアス電流■8を与えて、
記録膜を溶融しない程度のバイアス光を発光させるため
のものである。
記録すべき1”、“0″の論理値データは、トランジス
タTriのベースに入力される。論理値“1”が入力さ
れた場合はトランジスタT r 1はオン、トランジス
タT r 2はオフされてレーザダイオードLDはバイ
アス電流IBのみで駆動されピット記録は行なわれない
。すなわちピットとピットの間のブランク部が形成され
る。論理値“0”が入力された場合はトランジスタTr
iはオフ、トランジスタTr2はオンされてレーザダイ
オードLDは記録用電流値IP+バイアス電流値IBで
駆動され、記録膜の溶融がなされピットが形成される。
タTriのベースに入力される。論理値“1”が入力さ
れた場合はトランジスタT r 1はオン、トランジス
タT r 2はオフされてレーザダイオードLDはバイ
アス電流IBのみで駆動されピット記録は行なわれない
。すなわちピットとピットの間のブランク部が形成され
る。論理値“0”が入力された場合はトランジスタTr
iはオフ、トランジスタTr2はオンされてレーザダイ
オードLDは記録用電流値IP+バイアス電流値IBで
駆動され、記録膜の溶融がなされピットが形成される。
このときの記録用電流値IPは抵抗RPによって決定さ
れる。
れる。
なお、バイアス光を発光させるのは、1つには、ブラン
ク部でレーザ光出力を完全にOにしてしまうと、次のピ
ットの始端が後方にずれ易くなることを防止するためで
ある。すなわち、ブランク部でレーザ光出力を完全に0
にしてしまうと、ディスクはブランク部でレーザ光照射
が完全に遮断されて冷却されるため、次にレーザ光照射
が開始されても即座には記録膜の溶融が開始されない。
ク部でレーザ光出力を完全にOにしてしまうと、次のピ
ットの始端が後方にずれ易くなることを防止するためで
ある。すなわち、ブランク部でレーザ光出力を完全に0
にしてしまうと、ディスクはブランク部でレーザ光照射
が完全に遮断されて冷却されるため、次にレーザ光照射
が開始されても即座には記録膜の溶融が開始されない。
これらの原因によりピット始端が後方にずれて、ピット
長、ブランク長に誤差が生じ、再生信号がジッタを多く
含むものとなる。バイアス光で予熱しておくことにより
、冷却の度合は減少する。また1つには、このバイアス
光が、読取用のレーザ光照射となるのでその都度、バイ
アス光をオンオフする必要がないことである。
長、ブランク長に誤差が生じ、再生信号がジッタを多く
含むものとなる。バイアス光で予熱しておくことにより
、冷却の度合は減少する。また1つには、このバイアス
光が、読取用のレーザ光照射となるのでその都度、バイ
アス光をオンオフする必要がないことである。
なお、第3図は、第2図のレーザ発生回路によるレーザ
光照射の一例を示したものである。
光照射の一例を示したものである。
以上のように、ピットを形成する際に、ブランク部でバ
イアス光を発生させることにより、ピット始端でのレー
ザ光の立上りが良好になり、また記録膜の溶融が良好に
なり、ジッタかある程度減少される。
イアス光を発生させることにより、ピット始端でのレー
ザ光の立上りが良好になり、また記録膜の溶融が良好に
なり、ジッタかある程度減少される。
ところが、本来ジッタ量は一定ではなく、ブランク長に
よって変化する。すなわち、ブランク長が長いほどディ
スクやレーザダイオードの冷却が著しくなるので、次の
ピットの始端での溶融が悪くなり、ジッタが多くなる。
よって変化する。すなわち、ブランク長が長いほどディ
スクやレーザダイオードの冷却が著しくなるので、次の
ピットの始端での溶融が悪くなり、ジッタが多くなる。
このため、第2図の回路のようにブランク長にかかわら
ず一定のバイアス光を与えるものでは、ジッタを十分に
減少させることはできなかった。
ず一定のバイアス光を与えるものでは、ジッタを十分に
減少させることはできなかった。
第4図は第2図の回路によって形成されるピット長が直
前のブランク長によって変化する様子を37.7T、I
ITの各ピットについて示したものである。ピット長と
同じ長さの直前のブランク長の組合せを基準として、そ
の基準Refからのずれでそれぞれ表わしている。この
図かられがるように、直前のブランク長が長いほどその
前のピットを形成したときの熱の影響が少なくなり、溶
融されにくくなっているので、照射時間が同じでもピッ
ト長が短く形成されている。逆に、直前のブランク長が
短いほどその前のピットを形成したときの熱の影響で溶
融されやすくなっているので、照射時間が同じでもピッ
ト長が長く形成されている。
前のブランク長によって変化する様子を37.7T、I
ITの各ピットについて示したものである。ピット長と
同じ長さの直前のブランク長の組合せを基準として、そ
の基準Refからのずれでそれぞれ表わしている。この
図かられがるように、直前のブランク長が長いほどその
前のピットを形成したときの熱の影響が少なくなり、溶
融されにくくなっているので、照射時間が同じでもピッ
ト長が短く形成されている。逆に、直前のブランク長が
短いほどその前のピットを形成したときの熱の影響で溶
融されやすくなっているので、照射時間が同じでもピッ
ト長が長く形成されている。
したがって、前記従来装置のようにブランク時に一定の
バアイス光を与えるものでは、ブランク長が短い部分に
合わせてバイアス光の強度を比較的低く定めると、ブラ
ンク長が長い部分ではピット始端位置の溶融が不足気味
になり、逆にプランり長が長い部分に合わせてバイアス
光の強度を比較的高く定めると、ブランク長が短い部分
ではピット始端位置の溶融が過剰になってしまい、いず
れの場合もジッタの原因となる。
バアイス光を与えるものでは、ブランク長が短い部分に
合わせてバイアス光の強度を比較的低く定めると、ブラ
ンク長が長い部分ではピット始端位置の溶融が不足気味
になり、逆にプランり長が長い部分に合わせてバイアス
光の強度を比較的高く定めると、ブランク長が短い部分
ではピット始端位置の溶融が過剰になってしまい、いず
れの場合もジッタの原因となる。
この発明は、前記従来の技術における問題点を解決して
、ブランク長の長短にかかわらず、ピット始端位置を正
確に規定できるようにして、ジッタの減少を図るように
した光ディスク記録装置を提供しようとするしのである
。
、ブランク長の長短にかかわらず、ピット始端位置を正
確に規定できるようにして、ジッタの減少を図るように
した光ディスク記録装置を提供しようとするしのである
。
この発明は、記録時にブランク長に応じてバイアス光出
力を変化させるようにしたもので、ブランク長が長い場
合にバイアス光出力を高目にし、ブランク長の短い場合
にバイアス光出力を低目にしたものである。
力を変化させるようにしたもので、ブランク長が長い場
合にバイアス光出力を高目にし、ブランク長の短い場合
にバイアス光出力を低目にしたものである。
ブランク長が長い部分では冷却か進み次のピット始端位
置の溶融が不足気味になるので、バイアス光出力を高目
にすることにより溶融を良好にすることができる。また
、ブランク長が短い部分ではピット始端位置の溶融が過
剰気味になるので、バイアス光出力が低目にすることに
より溶融過剰を防止することができる。これにより、ブ
ランク長にかかわらずジッタを減少させることができる
。
置の溶融が不足気味になるので、バイアス光出力を高目
にすることにより溶融を良好にすることができる。また
、ブランク長が短い部分ではピット始端位置の溶融が過
剰気味になるので、バイアス光出力が低目にすることに
より溶融過剰を防止することができる。これにより、ブ
ランク長にかかわらずジッタを減少させることができる
。
この発明の一実施例を第1図に示す。ここでは3T〜I
ITのブランク長をとる信号を扱う場合について説明す
る。第2図の回路構成と同様の部分については同一符号
を付すことによりその説明は省略しな。
ITのブランク長をとる信号を扱う場合について説明す
る。第2図の回路構成と同様の部分については同一符号
を付すことによりその説明は省略しな。
第1図において、トランジスタT r 2のコレクタと
電源−766間にはバイアス回路10が接続されている
。このバイアス回路10は、トランジスタT r 2が
オフのときくすなわちブランク部を形成するときまたは
非記録時すなわち再生するとき)にレーザダイオードL
Dにブランク長によって可変のバイアス電流IBを与え
て、記録膜を溶融しない程度のバイアス光を発光させる
ためのものである。
電源−766間にはバイアス回路10が接続されている
。このバイアス回路10は、トランジスタT r 2が
オフのときくすなわちブランク部を形成するときまたは
非記録時すなわち再生するとき)にレーザダイオードL
Dにブランク長によって可変のバイアス電流IBを与え
て、記録膜を溶融しない程度のバイアス光を発光させる
ためのものである。
バイアス回路10は第2図の構成に加えて各ブランク長
4T〜IITに対応して回路10−4乃至10−11が
並列接続されている。各回路10−4乃至10−11は
トランジスタTrB4〜T r B 11と抵抗RB4
〜RB11とで構成されている。
4T〜IITに対応して回路10−4乃至10−11が
並列接続されている。各回路10−4乃至10−11は
トランジスタTrB4〜T r B 11と抵抗RB4
〜RB11とで構成されている。
これら回路10−4乃至10−11は、ブランク時に、
そのときのブランク長に対応する回路のトランジスタT
rB4〜TrB11がそのベースに加わる信号VB4〜
V B11によりオンされて、バイアス電流IB4〜I
B11を流す。例えばブランク長か4Tの場合は、信
号VB4が発生されて、トランジスタTrB4をオンし
、バイアス電流IB4を流す。
