JPH01201706A - 冷蔵庫等の制御装置の検査方法 - Google Patents
冷蔵庫等の制御装置の検査方法Info
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- JPH01201706A JPH01201706A JP63027093A JP2709388A JPH01201706A JP H01201706 A JPH01201706 A JP H01201706A JP 63027093 A JP63027093 A JP 63027093A JP 2709388 A JP2709388 A JP 2709388A JP H01201706 A JPH01201706 A JP H01201706A
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- Japan
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
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- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Devices That Are Associated With Refrigeration Equipment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は複数の検知手段により動作する冷蔵庫等の制御
装置の検査方法に関する。
装置の検査方法に関する。
従来の技術
近年、冷蔵庫の、１ｉ１１御装置に関しては高機能化し
てきている。例えば、急速に食品を冷凍したり、また室
数を増加させ食品に応じた保存ができるようになってき
た。また、外観の大きさは一定で、庫内容積を増加させ
る傾向があシこれに伴い制御装置の小型化、低コスト化
が必要となっている。
てきている。例えば、急速に食品を冷凍したり、また室
数を増加させ食品に応じた保存ができるようになってき
た。また、外観の大きさは一定で、庫内容積を増加させ
る傾向があシこれに伴い制御装置の小型化、低コスト化
が必要となっている。
つまりセンサ等の入力が高機能化と共に増加していくに
も係わらず制御装置を小型化しなければならない。この
問題を解決する方法としてＡ／Ｄ変換や内蔵したマイク
ロコンピュータを利用する方法がある。つまりセンサの
入力をディジタル値に変換してマイクロコンピュータの
内部処理にて判定シ、ソの結果でコンプレッサ、ファン
モータ。
も係わらず制御装置を小型化しなければならない。この
問題を解決する方法としてＡ／Ｄ変換や内蔵したマイク
ロコンピュータを利用する方法がある。つまりセンサの
入力をディジタル値に変換してマイクロコンピュータの
内部処理にて判定シ、ソの結果でコンプレッサ、ファン
モータ。
ヒータ等の負荷を駆動をするものである。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、次のような問題点
があった。製造時の検査工程に於いて各判定手段につい
て検査する時、各負荷の動作をチエツクして行うが、高
機能化に伴いその検査時間が長くなるという問題がある
。つまり温度による単なる０Ｎ１０ＦＦ制御から例えば
温度によってタイマ時間を変えたり、温度が変わってか
ら一定時間後に負荷が０Ｎ１０ＦＦするなどと込う制御
を行った場合には、時間に関するチエツクが必要なため
に、検査時間が長くなシ、コストも工数増加によシ上が
９また生産性も悪くなるという問題があった。
があった。製造時の検査工程に於いて各判定手段につい
て検査する時、各負荷の動作をチエツクして行うが、高
機能化に伴いその検査時間が長くなるという問題がある
。つまり温度による単なる０Ｎ１０ＦＦ制御から例えば
温度によってタイマ時間を変えたり、温度が変わってか
ら一定時間後に負荷が０Ｎ１０ＦＦするなどと込う制御
を行った場合には、時間に関するチエツクが必要なため
に、検査時間が長くなシ、コストも工数増加によシ上が
９また生産性も悪くなるという問題があった。
本発明は上記問題点に鑑み、検査時間を短縮でき、工数
を下げコストダウンを計ると共に生産性を向上できる冷
蔵庫等の制御装置の検査方法を提供するものである。
を下げコストダウンを計ると共に生産性を向上できる冷
蔵庫等の制御装置の検査方法を提供するものである。
課題を解決するための手段
上記課題を解決するために本発明の冷蔵庫等の制御装置
の検査方法は、判定手段の出力を演算する演算手段と、
前記演算手段の結果が奇数か偶数かを判定する奇偶判定
手段と、前記奇偶判定手段の結果を出力する出力手段と
いう構成を備えたものである。
の検査方法は、判定手段の出力を演算する演算手段と、
前記演算手段の結果が奇数か偶数かを判定する奇偶判定
手段と、前記奇偶判定手段の結果を出力する出力手段と
いう構成を備えたものである。
作 用
本発明は上記した構成によって、判定手段のうち１つの
状態が反転するとそれに伴って演算手段の出力が反転し
、出力も反転する。これにより負荷の０Ｎ１０ＦＦなど
から判定手段の状態を判定せずともテスト用の出力の状
態にて判定することができるため検査時間の短縮が可能
となる。
状態が反転するとそれに伴って演算手段の出力が反転し
、出力も反転する。これにより負荷の０Ｎ１０ＦＦなど
から判定手段の状態を判定せずともテスト用の出力の状
態にて判定することができるため検査時間の短縮が可能
となる。
実施例
以下本発明の一実施例の冷蔵庫等の制御装置の検査方法
について、図面を参照しながら説明する。
について、図面を参照しながら説明する。
第１図は本発明の実施例における冷蔵庫等の制御装置の
機能ブロック図である。第１図において１は冷蔵庫の第
１室の温度Ｔ１を検出する第１検知手段である。２は第
１検知手段１の検知温度Ｔ１≧第１設定温度”１ａの時
″１”を、またＴ１：〈Ｔ、ａ の時″０”を出力す
る第１判定手段であり、３はＴ１≧第２設定温度Ｔ１ｂ
の時′１″を、まだＴ、〈Ｔｌｂの時″０”を出力する
第２判定手段である（但しＴｌａ＞Ｔ、ｂ）。４は冷蔵
庫の第２室の温度を検知する第２検知手段である。５は
第２検知手段４の検知温度Ｔ２≧第３設定温度Ｔ の時
″１”をまた”２”２ａの時″′０”を出ａ 力する第３判定手段であり、６はＴ２≧第４設定温度Ｔ
２ｂの時″′１”をまたＴ２くＴ２ｂの時′″０”を出
力する第４判定手段である（但しＴ２ａ＞Ｔ２ｂ）。
機能ブロック図である。第１図において１は冷蔵庫の第
１室の温度Ｔ１を検出する第１検知手段である。２は第
１検知手段１の検知温度Ｔ１≧第１設定温度”１ａの時
″１”を、またＴ１：〈Ｔ、ａ の時″０”を出力す
る第１判定手段であり、３はＴ１≧第２設定温度Ｔ１ｂ
の時′１″を、まだＴ、〈Ｔｌｂの時″０”を出力する
第２判定手段である（但しＴｌａ＞Ｔ、ｂ）。４は冷蔵
庫の第２室の温度を検知する第２検知手段である。５は
第２検知手段４の検知温度Ｔ２≧第３設定温度Ｔ の時
″１”をまた”２”２ａの時″′０”を出ａ 力する第３判定手段であり、６はＴ２≧第４設定温度Ｔ
２ｂの時″′１”をまたＴ２くＴ２ｂの時′″０”を出
力する第４判定手段である（但しＴ２ａ＞Ｔ２ｂ）。
７は冷蔵庫の第３室の温度を検知する第３検知手段であ
る。８は第３検知手段７の検知温度Ｔ３違６設定温度Ｔ
の時”１”をまた”３”３ａの時ａ ′０”を出力する第６判定手段であり、９はＴ３≧第６
設定温度”３ｂの時″′１”をまたＴ３〈Ｔ３ｂの時″
０”を出力する第６判定手段である。１０は第１判定手
段２〜第６判定手段９の各出力ａ〜ｆについて和をとる
演算手段である。１１は演算手段１ｏの出力ｑが奇数時
に′１”を偶数時に゛ ′０”を出力する奇偶判定手段
である。１２は奇偶判定手段１１の出力をテスト端子１
３に出力する出力手段である。
る。８は第３検知手段７の検知温度Ｔ３違６設定温度Ｔ
の時”１”をまた”３”３ａの時ａ ′０”を出力する第６判定手段であり、９はＴ３≧第６
設定温度”３ｂの時″′１”をまたＴ３〈Ｔ３ｂの時″
０”を出力する第６判定手段である。１０は第１判定手
段２〜第６判定手段９の各出力ａ〜ｆについて和をとる
演算手段である。１１は演算手段１ｏの出力ｑが奇数時
に′１”を偶数時に゛ ′０”を出力する奇偶判定手段
である。１２は奇偶判定手段１１の出力をテスト端子１
３に出力する出力手段である。
次に動作について説明する。第１検知手段１゜第２検知
手段４．第３検知手段７の検知温度による第１図の各部
出力の変化の一例を下表に示す。
手段４．第３検知手段７の検知温度による第１図の各部
出力の変化の一例を下表に示す。
表に示すようにＴ１〜Ｔ３のいずれかの温度状態のうち
１つの判定出力が変化すると奇偶判定手段１１の出力り
が反転する。
１つの判定出力が変化すると奇偶判定手段１１の出力り
が反転する。
第２図は本発明の実施例における冷蔵庫等の制御装置の
回路図である。１４はマイクロコンピュータで、第１検
知手段１がＡＤｏに、第２検知手段４がＡＤ に、第
３検知手段がＡＤ２ に各々入力されている。また出力
０゜−０２からドライバＩ −Ｉ を介してリレーＲ
ア。〜Ｒア、を駆動する。
回路図である。１４はマイクロコンピュータで、第１検
知手段１がＡＤｏに、第２検知手段４がＡＤ に、第
３検知手段がＡＤ２ に各々入力されている。また出力
０゜−０２からドライバＩ −Ｉ を介してリレーＲ
ア。〜Ｒア、を駆動する。
１６はリレーＲア。を介して電源１６を供給されるコン
プレッサ、１７はリレーＲア、を介して電源１７を供給
されるファンモータ、１８はリレーＲア、を介して電源
を供給されるヒータである。
プレッサ、１７はリレーＲア、を介して電源１７を供給
されるファンモータ、１８はリレーＲア、を介して電源
を供給されるヒータである。
この回路の製造時の検査について説明する。検査時にお
いて第１検知手段１．第２検知手段４．第３検知手段７
の代わりに可変抵抗器を用い模擬的に温度を変化させる
。その時にテスト端子１３の反転ポイントにおける各抵
抗値でもって、動作温度を知ることができる。これによ
り良否の判断を行う。
いて第１検知手段１．第２検知手段４．第３検知手段７
の代わりに可変抵抗器を用い模擬的に温度を変化させる
。その時にテスト端子１３の反転ポイントにおける各抵
抗値でもって、動作温度を知ることができる。これによ
り良否の判断を行う。
以上のように本実施例では、第１判定手段２〜第６判定
手段９の出力ａ−ｆの和をとる演算手段１０と、演算手
段１ｏの結果が奇数か偶数を判定する奇偶判定手段とを
設けることによシ、マイクロコンピュータ１４の内部に
おける判定結果を出力端子１３に出力することができる
。従って製造 時の検査について出力端子１３の反転を
チエツクすることによりマイクロコンピュータ１４の内
部判定結果がわかり、これにより、検査時間の短縮がは
かれ、工数削減によるコストダウン、及び生産性の向上
がはかれることとなる。
手段９の出力ａ−ｆの和をとる演算手段１０と、演算手
段１ｏの結果が奇数か偶数を判定する奇偶判定手段とを
設けることによシ、マイクロコンピュータ１４の内部に
おける判定結果を出力端子１３に出力することができる
。従って製造 時の検査について出力端子１３の反転を
チエツクすることによりマイクロコンピュータ１４の内
部判定結果がわかり、これにより、検査時間の短縮がは
かれ、工数削減によるコストダウン、及び生産性の向上
がはかれることとなる。
なお実施例において演算手段１ｏは和をとるとしたが差
をとってもよい。
をとってもよい。
発明の効果
判定する奇偶判定手段と、前記奇偶判定手段の結果を出
力する出力手段を設けることによシ、製造工程に於ける
検査時間が大幅に短縮でき、工数の削減が図れることに
よりコストダウン、生産性の向上を図ることができる。
力する出力手段を設けることによシ、製造工程に於ける
検査時間が大幅に短縮でき、工数の削減が図れることに
よりコストダウン、生産性の向上を図ることができる。
第１図は本発明の実施例における冷蔵庫等の制御装置の
機能ブロック図、第２図は本発明の実施例における冷蔵
庫等の制御装置の回路図である。 １．４．７・・・・・・検知手段、２ 、３ 、５ 、
６ 、８゜９・・・・・・判定手段、１０・・・・・・
演算手段、１１・・・・・・奇偶判定手段、１２・・・
・・・出力手段。
機能ブロック図、第２図は本発明の実施例における冷蔵
庫等の制御装置の回路図である。 １．４．７・・・・・・検知手段、２ 、３ 、５ 、
６ 、８゜９・・・・・・判定手段、１０・・・・・・
演算手段、１１・・・・・・奇偶判定手段、１２・・・
・・・出力手段。
Claims (1)
- 冷蔵庫等の庫内温度等を検出する複数の検知手段と、前
記検知手段の信号を基準信号と比較する複数の判定手段
とをもち、前記判定手段の出力により負荷を制御するも
のであって、前記判定手段の出力を演算する演算手段と
、前記演算手段の結果が奇数か偶数かを判定する奇偶判
定手段と、前記奇偶判定手段の結果を出力する出力手段
とからなる冷蔵庫等の制御装置の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63027093A JP2543120B2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | 冷蔵庫等の制御装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63027093A JP2543120B2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | 冷蔵庫等の制御装置の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01201706A true JPH01201706A (ja) | 1989-08-14 |
| JP2543120B2 JP2543120B2 (ja) | 1996-10-16 |
Family
ID=12211465
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63027093A Expired - Fee Related JP2543120B2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | 冷蔵庫等の制御装置の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2543120B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6162109A (ja) * | 1984-09-03 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 制御盤検査装置 |
-
1988
- 1988-02-08 JP JP63027093A patent/JP2543120B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6162109A (ja) * | 1984-09-03 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 制御盤検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2543120B2 (ja) | 1996-10-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |