JPH011981A - 磁界検出装置 - Google Patents
磁界検出装置Info
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- JPH011981A JPH011981A JP62-158021A JP15802187A JPH011981A JP H011981 A JPH011981 A JP H011981A JP 15802187 A JP15802187 A JP 15802187A JP H011981 A JPH011981 A JP H011981A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は強磁性体に励磁用の巻線を施した検出素子を
磁束の飽和値をこえて励磁すると、そのインダクタンス
が外部磁界によって変化することを利用して磁界を検出
する装置に関する。
磁束の飽和値をこえて励磁すると、そのインダクタンス
が外部磁界によって変化することを利用して磁界を検出
する装置に関する。
第7図はこの種の装置の構成図である。保磁力が小さく
最大透磁率が大きいたとえばコバルト系のアモルファス
合金のような強磁性体の薄板あるいは細線を束ねた小片
≠をコアとし、そのコアに巻線を施して1対の検出素子
1と2を形成する〇コアとしてのアモルファス合金の小
片は断面積に対する長さの比の比較的小さい形状とし、
磁化された場合にそれ自身の磁極の作る磁界すなわち反
磁界の影響を受けやすいものにしておく。これらの検出
素子1.2と2個の抵抗R1とでインピーダンスブリッ
ジ3を構成し、このインピーダンスプリッジ3に高周波
電源4より正極性の周期的な高周波の脈流を与えて検出
素子1と2とを励磁し、検出する磁界のない状態で可変
抵抗R2によレインピーダンスブリッジ3を平衝させて
おく。検出素子1と2は検出する磁界の向きと励磁電流
による磁界の向きが一方では同方向、他方では反対方向
となるようだ配置する。
最大透磁率が大きいたとえばコバルト系のアモルファス
合金のような強磁性体の薄板あるいは細線を束ねた小片
≠をコアとし、そのコアに巻線を施して1対の検出素子
1と2を形成する〇コアとしてのアモルファス合金の小
片は断面積に対する長さの比の比較的小さい形状とし、
磁化された場合にそれ自身の磁極の作る磁界すなわち反
磁界の影響を受けやすいものにしておく。これらの検出
素子1.2と2個の抵抗R1とでインピーダンスブリッ
ジ3を構成し、このインピーダンスプリッジ3に高周波
電源4より正極性の周期的な高周波の脈流を与えて検出
素子1と2とを励磁し、検出する磁界のない状態で可変
抵抗R2によレインピーダンスブリッジ3を平衝させて
おく。検出素子1と2は検出する磁界の向きと励磁電流
による磁界の向きが一方では同方向、他方では反対方向
となるようだ配置する。
アモルファス合金は保磁力が小さいためヒステリシスが
きわめて小さく、シたがってその磁化特性は第8図(a
)のように−本の折線によって近似的に示される。この
場合最大透磁率も大きな値をもつため、磁束密度Bは飽
和値BsK達するまでは本来B軸に一致した特性を示す
。ところが前に記したように反磁界の影響を受けやすい
形状に作られているので磁束密度Bは飽和値Bsに達す
るまでは反磁界の影響により磁界Hに対してB−をH(
μ。:真空透磁率、N:反磁界係数)で示されるような
勾配&をもつ直線関係にしたがって増加する。反磁界の
影響は反磁界係数N・の値が大きい程大きく、それにつ
れて直線の勾配はゆるやかKなる。磁束密度Bは飽和値
Bsに達する磁界H8よりさらに大きな磁界に対しては
B=Bsで与えられる特性を示す〇実線で示した範囲が
励磁電流による磁界の最大値H1fでの特性である◇ 検出素子1と2とく検出する磁界)(exが加わると、
励磁による磁界と検出する磁界とが同方向の素子での磁
化特性は第8図Φ)の実線9反対方向の素子では第8図
(C)の実線のようになる。これら(a)。
きわめて小さく、シたがってその磁化特性は第8図(a
)のように−本の折線によって近似的に示される。この
場合最大透磁率も大きな値をもつため、磁束密度Bは飽
和値BsK達するまでは本来B軸に一致した特性を示す
。ところが前に記したように反磁界の影響を受けやすい
形状に作られているので磁束密度Bは飽和値Bsに達す
るまでは反磁界の影響により磁界Hに対してB−をH(
μ。:真空透磁率、N:反磁界係数)で示されるような
勾配&をもつ直線関係にしたがって増加する。反磁界の
影響は反磁界係数N・の値が大きい程大きく、それにつ
れて直線の勾配はゆるやかKなる。磁束密度Bは飽和値
Bsに達する磁界H8よりさらに大きな磁界に対しては
B=Bsで与えられる特性を示す〇実線で示した範囲が
励磁電流による磁界の最大値H1fでの特性である◇ 検出素子1と2とく検出する磁界)(exが加わると、
励磁による磁界と検出する磁界とが同方向の素子での磁
化特性は第8図Φ)の実線9反対方向の素子では第8図
(C)の実線のようになる。これら(a)。
(b)、(e)K対して、励磁電流Iとその励磁電流の
もたらすアモルファス合金中の磁束Φとの関係は第8図
(d)で示される。工lは磁界H1を与える励磁電流で
ある。このような磁束Φと励磁電流■との間の非線形特
性により、L−Φ/工で与えられる検出素子1と2との
インダクタンスしは検出する磁界に対応して変化し、下
記によって示される。
もたらすアモルファス合金中の磁束Φとの関係は第8図
(d)で示される。工lは磁界H1を与える励磁電流で
ある。このような磁束Φと励磁電流■との間の非線形特
性により、L−Φ/工で与えられる検出素子1と2との
インダクタンスしは検出する磁界に対応して変化し、下
記によって示される。
ただし k=Φm/I m
1m = −Hs
1”t −(Ha −((ez )
Im2 = (Hs +Hex )で、nは単位長
当妙の巻線の巻数である。上記より検出素子に検出磁界
上HeXが加わった場合のインダクタンスの変化△Lは であることが導かれる(毛利佳年雄ほか:非晶質ニ 摩磁心マルチバイブレータブリッジにょるマグネトメー
タ、日本応用磁気学会誌、 VoL 7. 42 。
当妙の巻線の巻数である。上記より検出素子に検出磁界
上HeXが加わった場合のインダクタンスの変化△Lは であることが導かれる(毛利佳年雄ほか:非晶質ニ 摩磁心マルチバイブレータブリッジにょるマグネトメー
タ、日本応用磁気学会誌、 VoL 7. 42 。
P143〜146(1983)参照)0すなわち検出素
子lと2のインダクタンスLは検出する磁界Hexに比
例した変化を示し、一方ではΔL増加し、他方ではへL
減少するすしたがって第7図に示すインピーダンスブリ
ッジ3は2ΔLに相当する不平衡電圧を出力し、その出
力は高周波電源より与えられる高周波が検出する磁界で
変調された波形をもつため、これを増幅器5で増幅し、
高周波成分を低減戸波器6で除去して、検出する磁界な
らびにその方向に対応した出力信号7を得る。
子lと2のインダクタンスLは検出する磁界Hexに比
例した変化を示し、一方ではΔL増加し、他方ではへL
減少するすしたがって第7図に示すインピーダンスブリ
ッジ3は2ΔLに相当する不平衡電圧を出力し、その出
力は高周波電源より与えられる高周波が検出する磁界で
変調された波形をもつため、これを増幅器5で増幅し、
高周波成分を低減戸波器6で除去して、検出する磁界な
らびにその方向に対応した出力信号7を得る。
第7図に示した検出素子1あるいは2のアモルファス合
金の磁気特性は、実際には折点近傍で曲線的に変化し、
飽和特性が直線となるのは磁界が4H,ないし5H8と
なったあたりからである。励磁電流による磁界の最大値
H1がこの曲線部に相当する値であると、ΔLがHex
に比例しない。したがって少なくとも4H8〜5Hs以
上の磁界を与えるような最大電流によって励磁を行わね
ばならない。
金の磁気特性は、実際には折点近傍で曲線的に変化し、
飽和特性が直線となるのは磁界が4H,ないし5H8と
なったあたりからである。励磁電流による磁界の最大値
H1がこの曲線部に相当する値であると、ΔLがHex
に比例しない。したがって少なくとも4H8〜5Hs以
上の磁界を与えるような最大電流によって励磁を行わね
ばならない。
検出素子として直径0.12m長さ4mのアモルファス
合金の細線を3本束ねたもの(断面積0.03−)では
H8は2000 A/m程度であるため、励磁する磁界
の最大値としては10,000 A/mを与えることに
なる。これに対してアモルファス合金には巻線を100
回程度施してあり、上記の磁界を与えるための励磁電流
の値は最大値でIA近いものが必要である。この励磁電
流の値は実効値としても矩形波で0.5 A 、半波整
流波形の正弦波では0.35 Aとなってかなり大きな
ものとなる。
合金の細線を3本束ねたもの(断面積0.03−)では
H8は2000 A/m程度であるため、励磁する磁界
の最大値としては10,000 A/mを与えることに
なる。これに対してアモルファス合金には巻線を100
回程度施してあり、上記の磁界を与えるための励磁電流
の値は最大値でIA近いものが必要である。この励磁電
流の値は実効値としても矩形波で0.5 A 、半波整
流波形の正弦波では0.35 Aとなってかなり大きな
ものとなる。
ところが検出素子1と2とは上に記したようにきわめて
小さく、100回程度の巻線を施すには直径0.1〜0
.2鏑のきわめて細い導線を用いねばならない。したが
って導線の抵抗が大きく、前記のような値の大きい電流
が0.1〜0.2 mm程度の細線に流れるとジュール
熱の発生が大きく、これによる検出素子の温度上昇によ
りインダクタンスや抵抗値が変化する。この変化の度合
は検出素子1と2とでは必らずしも同一でないので、イ
ンピーダンスブリッジ3の平衡が崩れて測定誤差を与え
るO これを避けて巻線の径の太いものを用いると巻線の剛性
のためにアモルファス合金の表面に密着した巻線を施す
ことが困難となり、アモルファス合金と巻線との間に空
隙が生ずる◇このため巻線内の空隙磁束が増大してアモ
ルファス合金の励磁が有効に行われなくなり、所要の磁
束を与えるために励磁の電力を増さねばならず、高周波
電源4の容量を増加させる必要が生じてくる。したがっ
て高周波電源4の構成は高周波発振回路のはかに、さら
に電力増幅用ICあるいは電力用トランジスタを備えて
所要の電流を与えるようにしなければならない。
小さく、100回程度の巻線を施すには直径0.1〜0
.2鏑のきわめて細い導線を用いねばならない。したが
って導線の抵抗が大きく、前記のような値の大きい電流
が0.1〜0.2 mm程度の細線に流れるとジュール
熱の発生が大きく、これによる検出素子の温度上昇によ
りインダクタンスや抵抗値が変化する。この変化の度合
は検出素子1と2とでは必らずしも同一でないので、イ
ンピーダンスブリッジ3の平衡が崩れて測定誤差を与え
るO これを避けて巻線の径の太いものを用いると巻線の剛性
のためにアモルファス合金の表面に密着した巻線を施す
ことが困難となり、アモルファス合金と巻線との間に空
隙が生ずる◇このため巻線内の空隙磁束が増大してアモ
ルファス合金の励磁が有効に行われなくなり、所要の磁
束を与えるために励磁の電力を増さねばならず、高周波
電源4の容量を増加させる必要が生じてくる。したがっ
て高周波電源4の構成は高周波発振回路のはかに、さら
に電力増幅用ICあるいは電力用トランジスタを備えて
所要の電流を与えるようにしなければならない。
この発明は上述の問題点を解決して検出素子の巻線の発
熱を低減し、しかも十分な励磁を行い得る磁界検出装置
を提供することを目的とする。
熱を低減し、しかも十分な励磁を行い得る磁界検出装置
を提供することを目的とする。
この発明は検出素子に与える励磁電流を繰り返し周期に
対するパルス幅の占める割合の小さい、すなわちデユー
ティ比の小さいパルス状の電流とするものである。
対するパルス幅の占める割合の小さい、すなわちデユー
ティ比の小さいパルス状の電流とするものである。
繰り返し周期に対するパルス幅の占める割合プの小さい
、すなわちデユーティ比の小さいパルス状の電流で励磁
を行うようKすると、そのパルス波高に相当する電流値
を大きく与えても、その持続時間が短いために、発生し
たジュール熱は次の周期の励磁電流が与えられるまでに
放散されて検出素子中に蓄積されることがほとんどなく
なる〇したがって細い巻線を用いても検出素子の温度変
化をインダクタンスの値に影響を与えない範囲に抑える
ことができる。このため太い巻線を用いる必要がなくな
り、それに伴なう高周波電源の容量増加の問題を避ける
ことができる0この高周波電源の容量は熱的な面からも
容量の小さいものとすることができるようになり、装置
の構成を簡単化できる@ 〔実施例〕 第1図はこの発明の実施例の構成図である。検出素子1
と2の励磁用の高周波電源11は小形で安価な1個のア
ナログタイマ用ICを主体としてきわめて簡単に構成さ
れ、繰り返し周期TK対す10%以下のパルス幅の狭い
高周波のパルス状の電流を供給する。このパルス状電流
の波高値Ilは第8図に示す磁束密度の飽和点H,04
〜5倍の磁界を与える電流値である。高周波電源11以
外は第7図に示す従来技術のものと同様である。
、すなわちデユーティ比の小さいパルス状の電流で励磁
を行うようKすると、そのパルス波高に相当する電流値
を大きく与えても、その持続時間が短いために、発生し
たジュール熱は次の周期の励磁電流が与えられるまでに
放散されて検出素子中に蓄積されることがほとんどなく
なる〇したがって細い巻線を用いても検出素子の温度変
化をインダクタンスの値に影響を与えない範囲に抑える
ことができる。このため太い巻線を用いる必要がなくな
り、それに伴なう高周波電源の容量増加の問題を避ける
ことができる0この高周波電源の容量は熱的な面からも
容量の小さいものとすることができるようになり、装置
の構成を簡単化できる@ 〔実施例〕 第1図はこの発明の実施例の構成図である。検出素子1
と2の励磁用の高周波電源11は小形で安価な1個のア
ナログタイマ用ICを主体としてきわめて簡単に構成さ
れ、繰り返し周期TK対す10%以下のパルス幅の狭い
高周波のパルス状の電流を供給する。このパルス状電流
の波高値Ilは第8図に示す磁束密度の飽和点H,04
〜5倍の磁界を与える電流値である。高周波電源11以
外は第7図に示す従来技術のものと同様である。
第2図は最大値10.000 Ajmを与える励磁電流
の最大値と実効値とをり、R,が10%のパルス波。
の最大値と実効値とをり、R,が10%のパルス波。
正弦波の半波、矩形波の各波形について示したものであ
る0励磁電流の最大値は400mAと同一であっても、
その実効値は波形によっていちじるしく異なり、D、R
,が10%のパルス波は正弦波の半波の30チ以下、矩
形波の20%に実効値を低減できることを示している。
る0励磁電流の最大値は400mAと同一であっても、
その実効値は波形によっていちじるしく異なり、D、R
,が10%のパルス波は正弦波の半波の30チ以下、矩
形波の20%に実効値を低減できることを示している。
特にジュール熱は環流の自乗に比例するので、励磁電流
波形による発熱の差異はさらに大きくなり、D、R,の
値の小さいパルス波による励磁が有効となる。
波形による発熱の差異はさらに大きくなり、D、R,の
値の小さいパルス波による励磁が有効となる。
■のホルマル銅線を120回巻いた検出素子について、
矩形波CD、R,=50チ)とパルス波(D、R,=1
0%)の励磁電流を与えてそれぞれの温度上昇を測定し
た結果を示したものである。励磁の周波数は50 kH
zと100 kHzの2通り与えである。最大値500
yr+Aの励磁電流に対して、パルス波で励磁した場合
の温度上昇が10〜20℃にすぎないのに対し、矩形波
で励磁した場合には60〜70℃にも達する温度上昇が
あり、本発明によるパルス波の励磁を行う装置が有利で
あることが示されている。
矩形波CD、R,=50チ)とパルス波(D、R,=1
0%)の励磁電流を与えてそれぞれの温度上昇を測定し
た結果を示したものである。励磁の周波数は50 kH
zと100 kHzの2通り与えである。最大値500
yr+Aの励磁電流に対して、パルス波で励磁した場合
の温度上昇が10〜20℃にすぎないのに対し、矩形波
で励磁した場合には60〜70℃にも達する温度上昇が
あり、本発明によるパルス波の励磁を行う装置が有利で
あることが示されている。
このように0.1 m径の細線を巻線として用いても温
度上昇を低く抑えることができるので、巻線を太くする
必要がなくアモルファス合金の周囲に密に巻線を施すこ
とができる0このため巻線の作る磁束のうちの空間磁束
分を低減させることができ、既に述べたように高周波電
源11を小形のIC1個を主体に構成することを可能と
している。
度上昇を低く抑えることができるので、巻線を太くする
必要がなくアモルファス合金の周囲に密に巻線を施すこ
とができる0このため巻線の作る磁束のうちの空間磁束
分を低減させることができ、既に述べたように高周波電
源11を小形のIC1個を主体に構成することを可能と
している。
第4図はこの発明の実施例の装置を50 Hzの交流電
流の作る磁界の検出に適用し、導体に接触することなく
電流測定を行った結果を装置O出力電圧と測定電流の実
効値との関係で示したグラフである。装置の出力電圧の
測定電流に対する直線性は測定電流の35A近傍まで良
好である。この35Aの電流による磁界は約2000
A/mで、この発明の装置がこの2000 A/m近傍
の磁界まできわめて直線性よく測定できることを示して
いる0検出素子1と2とに与える電流の最大値はそれぞ
れ4007FIAで、その周波数は100 k!lzで
ある。
流の作る磁界の検出に適用し、導体に接触することなく
電流測定を行った結果を装置O出力電圧と測定電流の実
効値との関係で示したグラフである。装置の出力電圧の
測定電流に対する直線性は測定電流の35A近傍まで良
好である。この35Aの電流による磁界は約2000
A/mで、この発明の装置がこの2000 A/m近傍
の磁界まできわめて直線性よく測定できることを示して
いる0検出素子1と2とに与える電流の最大値はそれぞ
れ4007FIAで、その周波数は100 k!lzで
ある。
第5図は上記の測定のための検出部の断面図であって、
樹脂製のホルダ21が測定電流の流れる導体22を挾ん
で支持する。検出素子1と2とは導体22を流れる電流
によって生ずる磁界の方向が、これら検出素子1と2と
の長手方向と一致するように導体22に対して対称かつ
直角に配置されるようにホルダ21中の保持孔23と2
4に挿入される。
樹脂製のホルダ21が測定電流の流れる導体22を挾ん
で支持する。検出素子1と2とは導体22を流れる電流
によって生ずる磁界の方向が、これら検出素子1と2と
の長手方向と一致するように導体22に対して対称かつ
直角に配置されるようにホルダ21中の保持孔23と2
4に挿入される。
検出素子1と2とは導線25によって第1図のインピー
ダンスブリッジ3に接続される。
ダンスブリッジ3に接続される。
第6図は同じくこの磁界検出装置を50 Hzの交流電
流の検出に適用した場合の装置の出力波形と測定電流波
形とを比較したオシロ波形であり、(a)は正弦波電流
、(b)は歪んだ波形の電流の波形である。(a)、(
b)いずれにおいても装置の出力波形と測定電流の波形
とはきわめてよく一致しており、この発明による装置が
時間的に変動する磁界を良好に検出でき、電流検出装置
にも十分適用できることが示されている。
流の検出に適用した場合の装置の出力波形と測定電流波
形とを比較したオシロ波形であり、(a)は正弦波電流
、(b)は歪んだ波形の電流の波形である。(a)、(
b)いずれにおいても装置の出力波形と測定電流の波形
とはきわめてよく一致しており、この発明による装置が
時間的に変動する磁界を良好に検出でき、電流検出装置
にも十分適用できることが示されている。
直流磁界の検出においては、装置の零点の安定性がきわ
めて重要となる。これに対してはこの発明の装置におけ
る検出素子1と2とのパルス波での励磁によって、検出
素子1と2および励磁用の高周波電源11の発熱が抑え
られるので、零点質 ・動が従来装置の値の1/3以下
に低減され、測定精度が向上する。
めて重要となる。これに対してはこの発明の装置におけ
る検出素子1と2とのパルス波での励磁によって、検出
素子1と2および励磁用の高周波電源11の発熱が抑え
られるので、零点質 ・動が従来装置の値の1/3以下
に低減され、測定精度が向上する。
この発明によれば検出素子の励磁電流をパルス状とし、
繰り返し周期に対するパルス幅の占める割合の小さいも
のを与えるようにしたので、励磁′1流の実効値が低く
なり、ジュール熱の発生による検出素子や励磁用電源の
温度上昇を低い値て抑えることが可能となる。したがっ
て検出素子についてはその1対の温度条件の差による零
点の変動が低減し、またピーク値の大きな電流で励磁で
きるので測定精度が向上する。さらに検出素子の巻線を
細くできるために密な巻線を施すことができ、効率の良
い励磁が行える。このことと励磁電流の実効値が低減さ
れることから励磁用電源の容量を低減させきわめて簡単
な回路構成を与えることができる。これらのことから磁
気検出装置を小形かつ軽量で扱いやすくかつ測定精度に
すぐれ、かつ安価なものとすることが可能となる。
繰り返し周期に対するパルス幅の占める割合の小さいも
のを与えるようにしたので、励磁′1流の実効値が低く
なり、ジュール熱の発生による検出素子や励磁用電源の
温度上昇を低い値て抑えることが可能となる。したがっ
て検出素子についてはその1対の温度条件の差による零
点の変動が低減し、またピーク値の大きな電流で励磁で
きるので測定精度が向上する。さらに検出素子の巻線を
細くできるために密な巻線を施すことができ、効率の良
い励磁が行える。このことと励磁電流の実効値が低減さ
れることから励磁用電源の容量を低減させきわめて簡単
な回路構成を与えることができる。これらのことから磁
気検出装置を小形かつ軽量で扱いやすくかつ測定精度に
すぐれ、かつ安価なものとすることが可能となる。
第1図はこの発明の実施例の構成図、第2図は種々の波
形の励磁電流の実効値の比較衣、第3図は矩形波とパル
ス波の励磁電流による検出素子の温度上昇を比較したグ
ラフ、第4図はこの発明の実施例による交流電流の測定
結果を示すグラフ。 第5図は電流測定のための検出部の断面図、第6図は電
流測定における実施例の出力波形と電流波形との比較を
示すオシロ波形、第7図は従来技術による磁界検出装置
の構成図、第8図は検出素子の磁束密度と磁界との関係
および磁束と励磁電流との関係をそれぞれ示すグラフで
ある。 1.2:検出素子、3:インピーダンスブリッジ、4.
11:高周波電源。 第1図 第2図 ル腿征電ヨrC,@大イ直 (mA)第3図 埠体電浅(A) 第4図 第5図 −・〉 時間 一5→ 時間 紹 2 図 第7図
形の励磁電流の実効値の比較衣、第3図は矩形波とパル
ス波の励磁電流による検出素子の温度上昇を比較したグ
ラフ、第4図はこの発明の実施例による交流電流の測定
結果を示すグラフ。 第5図は電流測定のための検出部の断面図、第6図は電
流測定における実施例の出力波形と電流波形との比較を
示すオシロ波形、第7図は従来技術による磁界検出装置
の構成図、第8図は検出素子の磁束密度と磁界との関係
および磁束と励磁電流との関係をそれぞれ示すグラフで
ある。 1.2:検出素子、3:インピーダンスブリッジ、4.
11:高周波電源。 第1図 第2図 ル腿征電ヨrC,@大イ直 (mA)第3図 埠体電浅(A) 第4図 第5図 −・〉 時間 一5→ 時間 紹 2 図 第7図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)保磁力が小さく最大透磁率が大きく、かつ磁束密度
と磁界との関係に有意な反磁界の影響が認められる形状
をもつ強磁性体小片に巻線を施した検出素子の一対のそ
れぞれの巻線に周期的に変化する励磁電流を与えてその
励磁電流の尖頭値においては前記の強磁性体小片内部の
磁束が飽和を示す励磁を行い、その励磁による磁界の向
きと検出する磁界の向きとが一方の検出素子では同方向
、他方の検出素子では反対方向となるように配置して、
前記の外部磁界がもたらす各検出素子内部の磁界の差異
に起因して各検出素子のインダクタンスに生じる差異を
検出し、その検出を介して前記の外部磁界を検出する装
置において、前記の励磁電流がパルス状の電流であつて
、繰り返し周期に対してパルス幅の占める割合が小さい
ことを特徴とする磁界検出装置。 2)特許請求の範囲第1項記載の装置において、強磁性
体がコバルト系アモルファス合金であることを特徴とす
る磁界検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15802187A JPS641981A (en) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | Magnetic field detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15802187A JPS641981A (en) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | Magnetic field detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH011981A true JPH011981A (ja) | 1989-01-06 |
| JPS641981A JPS641981A (en) | 1989-01-06 |
Family
ID=15662538
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15802187A Pending JPS641981A (en) | 1987-06-25 | 1987-06-25 | Magnetic field detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS641981A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08179020A (ja) * | 1994-12-22 | 1996-07-12 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 磁気補正回路及びそれを用いた画像表示装置 |
| KR100503455B1 (ko) * | 2003-06-04 | 2005-07-25 | 삼성전자주식회사 | 아몰포스 자성코어를 사용하여 제조된 마이크로플럭스게이트 센서 및 그 제조 방법 |
| FR2896593B1 (fr) * | 2006-01-26 | 2008-03-14 | Commissariat Energie Atomique | Magnetometre de type fluxgate a excitation pulsee et detection echantillonnee |
| WO2013111296A1 (ja) * | 2012-01-26 | 2013-08-01 | 株式会社アイテス | 太陽電池パネルの検査装置、及び検査方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3788978A (en) * | 1972-05-24 | 1974-01-29 | Exxon Research Engineering Co | Process for the desulfurization of petroleum oil stocks |
-
1987
- 1987-06-25 JP JP15802187A patent/JPS641981A/ja active Pending
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