JPH01207608A - ディスク表面形状測定装置 - Google Patents
ディスク表面形状測定装置Info
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- JPH01207608A JPH01207608A JP3227588A JP3227588A JPH01207608A JP H01207608 A JPH01207608 A JP H01207608A JP 3227588 A JP3227588 A JP 3227588A JP 3227588 A JP3227588 A JP 3227588A JP H01207608 A JPH01207608 A JP H01207608A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- displacement sensor
- surface shape
- output
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- Pending
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 18
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は光ディスクや磁気ディスク等のディスクの表面
粗さやうねり等の測定を打なうための7デイスク表面形
状測定装置に関するものである。
粗さやうねり等の測定を打なうための7デイスク表面形
状測定装置に関するものである。
【従来の技術1
この種の表面形状測定装置としては、ディスク表面に針
を接触させることで行なう触針式表面粗さ計が一般に用
いられている。 (発明が解決しようとする課題] この場合、接触測定であるために、被測定物によっては
表面破壊を伴なうことがある上に、ライン測定であるこ
とから、面測定を行なうには、1回の測定が終了した時
点で被測定物の位置をずらして更に測定を行なうという
作業を複数回行なわなくてはならず、トータルとしての
測定時間が非常に扱くなるといろ問題を有している。 本発明はこのような点に鑑み為されたものであり、その
l的とするところは非接触式で表面形状の測定を行なえ
る上に、ラインとしてではなく、面としての測定を行な
うことができると同時に測定結果をリアルタイムに得る
ことができるディスク・表面形状情報装、raを提供す
るにある。 [a題を解決するための手段] しかして本発明に係るディスク表面形状測定装置は、往
復移動と回転とを行なうテーブルを二セット備えるとと
もに、表面形状を高さ方向の変化としてとらえる非接触
式変位センサが配された被測定物としてのディスク配置
用の一方のテーブルと、上記変位センサの出力によって
駆動される描画装置で表面形状情報が!!込まれる描画
用紙が置かれる他方のテーブルとを同期駆動する駆動装
置を備九でいることに特徴を有している。 [作用1 本発明によれば、被測定物としてのディスクが置かれた
テーブルが、移動と回転とを行なうために、変位センサ
がディスク表面全面を非接触式で測定できるものであり
、そしてこの測定結果は、上記テーブルと同じ動きを行
なう他のテーブル上の描画用紙上にリアルタイムに出力
されるものである。 【実施例1 以下本発明を図示の実施例に基づいて詳述すると、矩形
状に組まれた枠5内には、この枠5に対してスライド自
在なスライダー6が配されているとともに、送りねじ8
が枠5の両端間に架設されて配設されている。この送り
ねじ8は、枠5に取り付けられたパルスモータフによっ
て回転駆動されるもので、上記スライダー6と螺合して
おり、従って送りねじ8の正逆回転に伴ない、スライダ
ー6は往復移動を行なう、テーブル2は上記スライダー
6に固定された可動台1上に配設されるもので、可動台
1に配したパルスモータ9によって回転駆動される。 本発明では、上記テーブル2をニセット用いて、被測定
物であるディスク10が置かれる一方のテーブル2上に
は、非接触式変位センサ4を配置する。変位センサ4と
しては、ディスク10の表面形状を高さ方向の変化とし
て非接触でとらえるものであればよく、たとえばレーザ
変位計やうず電流横変位センサ等を用いることができる
。尚、この変位センサ4は、動かないように固定されて
いる。 そして他方のテーブル2上には、上記変位センサ4の増
幅n11を介した出力で制御される描画装W113によ
り、測定結果、つまりディスク10の表面形状情報が書
き込まれる描画用紙14が置かれる8図中12は駆動装
置である。 ここにおける上記二セットのテーブル2.2は、その移
動と回転とがパルスモータ7.9によって夫々行なわれ
るわけであるが、これら総計4個のパルスモータ7.9
は、パルスジェネレータ15の出力で制御され、パルス
モータ7.7回士及びパルスモータ9,9回士が夫々同
期回転するように、すなわち、両テーブル2,2が全く
同じ動きを行なうようにされている。 しかして一方のテーブル2上にディスク10を置き、他
方のテーブル2上に描画用紙14を置いた状態で、各パ
ルスモータ7.7,9.9を駆動する。この時、ディス
ク10の半径分をテーブル2゜2が移動する間に、テー
ブル2.2が数回転するようにしておく。 このようにテーブル2.2を動かしながら測定を行なえ
ば、変位センサ4によるところのディスク10の表面形
状の測定結果を、描画装置13が描画用紙14上にリア
ルタイムで書き込んでゆくものであり、また上記測定は
ディスク10の表面全面を渦巻き状に測定し、描画装置
11も@2図に示すように、描画用紙14上に表面形状
情報を渦巻き状にvIき込んでゆくものである。尚、デ
ィスク10の高さ方向の変化は、描画用紙14上におい
て、直径方向の変化として現われるようにしておく、ま
た高さ方向の変化を直径方向の変化とする際の倍率は、
自由に変えることができるようにしておく。 パルスモータ9,9の駆動でテーブル2.2に回転のみ
を行なわせ、そしてテーブル2,2が一回転した時点で
パルスモータ7.7を少し回転させてテーブル2,2を
移動させるとい)ことを繰り返して、第3図に示すよう
に、ディスク10表面を同心円状に測定し且つ測定結果
を描画用紙14上に同心円状に1!き込むようにしても
よい。 【発明の効果】 以上のように本発明においては、非接触式変位センサを
用いることから、被測定物であるディスクの表面破壊が
生じない上に、ディスクに移動と回転とを行なわせるた
めに、1回の測定動作でディスフの表面全面を測定する
ことができるものであり、しかもこの測定結果は、ディ
スクが置かれるテーブルと同期して動く他のテーブル上
に置かれた描画用紙上に、リアルタイムに書き込まれる
ものであって、ディスクの表面形状を測定者が迅速に把
握することができるものである。
を接触させることで行なう触針式表面粗さ計が一般に用
いられている。 (発明が解決しようとする課題] この場合、接触測定であるために、被測定物によっては
表面破壊を伴なうことがある上に、ライン測定であるこ
とから、面測定を行なうには、1回の測定が終了した時
点で被測定物の位置をずらして更に測定を行なうという
作業を複数回行なわなくてはならず、トータルとしての
測定時間が非常に扱くなるといろ問題を有している。 本発明はこのような点に鑑み為されたものであり、その
l的とするところは非接触式で表面形状の測定を行なえ
る上に、ラインとしてではなく、面としての測定を行な
うことができると同時に測定結果をリアルタイムに得る
ことができるディスク・表面形状情報装、raを提供す
るにある。 [a題を解決するための手段] しかして本発明に係るディスク表面形状測定装置は、往
復移動と回転とを行なうテーブルを二セット備えるとと
もに、表面形状を高さ方向の変化としてとらえる非接触
式変位センサが配された被測定物としてのディスク配置
用の一方のテーブルと、上記変位センサの出力によって
駆動される描画装置で表面形状情報が!!込まれる描画
用紙が置かれる他方のテーブルとを同期駆動する駆動装
置を備九でいることに特徴を有している。 [作用1 本発明によれば、被測定物としてのディスクが置かれた
テーブルが、移動と回転とを行なうために、変位センサ
がディスク表面全面を非接触式で測定できるものであり
、そしてこの測定結果は、上記テーブルと同じ動きを行
なう他のテーブル上の描画用紙上にリアルタイムに出力
されるものである。 【実施例1 以下本発明を図示の実施例に基づいて詳述すると、矩形
状に組まれた枠5内には、この枠5に対してスライド自
在なスライダー6が配されているとともに、送りねじ8
が枠5の両端間に架設されて配設されている。この送り
ねじ8は、枠5に取り付けられたパルスモータフによっ
て回転駆動されるもので、上記スライダー6と螺合して
おり、従って送りねじ8の正逆回転に伴ない、スライダ
ー6は往復移動を行なう、テーブル2は上記スライダー
6に固定された可動台1上に配設されるもので、可動台
1に配したパルスモータ9によって回転駆動される。 本発明では、上記テーブル2をニセット用いて、被測定
物であるディスク10が置かれる一方のテーブル2上に
は、非接触式変位センサ4を配置する。変位センサ4と
しては、ディスク10の表面形状を高さ方向の変化とし
て非接触でとらえるものであればよく、たとえばレーザ
変位計やうず電流横変位センサ等を用いることができる
。尚、この変位センサ4は、動かないように固定されて
いる。 そして他方のテーブル2上には、上記変位センサ4の増
幅n11を介した出力で制御される描画装W113によ
り、測定結果、つまりディスク10の表面形状情報が書
き込まれる描画用紙14が置かれる8図中12は駆動装
置である。 ここにおける上記二セットのテーブル2.2は、その移
動と回転とがパルスモータ7.9によって夫々行なわれ
るわけであるが、これら総計4個のパルスモータ7.9
は、パルスジェネレータ15の出力で制御され、パルス
モータ7.7回士及びパルスモータ9,9回士が夫々同
期回転するように、すなわち、両テーブル2,2が全く
同じ動きを行なうようにされている。 しかして一方のテーブル2上にディスク10を置き、他
方のテーブル2上に描画用紙14を置いた状態で、各パ
ルスモータ7.7,9.9を駆動する。この時、ディス
ク10の半径分をテーブル2゜2が移動する間に、テー
ブル2.2が数回転するようにしておく。 このようにテーブル2.2を動かしながら測定を行なえ
ば、変位センサ4によるところのディスク10の表面形
状の測定結果を、描画装置13が描画用紙14上にリア
ルタイムで書き込んでゆくものであり、また上記測定は
ディスク10の表面全面を渦巻き状に測定し、描画装置
11も@2図に示すように、描画用紙14上に表面形状
情報を渦巻き状にvIき込んでゆくものである。尚、デ
ィスク10の高さ方向の変化は、描画用紙14上におい
て、直径方向の変化として現われるようにしておく、ま
た高さ方向の変化を直径方向の変化とする際の倍率は、
自由に変えることができるようにしておく。 パルスモータ9,9の駆動でテーブル2.2に回転のみ
を行なわせ、そしてテーブル2,2が一回転した時点で
パルスモータ7.7を少し回転させてテーブル2,2を
移動させるとい)ことを繰り返して、第3図に示すよう
に、ディスク10表面を同心円状に測定し且つ測定結果
を描画用紙14上に同心円状に1!き込むようにしても
よい。 【発明の効果】 以上のように本発明においては、非接触式変位センサを
用いることから、被測定物であるディスクの表面破壊が
生じない上に、ディスクに移動と回転とを行なわせるた
めに、1回の測定動作でディスフの表面全面を測定する
ことができるものであり、しかもこの測定結果は、ディ
スクが置かれるテーブルと同期して動く他のテーブル上
に置かれた描画用紙上に、リアルタイムに書き込まれる
ものであって、ディスクの表面形状を測定者が迅速に把
握することができるものである。
第1図は本発明一実施例の概略斜視図、第2図及び第3
図は夫々測定結果の出力例を示す正面図であって、2は
テーブル、4は変位センサ、7゜9はパルスモータ、1
0はディスク、13は描画装置、14は描画用紙、15
はパルスジヱネレータを示す。 代理人 弁理士 石 1)艮 七 泣2図 口3J
図は夫々測定結果の出力例を示す正面図であって、2は
テーブル、4は変位センサ、7゜9はパルスモータ、1
0はディスク、13は描画装置、14は描画用紙、15
はパルスジヱネレータを示す。 代理人 弁理士 石 1)艮 七 泣2図 口3J
Claims (1)
- (1)往復移動と回転とを行なうテーブルを二セット備
えるとともに、表面形状を高さ方向の変化としてとらえ
る非接触式変位センサが配された被測定物としてのディ
スク配置用の一方のテーブルと、上記変位センサの出力
によって駆動される描画装置で表面形状情報が書き込ま
れる描画用紙が置かれる他方のテーブルとを同期駆動す
る駆動装置を備えているディスク表面形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3227588A JPH01207608A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | ディスク表面形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3227588A JPH01207608A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | ディスク表面形状測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01207608A true JPH01207608A (ja) | 1989-08-21 |
Family
ID=12354430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3227588A Pending JPH01207608A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | ディスク表面形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01207608A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5369490A (en) * | 1992-05-29 | 1994-11-29 | Nikon Corporation | Contour measuring apparatus |
-
1988
- 1988-02-15 JP JP3227588A patent/JPH01207608A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5369490A (en) * | 1992-05-29 | 1994-11-29 | Nikon Corporation | Contour measuring apparatus |
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