JPH01206255A - 酸素濃度分析方法およびその装置 - Google Patents
酸素濃度分析方法およびその装置Info
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- JPH01206255A JPH01206255A JP63030626A JP3062688A JPH01206255A JP H01206255 A JPH01206255 A JP H01206255A JP 63030626 A JP63030626 A JP 63030626A JP 3062688 A JP3062688 A JP 3062688A JP H01206255 A JPH01206255 A JP H01206255A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、工業用の酸素分析装置、特に小型ボイラ、湯
沸かし器、工場炉、酸欠モニタまたは空燃比計等に使用
される酸素濃度分析方法およびその装置に関するもので
ある。
沸かし器、工場炉、酸欠モニタまたは空燃比計等に使用
される酸素濃度分析方法およびその装置に関するもので
ある。
(従来の技術)
従来、酸素濃淡電池の原理に基づく酸素分析装置として
、固体電解質で形成された酸素濃淡電池の基準参照電極
を大気に曝す酸素分析装置や、特公昭60−55777
号公報に開示されているように酸素濃淡電池の基準参照
電極を酸素ポンプによる基準酸素濃度の雰囲気にする酸
素分析装置が知られている。
、固体電解質で形成された酸素濃淡電池の基準参照電極
を大気に曝す酸素分析装置や、特公昭60−55777
号公報に開示されているように酸素濃淡電池の基準参照
電極を酸素ポンプによる基準酸素濃度の雰囲気にする酸
素分析装置が知られている。
これらの酸素分析装置において、固体電解質や電極の経
年変化等が生ずるため、日本工業規格B7983、KO
O55に記載されているように、測定ガスの酸素濃度を
正確に測定するためには標準ガスを用いて酸素濃淡電池
の起電力を校正することが行われていた。
年変化等が生ずるため、日本工業規格B7983、KO
O55に記載されているように、測定ガスの酸素濃度を
正確に測定するためには標準ガスを用いて酸素濃淡電池
の起電力を校正することが行われていた。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上記の校正を行うには標準ガスを酸素濃
淡電池の測定電極に導くための導管を酸素濃度分析装置
に設ける必要がある。このため、装置の構成が複雑なも
のとなり、装置自体が大きくなる一方、所定の酸素濃度
の標準ガスを校正する毎に準備しなければならない煩雑
さがあった。
淡電池の測定電極に導くための導管を酸素濃度分析装置
に設ける必要がある。このため、装置の構成が複雑なも
のとなり、装置自体が大きくなる一方、所定の酸素濃度
の標準ガスを校正する毎に準備しなければならない煩雑
さがあった。
本発明の目的は、上記のような問題点を解消するため、
標準ガスを用いずに酸素濃淡電池の校正ができる酸素濃
度測定方法およびそれに用いられる装置を提供すること
にある。
標準ガスを用いずに酸素濃淡電池の校正ができる酸素濃
度測定方法およびそれに用いられる装置を提供すること
にある。
(課題を解決するための手段)
本発明の第1の酸素濃度分析方法は、固体電解質を用い
た酸素濃淡電池方式による酸素濃度分析方法において、
酸素センサ素子の酸素ポンプ部にポンプ電流を流し、酸
素センサ素子の酸素濃淡電池の被測定ガス電極上を校正
ガスと同等の酸素濃度の雰囲気にして、校正を行うこと
を特徴とする酸素濃度分析方法である。
た酸素濃淡電池方式による酸素濃度分析方法において、
酸素センサ素子の酸素ポンプ部にポンプ電流を流し、酸
素センサ素子の酸素濃淡電池の被測定ガス電極上を校正
ガスと同等の酸素濃度の雰囲気にして、校正を行うこと
を特徴とする酸素濃度分析方法である。
さらに、本発明の第2の酸素濃度分析方法は、要約すれ
ば、大気を基準参照ガスとする基準電極を有する酸素濃
淡電池と酸素ポンプ部とを有する酸素センサ素子を酸素
ポンプ電流で校正を行うことを特徴とする酸素濃度分析
方法である。
ば、大気を基準参照ガスとする基準電極を有する酸素濃
淡電池と酸素ポンプ部とを有する酸素センサ素子を酸素
ポンプ電流で校正を行うことを特徴とする酸素濃度分析
方法である。
また、本発明の第3の酸素濃度分析方法は、要約すると
、二つの酸素ポンプ部と該酸素ポンプ部の一つを駆動し
て参照用ガスとする酸素濃淡電池とを有する酸素センサ
素子を、酸素ポンプ電流で校正を行うことを特徴とする
酸素濃度分析方法である。
、二つの酸素ポンプ部と該酸素ポンプ部の一つを駆動し
て参照用ガスとする酸素濃淡電池とを有する酸素センサ
素子を、酸素ポンプ電流で校正を行うことを特徴とする
酸素濃度分析方法である。
本発明の第1の酸素濃度分析装置は、
(イ) 大気に連通ずる参照ガス室と被測定ガスに連
通ずる測定室とを有し、酸素濃淡電池と酸素ポンプ部と
を備えた酸素センサ素子、(ロ) 校正ガスの酸素濃
度(O2)と基準発生起電力(E0)とポンプ電流(L
c) との関係を記憶する記、、α回路、 (ハ) 測定ガスの酸素濃度を測定する際酸素ポンプ部
に流れるポンプ電流(1,c) と酸素濃淡電池の起
電力(v5)との関係が人力され、該記憶回路のポンプ
電流(1,c) と基準発生起電力(E0)との関係を
参照して基準発生起電力(B11)と起電力(VS)
との関係を演算し、かつ被測定ガスにより発生する測定
起電力(VS )を基準発生起電力(E0)と起電力(
VS) との関係を参照して測定起電力(VS)に対応
する酸素濃度(O2)を演算する校正回路 とを備えていることを特徴とする酸素濃度分析装置であ
る。
通ずる測定室とを有し、酸素濃淡電池と酸素ポンプ部と
を備えた酸素センサ素子、(ロ) 校正ガスの酸素濃
度(O2)と基準発生起電力(E0)とポンプ電流(L
c) との関係を記憶する記、、α回路、 (ハ) 測定ガスの酸素濃度を測定する際酸素ポンプ部
に流れるポンプ電流(1,c) と酸素濃淡電池の起
電力(v5)との関係が人力され、該記憶回路のポンプ
電流(1,c) と基準発生起電力(E0)との関係を
参照して基準発生起電力(B11)と起電力(VS)
との関係を演算し、かつ被測定ガスにより発生する測定
起電力(VS )を基準発生起電力(E0)と起電力(
VS) との関係を参照して測定起電力(VS)に対応
する酸素濃度(O2)を演算する校正回路 とを備えていることを特徴とする酸素濃度分析装置であ
る。
さらに、本発明の第2の酸素濃度分析装置は、(イ)
被測定ガスに連通ずる参照ガス室と、該参照ガス室の一
方に形成された第1の酸素ポンプ部と、該参照ガス室の
他方に形成された酸素濃淡電池と、被測定ガスに連通ず
る測定室と該測定室の一方には前記酸素濃淡電池が形成
されると共に他方には第2の酸素ポンプ部とを備えた酸
素センサ素子、 (ロ) 前記第1の酸素ポンプ部に接続された酸素ポ
ンプ部電流発生源、 (ハ) 前記の酸素濃度分析装置装置と同様の記憶回路
および (ニ)校正回路とを備えていることを特徴とする酸素濃
度分析装置である。
被測定ガスに連通ずる参照ガス室と、該参照ガス室の一
方に形成された第1の酸素ポンプ部と、該参照ガス室の
他方に形成された酸素濃淡電池と、被測定ガスに連通ず
る測定室と該測定室の一方には前記酸素濃淡電池が形成
されると共に他方には第2の酸素ポンプ部とを備えた酸
素センサ素子、 (ロ) 前記第1の酸素ポンプ部に接続された酸素ポ
ンプ部電流発生源、 (ハ) 前記の酸素濃度分析装置装置と同様の記憶回路
および (ニ)校正回路とを備えていることを特徴とする酸素濃
度分析装置である。
(作 用)
本発明の要点は、予め校正ガスによって検定して既知で
ある基準の酸素濃度と基準の発生起電力とポンプ電流と
の一対一の対応関係を求め、大気を基準参照ガスとして
、酸素センサ素子を大気中におき既知である基準の酸素
ポンプ電流を流して酸素濃淡電池の測定電極を校正ガス
と同等の酸素濃度雰囲気とし、酸素濃淡電池から出力さ
れる発生起電力を、予め検量した基準発生起電力に校正
して、酸素センサ素子を測定ガス中におき測定ガスの酸
素濃度を測定する方法および装置である。
ある基準の酸素濃度と基準の発生起電力とポンプ電流と
の一対一の対応関係を求め、大気を基準参照ガスとして
、酸素センサ素子を大気中におき既知である基準の酸素
ポンプ電流を流して酸素濃淡電池の測定電極を校正ガス
と同等の酸素濃度雰囲気とし、酸素濃淡電池から出力さ
れる発生起電力を、予め検量した基準発生起電力に校正
して、酸素センサ素子を測定ガス中におき測定ガスの酸
素濃度を測定する方法および装置である。
(実施例)
本発明の酸素濃度分析方法およびその装置を図面を参照
して以下に説明する。
して以下に説明する。
実施例1
第1の実施例は、測定ガスの検出部である酸素センサ素
子を校正する酸素濃淡電池における基準ガス(酸素濃度
)として大気を用いる場合の酸素濃度分析装置である。
子を校正する酸素濃淡電池における基準ガス(酸素濃度
)として大気を用いる場合の酸素濃度分析装置である。
検出部を構成する酸素センサ素子10は、第1図に示す
ように、複数の層を積層して一体構造としたものであり
、上から順に酸素ポンプ部P1酸素濃淡電池部Bおよび
ヒータ部Hから構成される。
ように、複数の層を積層して一体構造としたものであり
、上から順に酸素ポンプ部P1酸素濃淡電池部Bおよび
ヒータ部Hから構成される。
まず、上部の酸素ポンプ部Pは、固体電解質体11を有
し、該固体電解質体11の上下両側には上側ポンプ電極
12および下側ポンプ電極13が形成されている。ポン
プ電極12.13の電極線はそれぞれ固体電解質体11
の側面に導出しており、電極端子(図示していない)が
設けられている。酸素ポンプ部Pは測定ガスに曝され、
該測定ガスが導入されるガス導入孔14が設けられてい
る。
し、該固体電解質体11の上下両側には上側ポンプ電極
12および下側ポンプ電極13が形成されている。ポン
プ電極12.13の電極線はそれぞれ固体電解質体11
の側面に導出しており、電極端子(図示していない)が
設けられている。酸素ポンプ部Pは測定ガスに曝され、
該測定ガスが導入されるガス導入孔14が設けられてい
る。
中間部の酸素濃淡電池部Bは、前記酸素ポンプ部Pと同
様に、固体電解質体15を有し、該固体電解質体15の
上下両側には測定電極16と基準電極17が形成されて
いる。基準電極17と前記酸素ポンプ部Pの一方の電極
13はそれぞれ接地されている。
様に、固体電解質体15を有し、該固体電解質体15の
上下両側には測定電極16と基準電極17が形成されて
いる。基準電極17と前記酸素ポンプ部Pの一方の電極
13はそれぞれ接地されている。
酸素濃淡電池部Bと前記酸素ポンプ部Pとの間に、測定
ガスが導入される細隙空間の測定室18を形成するため
、所定の厚さの絶縁スペース部材19が介在されている
。また、前記ガス導入孔14は測定室18の中央部と連
通している。また、前記測定電極16は測定室18に面
している。
ガスが導入される細隙空間の測定室18を形成するため
、所定の厚さの絶縁スペース部材19が介在されている
。また、前記ガス導入孔14は測定室18の中央部と連
通している。また、前記測定電極16は測定室18に面
している。
下部のヒータ部Hは、前記酸素濃淡電池部Bの下側に固
体電解質体20を介して形成され、酸素センサ素子lO
1特に前記酸素濃淡電池部Bを所定温度に加熱する。ヒ
ータ部Hは、ヒータエレメント21の周りを電気絶縁性
を有するアルミナ等から成る多孔質層22により被覆さ
れ形成されている。
体電解質体20を介して形成され、酸素センサ素子lO
1特に前記酸素濃淡電池部Bを所定温度に加熱する。ヒ
ータ部Hは、ヒータエレメント21の周りを電気絶縁性
を有するアルミナ等から成る多孔質層22により被覆さ
れ形成されている。
なお、ヒータ部Hの下部には熱電対Tが取り付けられて
、加熱温度即ち酸素センサ素子10の温度を測定し、こ
の測定値から温度制御することができるようにしている
。
、加熱温度即ち酸素センサ素子10の温度を測定し、こ
の測定値から温度制御することができるようにしている
。
固体電解質体20と前記酸素濃淡電池部Bとの間には、
固体電解質体のスペース部材23が介在されており、前
記基準電極17が露呈される領域に参照ガス室24が形
成される。この参照ガス室24は大気と連通している。
固体電解質体のスペース部材23が介在されており、前
記基準電極17が露呈される領域に参照ガス室24が形
成される。この参照ガス室24は大気と連通している。
固体電解質体1、、15.20およびスペース部材19
.23は、それぞれ高温において酸素イオン導電性を示
す安定化または部分安定化ジルコニア磁器から構成され
る。
.23は、それぞれ高温において酸素イオン導電性を示
す安定化または部分安定化ジルコニア磁器から構成され
る。
またポンプ電極12.13、測定電極16および基準電
極17は、それぞれ多孔質白金等より構成され、高温あ
るいは腐食性の測定ガスからこれら電極を保護するため
アルミナ等から成るガス透過性のポーラスセラミックス
層で被覆されていることが好ましい。
極17は、それぞれ多孔質白金等より構成され、高温あ
るいは腐食性の測定ガスからこれら電極を保護するため
アルミナ等から成るガス透過性のポーラスセラミックス
層で被覆されていることが好ましい。
ヒータエレメント21は、例えばアルミナ粉末と、白金
粉とを主成分とするペーストを印刷により配置するか、
またはサーメット状にしたフィルムを配置する等の手法
によって形成される。また熱電対Tは、異なった金属よ
り成る金属細線あるいはペーストまたはサーメットを組
み合わせて、印刷積層することにより形成することがで
きる。
粉とを主成分とするペーストを印刷により配置するか、
またはサーメット状にしたフィルムを配置する等の手法
によって形成される。また熱電対Tは、異なった金属よ
り成る金属細線あるいはペーストまたはサーメットを組
み合わせて、印刷積層することにより形成することがで
きる。
以上のような構造の検出部の酸素センサ素子の検出回路
について、第2図のブロック図に基づき説明する。
について、第2図のブロック図に基づき説明する。
第1図の酸素ポンプ部Pの上側ポンプ電極12の端子(
a)は、酸素ポンプ電流発生源31の出力端に接続され
、酸素ポンプ電流発生源31の入力端には、記憶回路3
3を内蔵した制御装置32の出力端が接続されている。
a)は、酸素ポンプ電流発生源31の出力端に接続され
、酸素ポンプ電流発生源31の入力端には、記憶回路3
3を内蔵した制御装置32の出力端が接続されている。
記憶回路33に記憶されたデータに基づいて制御装置3
2は酸素ポンプ電流発生源31の出力電流値を制御する
。制御装置32には外部人力装置34が接続されて、酸
素センサ素子lOの校正に必要なデータの人力を可能に
している。
2は酸素ポンプ電流発生源31の出力電流値を制御する
。制御装置32には外部人力装置34が接続されて、酸
素センサ素子lOの校正に必要なデータの人力を可能に
している。
また、第1図の酸素濃淡電池部Bの基準電極17の端子
(b)は、バッファ増幅器35を介して校正回路36の
入力端に接続され、校正回路36では、測定ガスに対応
する酸素濃淡電池部已に発生した起電力が基準の起電力
の数値に変換される。校正回路36の出力端には、開封
数変換器37の入力端が接続されて、そこで酸素濃度表
示に適切な数値に変換されて、表示装置38および出力
変換器39にそれぞれ変換された数値信号が転送される
。出力変換器39では、人力された信号がさらに所望の
信号形態に変換されて、出力信号として出力される。
(b)は、バッファ増幅器35を介して校正回路36の
入力端に接続され、校正回路36では、測定ガスに対応
する酸素濃淡電池部已に発生した起電力が基準の起電力
の数値に変換される。校正回路36の出力端には、開封
数変換器37の入力端が接続されて、そこで酸素濃度表
示に適切な数値に変換されて、表示装置38および出力
変換器39にそれぞれ変換された数値信号が転送される
。出力変換器39では、人力された信号がさらに所望の
信号形態に変換されて、出力信号として出力される。
さらに、第1図のヒータ部Hのヒータエレメント21の
端子(C) は、ヒータ温度制御器40に接続されてお
り、このヒータ温度制御器40には、第1図の熱電対T
で得られた電圧が、その端子(d)、バッファ増幅器4
1、冷接点42′J6よび増幅器43を経て、基準温度
設定回路44の電圧と比較された後、供給される。ヒー
タ温度制御器40では、この熱電対Tの温度に対応する
検出電圧に基づいてヒータ部Hの供給電力制御を行う。
端子(C) は、ヒータ温度制御器40に接続されてお
り、このヒータ温度制御器40には、第1図の熱電対T
で得られた電圧が、その端子(d)、バッファ増幅器4
1、冷接点42′J6よび増幅器43を経て、基準温度
設定回路44の電圧と比較された後、供給される。ヒー
タ温度制御器40では、この熱電対Tの温度に対応する
検出電圧に基づいてヒータ部Hの供給電力制御を行う。
このように構成された酸素濃度分析装置の酸素センサ素
子10の校正操作方法を第1図〜第4図を参照して以下
に説明する。
子10の校正操作方法を第1図〜第4図を参照して以下
に説明する。
(A)酸素センサ素子の検定
(1) ヒータ温度制御器40により酸素センサ素子
10を熱電対Tにて検温しつつヒータ部Hを制御するこ
とによって、所定の温度(例えば800℃)にする。
10を熱電対Tにて検温しつつヒータ部Hを制御するこ
とによって、所定の温度(例えば800℃)にする。
(2)酸素センサ素子10の測定室1Bに種々の酸素濃
度を含有する校正ガスを充填し、校正ガス中の酸素濃度
(O2)に対応する酸素濃淡電池部Bの基準発生起電力
([E0)を求める。このようにして得られる基準発生
起電力(E0)と酸素濃度(O□)との関係の一例を第
4図(a)および第5図(a)に示す。酸素センサ素子
10の温度は測定ガス温度範囲とすることが好ましい。
度を含有する校正ガスを充填し、校正ガス中の酸素濃度
(O2)に対応する酸素濃淡電池部Bの基準発生起電力
([E0)を求める。このようにして得られる基準発生
起電力(E0)と酸素濃度(O□)との関係の一例を第
4図(a)および第5図(a)に示す。酸素センサ素子
10の温度は測定ガス温度範囲とすることが好ましい。
(3)次に、酸素センサ素子10を大気中におくかある
いは酸素センサ素子10の測定室8を何らかの手段によ
り大気雰囲気とし、酸素ポンプ部Pに酸素ポンプ電流発
生源31により酸素ポンプ電流を徐々に増加しながら供
給し、酸素濃淡電池部Bの発生起電力が上記(2)の基
準発生起電力(B0)に相当する基準酸素ポンプ電流(
1,c)を求める。
いは酸素センサ素子10の測定室8を何らかの手段によ
り大気雰囲気とし、酸素ポンプ部Pに酸素ポンプ電流発
生源31により酸素ポンプ電流を徐々に増加しながら供
給し、酸素濃淡電池部Bの発生起電力が上記(2)の基
準発生起電力(B0)に相当する基準酸素ポンプ電流(
1,c)を求める。
このようにして得られた基準発生起電力(Eo〉と基準
酸素ポンプ電流(I、c) との関係の一例を第4図
(b)および第5図ら)に示す。
酸素ポンプ電流(I、c) との関係の一例を第4図
(b)および第5図ら)に示す。
O:検定された基準酸素ポンプ電流(Ip)△:検定さ
れた基準発生起電力(E0)ロ:校正ガスの酸素濃度と
等価な測定室18の酸素濃度(O2) X:大気雰囲気中で検定された基準酸素ポンプ電流(I
p)を酸素ポンプ部(P)に流すことによって酸素濃淡
電池部(B)に発生する発生起電力(VS) 以上の操作により得られた規定化された基準酸素ポンプ
電流(lpc)を大気雰囲気中において酸素センサ素子
の酸素ポンプ部Pに流すことにより、酸素センサ素子1
0の測定室18の酸素濃度は校正ガスのそれと等価とな
る。
れた基準発生起電力(E0)ロ:校正ガスの酸素濃度と
等価な測定室18の酸素濃度(O2) X:大気雰囲気中で検定された基準酸素ポンプ電流(I
p)を酸素ポンプ部(P)に流すことによって酸素濃淡
電池部(B)に発生する発生起電力(VS) 以上の操作により得られた規定化された基準酸素ポンプ
電流(lpc)を大気雰囲気中において酸素センサ素子
の酸素ポンプ部Pに流すことにより、酸素センサ素子1
0の測定室18の酸素濃度は校正ガスのそれと等価とな
る。
酸素センサ素子の検定で得られた校正ガスの酸素濃度(
O□)、基準発生起電力(B0)および基準酸素ポンプ
電流(IPC)の関係は、外部入力装置34により記憶
回路33に入力される。
O□)、基準発生起電力(B0)および基準酸素ポンプ
電流(IPC)の関係は、外部入力装置34により記憶
回路33に入力される。
酸素センサ素子の検定は酸素センサ素子を酸素濃度分析
装置に組立てる前に行うことが好ましい。
装置に組立てる前に行うことが好ましい。
この理由は検定方法が容易であるからである。
(B)酸素センサ素子の校正
この操作は、酸素センサ素子が組込まれた酸素濃度分析
装置により測定ガスの濃度を測定する場合、前記(A)
の酸素センサ素子の検定値との差異を校正するものであ
る。
装置により測定ガスの濃度を測定する場合、前記(A)
の酸素センサ素子の検定値との差異を校正するものであ
る。
前記(A)の検定で説明したように、大気を酸素センサ
素子10に流した状態で基準酸素ポンプ電流(IPC)
を酸素ポンプ部Pに流すことによって、測定室18の雰
囲気を規定の酸素濃度とし、それに対応して酸素濃淡電
池部Bの発生起電力(VS)が発生するが、この発生起
電力(VS)をバッファ増幅器35のバイアス加減算お
よびゲインの増減によって基準発生起電力(B0)に校
正したり、所定の温度を変更して校正したり、或いは発
生起電力(VS)をXとしそれに対応する基準発生起電
力(E0)をYとして数組の折線近似校正関数によって
校正する。
素子10に流した状態で基準酸素ポンプ電流(IPC)
を酸素ポンプ部Pに流すことによって、測定室18の雰
囲気を規定の酸素濃度とし、それに対応して酸素濃淡電
池部Bの発生起電力(VS)が発生するが、この発生起
電力(VS)をバッファ増幅器35のバイアス加減算お
よびゲインの増減によって基準発生起電力(B0)に校
正したり、所定の温度を変更して校正したり、或いは発
生起電力(VS)をXとしそれに対応する基準発生起電
力(E0)をYとして数組の折線近似校正関数によって
校正する。
この校正は校正回路36によって行われる。
第5図(C)に示すように、発生起電力(VS) と
基準発生起電力(E0)との関係は記憶回路33に記憶
される。
基準発生起電力(E0)との関係は記憶回路33に記憶
される。
(C)測定
測定ガス中に曝された酸素センサ素子10の測定室18
に拡散により測定ガスが入り込み、測定室18と参照ガ
ス室24とに酸素濃度差が生じ、測定電極16および基
準電極170間に起電力(VS)が発生される。起電力
(VS)は、バッファ増幅器35を介して校正回路に入
力される。起電力(VS) は、第5図(C)に示すよ
うに、前記(B)により記憶されたデータを記憶回路3
3を参照して校正を受け、折れ線補間によって基準発生
起電力(B0)に換算され、これを開封数変換器37を
介して酸素濃度の適切な数値に変換されて表示装置38
にて表示されるとともに、必要なレンジに変換する出力
変換器39を介して出力信号として出力される。
に拡散により測定ガスが入り込み、測定室18と参照ガ
ス室24とに酸素濃度差が生じ、測定電極16および基
準電極170間に起電力(VS)が発生される。起電力
(VS)は、バッファ増幅器35を介して校正回路に入
力される。起電力(VS) は、第5図(C)に示すよ
うに、前記(B)により記憶されたデータを記憶回路3
3を参照して校正を受け、折れ線補間によって基準発生
起電力(B0)に換算され、これを開封数変換器37を
介して酸素濃度の適切な数値に変換されて表示装置38
にて表示されるとともに、必要なレンジに変換する出力
変換器39を介して出力信号として出力される。
次に、本発明の第2図のブロック図に基づくハードウェ
アを第3図を参照して簡単に説明する。
アを第3図を参照して簡単に説明する。
酸素濃淡電池部Bからの出力は低域通過フィルタ350
aおよび増幅器351aを経てマルチプレクサ352に
供給される。同様にして、熱電対Tからの出力は低域通
過フィルタ350bおよび冷接点42および増幅器35
1bを経てマルチプレクサ352に供給される。酸素濃
淡電池部Bからの出力はさらに増幅器353を経てA/
D変換器360に送られ、そこでデジタル信号に変換さ
れた後、水晶発振器を有する基準クロック発生回路36
1のもとに動作する中央制御装置(CPU)362の指
令を受けて、演算記憶される。
aおよび増幅器351aを経てマルチプレクサ352に
供給される。同様にして、熱電対Tからの出力は低域通
過フィルタ350bおよび冷接点42および増幅器35
1bを経てマルチプレクサ352に供給される。酸素濃
淡電池部Bからの出力はさらに増幅器353を経てA/
D変換器360に送られ、そこでデジタル信号に変換さ
れた後、水晶発振器を有する基準クロック発生回路36
1のもとに動作する中央制御装置(CPU)362の指
令を受けて、演算記憶される。
A/D変換器360には、タイマカウンタ363および
並列の入出力ポート364が接続され、CPU 362
にはROM 320およびRAM 321が接続されて
いる。
並列の入出力ポート364が接続され、CPU 362
にはROM 320およびRAM 321が接続されて
いる。
CPU 362の制御のもとて所望の数値に変換された
信号は、一方ではD/A変換器390および出力変換器
391を経て出力され、他方では、D/A変換器322
およびバイアス設定器323を経てバイアス用の酸素ポ
ンプ部Pにスイッチ324の開成時に所定電流が供給さ
れ得るように校正されている。さらに、並列の入出力ポ
ート381は、酸素濃度を表示するための表示器380
に接続され、またヒータ温度を制御するヒータ温度制御
器400に接続され、また外部装置、例えば警報装置若
しくは緊急停止装置等のスイッチングを行うためのリレ
ー401および402に接続されている。
信号は、一方ではD/A変換器390および出力変換器
391を経て出力され、他方では、D/A変換器322
およびバイアス設定器323を経てバイアス用の酸素ポ
ンプ部Pにスイッチ324の開成時に所定電流が供給さ
れ得るように校正されている。さらに、並列の入出力ポ
ート381は、酸素濃度を表示するための表示器380
に接続され、またヒータ温度を制御するヒータ温度制御
器400に接続され、また外部装置、例えば警報装置若
しくは緊急停止装置等のスイッチングを行うためのリレ
ー401および402に接続されている。
以上説明した酸素濃度分析装置の使用例を第6図により
説明する。
説明する。
酸素センサ素子1はアルミナ製の円板状の支持具2を介
して金属保護管3内に設置される。酸素センサ素子1の
測定ガスの濃度検出部Sは、測定ガスの塵埃を取り除(
ためのフィルタ4を通して測定ガスに接触している。
して金属保護管3内に設置される。酸素センサ素子1の
測定ガスの濃度検出部Sは、測定ガスの塵埃を取り除(
ためのフィルタ4を通して測定ガスに接触している。
金属保護管3は測定ガスと大気との隔壁5、例えば燃焼
炉の煙道の炉壁にフランジ6を介して取り付けられる。
炉の煙道の炉壁にフランジ6を介して取り付けられる。
酸素センサ素子1の電極端子およびヒータ端子の入出力
はリード線7により外部の測定および制御回路(図示せ
ず)に接続されて使用される。
はリード線7により外部の測定および制御回路(図示せ
ず)に接続されて使用される。
実施例2
第2の実施例は、測定ガスの検出部である酸素センサ素
子を校正する酸素濃淡電池のための基準ガス(酸素濃度
)として、酸素センサ素子自体が有する酸素ポンプ部に
より導入した雰囲気を用いる場合の酸素濃度測定方法お
よびその装置である。
子を校正する酸素濃淡電池のための基準ガス(酸素濃度
)として、酸素センサ素子自体が有する酸素ポンプ部に
より導入した雰囲気を用いる場合の酸素濃度測定方法お
よびその装置である。
検出部を構成する酸素センサ素、子の構造について、第
7図を参照して詳細な説明をする。図において、実施例
1に記載した構成と実質的に同じものは同一の符号を付
すものとする。
7図を参照して詳細な説明をする。図において、実施例
1に記載した構成と実質的に同じものは同一の符号を付
すものとする。
第7図に示すように、酸素センサ素子1oは主として、
上から順に校正用の酸素ポンプ部P1、酸素濃淡電池部
B′J3よびバイアス用の酸素ポンプ部P2から構成さ
れる。
上から順に校正用の酸素ポンプ部P1、酸素濃淡電池部
B′J3よびバイアス用の酸素ポンプ部P2から構成さ
れる。
以下に実施例1の酸素センサ素子と異なる点を説明する
。
。
まず、上部の校正用の酸素ポンプ部P1は、固体電解質
体11aと、この固体電解質体11aの上下両側に配さ
れる上側ポンプ電極12aおよび下側ポンプ13aと、
上側ポンプ電極12aの周囲に加熱部旧のヒータエレメ
ント21a と力で形成されている。酸素濃淡電池部B
と酸素ポンプ部P1との間の一端側には、アルミナセメ
ント等の高温気密固着剤の封止層50が介在し、他端側
は、開口を有し、測定ガスと連通している。即ち、測定
室18aは酸素濃淡電池部B、酸素ポンプ部P1と封止
層5oにより形成されている。
体11aと、この固体電解質体11aの上下両側に配さ
れる上側ポンプ電極12aおよび下側ポンプ13aと、
上側ポンプ電極12aの周囲に加熱部旧のヒータエレメ
ント21a と力で形成されている。酸素濃淡電池部B
と酸素ポンプ部P1との間の一端側には、アルミナセメ
ント等の高温気密固着剤の封止層50が介在し、他端側
は、開口を有し、測定ガスと連通している。即ち、測定
室18aは酸素濃淡電池部B、酸素ポンプ部P1と封止
層5oにより形成されている。
下部のバイアス用の酸素ポンプ部P2は校正用の酸素ポ
ンプ部P1と同様に、固体電解質体11b1この両側の
上側ポンプ電極12bおよび下側ポンプ電極13b1な
らびに下側ポンプ電極13bの周囲にヒータエレメント
21bを有する加熱部■2から成る。
ンプ部P1と同様に、固体電解質体11b1この両側の
上側ポンプ電極12bおよび下側ポンプ電極13b1な
らびに下側ポンプ電極13bの周囲にヒータエレメント
21bを有する加熱部■2から成る。
酸素濃淡電池部Bと酸素ポンプ部P2との間の一端側に
は封止層50が介在し、参照ガス室24aが形成されて
いる。
は封止層50が介在し、参照ガス室24aが形成されて
いる。
このように構成された第2の酸素濃度分析装置の測定原
理を以下に説明する。
理を以下に説明する。
検出部の酸素濃淡電池部Bの片側に配されるバイアス用
の酸素ポンプ部P2にバイアス酸素ポンプ電流(1,1
1)を流した場合の、酸素ポンプ部P2から基準側の参
照ガス室24aに注入される酸素濃度差(O2(B))
は、 kl ・Ipn=D −A/ I! ・(O2(9’
−02(s))=D−A/I2・Δ0□”)(1) (ここで、kl:比例定数、Ipa:バイアス酸素ポン
プ電流、D:拡散定数、A:拡散断面積、l:拡散距離
、02(9) :基準参照ガス酸素濃度、0゜(S)測
定ガスの酸素濃度、Δ0□(E):注入される酸素濃度
である) となり、この(1)式から、 0□(9)=0□(S)+Δ02 (B)(2)となり
、見掛は上ΔQ2(B) だけの酸素濃度差が参照ガス
室内に注入されたことになる。したがって、検出部の発
生起電力は、 E、=RT/nFio、((O2(s)+0.(B)1
02(s)) (3)となり、 exp(nF/RT −Eis)=(Oz”’+02
”’)10□(s) >1 (4)を得る。これよ
り、 [1,(S) 、ΔQ、 (B)バexp(nF/RT
−80)−1)= k2・Ipa/(exp(nP/R
T−Es)−1) (5)(ただし、K2・Kl/D
−1!/A)を得る。この演算式(5)に基づいて、
例えばコンピュータ等の演算手段によって、発生起電力
ε、から被測定ガス中の酸素濃度(O□(S))を求め
ることができる。
の酸素ポンプ部P2にバイアス酸素ポンプ電流(1,1
1)を流した場合の、酸素ポンプ部P2から基準側の参
照ガス室24aに注入される酸素濃度差(O2(B))
は、 kl ・Ipn=D −A/ I! ・(O2(9’
−02(s))=D−A/I2・Δ0□”)(1) (ここで、kl:比例定数、Ipa:バイアス酸素ポン
プ電流、D:拡散定数、A:拡散断面積、l:拡散距離
、02(9) :基準参照ガス酸素濃度、0゜(S)測
定ガスの酸素濃度、Δ0□(E):注入される酸素濃度
である) となり、この(1)式から、 0□(9)=0□(S)+Δ02 (B)(2)となり
、見掛は上ΔQ2(B) だけの酸素濃度差が参照ガス
室内に注入されたことになる。したがって、検出部の発
生起電力は、 E、=RT/nFio、((O2(s)+0.(B)1
02(s)) (3)となり、 exp(nF/RT −Eis)=(Oz”’+02
”’)10□(s) >1 (4)を得る。これよ
り、 [1,(S) 、ΔQ、 (B)バexp(nF/RT
−80)−1)= k2・Ipa/(exp(nP/R
T−Es)−1) (5)(ただし、K2・Kl/D
−1!/A)を得る。この演算式(5)に基づいて、
例えばコンピュータ等の演算手段によって、発生起電力
ε、から被測定ガス中の酸素濃度(O□(S))を求め
ることができる。
以上の測定原理を要約すれば、バイアス用の酸素ポンプ
部P2に一定の酸素ポンプ電流IPBを流して、基準側
の参照ガス室24a内を被測定ガスの酸素濃度より予め
既知である一定量だけ濃い酸素濃度差Δ02(B)、即
ち一定の濃度差にして測定することである。即ち、基準
ガスを用いることなく、測定ガスの正確な測定が行なえ
る。
部P2に一定の酸素ポンプ電流IPBを流して、基準側
の参照ガス室24a内を被測定ガスの酸素濃度より予め
既知である一定量だけ濃い酸素濃度差Δ02(B)、即
ち一定の濃度差にして測定することである。即ち、基準
ガスを用いることなく、測定ガスの正確な測定が行なえ
る。
次に上記測定原理に基づく酸素センサ素子IOの検出回
路について第8図のブロック図を参照して説明する。
路について第8図のブロック図を参照して説明する。
校正用の酸素ポンプ部P1の上側ポンプ電極12aは(
図中においてaで示す)、酸素ポンプ電流発生源31a
の出力端に接続され、下側ポンプ電極13aは接地され
ている。酸素ポンプ電流発生源31aの入力端には制御
装置32の出力端が接続されている。この制御装置32
は記憶装置33を内蔵しており、この記憶装置33に入
力されたデータに基づいて制御装置32は、酸素ポンプ
電流発生源31aの出力電流を所定値に制御する。同様
にして、バイアス用の酸素ポンプ部P2の下側電極13
bに、酸素ポンプ電流発生源31bの出力端が接続され
、上側電極12bは接地されている。この酸素ポンプ電
流発生源31bの入力端も制御装置32の出力端に接続
されている(図中において記号eによって接続されてい
る)。さらに制御装置32には外部入力装置34が接続
されて、酸素センサ素子10の校正に必要なデータその
他が人力し得るようになっている。
図中においてaで示す)、酸素ポンプ電流発生源31a
の出力端に接続され、下側ポンプ電極13aは接地され
ている。酸素ポンプ電流発生源31aの入力端には制御
装置32の出力端が接続されている。この制御装置32
は記憶装置33を内蔵しており、この記憶装置33に入
力されたデータに基づいて制御装置32は、酸素ポンプ
電流発生源31aの出力電流を所定値に制御する。同様
にして、バイアス用の酸素ポンプ部P2の下側電極13
bに、酸素ポンプ電流発生源31bの出力端が接続され
、上側電極12bは接地されている。この酸素ポンプ電
流発生源31bの入力端も制御装置32の出力端に接続
されている(図中において記号eによって接続されてい
る)。さらに制御装置32には外部入力装置34が接続
されて、酸素センサ素子10の校正に必要なデータその
他が人力し得るようになっている。
酸素濃淡電池部Bの基準電極17(図中において記号す
で示す)は、デジタルフィルタ51を経て温度補正回路
520入力端に接続される。この回路にて酸素センサ素
子10の温度変化に伴う酸素濃度の見掛は上の温度変化
に対応するように、熱電対Tの出力をデジタルフィルタ
55、温度リニアライザ56、絶対温度変換器53を介
し得られた絶対温度Tkに関する信号を温度補正回路5
2の他の人力に供給し、そこで酸素濃淡電池の発生起電
力に1000/Tkを掛けて温度補正が行われる。
で示す)は、デジタルフィルタ51を経て温度補正回路
520入力端に接続される。この回路にて酸素センサ素
子10の温度変化に伴う酸素濃度の見掛は上の温度変化
に対応するように、熱電対Tの出力をデジタルフィルタ
55、温度リニアライザ56、絶対温度変換器53を介
し得られた絶対温度Tkに関する信号を温度補正回路5
2の他の人力に供給し、そこで酸素濃淡電池の発生起電
力に1000/Tkを掛けて温度補正が行われる。
温度補正回路52の出力端は校正回路36の入力端に接
続される。校正回路36では、測定ガスに対応する発生
起電力が、基準の起電力に換算される。
続される。校正回路36では、測定ガスに対応する発生
起電力が、基準の起電力に換算される。
校正回路36の出力端は、開対数変換回路37および酸
素濃度変換器54および出力変換器39を経て、レンジ
変換され、所定の値に変換された後、表示部等の出力手
段に供給される。
素濃度変換器54および出力変換器39を経て、レンジ
変換され、所定の値に変換された後、表示部等の出力手
段に供給される。
温度検知部に、例えば熱電対Tを使用した場合には、非
直線性の温度−電圧特性を直線性の温度−電圧特性に変
えるため、デジタルフィルタ55を経て温度リニアライ
ザ56に接続し、そこで折れ線補間補正をする。温度リ
ニアライブ56の出力端は、上述したように絶対温度変
換器53の入力端に接続されるほかに、温度設定回路5
7が接続される減算器58を経て、温度制御演算器59
の入力端にも接続される。まず温度設定回路57では、
温度上昇にともなって設定電圧を上昇するソフトスター
トを具備し、所望の温度にて一定の温度設定値を出力し
、この出力電圧は、温度リニアライブ56からの出力電
圧から減算器58において減算される。温度制御演算器
59では、例えば常温から約1400℃程度までの温度
範囲に対し、酸素ポンプ部P1 およびP2ならびに
酸素濃淡電池部Bの動作温度(例えば約600℃)以下
の場合には、これら部分が所定の温度に保たれるように
、演算し、後段に接続された出力変換器60を経てヒー
タ部旧および112に所定の電流を出力する。
直線性の温度−電圧特性を直線性の温度−電圧特性に変
えるため、デジタルフィルタ55を経て温度リニアライ
ザ56に接続し、そこで折れ線補間補正をする。温度リ
ニアライブ56の出力端は、上述したように絶対温度変
換器53の入力端に接続されるほかに、温度設定回路5
7が接続される減算器58を経て、温度制御演算器59
の入力端にも接続される。まず温度設定回路57では、
温度上昇にともなって設定電圧を上昇するソフトスター
トを具備し、所望の温度にて一定の温度設定値を出力し
、この出力電圧は、温度リニアライブ56からの出力電
圧から減算器58において減算される。温度制御演算器
59では、例えば常温から約1400℃程度までの温度
範囲に対し、酸素ポンプ部P1 およびP2ならびに
酸素濃淡電池部Bの動作温度(例えば約600℃)以下
の場合には、これら部分が所定の温度に保たれるように
、演算し、後段に接続された出力変換器60を経てヒー
タ部旧および112に所定の電流を出力する。
また上記の酸素ポンプ部Pi、 P2、および酸素濃淡
電池部Bが被測定ガスにより動作範囲以上となった場合
には、加熱部旧、 H2は加熱し続けてもよいし、或い
は温度リニアライザ56からの電圧が所定値以上となっ
た際に温度制御演算器59内のスイッチにてヒータ電流
を遮断することもできる。いずれの場合においても、温
度検知は行っており、常に温度補正の演算をしているた
め、温度に無関係に常に正確な酸素濃度を測定すること
ができるという利点がある。
電池部Bが被測定ガスにより動作範囲以上となった場合
には、加熱部旧、 H2は加熱し続けてもよいし、或い
は温度リニアライザ56からの電圧が所定値以上となっ
た際に温度制御演算器59内のスイッチにてヒータ電流
を遮断することもできる。いずれの場合においても、温
度検知は行っており、常に温度補正の演算をしているた
め、温度に無関係に常に正確な酸素濃度を測定すること
ができるという利点がある。
次に本発明による校正を行う場合の操作について説明す
る。
る。
前記第1の実施例とは、第2の酸素ポンプ部P2を具え
、バイアス酸素ポンプ電流が流す点が異なる。
、バイアス酸素ポンプ電流が流す点が異なる。
まず、バイアス用の酸素ポンプ部P2のポンプバイアス
電流IP!1を、前述した式(1)に基づいて測定すべ
き温度領域により予め定める。
電流IP!1を、前述した式(1)に基づいて測定すべ
き温度領域により予め定める。
次に、バイアス電流IPBをバイアス用の酸素ポンブ部
P2に流しながら、実施例1で説明した校正操作の(A
)〜(C)を行えば良い。
P2に流しながら、実施例1で説明した校正操作の(A
)〜(C)を行えば良い。
第9図は、第8図のブロック図を具体的に示すハード図
である。これも実施例1の具体例として第3図に示した
ハード構成図と類似する回路であるため、同一の部分に
は同一の符号を付して示す。
である。これも実施例1の具体例として第3図に示した
ハード構成図と類似する回路であるため、同一の部分に
は同一の符号を付して示す。
ここで異なる点は並列の入出力ポート364に入力装置
62が接続されている点、複数の並列の入出力ポート3
65〜369が CPt1362 (7)主ハスニ[1
れて、夫々から出力信号が出力されている点である。こ
のような回路はマルチチップCPUを用いてもあるいは
シングルチップを用いてもどちらでも可能である。
62が接続されている点、複数の並列の入出力ポート3
65〜369が CPt1362 (7)主ハスニ[1
れて、夫々から出力信号が出力されている点である。こ
のような回路はマルチチップCPUを用いてもあるいは
シングルチップを用いてもどちらでも可能である。
以上説明した第2の実施例の酸素濃度分析装置では第1
0図に示すように、検出部としての酸素センサ素子10
が、その開放側0が被測定ガスに曝されるように、金属
保護管3にその密閉側Cで、例えばアルミナセメント等
の高温絶縁固着剤にて固着されている。この金属保護管
3の内部には酸素センサ素子10からのリード線7を絶
縁状態で導くように、例えば10大のアルミナパイプ8
が挿入されており、夫々の穴に各電極若しくはヒータ線
からのリード線7が挿通されている。金属保護管3の基
部側は、例えば燃焼炉の煙道の炉壁に形成された開口を
経て、取り付はフランジ6.6′に取り付けられている
。取り付け7ランジ6.6′はパツキン127を介して
相互に取り付けられて、炉壁に固定されている。これら
フランジ6.6′には口金9が挿入されている。また取
り付はフランジ6.6′と金属保護管3との間の間隙は
水ガラス等によって封じられる。さらに口金9の内部に
はシリコンパツキン等によって離間配置された外側の電
極端子61が設けられており、これら電極端子61に、
酸素センサ素子10からのアルミナバイブ8を通過した
リード線7が圧着端子を介して接続されて、外部装置(
図示しない)と接続される。
0図に示すように、検出部としての酸素センサ素子10
が、その開放側0が被測定ガスに曝されるように、金属
保護管3にその密閉側Cで、例えばアルミナセメント等
の高温絶縁固着剤にて固着されている。この金属保護管
3の内部には酸素センサ素子10からのリード線7を絶
縁状態で導くように、例えば10大のアルミナパイプ8
が挿入されており、夫々の穴に各電極若しくはヒータ線
からのリード線7が挿通されている。金属保護管3の基
部側は、例えば燃焼炉の煙道の炉壁に形成された開口を
経て、取り付はフランジ6.6′に取り付けられている
。取り付け7ランジ6.6′はパツキン127を介して
相互に取り付けられて、炉壁に固定されている。これら
フランジ6.6′には口金9が挿入されている。また取
り付はフランジ6.6′と金属保護管3との間の間隙は
水ガラス等によって封じられる。さらに口金9の内部に
はシリコンパツキン等によって離間配置された外側の電
極端子61が設けられており、これら電極端子61に、
酸素センサ素子10からのアルミナバイブ8を通過した
リード線7が圧着端子を介して接続されて、外部装置(
図示しない)と接続される。
さらに現場使用時における校正として、使用中、定期的
に検出部を内気エアに晒して、校正用の酸素ポンプ部P
2にポンプ電流を流し、それに対応して発生する起電力
を検量して、検出部のドリフト変化量を補正するのが好
ましい。この補正は校正回路36にて処理される。
に検出部を内気エアに晒して、校正用の酸素ポンプ部P
2にポンプ電流を流し、それに対応して発生する起電力
を検量して、検出部のドリフト変化量を補正するのが好
ましい。この補正は校正回路36にて処理される。
このようにすることによって、現場使用時に酸素ポンプ
部P1にて校正することが可能となるほかに、バイアス
用の酸素ポンプ部P2により、基準参照ガスを用いずに
すむため、まず検出部においては空気通路を省略できる
ことから検出部を完全に密閉化することができ、外部か
らの水分の侵入を気にする必要がなく、屋外での使用が
可能となる。
部P1にて校正することが可能となるほかに、バイアス
用の酸素ポンプ部P2により、基準参照ガスを用いずに
すむため、まず検出部においては空気通路を省略できる
ことから検出部を完全に密閉化することができ、外部か
らの水分の侵入を気にする必要がなく、屋外での使用が
可能となる。
(発明の効果)
以上の説明から明らかなように、本発明による酸素濃度
分析方法およびその装置は、次の効果を有する。
分析方法およびその装置は、次の効果を有する。
(1)酸素センサ素子あるいは検出部の校正が大気を使
用できるので、測定現場で容易に実施できる。
用できるので、測定現場で容易に実施できる。
(2)校正用の酸素ポンプ部によって校正用の酸素濃度
が得られるので特別な校正ガスを準備しなくてもよい。
が得られるので特別な校正ガスを準備しなくてもよい。
(3)校正ガス用の導管が不要となり装置を小型にする
ことができる。
ことができる。
(4)酸素センサ素子の基準発生起電力変化の履歴が容
易に得られるので、酸素濃度分析装置の寿命を知ること
ができる。
易に得られるので、酸素濃度分析装置の寿命を知ること
ができる。
したがって、本発明の方法および装置は産業上利用可能
性が極めて大である。
性が極めて大である。
第1図は、本発明の一実施例の酸素センサ素子の断面図
、 第2図は第1図の酸素センサ素子に接続される検出部の
ブロック図、 第3図は第2図のハード構成図、 第4図は検出部の酸素センサ素子の検定方法を説明する
ための模式図、 第5図は検出部の校正方法を説明するための模式図、 第6図は本発明の装置の一実施例の断面図、第7図は本
発明の一実施例の酸素センサ素子の断面図、 第8図は第7図の酸素センサ素子に接続される検出部の
ブロック図、 第9図は第8図のハード構成図、 第10図は本発明の装置の一実施例の断面図である。 S・・・検出部 B・・・酸素濃淡電池部P
、 PI、 P2・・・酸素ポンプ部11、 Hl、
H2・・・ヒータ部 0□、0□(B)、Δ0□(B)・・・酸素濃度6゜・
・・基準発生起電力 Es、 V、・・・発生起電力 Ipct IPB・・・酸素ポンプ電流1、10・・・
酸素センサ素子 18、18a・・・測定室 24、24a・・・参照ガス室
、 第2図は第1図の酸素センサ素子に接続される検出部の
ブロック図、 第3図は第2図のハード構成図、 第4図は検出部の酸素センサ素子の検定方法を説明する
ための模式図、 第5図は検出部の校正方法を説明するための模式図、 第6図は本発明の装置の一実施例の断面図、第7図は本
発明の一実施例の酸素センサ素子の断面図、 第8図は第7図の酸素センサ素子に接続される検出部の
ブロック図、 第9図は第8図のハード構成図、 第10図は本発明の装置の一実施例の断面図である。 S・・・検出部 B・・・酸素濃淡電池部P
、 PI、 P2・・・酸素ポンプ部11、 Hl、
H2・・・ヒータ部 0□、0□(B)、Δ0□(B)・・・酸素濃度6゜・
・・基準発生起電力 Es、 V、・・・発生起電力 Ipct IPB・・・酸素ポンプ電流1、10・・・
酸素センサ素子 18、18a・・・測定室 24、24a・・・参照ガス室
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、固体電解質を用いた酸素濃淡電池方式による酸素濃
度分析方法において、酸素センサ素子の酸素ポンプ部に
ポンプ電流を流し、酸素センサ素子の酸素濃淡電池の被
測定ガス電極上を校正ガスと同等の酸素濃度の雰囲気に
して、校正を行うことを特徴とする酸素濃度分析方法。 2、酸素ポンプ部と、大気を基準参照ガスとする基準電
極を有する酸素濃淡電池とを具えた酸素センサ素子を用
いた酸素濃淡電池方式による酸素濃度分析方法において
、 (1)酸素センサ素子の検出部に所定の酸素濃度(O_
2)の校正ガスを供給し、酸素濃淡電池の基準発生起電
力(E_0)を測定して前記酸素濃度と基準発生起電力
との関係を 求め、 (2)ついで、酸素センサ素子を大気中におき、前記基
準発生起電力(E_0)が生じるまで酸素センサ素子の
酸素ポンプ部に電流 (I_P_C)を流してポンプ電流(I_P_C)と基
準発生起電力(E_0)との関係を求め、 (3)ついで、測定ガスの酸素濃度を測定する際酸素セ
ンサ素子を大気中におき、酸 素ポンプ部に所定のポンプ電流(I_P_C)を流すこ
とにより酸素濃淡電池の被測定ガ ス電極上を前記校正ガスと同等の酸素濃 度雰囲気とし、その際酸素濃淡電池に発 生する起電力(V_S)を求め、ポンプ電流(I_P_
C)と起電力(V_S)との関係を求めた後、前記(2
)で求めた電流−基準発生起電力の関係より起電力(V
_S)と基準発生起電力(E_0)との関係を求めて酸
素センサ素子の校正を行い、 (4)ついで、、酸素センサ素子を被測定ガス中におき
、酸素濃淡電池に発生する起電 力(V_m)を測定し、起電力(V_m)を前記(3)
で行った校正を介して、 前記(1)の基準発生起電力(E_0)と酸素濃度(O
_2)との関係により被測定ガスの酸素濃度を測定する
ことを特徴とする酸素濃度分析方法。 3、2つの酸素ポンプ部と酸素濃淡電池とを具えた酸素
センサ素子を用い、一方の酸素ポンプ部に所定のポンプ
電流を流して酸素濃淡電池の参照ガスとする酸素濃淡電
池方式による酸素濃度分析方法において、 (1)酸素センサ素子の検出部に所定の酸素濃度(O_
2)の校正ガスを供給し酸素濃淡電池の基準発生起電力
(E_0)を測定して酸素濃度(O_2)と基準発生起
電力(E_0)との関係を求め、 (2)ついで、酸素センサ素子を大気中におき、前記基
準発生起電力(E_0)が生じるまで他方の酸素ポンプ
部にポンプ電流(I_P_C)を流してポンプ電流(I
_P_C)と基準発生起電力(E_0)との関係を求め
、 (3)ついで、測定ガスの酸素濃度を測定する際酸素セ
ンサ素子を大気中におき、酸 素センサ素子の前記他方の酸素ポンプ部 にポンプ電流(I_P_C)を流して、酸素濃淡電池の
被測定ガス電極上を前記校正ガス と同等の酸素濃度とし、その際酸素濃淡 電池に発生する起電力(V_S)を求め、ポンプ電流(
I_P_C)と起電力(V_S)との関係を求めた後、
前記(2)の関係により起電力(V_S)と基準発生起
電力(E_0)との関係を求めて酸素センサ素子の校正
を行い、 (4)ついで、酸素センサ素子を被測定ガス中におき、
酸素濃淡電池に発生する起電 力(V_m)を測定し、起電力(V_m)を前記(3)
の起電力(V_S)と基準発生起電力(E_0)との関
係による校正を介して、前記(1)の酸素濃度(O_2
)と基準発生起電力(E_0)との関係により被測定ガ
スの酸素濃度を測定 することを特徴とする酸素濃度分析方法。 4、固体電解質を用い酸素濃淡電池方式による酸素濃度
分析装置において、 (イ)大気に連通する参照ガス室と被測定ガスに連通す
る測定室とを有し、該参照ガス 室側に参照電極と該測定室側に測定電極と を有する酸素濃淡電池と前記測定電極に対 向し前記測定室側と測定ガス側とに電極を 有する酸素ポンプ部とを備えた酸素センサ 素子と、 (ロ)校正ガスの酸素濃度(O_2)に対応する基準発
生起電力(E_0)の関係と、基準発生起電力(E_0
)に対応するポンプ電流(I_P_C)の関係とを記憶
する記憶回路と、 (ハ)測定ガスの酸素濃度を測定する際酸素ポンプ部に
流れるポンプ電流(I_P_C)に対応する酸素濃淡電
池の起電力(V_S)の関係が入力された場合に、前記
記憶回路に記憶され たポンプ電流(I_P_C)と基準発生起電力(E_0
)との関係を参照して基準発生起電力(E_0)と起電
力(V_S)との関係を演算し、かつ被測定ガスにより
発生する測定起電力(V_m)から基準発生起電力(E
_0)と起電力(V_S)との関係を参照して測定起電
力(V_m)に対応する酸素濃度(O_2)を演算する
校正回路 とを備えていることを特徴とする酸素濃度分析装置。 5、固体電解質を用い酸素濃淡電池方式による酸素濃度
分析装置において、 (イ)第1の酸素ポンプ部と、酸素濃淡電池と、第2の
酸素ポンプ部とを備え、第1の 酸素ポンプ部および酸素濃淡電池の間に被 測定ガスと連通する参照ガス室が形成され、酸素濃淡電
池および第2の酸素ポンプ部の 間に被測定ガス空間と連通する測定室が形 成され、前記第1の酸素ポンプ部はポンプ 作用により参照ガス室に参照ガスとしての 被測定ガスを導入するとともに、前記第2 の酸素ポンプ部はポンプ作用により測定室 に被測定ガスを導入して参照ガス室および 測定室の間に所定の酸素濃度差を与え、こ の酸素濃度差により酸素濃淡電池の参照ガ ス室側に設けられた基準電極と測定室側に 設けられた測定電極との間に起電力を発生 させる酸素センサ素子と、 (ロ)前記第1の酸素ポンプ部に接続された酸素ポンプ
電流発生源と、 (ハ)校正ガスの酸素濃度(O_2)に対応する基準発
生起電力(E_0)の関係と基準発生起電力(E_0)
に対応する第2の酸素ポンプ部のポンプ電流(I_P_
C)の関係とを記憶する記憶回路と、 (ニ)測定ガスの酸素濃度を測定する際第2の酸素ポン
プ部に流れるポンプ電流(I_P_C)に対応する酸素
濃淡電池の起電力(V_S)の関係が入力され、この関
係から前記記憶回路 に記憶されたポンプ電流(I_P_C)と基準発生起電
力(E_0)との関係を参照して、基準発生起電力(E
_0)と起電力(V_S)との関係を演算し、かつ被測
定ガスにより発生する測定起 電力(V_m)を基準発生起電力(E_0)と起電力(
V_S)との関係を参照して測定起電力(V_m)に対
応する酸素濃度(O_2)を演算する校正回路 とを備えていることを特徴とする酸素濃度分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63030626A JPH0812174B2 (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 酸素濃度分析方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63030626A JPH0812174B2 (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 酸素濃度分析方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01206255A true JPH01206255A (ja) | 1989-08-18 |
| JPH0812174B2 JPH0812174B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=12309060
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63030626A Expired - Fee Related JPH0812174B2 (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | 酸素濃度分析方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812174B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5804699A (en) * | 1995-06-07 | 1998-09-08 | Nippondenso Co., Ltd. | Air-fuel ratio sensor unit |
| JP2006017695A (ja) * | 2004-05-31 | 2006-01-19 | Yokogawa Electric Corp | 校正方法およびこれを利用したジルコニア式酸素濃度計 |
| JP2009042165A (ja) * | 2007-08-10 | 2009-02-26 | Energy Support Corp | ガス分析装置 |
| CN110161104A (zh) * | 2018-02-13 | 2019-08-23 | 日本碍子株式会社 | 特定气体浓度测定装置以及特定气体浓度测定系统 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6363964A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Nissan Motor Co Ltd | 空燃比検出装置 |
-
1988
- 1988-02-12 JP JP63030626A patent/JPH0812174B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6363964A (ja) * | 1986-09-04 | 1988-03-22 | Nissan Motor Co Ltd | 空燃比検出装置 |
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| US5804699A (en) * | 1995-06-07 | 1998-09-08 | Nippondenso Co., Ltd. | Air-fuel ratio sensor unit |
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| CN110161104A (zh) * | 2018-02-13 | 2019-08-23 | 日本碍子株式会社 | 特定气体浓度测定装置以及特定气体浓度测定系统 |
| CN110161104B (zh) * | 2018-02-13 | 2023-04-28 | 日本碍子株式会社 | 特定气体浓度测定装置以及特定气体浓度测定系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0812174B2 (ja) | 1996-02-07 |
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