JPH01195343A - 光学的分析装置 - Google Patents
光学的分析装置Info
- Publication number
- JPH01195343A JPH01195343A JP2104488A JP2104488A JPH01195343A JP H01195343 A JPH01195343 A JP H01195343A JP 2104488 A JP2104488 A JP 2104488A JP 2104488 A JP2104488 A JP 2104488A JP H01195343 A JPH01195343 A JP H01195343A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- optical system
- optical
- housing
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（５）産業上の利用分野
この発明は分光’ｘ度計などのように光学系の元ケ試料
に透過させることによりその分析を行なう光学的分析装
置に関する。
に透過させることによりその分析を行なう光学的分析装
置に関する。
（Ｂ） 従来の技術
たとえば分元元度計の場合、光源部から検出部に至るま
での光学系は一つの筐体内に収納設置される形が一般的
である。そして友とえは特開昭６１−１９５３１６号Ｅ
分元元度計」にみられるとおり、この光学系の一部に試
料が介在され光の透過が行なわれるようになっている。
での光学系は一つの筐体内に収納設置される形が一般的
である。そして友とえは特開昭６１−１９５３１６号Ｅ
分元元度計」にみられるとおり、この光学系の一部に試
料が介在され光の透過が行なわれるようになっている。
試料室は筐体の一部として一体的に形成されている。
（Ｃ） 発明が解決しようとする課題試料室が分九計
全体の筐体の一部として一体的であり、試料はサンプリ
ングしてこの試料室内にセットしなければならない。そ
の几め試料をサンプリングしにくい場合とか、流動中の
試料の光学的分析の場合それが不可能である。
全体の筐体の一部として一体的であり、試料はサンプリ
ングしてこの試料室内にセットしなければならない。そ
の几め試料をサンプリングしにくい場合とか、流動中の
試料の光学的分析の場合それが不可能である。
（至）課題を解決するための手段
光学系の一部にそれぞれの光学系端に接続し几２本の光
７アイバーを取り付け、この両ｙｔ、７アイバーの画伯
端側に試料を置いて光透過による試料の分析を行なうよ
うＫＬ７ｔものである。
７アイバーを取り付け、この両ｙｔ、７アイバーの画伯
端側に試料を置いて光透過による試料の分析を行なうよ
うＫＬ７ｔものである。
ま九筐体内に試料室を位置させる試料部と光学系の一部
１＋ファイバーを介して筐体外に引き出す光学系引出筐
とを設け、このいずれかの筐を筐体に着脱させて試料に
応じた多面的分析を可能ならしめる分析装置である。
１＋ファイバーを介して筐体外に引き出す光学系引出筐
とを設け、このいずれかの筐を筐体に着脱させて試料に
応じた多面的分析を可能ならしめる分析装置である。
（ト））作用
光学系における分析の几めの光′ｌ１ｌ−元フアイバー
によりて分析装置の筐体から外方に引き出させることｔ
可能とする。そして両光ファイバー他端間ｔ−ａ’ｓ’
ｔａｔに対応させることができ、ま几この他端間に試料
を位置させることができる。′（り実施例 以下図面に示す実施例にしたがってこの発明全説明する
。
によりて分析装置の筐体から外方に引き出させることｔ
可能とする。そして両光ファイバー他端間ｔ−ａ’ｓ’
ｔａｔに対応させることができ、ま几この他端間に試料
を位置させることができる。′（り実施例 以下図面に示す実施例にしたがってこの発明全説明する
。
図示実施例は二元束分元元度計にこの発明を実施し九九
学的分析装置が一例として示さｎている。
学的分析装置が一例として示さｎている。
第１図、第３図は外観図であり、第２図、第４図はそｎ
ぞれの内部構成？示している。光源部１は保守の容易さ
を保つため筐体Ｂの外方に付設されている。光源部１か
らの元は元入射窓２から分光器３．二元束測定部４の光
学系を経て光検出器Ｐに至る。そして分光器３を構成す
る集光ｖＡｍｌ、入ロヌリットｓ１．コリメーター鏡ｍ
２ 、回折格子Ｇ、テレメータ鏡ｍ３・出ロスリット
Ｓ２．測定部の集ｆＣ，鏡ｍ４．二元束測定部４全構成
する鏡ｍ５〜ｍ１０．セクターミラーｓｍ及び光検出器
Ｐが一つの筐体Ｂ内に収納配置さｎている。
ぞれの内部構成？示している。光源部１は保守の容易さ
を保つため筐体Ｂの外方に付設されている。光源部１か
