JPH0623751B2 - 基地組織判別方法 - Google Patents
基地組織判別方法Info
- Publication number
- JPH0623751B2 JPH0623751B2 JP63024252A JP2425288A JPH0623751B2 JP H0623751 B2 JPH0623751 B2 JP H0623751B2 JP 63024252 A JP63024252 A JP 63024252A JP 2425288 A JP2425288 A JP 2425288A JP H0623751 B2 JPH0623751 B2 JP H0623751B2
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- JP
- Japan
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- pixels
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- tissue
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- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は鋳鉄管を形成するダクタイル鋳鉄などの基地組
織判別方法に関する。
織判別方法に関する。
従来の技術 従来、鋳鉄管などの製造工程においては、鋳造された製
品の基地組織の検査を行っており、この検査は、試供さ
れる基地組織中の黒鉛とパーライトを判別し、黒鉛球状
化率、パーライト量、セメンタイト量を計測し、計測さ
れた各値に基づいて基地組織の良否を判定していた。
品の基地組織の検査を行っており、この検査は、試供さ
れる基地組織中の黒鉛とパーライトを判別し、黒鉛球状
化率、パーライト量、セメンタイト量を計測し、計測さ
れた各値に基づいて基地組織の良否を判定していた。
発明が解決しようとする課題 しかし、試供される基地に対して行うエッチングの度合
や、基地に対して照射する光量の多少により、基地組織
中の黒鉛とパーライトとのコントラストおよび明暗が影
響される。このために、コントラストと明暗に依処して
行う黒鉛とパーライトの判別が困難となり、このこと
が、基地組織の検査の判断に誤りを生む原因となり、問
題点とされていた。
や、基地に対して照射する光量の多少により、基地組織
中の黒鉛とパーライトとのコントラストおよび明暗が影
響される。このために、コントラストと明暗に依処して
行う黒鉛とパーライトの判別が困難となり、このこと
が、基地組織の検査の判断に誤りを生む原因となり、問
題点とされていた。
本発明は上記問題点を解決するもので、エッチングや光
量の度合に影響されずに、すなわちコントラストと明暗
に依らずに、基地を構成する組織の判別を行える基地組
織判別方法を提供することを目的とする。
量の度合に影響されずに、すなわちコントラストと明暗
に依らずに、基地を構成する組織の判別を行える基地組
織判別方法を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 上記問題点を解決するために、本発明は、試供される基
地の表面を区画して判別対象の画面と成し、この判別対
象の両面を複数に分割して画素と成し、隣り合う画素の
濃淡の比較により得られる濃度の差値を全画面にわたっ
て測定し、測定される差値を、比較した画素のうち濃度
の濃い側の濃度値ごとに和算し、この和算した値を各濃
度値ごとの画素数で割った値を各濃度値の頻度と成す微
分ヒストグラムを形成し、頻度の大きい濃度値を閾値と
して各画素の組織を判別する構成としたものである。
地の表面を区画して判別対象の画面と成し、この判別対
象の両面を複数に分割して画素と成し、隣り合う画素の
濃淡の比較により得られる濃度の差値を全画面にわたっ
て測定し、測定される差値を、比較した画素のうち濃度
の濃い側の濃度値ごとに和算し、この和算した値を各濃
度値ごとの画素数で割った値を各濃度値の頻度と成す微
分ヒストグラムを形成し、頻度の大きい濃度値を閾値と
して各画素の組織を判別する構成としたものである。
作用 上記構成において、各画素を構成する組織は、同組織の
間において濃度の差値が小さく、異組織の間において濃
度の差値が大きくなる。このために、各画素の比較によ
って得られる差値を、比較した画素のうち濃度の濃い側
の濃度値ごとに和算し、その値を各濃度値ごとの画素数
で割ると異組織の境界での濃度値の頻度が大きくなる。
したがって、この濃度値が、濃い濃度を有する組織を判
別する織値となる。そして、頻度のピークは、各組織ご
との境界にあらわれるので、各ピークの頻度を与える濃
度値が、各組織を判別する閾値となる。
間において濃度の差値が小さく、異組織の間において濃
度の差値が大きくなる。このために、各画素の比較によ
って得られる差値を、比較した画素のうち濃度の濃い側
の濃度値ごとに和算し、その値を各濃度値ごとの画素数
で割ると異組織の境界での濃度値の頻度が大きくなる。
したがって、この濃度値が、濃い濃度を有する組織を判
別する織値となる。そして、頻度のピークは、各組織ご
との境界にあらわれるので、各ピークの頻度を与える濃
度値が、各組織を判別する閾値となる。
実施例 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。第
１図において、管１はダクタイル鋳鉄で形成されてお
り、この管１に当接して自動研磨装置２が配置されてい
る。また自動研磨装置２の近傍にはエッチング装置３が
配置されている。そして、管１の基地を画像に撮り込む
テレビカメラ４が、画像メモリー５を介してＣＰＵ６に
電気的に接続されている。また、画像メモリー５にはモ
ニターＴＶ７が電気的に接続されている。
１図において、管１はダクタイル鋳鉄で形成されてお
り、この管１に当接して自動研磨装置２が配置されてい
る。また自動研磨装置２の近傍にはエッチング装置３が
配置されている。そして、管１の基地を画像に撮り込む
テレビカメラ４が、画像メモリー５を介してＣＰＵ６に
電気的に接続されている。また、画像メモリー５にはモ
ニターＴＶ７が電気的に接続されている。
以下、上記構成における作用について説明する。まず、
管１の基地の表面を自動研磨装置２により研磨し、その
後エッチング装置３により腐食させる。このとき、第２
図に示すように、基地を構成する組織には黒鉛Ｘとパー
ライトＹとフェライトＺがあり、これらの組織の濃淡の
境界は、黒鉛ＸとパーライトＹの間、およびパーライト
ＹとフェライトＺとの間において存在する。そして、エ
ッチング最適の状態においては、各組織の間における濃
淡差が同程度となる。
管１の基地の表面を自動研磨装置２により研磨し、その
後エッチング装置３により腐食させる。このとき、第２
図に示すように、基地を構成する組織には黒鉛Ｘとパー
ライトＹとフェライトＺがあり、これらの組織の濃淡の
境界は、黒鉛ＸとパーライトＹの間、およびパーライト
ＹとフェライトＺとの間において存在する。そして、エ
ッチング最適の状態においては、各組織の間における濃
淡差が同程度となる。
次に、研磨し、エッチングした基地の表面をテレビカメ
ラ４で撮像し、撮像された画像を判別対象画面として画
像メモリー５に記録する。このとき画像メモリー５にお
いては、判別対象画面を複数に分割して画素となし、各
画素の濃淡階調を、複数段階に設定された濃度値として
記録する。ちなみに、画像メモリー５の仕様は濃淡階調
64、画素数 512×512 、画面数４である。そして、ＣＰ
Ｕにおいて各画素の濃度の差値を全画面にわたって測定
し、測定される差値を、比較した画素のうち濃度の濃い
側の濃度値ごとに和算し、この和算した値を各濃度ごと
の画素数で割った値を各濃度値の頻度と成す微分ヒスト
グラムを形成する。この微分ヒストグラムＱＳ(i) を求
める式を下記に示す。
ラ４で撮像し、撮像された画像を判別対象画面として画
像メモリー５に記録する。このとき画像メモリー５にお
いては、判別対象画面を複数に分割して画素となし、各
画素の濃淡階調を、複数段階に設定された濃度値として
記録する。ちなみに、画像メモリー５の仕様は濃淡階調
64、画素数 512×512 、画面数４である。そして、ＣＰ
Ｕにおいて各画素の濃度の差値を全画面にわたって測定
し、測定される差値を、比較した画素のうち濃度の濃い
側の濃度値ごとに和算し、この和算した値を各濃度ごと
の画素数で割った値を各濃度値の頻度と成す微分ヒスト
グラムを形成する。この微分ヒストグラムＱＳ(i) を求
める式を下記に示す。
ＱＳ(i) ，ｊ，ｉ濃度値（ｉ＝０〜63） ａ（ｉ，ｊ）（各画素の濃度値） Δａ＝ａ（ｉ＋１，ｊ）−ａ（ｉ，ｊ） ＤＳ（qa）＝ＤＳ（qa）＋Δａ そして、ＤＳ（qa）を全画面について計測し、 ＱＳ(i) ＝ＤＳ(i) ／ＨＳ(i) を求める。ただし、ＨＳ(i) は濃度ヒストグラムであ
る。このとき、各組織間の濃度差は同組織の間ににおい
て小さく、異組織の間において大きくなる。このため
に、比較によって得られる濃度の差値を、比較した画素
のうち濃度の濃い側の濃度値ごとに和算することによ
り、濃度の濃い組織が有するもっとも多い濃度値の頻度
が、全画面に分布する濃度値のうちでもっとも大きくな
る。したがって、この頻度がもっとも大きい濃度値が、
濃い組織すなわち黒鉛を判別する閾値となる。そして、
頻度のピークは、各組織の境界ごとにあらわれるので、
各ピークの頻度を与える濃度値が、残りの組織パーライ
トとフェライトを判別する閾値となる。ちなみに、第３
図は微分ヒストクラムの一例を示すものであり、ＰＬは
黒鉛を判別するための閾値ＰＬ＝27を与える頻度のピー
クである。また、パーライトとフェライトを判別するた
めの閾値ＰＵを与えるピークが明確でない場合には、Ｐ
Ｌ＜について再度微分ヒストグラム（圧間微分ヒストグ
ラム）を求める。第４図は圧間微分ヒストグラムであ
り、ＰＵ＝42が明示されている。なお、第２図におい
て、濃度はｉ＝０でまっ黒、ｉ＝63でまっ白となる。そ
して、Ａ部が黒鉛の画素量を示し、Ｂ部がパーライトの
画素量を示している。またＰＬ＜について微分ヒストグ
ラムを求めることは、黒鉛を除いた組織を対象とするこ
とになり、このことによってパーライトとフェライトの
境界が求められることとなる。したがって、各組織を閾
値に基づいて判別し、各々の組織を２値化によって抽出
し、黒鉛の球状化率、パーライト量フェライト量を計測
することができる。したがって、微分ヒストグラムから
導いた閾値に基づいて判別対象画面を二値化することに
より、エッチングの程度や光量の変動に左右されずに、
基地を構成する組織の判別を行える。
る。このとき、各組織間の濃度差は同組織の間ににおい
て小さく、異組織の間において大きくなる。このため
に、比較によって得られる濃度の差値を、比較した画素
のうち濃度の濃い側の濃度値ごとに和算することによ
り、濃度の濃い組織が有するもっとも多い濃度値の頻度
が、全画面に分布する濃度値のうちでもっとも大きくな
る。したがって、この頻度がもっとも大きい濃度値が、
濃い組織すなわち黒鉛を判別する閾値となる。そして、
頻度のピークは、各組織の境界ごとにあらわれるので、
各ピークの頻度を与える濃度値が、残りの組織パーライ
トとフェライトを判別する閾値となる。ちなみに、第３
図は微分ヒストクラムの一例を示すものであり、ＰＬは
黒鉛を判別するための閾値ＰＬ＝27を与える頻度のピー
クである。また、パーライトとフェライトを判別するた
めの閾値ＰＵを与えるピークが明確でない場合には、Ｐ
Ｌ＜について再度微分ヒストグラム（圧間微分ヒストグ
ラム）を求める。第４図は圧間微分ヒストグラムであ
り、ＰＵ＝42が明示されている。なお、第２図におい
て、濃度はｉ＝０でまっ黒、ｉ＝63でまっ白となる。そ
して、Ａ部が黒鉛の画素量を示し、Ｂ部がパーライトの
画素量を示している。またＰＬ＜について微分ヒストグ
ラムを求めることは、黒鉛を除いた組織を対象とするこ
とになり、このことによってパーライトとフェライトの
境界が求められることとなる。したがって、各組織を閾
値に基づいて判別し、各々の組織を２値化によって抽出
し、黒鉛の球状化率、パーライト量フェライト量を計測
することができる。したがって、微分ヒストグラムから
導いた閾値に基づいて判別対象画面を二値化することに
より、エッチングの程度や光量の変動に左右されずに、
基地を構成する組織の判別を行える。
ちなみに、第１表は光量変化試験の結果を示すものであ
り、第１表より明らかなように、光量に応じて適切な閾
値が決定されている。
り、第１表より明らかなように、光量に応じて適切な閾
値が決定されている。
第２表にエッチング時間を変化させた場合の結果を示す
が、エッチング時間に応じて11〜18秒の範囲ならば適切
な閾値が決定されている。
が、エッチング時間に応じて11〜18秒の範囲ならば適切
な閾値が決定されている。
発明の効果 以上述べたごとく、本発明によれば、各画素の濃度の差
値を頻度として形成される微分ヒストグラムから閾値を
決定し、この閾値により各組織を判別することによっ
て、エッチングの程度や光量の変動に左右されずに、基
地を構成する組織を判別することができる。
値を頻度として形成される微分ヒストグラムから閾値を
決定し、この閾値により各組織を判別することによっ
て、エッチングの程度や光量の変動に左右されずに、基
地を構成する組織を判別することができる。
第１図は本発明の一実施例を示す全体構成図、第２図は
基地組織を示す図、第３図は微分ヒストグラム、第４図
は圧間微分ヒストグラムである。 １……管、４……テレビカメラ、５……画像メモリー、
６……ＣＰＵ、７……モニターＴＶ。
基地組織を示す図、第３図は微分ヒストグラム、第４図
は圧間微分ヒストグラムである。 １……管、４……テレビカメラ、５……画像メモリー、
６……ＣＰＵ、７……モニターＴＶ。
Claims (1)
- 【請求項１】試供される基地の表面を区画して判別対象
の画面と成し、この判別対象の両面を複数に分割して画
素と成し、隣り合う画素の濃淡の比較により得られる濃
度の差値を全画面にわたって測定し、測定される差値
を、比較した画素のうち濃度の濃い側の濃度値ごとに和
算し、この和算した値を各濃度値ごとの画素数で割った
値を各濃度値の頻度と成す微分ヒストグラムを形成し、
頻度の大きい濃度値を閾値として各画素の組織を判別す
ることを特徴とする基地組織判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63024252A JPH0623751B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 基地組織判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63024252A JPH0623751B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 基地組織判別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01197656A JPH01197656A (ja) | 1989-08-09 |
| JPH0623751B2 true JPH0623751B2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=12133056
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63024252A Expired - Fee Related JPH0623751B2 (ja) | 1988-02-03 | 1988-02-03 | 基地組織判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0623751B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7622534B2 (ja) * | 2021-04-21 | 2025-01-28 | 株式会社ジェイテクト | 研磨状態判定装置、研磨状態判定方法、及び品質評価装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59166863A (ja) * | 1983-03-14 | 1984-09-20 | Komatsu Ltd | 鋳鉄の破面解析方法 |
| JPS60104258A (ja) * | 1983-11-10 | 1985-06-08 | Daihatsu Motor Co Ltd | 球状黒鉛鋳鉄中の黒鉛粒の球状化率測定装置 |
| JPS60143769A (ja) * | 1983-12-29 | 1985-07-30 | Kawasaki Steel Corp | 粒径および第２相分率の測定装置 |
-
1988
- 1988-02-03 JP JP63024252A patent/JPH0623751B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01197656A (ja) | 1989-08-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |