JPS6162109A - 制御盤検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、制御盤の検査装置に係わるものであり、マイ
クロコンピュータ（以下、マイコンと呼ぶ）を組込んだ
制御盤に対する自動検査に好適な装置に関する。

〔発明の背景〕

制御盤の設計、製造、検査の手順の概要は、第１図に示
すとおりである。すなわち。

ステップ１０１：５７１客の要求等に基づき、ＩＩｌ！
御盤の要求機能を記述した運転方案 を作成する。

ステップ１０２：運転方案を満足するように制御盤の設
計を行なう、近年の制御 盤はマイコンが組込まれること が多いので、その設計はハード ロジックに関するものとマイコ ンソフトに関するものに大別さ 九る。

ステップ１０３：ｉ計が運転方案を満足するものとなっ
ているかどうか、設計結 果の検査を行なう。

ステップＩＱ４：設計結果に基づき、＃ｔ８盤を製造す
る。以下、製造された制御 盤を製品と呼ぶ。

ステップ１０５：上記ステップ１０２〜１０３の過程で
製品が運転方案の機能を 満足するものであることを確認 するに必要なテスト用人カバタ ーン（製品に対する各種の入力 信号に関する情報、以下、テス トパターンとも呼ぶ）と、出力 パターン（正しく製造されてい る場合の各種の出力信号に関す る情報）を別途作成しておく。

ステップ１０６：入力パターンを製品に与え、出力パタ
ーンに合致するかどうか 検査する。

製品に対する従来の検査は、検査員がスナップスイッチ
等によりテストパターンを与え、出力パターンと合致す
るかどうかを別の検査員が電流計等により確認するとい
う方法をとっていた。従来の検査方法では次のような問
題があった。

（１）人手で実施するので、テストパターンを与え出力
パターンと合致するかどうかを確認するのに要する時間
と人員が多くかかる。

（２）テストパターンに対応した出力パターンを運転方
案から作成しなければならない力ｔ、この検討も人手で
やっているため、人員と時間が多くかかると共に、間違
った出力パターンを与えることがあった。

（３）設計の検査も展開接続図を見ながら人間が行なっ
ているので１人員と時間が多くかかると共に、設計の間
違いが発見できない場合があった。

この段階で間違いが発見できないで製品検査や稼動後に
これが発見されると、設計変更や製品改造が必要となり
、全体としての工程が長くなる場合があった。

以上のような傾向は、制御システムの複雑化と共に強く
なっている。

上記の問題を解決するため、制御盤の検査に電子計算機
を使う方法（Ｃｏｉａｐｕｔａｒ　Ａｉｄｅｄ　Ｔａｓ
ｔｉｎｇ。

以下、ＣＡＴと呼ぶ）が考えられている（特ｗ１昭５８
−１１５８４８号参照）、この発明は、マイコンソフト
とハードロジックを用いて制御する制御盤の設計結果と
製品の検査に電子計算機を導入し、その間をマグネティ
ックテープ（以下、Ｍ／Ｔと略す）やフロッピーディス
クで結び、制御対象を含めた設計のＣＡＴと製品のＣＡ
Ｔを統合する点に特徴がある。この方法の概要は以下に
示すとおりである（詳細は、上記特許出願を参照のこと
）。

〔設計結果の検査〕　（第１図のステップ１０３に対応
） （ａ）設計が完了した時点で制御対象（ポンプ、ボイラ
ー等）の機能を電子計算機に入力する。

（ｂ）テストパターン作成用マクロ言語を用いて作成さ
れたテストパターン（操作員の正常操作信号、異常操作
信号、制御対象からの入力信号など）を入力した場合の
制御盤と制御対象の動きを電子計算機内でシミュレーシ
ョン（模擬実験）する。

（ｃ）グラフィックディスプレイ上に出力されたシミュ
レーション結果に問題がないかどうか検査員が検査する
。

（ｄ）問題があれば設計を修正しくａ）〜（ｃ）の作業
を繰返し１問題がなければ、製品検査に必要なテストパ
ターンと出力パターンをＭ／Ｔ内に保存する。

〔製品の検査〕　（第１図のステップ１０６に対応）（
ｅ）制御ｇｌ製造後に、マイコンを用いたテスタと製品
を結合する。

（ｆ）マイコンを用いたテスタを介して、上記のＭＺＴ
中のテストパターンを製品に与え、出力がＭ／Ｔ内の対
応する出力パターンと合致するかどうかをテスタ内で自
動的に検査する。

（ａ）〜（ｄ）を実施することにより、間違った出力パ
ターンの作成を減少させると共に設計ミスを減少させる
ことが可能となり、問題点（２）。

（３）の解決が可能となる。また、（ｅ）、（ｆ）を実
施することにより、検査人員、時間の削減が可能となり
、問題点（１）が解決され得る。さらに、（ａ）〜（ｄ
）と（ｅ）〜（ｆ）の間をＭ／Ｔでむすぶことにより出
力パターンをテスタに入力する手間が低減されている。

このような特長のある制御盤検査装置を更に改良しくｂ
）のシミュレーションを高速化するために、信号が変化
する部分のみを選択的に演算する方式を取り入れた装置
がある（特願昭５９−５８２５１号参照）。

このように改良した制御盤検査装置にも次のような問題
点があった。

（１）現実の制御盤においては、自然に設定される初期
状態（例：リレーのコイルのオフ状態）をシミュレーシ
ョンにおいては初期条件として与えなければならない６
人間がその条件を人手で入力しようとすると多くのマン
パワーが必要となる　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　ｌ　、　！　：。

（２）初期条件の大部分は、その要素の種類によって自
動的に設定可能であるが、そのようにすると１選択的に
演算する素子の数が多くなり、シミュレーション時間が
長くなり、会話型での処理が不可能となる６ 〔発明の目的〕 本発明の目的は、上記問題を解決するシミュレーション
方式に基づく、制御盤検査装置を提供することである。

〔発明の概要〕

上記目的を達成するために、本発明では、出力結果を知
りたい素子に継がる素子群のみに関する初期条件を自動
的に設定する方式を採用する点に一特徴がある。この方
式によりシミュレーション時間の短縮が期待できる理由
は選択的に演算される素子の数が大幅に低減されるから
である。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の第１の実施例を第２図〜第１３図により
説明する。

本検査装置２０は第２図に示すように設計結果検査装置
１００と製品検査装置２００と、これらを結ぶＭ／Ｔ　
３００から構成さ九る。

設計結果検査装置１００の４９成と、その入力部分は第
３図に示すとおりである。すなわち、入力には、ＣＡＤ
　（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ　Ａｉｄａｄ　Ｄｅｓｉｇｎ）　
　用に開発された図形入力システム５０を用いる（小林
他“制御盤・配電盤におけるＣ：ＡＤ／ＣＡＭシステＡ
”日立評論Ｖｏ１．６２．　＆７　（１９８０）　ｐｐ
５〜１０参照）、本システム５０は、主として大型コン
ピュータ（例えば、ＨＩＴＡＣＭ−２００Ｈ）５１．入
力装置５２、グラフィックディスプレイ５３、ディスク
５４、図形処理用プログラム５５より成る。

制御盤のハードロジックおよびマイコンソフトの設計過
程で本ＣＡＤシステムを用いて、ハードロジックおよび
マイコンソフトを図形の形で入力、修正、保存する。入
力、修正には入力装置５２を、図形入力結果の表示には
グラフィックディスプレイ５３、データの保存にはディ
スク５４を用いる。

また、これらを制御するため、大型コンピュータ５１と
図形処理プログラム５５を用いる。

ディスク５４に保存された図形データは、設計結果の検
査時に、設計結果検査装置１００に入力−れる、同装置
１００は、大型コンピュータ１０１、入力装置１０２、
グラフィックディスプレイ１０３、ディスク１０４、Ｍ
／Ｔ９ｉ動装置１０５、ラインプリンタ１０６およびプ
ログラム群１５０より成る。

プログラム群１５０の４成および相互関係は第４図に示
すとおりである。すなわち、プログラムはシミュレーシ
ョンモデル作成プログラム１５１゜シミュレーション実
行プログラム１５２、テストパターン編集プログラム１
５３、表示用プログラム１５４、出力パターン編集プロ
グラム１５５よりなる。

シミュレーションモデル作成プログラム１５１はＣＡＤ
システム５０用のディスク５４に保存されたハードロジ
ック用図形データ、マイコンソフト用図形データ、制御
対象用図形データを相互に統合し、シミュレーションに
便利なように要素接続テーブルに変換し、ディスク１０
４に保存する（本プログラムについて詳しくは、特願昭
５８−１１５１３４８号のＰＰ１２〜１３参照）。

二こで、要素接続テーブルについて説明しておく０例え
ば、第５図のようなマイコンソフトの図形データ９１０
に対しては、第６図のような要素接続テーブル９２０を
作成することができる。

第５図において、ボックスは要素（素子と同じ意味に用
いる）を表わしており、ＡＮＤ、ａＲ。

ＡＭ等は要素の種類を表わしている６例えば、ＡＮＤは
論理積を、ＯＲは論理和を、ＡＭはアナログメモリーを
表わしている。ＡＮＤとＯＲはディジタル要素であり、
ＡＭはアナログ要素である。

１０４．１０５等は計算順序を表わすシーケンス番号で
ある。また、００８３，００８４．ＡＯ７１等は入出力
信号を表わしている１例えば、ＡＭ要素への入力はＤＯ
８３，ＤＯ８４，ＡＯ７１゜Ｄ０８８であり、出力信号
はＡ０７３であることを示している。

第６図に示された実行順序番号、要素記号、制御パラメ
ータ、入力信号、出力信号は、マイコンソフト図形デー
タより直接あるいは、一部変換することにより得ること
ができる。また出力信号値は、後述のシミュレーション
実行プログラムによって与えられる。

以上の例は、マイコンソフトの図形データについて説明
したが、制御対象の図形データについても同様のテーブ
ルの作成が可能である。また、ハードロジック用の図形
データも前処理を行なえば同様なテーブルを作成するこ
とができる０例えば第７図のような、ハードロジック［
９３０は、第８図に示すように、マイコンソフトと同様
な論理図９４０に変換することができ、このような論理
図が得られれば、第９図に示すようなテーブル９５０に
変換することができる。

このようにして作られたシミュレーションモデルの概念
枡成を第１０図に示す、シミュレーションモデル（実際
には要素接続テーブルの形で保存される）４００内には
、ハードロジックモデル部４０１、マイコンソフト部４
０２．制御対象モデル４ρ３、操作盤モデル４０４が、
各種の信号４０５〜４１１によって第１０図に示すよう
に結合されている。ここで操作盤というのは、制御盤の
ハードロジックモデルの一種であり、操作員この入出力
部を受は持つものである。

次に、第４図のテストパターン編集プログラム１５３に
ついて説明する。入力装置１０２よりテストパターン作
成用言語などを用いてテスト項目を入力すると、テスト
パターン編集プログラム１５３では、指定された入力信
号の状態の時間変化を作成する。ここで１通常入力指定
の対象となるのは、第１０図の人手入力信号４０５、制
御対象初期入力信号４０６である。なお、テストバタ　
。

−ン作成マクロ言語については、各種のテスト用に開発
されており、それらを改良することができる。

次に、第４図のシミュレーション実行プログラム１５２
における処理の概要を第１１図を用いて説明する。

ステップ８００：シミュレーションモデル作成プログラ
ム１５１で作られたシミ ュレーションモデル（要素接続 テーブルの形で保存）を入力す る。

ステップ８１０：テストパターン編集プログラム１５３
で作られたテストパター ンを入力する。

ステップ８２０：すべてのテストパターンについてシミ
ュレーションが終ってい れば終了し、そうでなければ。

以下の操作を実施する。

ステップ８３０：シミュレーション時間およびシミュレ
ーションする時間きざみ を入力する。

ステップ８４０：制御盤の初期状態等、シミュレーショ
ンに必要な初期条件を設 定する。この方法について詳し くは後述する。

メチツブ８６０：以上の状況下でシミュレーションを実
施し、制御盤からの出力 パターンを推定する１本方法に ついても、詳しくは後述する。

ステップ８８０：シミュレーション結果を出力し。

ステップ８２’Ｏにもどる。

以上で、シミュレーション実行プログラム１５２にｉけ
る処理の概要の説明を終わる。初期値設定方法の説明を
行なう前に、シミュレーション実行方法について先に説
明しておく。

このシミュレーション方法の特徴は、各要素に対し入力
信号が変化した場合にの“み選択的に出力信号を演算す
るので、シミュレーションの高速化が可能となっている
点である。ここで、信号が変化する事象をイベントと呼
ぶ、以下、第１２図にそって、その処理手順を示す。

ステップ８６１：対象テスト項目に対応したテストパタ
ーンをしらべ、信号値が 変化する信号を各時刻のイベン トテーブルへ登録する。

ステップ８６２：すべての時刻について終ったかどうか
チェックする。終ってい れば、１つのテスト項目に対応　　　　艮いしたテスト
パターンによるシミ ュレーションは終了となる。そ うでなければ、時間きざみを１ ステップ進め、次の時刻につい て以下のステップを実施する。

ステップ８６３：時刻ｔのイベントテーブルをサーチす
る０次に、それらのイベ ント信号の入刃先要素名（ある いはナンバー）を要素接続チー プルにより探索し、すべてリス トアツブする。第５図の例であ れば、Ｄ０８３がイベント信号 だとすると、リストアツブされ るべき要素はＴ１０４のＯＲ要 素と、Ｔ１０８のＡＭ要素とな る。

ステップ８６４：上記のリストアツブされた要素を計算
順序テーブルに登録する。

ステップ８６５：計算順序テーブル中の要素の中から計
算実行順序指定値（シミ ュレーションモデル作成プログ ラム１５１で指定する。指定が ない場合には、ここで任意に順 序付けをする）の最も小さな要 ：ｓｋを取り出す。上記の例にお いては、Ｔ１０４のＯＲ要素の 方がＴ１０８のＡＭ要素よりも 順序指定値が小さいので前者が 取り出される。

ステップ８６６：取り出すべき要ｉｋがあるがどうかチ
ェックする。存在しなけ れば、ステップ８６７へ、存在 すればステップ８６８へ迎む。

ステップ８６７：取り出されるべき要素がないというこ
とは、１時刻のシミュレ ーションがすべて終ったことに なるので、出力指定された信号 の計算値を要素接続テーブルの 出力信号値槽より取り出し、出 力保存テーブルに移した後、１ 時刻すすめ、ステップ８６２に もどる。

ステップ８６８：選出された要素ｋについて、要素の機
能を記述したサブルーチ ンを呼び出し、要素接続テープ ルに記述された入力信号に対応 する計算値を入力として対象要 素の出力値を計算する。

□　　ステップ８６９：要素接続テーブルをサーチし、
出力値は１時刻前の値と同じか どうかチェックした上で、要素 接続テーブルの出力欄に記入す る。もし、同じであれば、その 出力信号はイベントではないの で、その先の要素の計算は行な わずステップ８６５へ、同じで ないなら次ステツプへ。

ステップ８７０：要素にの出力光の要素を要素接続テー
ブルでサーチし、それら の要素を計算順序テーブルに登 録する。

ステップ８７１：財政要素の次時刻の出力は現時刻の出
力変化によって変化する かどうかチェックする。変化す るかどうかは、要素の種類によ って自動的に判断することが可 能である０例えば、第５図にお いて、ＡＮＤやＯＲは変化せず、 ＡＭは変化することが知られて いる。変化するものとして、他 に、積分要素、Ｗ１似微分要素等 があり、これらの要素を自己フ イードバックを持つ要素と呼ぶ ことにする。

もし、現時刻の出力の変化に よって次時刻の出力が変化しな いならばステップ８６５へ、そ うでなければ次ステツプへ。

ステップ８７２：要素にへの入力信号を、次時点のイベ
ントテーブルへ登録し、 ステップ８６５へもどる。ここ での処理は、要素にへの入力が 変化しなくても、出力が変化す る自己フィードバックを含む要 素も取り換えるようにするため の処理である。

以上で、シミュレーション方法の説明を終わる。

この方法は自己フィードバックを含む要素があっても選
択的に演算ができ、高速シミュレーションが可能となっ
ており、特願昭５９−５８２５１号で記述した方法を整
理したものである。

次に第１１図の８４０の初期値の設定方法について説明
する。このような初期値設定方法が必要となった理由は
１次のとおりである。

（１）現実の制御盤においては自然に設定される初期状
態（例：リレーのコイルのオフ状態）をシミュレーショ
ンにおいては初期条件として与えなければならない。

（２）初期条件の大部分は、その要素の種類によって自
動的に設定可能であるが、そのようにすると最初の時刻
に、選択的に演算する素子の数が多くなり、一度演算が
始まると、積分要素、擬似微分要素のような自己フィー
ドバックを含む要素がある場合には、以後の時刻でも演
算しなければならない可能性が高くなり、シミュレーシ
ョン時間が長くなる。

そこで、値を知りたい出力信号に対応する要素の正しい
初期状態のみを選択的に設定する方法を考案した。この
方法を第１３図にそって記述する。

ステップ８４１：要素接続テーブル出力欄をＸ値りリア
する。ここでＸ値という のは、何であってもよい値であ り、Ｘ値が入力された要素は、 演算しないものとする。

ステップ８４２：各時点のイベントテーブル、計算順序
テーブル、サーチテープ ルをゼロクリアする。

スフツブ８４３：値を知りたい要素Ｎａをサーチテーブ
ルに登録する。第８図の例 において、Ｎα１３のランプの状 態が知りたかったとすれば、Ｎα １３をサーチテーブルに登録す る。

ステップ８４４：サーチテーブルに要素が残っているか
どうかチェックし、残っ ていなければ、初期値の設定は 完了となる。そうでなければ、 次ステツプへ。上記の例では、 Ｎα１３が残っているので、次ス テップへ進む。

ステップ８４５：サーチテーブル内の要素（＆ｉ）を１
つ選出し、処理済フラグを 立てる。上記例ではｉが１３と なる。

ステップ８４６：要素接続テーブルにより、上記要素主
の入力元要素ｊを探索す る。上記例では、ｊが１２とな る。

ステップ８４７：処理済フラグが立っているかどうかチ
ェックする。立っていれ ば、ステップ８４８へ、立って いなければステップ８４９へ。

上記例では立っていないのでス テップ８４９へ進む。ここでの 処理は、要素間にフィードバラ クがあり処理が終了しないこと などへの対処である。

ステップ８４８：要素ｊは廃棄してステップ８４４へも
どる。

ステップ８４９：入力元要素が存在するかどうかチェッ
クする。しなければステ ツブ８４４にもどり、存在すれ ば、次ステツプへ。

ステップ８５０：要素が母線（＋）に直接接続するかど
うかチェックする。接続 しなければステップ８５２へ。

そうでなければ次ステツプへ。

ステップ８５１：要素ｊを計算順序テーブルに登録する
。これは、ハードシーケ ンスについては、母線（＋）側　　　　　９１）から計
算するので、値を知りた い信号に接続し、かつ、母線 （＋）に直接接続するものをイ ベントとして扱おうとするもの である。

ステップ８５２：要素の種類が、コイル、擬似コイル（
スウィッチへの操作をコ イルの状態に模擬する）、タイ マーかどうかチェックする。そ うでなければ、ステップ８５４ へ進み、そうであれば１次ステ ツブへ。

ステップ８５３：要素ｊの出力値に１値を設定する。こ
こで１値というのは、入 力値として利用される場合は０ となり、計算により１値がＯで 置き換った場合にもイベントと して扱うような値である。この ようにすることにより、コイル 等の初期状態を自動的に設定す ることができる。

ステップ８５４：サーチテーブルに入力元要素ｊを登録
し、ステップ８４４へも どる。

以上で、初期値設゛定力法の説明を終わる。上記の例で
、■値が設定され両要素は、Ｎα１０′。

１１．７’　、８．１４の合計５個となる。このように
初期値を設定することにより、シミュレーションすべき
対象が限定できる。初期値の設定は１回であるのに対し
シミュレーションは各時刻での演算が必要であるので、
対象の限定により、処理時間の短縮が期待できる。

以上で、シミュレーション実行プログラムの処理方法の
説明を終わる。

第４図における表示用プログラム１５４、出力パターン
編集プログラム１５５の機能および構成は、特願昭５８
−１１５８４８号の制御盤検査装置に同じである。また
、第２図の製品検査装置２００の機能および構成も上記
の装置に同じである。

つぎに、本発明の第２の実施例として、設計結果検査装
置のテストパターンの入力方法をグラフィックディスプ
レイ上に構成された制御盤実装図を利用して、テストパ
ターンを直接的に入力できるようにした装置を第２図と
第３図、および第１４図と第１５図により説明する。

本検査装置１ｆ２０は、第２図に示すように設計結果検
査袋［１００と制品検査装置２００と、これらを結ぶＭ
／Ｔ　３００から構成されている。

設計検査装置１００の構成は第３図に示すとおりである
。

プログラム群１５０の構成および相互関係は、第１４図
に示すとおりである。すなわち、プログラムは、シミュ
レーションモデル作成プログラム１５１、シミュレーシ
ョン実行プログラム１５２゜テストパターン編集プログ
ラム１５３、表示用プログラム１５４、出力パターン編
集プログラム１５５、入力操作処理プログラム１５６よ
りなる。

入力操作処理プログラム１５６は、入出力装置１２０よ
り入力された信号を変換して、テストパターン編集プロ
グラム１５３に渡したり、テストパターン入力をガイド
するメツセージを出力する機能を持つプログラムである
。

以下、ディスプレイ上の制御盤実装図を利用した入力方
法の一例としてスイッチＡをＯＮにするとランプ１（以
下Ｌ１と呼ぶ）が点灯し、スイッチＢをＯＮにするとラ
ンプ２（以下Ｌ２と呼ぶ）が点灯し、スイッチＡ、Ｂ両
方をＯＮにすると、ＬＬ、Ｌ２共消灯する機能を持つ制
御盤につき入力方法を第１４図、第１５図により説明す
る。

（１）グラフィックディスプレイ１２１上に検査する制
御盤の実装図（本例では画面１３２となる）を構成する
。

（２）キーボード１２３（またはタブレット１２２）に
より画面１３２のスイッチＡをＯＮにする信号と結果確
認データ（本例では、Ｌ１点灯）を入力する。

（３）入力された信号は入力操作プログラム１５６でテ
ストパターン編集プログラム１５３のデータになるよう
変換されて、テストパターン編集プログラム１５３に渡
される。

（４）テストパターン編集プログラム１５３に渡された
信号は、従来の設計結果検査装置のプログラム群の処理
フローと同様にしてシミュレーション実行プログラム１
５２で処理され１表示用プログラム１５４に入力した結
果の信号が渡される。

（５）表示用プログラム１５４は、ディスプレイ１２１
の両面上の装置（スイッチ、ランプ等）を結果の信号に
よって表示変更する。

（６）検査員は、両面上のスイッチＡが○Ｎ状態を表示
し、同時にＬｌが点灯することを確認して、次の入力（
スイッチＡをＯＦＦ、スイッチＢをＯＮ）を行なう。

（７）　　（３）〜（５）のようにして１両面上のＬｌ
が消灯し、Ｌ２が点灯する０次にスイッチＢをＯＮのま
ま、スイッチＡにＯＮ信号を入力するとＬ２が消灯する
。

（８）テストパターンの終了値を入力すれば、両面上部
のテスト管理画面１３１に検査の合格（または不合格）
等のテスト結果情報が表示される。

画面モードを切換えることにより、テスト結果のグラフ
表示等が可能である。

画面下部のコマンド画面１３３に、検査員の入力をサポ
ートするガイドメツセージを出力すれば、ディスプレイ
を見ながら簡単に入力操作が行なえる。また、制御盤実
装図を利用した入力が困難な製品については、従来のテ
ストパターン作成用マクロ言語による入力方法との併用
が可能である。

なお、ディスプレイ上に構成する制御盤実装図について
は、制御盤実装ＣＡＤデータベースを利用する方法等で
容易に実現できる。

以上で制御盤実装図を利用した入力方法の説明を終える
。

第１４図におけるシミュレーションモデル作成プログラ
ム１５１、シミュレーション実行プログラム１５２．ナ
ス１−パター２編共プログラム１５３、表示用プログラ
ム１５５の機能および構成は、特許出願番号（３１８３
０１７２０）　　の制御盤検査装置に同じである。また
、第２図の製品検査装置２００の機能および構成も上記
の装置に同じである。

以上で制御盤検査装置の実施例の説明を終わる。

〔発明の効果〕

本発明によれは次のような効果がある。

（１）グラフィックディスプレイ上にも１成された制御
盤実装図を利用することにより実際の制御盤を操作する
イメージでテストパターンを入力できるので入力作業が
容易かつ入力ミスの少ないものになる。

（２）　ｌｉｕ品検査段階で行なう検査と同じことが設
計終了段階で行なえるので、検査作業内容が簡単になる
。

（３）従来の制御盤検査装置に比べ、初期状態入力の手
間が低減できると共に、シミュレーションの範囲が限定
されるので、シミュレーション時間が低減され、これに
より、検査工程の短縮、が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は制御盤の設計、製造、検査の手順の概略図、第
２図は制御盤検査装置の全体構成図、第３図は設計結果
検査装置とその入力部の構成図、第４図は設計結果検査
装置用プログラムの構成図、第５図は図形データの一例
を示す図、第６図は要素接続テーブルの一例を示す図、
第７図はハードシーケンス部の一例を示す図、第８図は
その論理図、第９図はその要素接続テーブルの一部を示
す図、第１０図はシミュレーションモデルの構成と信号
の流れを示す図、第１１図はシミュレーション実行プロ
グラムの概略処理手順図、第１２図はシミュレーション
実行手順を示す図、第１３図は初期値設定方法を示す図
、第１４図は設計結果検査装置用プログラムの構成およ
び相互関係を示す図、第１５図はテストパターン入出力
装置の構成例を示す図である。 ２０・・・制御盤検査装置、１００・・・設計結果検査
装置、２０ｏ・・・製品検査装置、３００・・・Ｍ／Ｔ
、５００・・・制御盤製品、１２０・・・テストパター
ン入出力装置。 第　ｌ　埠 第　　１１　　　口 第　１２　　記

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、コンピュータ利用の制御盤検査装置において、制御
   盤の設計結果を模擬する制御盤モデルと、該制御盤によ
   り制御される制御対象を模擬する制御対象モデルおよび
   、該モデルに対するテスト用入力パターンをコンピュー
   タに入力して上記モデルの動作をコンピュータ上で模擬
   する上で、模擬対象の初期状態を自動的に設定するとと
   もに、知りたい出力に関連する範囲のみを抽出する制御
   盤設計結果検査手段と、 検査結果を示す出力パターンのうち正しいと判断された
   出力パターンと、それに対応する入力パターンを格納す
   る外部記憶手段と、 上記検査手段により検査された設計結果に基づき製造さ
   れた制御盤に対して、テスト用の入力パターンを上記記
   憶手段より読み出し付与したときに該制御盤から出力さ
   れた出力パターンが上記記憶手段中の対応するパターン
   と合致するかどうかを調べる演算をおこなつて上記製造
   された制御盤を検査する製品検査手段とを備えたことを
   特徴とする制御盤検査装置。 ２、コンピュータ利用の制御盤検査装置において、制御
   盤の設計結果と該制御盤検査装置により制御される制御
   対象を表わす模擬モデルおよび該モデルに対するテスト
   用入力パターンを制御盤を模擬した両面上より直接的に
   入力する入力手段と、上記テスト用入力パターンをコン
   ピュータ内で模擬することにより上記設計結果を検査す
   る検査手段と、検査の結果を示す出力パターンのうち正
   しいと判断された出力パターンと対応する入力パターン
   とを格納する外部記憶手段と、上記検査手段により検査
   された設計結果にもとづき製造された制御盤にたいして
   テスト用入力パターンを上記記憶手段より読み出して付
   与したとき該制御盤から出力された出力パターンが上記
   記憶手段中の対応する出力パターンと合致するか調べる
   演算をおこなつて上記製造された制御盤を検査する製品
   検査手段とを備えたことを特徴とする制御盤検査装置。