らの元は元入射窓２から分光器３．二元束測定部４の光
学系を経て光検出器Ｐに至る。そして分光器３を構成す
る集光ｖＡｍｌ、入ロヌリットｓ１．コリメーター鏡ｍ
２ 、回折格子Ｇ、テレメータ鏡ｍ３・出ロスリット
Ｓ２．測定部の集ｆＣ，鏡ｍ４．二元束測定部４全構成
する鏡ｍ５〜ｍ１０．セクターミラーｓｍ及び光検出器
Ｐが一つの筐体Ｂ内に収納配置さｎている。
二元束測定部４の一つの光束には、対照上μＣがセット
さｎるが他の光束すなわち試料側光束（光学系）は元フ
ァイバーＦ、、Ｆ２にて筐体Ｂ外に引き出されている。
さｎるが他の光束すなわち試料側光束（光学系）は元フ
ァイバーＦ、、Ｆ２にて筐体Ｂ外に引き出されている。
この点にこの発明の最大の特徴がある。すなわち５．５
はこの光束系に介設され九九ファイバ接続部でそれぞｎ
に光ファイ／＜Ｆ、、Ｆ２が連接さｎている。両光ファ
イバＦ、・Ｆ２は合体包覆されて１本のファイバーＦと
して外方に引き出さｎ１試料部ＳＢに導びかｎる。
はこの光束系に介設され九九ファイバ接続部でそれぞｎ
に光ファイ／＜Ｆ、、Ｆ２が連接さｎている。両光ファ
イバＦ、・Ｆ２は合体包覆されて１本のファイバーＦと
して外方に引き出さｎ１試料部ＳＢに導びかｎる。
試料部８Ｂには試料Ｓがセットされていて、両光７アイ
パーＦ、、Ｆ２の他端側が試料Ｓに対設され試料Ｓへの
透過を行ない得るようになりているのである。
パーＦ、、Ｆ２の他端側が試料Ｓに対設され試料Ｓへの
透過を行ない得るようになりているのである。
第３図・第４図は従来のごとき笛体Ｂ内での試料分析の
ニーズにも応じ得る構成を示している。すなわちＢ、は
筐体内分析用の几めの試料部でおりｏＢｚは光ファイバ
Ｆで筐体Ｂから光学系を引き出させて分析を行なう几め
の光学系引出筐である。この両流Ｂ、、Ｂ２は筐体Ｂに
対して着脱可能に筐体Ｂにセットできるよう構成されて
いる。５は筐体側に設置された光学系接続具であり、６
．７は筐Ｂ、、Ｂ２側に設置された光学系接続具である
。特に６は元ファイバーＦ、、Ｆ２の接続Ｊｌ兼ねてい
る。
ニーズにも応じ得る構成を示している。すなわちＢ、は
筐体内分析用の几めの試料部でおりｏＢｚは光ファイバ
Ｆで筐体Ｂから光学系を引き出させて分析を行なう几め
の光学系引出筐である。この両流Ｂ、、Ｂ２は筐体Ｂに
対して着脱可能に筐体Ｂにセットできるよう構成されて
いる。５は筐体側に設置された光学系接続具であり、６
．７は筐Ｂ、、Ｂ２側に設置された光学系接続具である
。特に６は元ファイバーＦ、、Ｆ２の接続Ｊｌ兼ねてい
る。
試料部ＳＢの構成としてＩ／′ｉ試料Ｓ試料光透過を確
実に行なわせる種々の工夫が必要であろう。
実に行なわせる種々の工夫が必要であろう。
外光を遮断する必要もありまた試料Ｓの出入九を容易な
らしめる必要もある。さらに流動試料の測定においては
、第５図に示すように流路８に測定器９？ｌ？設置する
。測定器９には元ファイバーＦ、、Ｆ２の他端側か流動
試料に対置さｎている。測定器９が第２図、第４図の試
料部ＳＢに相当するものであるが、流路８に着脱自在と
することも、あるいは固定する形とすることもできる。
らしめる必要もある。さらに流動試料の測定においては
、第５図に示すように流路８に測定器９？ｌ？設置する
。測定器９には元ファイバーＦ、、Ｆ２の他端側か流動
試料に対置さｎている。測定器９が第２図、第４図の試
料部ＳＢに相当するものであるが、流路８に着脱自在と
することも、あるいは固定する形とすることもできる。
この発明は分九九度計のみならず他の光学的分析装置に
も適用可能である。ま九分九光度計の場合二元束に限定
されない。試料部８Ｂや試料部Ｂ１１１学系、を小形化
し、持ち運び容易にすると有益である。
も適用可能である。ま九分九光度計の場合二元束に限定
されない。試料部８Ｂや試料部Ｂ１１１学系、を小形化
し、持ち運び容易にすると有益である。
（ｑ効果
各種の試料の分析に対応でき、分析装置としての機ｌｆ
ｔ５ Ｑ向上させることができる。特に鎗体内における
試料室まで試料に持ち運びできない場合とか、流路（管
］内において流動中の試料の分析を必要とする場合、そ
ｆｌｋ可能にするものである。
ｔ５ Ｑ向上させることができる。特に鎗体内における
試料室まで試料に持ち運びできない場合とか、流路（管
］内において流動中の試料の分析を必要とする場合、そ
ｆｌｋ可能にするものである。
第１図、第３図はこの発明による光学的分析装置の外観
を示す斜視図、第２図、第４図は第１図、第３図のそｎ
ぞｎの内部構成を示す図、第５図は要部を示す図である
。 Ｂ・・・筐体 Ｆ、 Ｆ、、 Ｆ２・・・元ファイバー
８Ｂ・・・試料部 Ｓ・・・試料 Ｂ、・・・試料部Ｂ
２・・・光学系引出筐 ９・・・測定器特許出願人 株
式会社 島 津 製 作 所、−二、−・。 ・Ｌ、 、 、 ’７ 、。 代理人弁理士武石端彦ｊ、’ｊ−ＩＪ’１・８、門゛第
２図
を示す斜視図、第２図、第４図は第１図、第３図のそｎ
ぞｎの内部構成を示す図、第５図は要部を示す図である
。 Ｂ・・・筐体 Ｆ、 Ｆ、、 Ｆ２・・・元ファイバー
８Ｂ・・・試料部 Ｓ・・・試料 Ｂ、・・・試料部Ｂ
２・・・光学系引出筐 ９・・・測定器特許出願人 株
式会社 島 津 製 作 所、−二、−・。 ・Ｌ、 、 、 ’７ 、。 代理人弁理士武石端彦ｊ、’ｊ−ＩＪ’１・８、門゛第
２図
Claims (2)
- （１）光源部から検出部までの光学系を筐体に設置し光
学系の光を試料に透過させて試料の分析を行う装置にお
いて、光学系の一部にそれぞれの一端が光学系に接続さ
れた２本の光ファイバーを取付け、筐体からはなれた位
置における両光ファイバー他端間における試料に光を透
過させ得るようにしたことを特徴とする光学的分析装置
。 - （２）光源部から検出部までの光学系を筐体に設置し光
学系の光を試料に透過させて試料の分析を行う装置にお
いて、筐体に着脱可能でかつ光学系の一部に光の透過を
可能にして試料を介在させうる試料筐と、筐体に着脱可
能でかつ光学系の一部を２本の光ファイバーで筐体から
はなれた位置に引出しその両光ファイバー他端間におけ
る試料に光を透過させ得るようにした光学系引出筐とを
備え、試料筐と光学系引出筐のいずれか一方を筐体に設
置し得るようにしたことを特徴とする光学的分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2104488A JPH01195343A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 光学的分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2104488A JPH01195343A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 光学的分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01195343A true JPH01195343A (ja) | 1989-08-07 |
Family
ID=12043933
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2104488A Pending JPH01195343A (ja) | 1988-01-29 | 1988-01-29 | 光学的分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01195343A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03113348A (ja) * | 1989-09-28 | 1991-05-14 | Shimadzu Corp | 遠隔測定型分光光度計 |
| JP2011117732A (ja) * | 2009-11-30 | 2011-06-16 | Toyota Motor Corp | 炭化水素濃度測定装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5816550B2 (ja) * | 1977-08-10 | 1983-03-31 | 株式会社日立製作所 | 磁気バブル検出回路 |
-
1988
- 1988-01-29 JP JP2104488A patent/JPH01195343A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5816550B2 (ja) * | 1977-08-10 | 1983-03-31 | 株式会社日立製作所 | 磁気バブル検出回路 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03113348A (ja) * | 1989-09-28 | 1991-05-14 | Shimadzu Corp | 遠隔測定型分光光度計 |
| JP2011117732A (ja) * | 2009-11-30 | 2011-06-16 | Toyota Motor Corp | 炭化水素濃度測定装置 |
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