そのときのブランク長に対応する回路のトランジスタT
rB4〜TrB11がそのベースに加わる信号VB4〜
V B11によりオンされて、バイアス電流IB4〜I
B11を流す。例えばブランク長か4Tの場合は、信
号VB4が発生されて、トランジスタTrB4をオンし
、バイアス電流IB4を流す。
なお、バイアス回路10−0は基本のバイアス電流IB
Oを供給する回路で、ブランク長にかかわらずトランジ
スタTr4は常にオンして基本のバイアス電流を供給し
ている。したがって、ブランク長3Tのときはバイアス
電流は基本のバイアス電流IBOたけとなり、ブランク
長4T〜11Tのときは基本のバイアス電流IBOにバ
イアス電流IB4〜I B11をそれぞれ加算した値と
なる。
Oを供給する回路で、ブランク長にかかわらずトランジ
スタTr4は常にオンして基本のバイアス電流を供給し
ている。したがって、ブランク長3Tのときはバイアス
電流は基本のバイアス電流IBOたけとなり、ブランク
長4T〜11Tのときは基本のバイアス電流IBOにバ
イアス電流IB4〜I B11をそれぞれ加算した値と
なる。
ブランク長が長い場合はどバイアス電流IBが大きくな
るように、抵抗BB4.・・・・・・RBllの値は、
RB4> RB5>・・・・・・> RB11に設定す
る。
るように、抵抗BB4.・・・・・・RBllの値は、
RB4> RB5>・・・・・・> RB11に設定す
る。
このようにバイアス電流IBO,IBn(n=4゜5、
・・・、11)を設定した場合の照射状態の一例を第5
図に示す。これによれば、ブランク長が長い場合にバイ
アス光を高目にしているので、ブランク長が長いことに
よるディスクおよびレーザダイオードLDの冷却が抑制
されて、次のピットの始端でのレーザ光の立上りが良好
になり、ピット始端の溶融不足が解消されて、ジッタが
減少される。また、ブランク長が短い場合にバイアス光
を低目にしているのでピット始端の溶融過剰が解消され
て、ジッタが減少される。
・・・、11)を設定した場合の照射状態の一例を第5
図に示す。これによれば、ブランク長が長い場合にバイ
アス光を高目にしているので、ブランク長が長いことに
よるディスクおよびレーザダイオードLDの冷却が抑制
されて、次のピットの始端でのレーザ光の立上りが良好
になり、ピット始端の溶融不足が解消されて、ジッタが
減少される。また、ブランク長が短い場合にバイアス光
を低目にしているのでピット始端の溶融過剰が解消され
て、ジッタが減少される。
第6図は、このようにブランク長によりバイアス電流を
変化させた場合の再生ピット長センタ位置のずれを示し
たものである。これによれば、前記第4図の一定のバイ
アス光出力の場合に比べてピット長センタ位置のずれが
少なくなり、ジッタが減少されている。
変化させた場合の再生ピット長センタ位置のずれを示し
たものである。これによれば、前記第4図の一定のバイ
アス光出力の場合に比べてピット長センタ位置のずれが
少なくなり、ジッタが減少されている。
なおブランク長に応じてバイアス光出力を変化させるに
あたって、前記実施例ではブランク期間−律にバイアス
光出力を変化させているが、これに限られることなくブ
ランク期間の終端近傍のみを変化させるようにしても同
様の効果を奏する。
あたって、前記実施例ではブランク期間−律にバイアス
光出力を変化させているが、これに限られることなくブ
ランク期間の終端近傍のみを変化させるようにしても同
様の効果を奏する。
以上説明したようにこの発明によれば、ブランク長に応
じてバイアス光出力を変化させるようにして、ブランク
長が長い場合にバイアス光出力を高目にし、ブランク長
の短い場合にこのバイアス光出力を低目にしたので、ブ
ランク長が長い部分では溶融不足を解消して溶融を良好
にすることかできる。また、ブランク長が短い部分では
バイアス光出力が低目にすることにより溶融過剰を防止
することができる。これにより、ブランク長にかかわら
ず規定のピット長、ブランク長を得ることができ、ジッ
タを減少して、S/Nを向上させて、再生信号の品位を
高めさせることができる。
じてバイアス光出力を変化させるようにして、ブランク
長が長い場合にバイアス光出力を高目にし、ブランク長
の短い場合にこのバイアス光出力を低目にしたので、ブ
ランク長が長い部分では溶融不足を解消して溶融を良好
にすることかできる。また、ブランク長が短い部分では
バイアス光出力が低目にすることにより溶融過剰を防止
することができる。これにより、ブランク長にかかわら
ず規定のピット長、ブランク長を得ることができ、ジッ
タを減少して、S/Nを向上させて、再生信号の品位を
高めさせることができる。
第′1図は、この発明の一実施例を示す回路図である。
第2図は、従来回路を示す回路図である。
第3図は、第2図の回路によるレーザ光照射の一例を示
す図である。 第4図は、第2図の回路によ、るピット長のずれを示す
線図である。 第5図は、第1図の回路によるレーザ光照射の一例を示
す図である。 第6図は、第1図の回路によるピット長のずれを示す線
図である。 LD・・・レーザダイオード、10・・・バイアス回路
。
す図である。 第4図は、第2図の回路によ、るピット長のずれを示す
線図である。 第5図は、第1図の回路によるレーザ光照射の一例を示
す図である。 第6図は、第1図の回路によるピット長のずれを示す線
図である。 LD・・・レーザダイオード、10・・・バイアス回路
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 形成すべきピット長に応じた時間レーザ光を照射してデ
ィスク上にピットを形成するマーク長記録方式のレーザ
光制御手段を具えた光ディスク記録装置において、 前記レーザ光制御手段が、ブランク部でバイアス光を与
えるものであって、ブランク長が長い場合にこのバイア
ス光出力を高目にし、ブランク長が短い場合にこのバイ
アス光出力を低目にすることを特徴とする光ディスク記
録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63018428A JP2555668B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 光ディスク記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63018428A JP2555668B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 光ディスク記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01194134A true JPH01194134A (ja) | 1989-08-04 |
| JP2555668B2 JP2555668B2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=11971374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63018428A Expired - Fee Related JP2555668B2 (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 光ディスク記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2555668B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003028015A1 (en) * | 2001-09-26 | 2003-04-03 | Tdk Corporation | Method for recording information on optical recording medium, information recorder, and optical recording medium |
| US7120098B2 (en) | 2002-02-22 | 2006-10-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for controlling optical recording power in an optical drive |
-
1988
- 1988-01-28 JP JP63018428A patent/JP2555668B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003028015A1 (en) * | 2001-09-26 | 2003-04-03 | Tdk Corporation | Method for recording information on optical recording medium, information recorder, and optical recording medium |
| US7120098B2 (en) | 2002-02-22 | 2006-10-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus and method for controlling optical recording power in an optical drive |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2555668B2 (ja) | 1996-11-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |