JPH01197656A - 基地組織判別方法 - Google Patents
基地組織判別方法Info
- Publication number
- JPH01197656A JPH01197656A JP63024252A JP2425288A JPH01197656A JP H01197656 A JPH01197656 A JP H01197656A JP 63024252 A JP63024252 A JP 63024252A JP 2425288 A JP2425288 A JP 2425288A JP H01197656 A JPH01197656 A JP H01197656A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- density
- pixels
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- density value
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- Granted
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- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は鋳鉄管を形成するダクタイル鋳鉄などの基地組
織判別方法に関する。
織判別方法に関する。
従来の技術
従来、鋳鉄管などの製造工程においては、鋳造された製
品の基地組織の検査を行っており、この検査は、試供さ
れる基地組織中の黒鉛とパーライトを判別し、黒鉛球状
化率、パーライト量、セメンタイト量を計測し、計測さ
れた多値に基づいて基地組織の良否を判定していた。
品の基地組織の検査を行っており、この検査は、試供さ
れる基地組織中の黒鉛とパーライトを判別し、黒鉛球状
化率、パーライト量、セメンタイト量を計測し、計測さ
れた多値に基づいて基地組織の良否を判定していた。
発明が解決しようとする課題
しかし、試供される基地に対して行うエツチングの度合
や、基地に対して照射する光量の多少により、基地組織
中の黒鉛とパーライトとのコントラストおよび明暗が影
響される。このために、コントラストと明暗に依処して
行う黒鉛とパーライトの判別が困難となり、このことが
、基地組織の検査の判断に誤りを生む原因となり、問題
点とされていた。
や、基地に対して照射する光量の多少により、基地組織
中の黒鉛とパーライトとのコントラストおよび明暗が影
響される。このために、コントラストと明暗に依処して
行う黒鉛とパーライトの判別が困難となり、このことが
、基地組織の検査の判断に誤りを生む原因となり、問題
点とされていた。
本発明は上記問題点を解決するもので、エツチングや光
量の度合に影響されずに、すなわちコントラストと明暗
に依らずに、基地を構成するｍ歳の判別を行える基地組
織判別方法を提供することを目自勺とする。
量の度合に影響されずに、すなわちコントラストと明暗
に依らずに、基地を構成するｍ歳の判別を行える基地組
織判別方法を提供することを目自勺とする。
課題を解決するための手段
上記問題点を解決するために、本発明は、試供される基
地の表面を区画して判別対象の画面と成し、この判別対
象の両面を複数に分割して画素と成し、隣り合う画素の
濃淡の比較により得られる濃度の差値を全画面にわたっ
て測定し、測定される差値を、比較した画素のうち濃度
の濃い側の濃度値ごとに和算し、この和算した値を各濃
度ごとの画素数で割った値を各濃度値の頻度と成す微分
ヒストグラムを形成し、頻度の大きい濃度値を閾値とし
て各画素の組織を判別する構成としたものである。
地の表面を区画して判別対象の画面と成し、この判別対
象の両面を複数に分割して画素と成し、隣り合う画素の
濃淡の比較により得られる濃度の差値を全画面にわたっ
て測定し、測定される差値を、比較した画素のうち濃度
の濃い側の濃度値ごとに和算し、この和算した値を各濃
度ごとの画素数で割った値を各濃度値の頻度と成す微分
ヒストグラムを形成し、頻度の大きい濃度値を閾値とし
て各画素の組織を判別する構成としたものである。
作用
上記構成において、各画素を構成する組織は、同組織の
間において濃度の差値が小さく、異組織の間において濃
度の差値が大きくなる。このために、各画素の比較によ
って得られる差値を、比較した画素のうち濃度の濃い側
の濃度値ごとに和算し、その値を各濃度値ごとの画素数
で割ると異組織の境界での濃度値の頻度が大きくなる。
間において濃度の差値が小さく、異組織の間において濃
度の差値が大きくなる。このために、各画素の比較によ
って得られる差値を、比較した画素のうち濃度の濃い側
の濃度値ごとに和算し、その値を各濃度値ごとの画素数
で割ると異組織の境界での濃度値の頻度が大きくなる。
したがつて、この濃度値が、濃い濃度を有する組織を判
別する織値となる。そして、頻度のピークは、各組織ご
との境界にあられれるので、各ピークの頻度を与える濃
度値が、各組織を判別する閾値となる。
別する織値となる。そして、頻度のピークは、各組織ご
との境界にあられれるので、各ピークの頻度を与える濃
度値が、各組織を判別する閾値となる。
実施例
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第
１図において、管１はダクタイル鋳鉄で形成されており
、この管１に当接して自動研磨装置２が配置されている
。また自動研磨装置２の近傍にはエツチング装置３が配
置されている。そして、管１の基地を画像に撮り込むテ
レビカメラ４が、画像メモリー５を介してＣＰＵ６に電
気的に接続されている。また、画像メモリー５にはモニ
ターＴＶ７が電気的に接続されている。
１図において、管１はダクタイル鋳鉄で形成されており
、この管１に当接して自動研磨装置２が配置されている
。また自動研磨装置２の近傍にはエツチング装置３が配
置されている。そして、管１の基地を画像に撮り込むテ
レビカメラ４が、画像メモリー５を介してＣＰＵ６に電
気的に接続されている。また、画像メモリー５にはモニ
ターＴＶ７が電気的に接続されている。
以下、上記構成における作用について説明する。
まず、管１の基地の表面を自動研磨装置２により研磨し
、その後エツチング装置３により腐食させる。このとき
、第２図に示すように、基地を構成する組織には黒鉛Ｘ
とパーライトＹとフェライトＺがあり、これらの組織の
濃淡の境界は、黒鉛ＸとパーライトＹの間、およびパー
ライトＹとフェライト２との間において存在する。そし
て、工・ｙチングが最適の状態においては、各組織の間
における濃淡差が同程度となる。
、その後エツチング装置３により腐食させる。このとき
、第２図に示すように、基地を構成する組織には黒鉛Ｘ
とパーライトＹとフェライトＺがあり、これらの組織の
濃淡の境界は、黒鉛ＸとパーライトＹの間、およびパー
ライトＹとフェライト２との間において存在する。そし
て、工・ｙチングが最適の状態においては、各組織の間
における濃淡差が同程度となる。
次に、研磨し、エツチングした基地の表面をテレビカメ
ラ４で撮像し、撮像された画像を判別対象画面として画
像メモリー５に記録する。このとき、画像メモリー５に
おいては、判別対象画面を複数に分割して画素となし、
各画素の濃淡階調を、複数段階に設定された濃度値とし
て記録する。ちなみに、画像メモリー５の仕様は濃淡階
調６４、画素数５１２Ｘ５１２ 、画面数４である。そ
して、ＣＰＵ６において各画素の濃度の差値を全画面に
わたって測定し、測定される差値を、比較した画素のう
ち濃度の濃い側の濃度値ごとに和算し、この和算した値
を各濃度ごとの画素数で割った値を各濃度値の頻度と成
す微分ヒストグラムを形成する。
ラ４で撮像し、撮像された画像を判別対象画面として画
像メモリー５に記録する。このとき、画像メモリー５に
おいては、判別対象画面を複数に分割して画素となし、
各画素の濃淡階調を、複数段階に設定された濃度値とし
て記録する。ちなみに、画像メモリー５の仕様は濃淡階
調６４、画素数５１２Ｘ５１２ 、画面数４である。そ
して、ＣＰＵ６において各画素の濃度の差値を全画面に
わたって測定し、測定される差値を、比較した画素のう
ち濃度の濃い側の濃度値ごとに和算し、この和算した値
を各濃度ごとの画素数で割った値を各濃度値の頻度と成
す微分ヒストグラムを形成する。
この微分ヒストグラムＱ Ｓ （ｉ）を求める式を下記
に示す。
に示す。
ＱＳ（＋）、Ｊ 、ｉ濃度値（１＝０〜６３）ａ（１，
Ｊ）（各画素の濃度値） Δ ａ＝ａ（ｉ＋１． Ｊ） −ａ（ｉ、 Ｊ）
ＤＳ （Ｑａ） ＝ＤＳ （Ｑａ）＋Δａそして、ＤＳ
（Ｑａ）を全画面について計測し、Ｑ Ｓ （＋）より
５（ｉ）／Ｈ８（ｉ）を求める。ただし、ＨＳ （ｉ）
は濃度ヒストグラムである。このとき、各組織間の濃度
差は同ｖＡ識の間ににおいて小さく、異組織の間におい
て大きくなる。このなめに、比較によって得られる濃度
の差値を、比較した画素のうち濃度の濃い側の濃度値ご
とに和算することにより、濃度の漂い組織が有するもっ
とも多い濃度値の頻度が、全画面に分布する濃度値のう
ちでもつとも大きくなる。したがって、この頻度がもつ
とも大きい濃度値が、濃い組織すなわち黒鉛を判別する
閾値となる。そして、頻度のピークは、各組織の境界ご
とにあられれるので、各ピークの頻度を与える濃度値が
、残りの組織パーライトとフェライトを判別する閾値と
なる。ちなみに、第３図は微分しストクラムの一例を示
すものであり、ＰＬは黒鉛を判別するための閾値ＰＬ
＝２７を与える頻度のピークである。
Ｊ）（各画素の濃度値） Δ ａ＝ａ（ｉ＋１． Ｊ） −ａ（ｉ、 Ｊ）
ＤＳ （Ｑａ） ＝ＤＳ （Ｑａ）＋Δａそして、ＤＳ
（Ｑａ）を全画面について計測し、Ｑ Ｓ （＋）より
５（ｉ）／Ｈ８（ｉ）を求める。ただし、ＨＳ （ｉ）
は濃度ヒストグラムである。このとき、各組織間の濃度
差は同ｖＡ識の間ににおいて小さく、異組織の間におい
て大きくなる。このなめに、比較によって得られる濃度
の差値を、比較した画素のうち濃度の濃い側の濃度値ご
とに和算することにより、濃度の漂い組織が有するもっ
とも多い濃度値の頻度が、全画面に分布する濃度値のう
ちでもつとも大きくなる。したがって、この頻度がもつ
とも大きい濃度値が、濃い組織すなわち黒鉛を判別する
閾値となる。そして、頻度のピークは、各組織の境界ご
とにあられれるので、各ピークの頻度を与える濃度値が
、残りの組織パーライトとフェライトを判別する閾値と
なる。ちなみに、第３図は微分しストクラムの一例を示
すものであり、ＰＬは黒鉛を判別するための閾値ＰＬ
＝２７を与える頻度のピークである。
また、パーライトとフェライトを判別するための閾値Ｐ
ｕを与えるピークが明確でない場合には、ＰＬ ＜につ
いて再度微分ヒストグラム（正量微分ヒストグラム）を
求める。第４図は正量微分ヒストグラムであり、Ｐｕ＝
４２が明示されている。なお、第２図において、濃度は
ｌ＝０でまっ黒、■＝６３でまっ白となる。そして、Ａ
部が黒鉛の画素量を示し、Ｂ部がパーライトの画素量を
示している。またｐＬ＜について微分ヒストグラムを求
めることは、黒鉛を除いた組織を対象とすることになり
、このことによってパーライトとフェライトの境界が求
められることとなる。したがって、各組織を閾値に基づ
いて判別し、各々の組織を２値化によって抽出し、黒鉛
の球状化率、パーライト量フェライト量を計測すること
ができる。したがって、微分ヒストグラムから導いた閾
値に基づいて判別対象画面を二値化することにより、エ
ツチングの程度や光量の変動に左右されずに、基地を構
成する組織の判別を行える。
ｕを与えるピークが明確でない場合には、ＰＬ ＜につ
いて再度微分ヒストグラム（正量微分ヒストグラム）を
求める。第４図は正量微分ヒストグラムであり、Ｐｕ＝
４２が明示されている。なお、第２図において、濃度は
ｌ＝０でまっ黒、■＝６３でまっ白となる。そして、Ａ
部が黒鉛の画素量を示し、Ｂ部がパーライトの画素量を
示している。またｐＬ＜について微分ヒストグラムを求
めることは、黒鉛を除いた組織を対象とすることになり
、このことによってパーライトとフェライトの境界が求
められることとなる。したがって、各組織を閾値に基づ
いて判別し、各々の組織を２値化によって抽出し、黒鉛
の球状化率、パーライト量フェライト量を計測すること
ができる。したがって、微分ヒストグラムから導いた閾
値に基づいて判別対象画面を二値化することにより、エ
ツチングの程度や光量の変動に左右されずに、基地を構
成する組織の判別を行える。
ちなみに、第１表は光量変化試験の結果を示すものであ
り、第１表より明らかなように、光量に応じて適切な閾
値が決定されている。
り、第１表より明らかなように、光量に応じて適切な閾
値が決定されている。
第１表
第２表にエツチング時間を変化させた場合の結果を示す
が、エツチング時間に応じて１１〜１８秒の範囲ならば
適切な閾値が決定されている。
が、エツチング時間に応じて１１〜１８秒の範囲ならば
適切な閾値が決定されている。
〈以下余白〉
第２表
エツチング液：１％ナイタール
発明の効果
以上述べたごとく、本発明によれば、各画素の濃度の差
値を頻度として形成される微分ヒストグラムから閾値を
決定し、この閾値により各＃ｆｌ職を判別することによ
って、エツチングの程度や光量の変動に左右されずに、
基地を構成する組織を判別することができる。
値を頻度として形成される微分ヒストグラムから閾値を
決定し、この閾値により各＃ｆｌ職を判別することによ
って、エツチングの程度や光量の変動に左右されずに、
基地を構成する組織を判別することができる。
第１図は本発明の一実施例を示す全体構成図、第２図は
基地組織を示す図、第３図は微分ヒストグラム、第４図
は正量微分ヒストグラムである。 １・・・管、４・・・テレビカメラ、５・・・画像メモ
リー、６・・・ＣＰＵ、７・・・モニターＴＶ。 第１図 〆 第２図 ！・−警
基地組織を示す図、第３図は微分ヒストグラム、第４図
は正量微分ヒストグラムである。 １・・・管、４・・・テレビカメラ、５・・・画像メモ
リー、６・・・ＣＰＵ、７・・・モニターＴＶ。 第１図 〆 第２図 ！・−警
Claims (1)
- １、試供される基地の表面を区画して判別対象の画面と
成し、この判別対象の両面を複数に分割して画素と成し
、隣り合う画素の濃淡の比較により得られる濃度の差値
を全画面にわたって測定し、測定される差値を、比較し
た画素のうち濃度の濃い側の濃度値ごとに和算し、この
和算した値を各濃度値ごとの画素数で割った値を各濃度
値の頻度と成す微分ヒストグラムを形成し、頻度の大き
い濃度値を閾値として各画素の組織を判別することを特
徴とする基地組織判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63024252A JPH0623751B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 基地組織判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63024252A JPH0623751B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 基地組織判別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01197656A true JPH01197656A (ja) | 1989-08-09 |
| JPH0623751B2 JPH0623751B2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=12133056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63024252A Expired - Fee Related JPH0623751B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 基地組織判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0623751B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022166376A (ja) * | 2021-04-21 | 2022-11-02 | 株式会社ジェイテクト | 研磨状態判定装置、研磨状態判定方法、及び品質評価装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59166863A (ja) * | 1983-03-14 | 1984-09-20 | Komatsu Ltd | 鋳鉄の破面解析方法 |
| JPS60104258A (ja) * | 1983-11-10 | 1985-06-08 | Daihatsu Motor Co Ltd | 球状黒鉛鋳鉄中の黒鉛粒の球状化率測定装置 |
| JPS60143769A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-30 | Kawasaki Steel Corp | 粒径および第２相分率の測定装置 |
-
1988
- 1988-02-03 JP JP63024252A patent/JPH0623751B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59166863A (ja) * | 1983-03-14 | 1984-09-20 | Komatsu Ltd | 鋳鉄の破面解析方法 |
| JPS60104258A (ja) * | 1983-11-10 | 1985-06-08 | Daihatsu Motor Co Ltd | 球状黒鉛鋳鉄中の黒鉛粒の球状化率測定装置 |
| JPS60143769A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-30 | Kawasaki Steel Corp | 粒径および第２相分率の測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022166376A (ja) * | 2021-04-21 | 2022-11-02 | 株式会社ジェイテクト | 研磨状態判定装置、研磨状態判定方法、及び品質評価装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0623751B2 (ja) | 1994-03-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |