JPH01207671A - 印刷配線板の導通検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 印刷配線板の導通検査を行なうための装置に関し、 印刷配線板の導通検査のための配線構造を簡素化するこ
とができ、検出ピッチ間隔を狭めて導通検査精度を高め
ることができ、しかも、室内等の通常環境内で容易に検
査を行なうことができる印刷配線板の導通検査装置を提
供することを目的とし、 電圧の印加によってその電圧印加箇所が光学的変化を起
こす液晶セル等の電気光学的表示セルと、電気光学的表
示セルの一側に配設された共通の透明電極と、電気光学
的表示セルの他側に配設されて印刷配線板の導体パター
ン形成面に直接又は感圧導電シートを介して間接的に押
し当てられる絶縁基板と、絶縁基板を貫通する多数の互
いに独立した測定電極と、一端が透明電極に接続され他
端が印刷配線板に接続される電圧印加装置とを備え、絶
縁基板を印刷配線板の導体パターン形成面に直接又は間
接的に押し当てたときに導体パターンに対応する箇所の
測定電極が導体パターンと導通することにより、電圧印
加回路に電気的に接続された導体パターンに対応する箇
所の測定電極と共通の透明電極との間に電圧が印加され
るように構成する。

（産業上の利用分野〕 本発明は印刷配線板の導通検査装置に関し、更に詳しく
は、電圧の印加によってその電圧印加箇所が光学的変化
を起こす液晶セル、エレクトロクロミック・セル、エレ
クトロルミネセンス・セル、放電管セル等の電気光学的
表示セルを利用して印刷配線板の導通検査を行なう装置
に関する。

近年、電子機器の高機能化及び小型軽量化の要請、或い
は、電子部品の小型化、リードレス化、高密度集積化等
による接続リードの高密度化等に伴い、印刷配線板の高
密度配線及び多層化が急速に進み、その付加価値が非常
に高くなっている。

したがって、印刷配線板の導通検査にも印刷配線板の高
密度配線及び多層化に対応できる検査装置が必要となっ
ている。

（従来技術及び発明が解決しようとする課題）従来、印
刷配線板の配線パターンの導通不良や異常導通等を検査
する方法として、支持基板に多数のピン状のプローブを
配設した検査用治具が広く用いられていた。この種の検
査用治具においては、各ビン状のプローブが測定対象で
ある個々の印刷配線板の配線パターンに対応するように
、或いは、印刷配’ａ　ｔｔＩｉの部品配置基準に合わ
せて汎用的に例えば２．５４ｍｍのピッチ間隔で格子状
に配設されており、各プローブは支持基板に設けられた
配線によって導通測定装置に接続されている。このよう
な検査用治具を用いた場合、印刷配線板の一方の配線パ
ターン形成面或いは信号出力部を導通測定装置に接続し
、検査用治具に配設されたプローブの先端がコンタクト
ばねのばね力を利用して印刷配線板の他方の配線パター
ン形成面に押し当てると、配線パターンに対応する箇所
にあるプローブが配線パターンに接触するので、どのプ
ローブに電流が流れたかを調べることによって印刷配線
板の配線パターンの断線や異常導通の有無を調べること
ができる。

しかしながら、上述した従来の検査用治具の構造の場合
、ピン状のプローブ自体を細くすることや、ピン状のプ
ローブの配設ピッチ間隔を上述した基準ピッチ間隔（２
，５４ｍＩｍ）よりも狭めることは、強度上、構造上、
及び各プローブに対する配線上の制約から困難であるた
め、高密度の配線パターンを有する近年の印刷配線板の
導通検査には対応できなくなっている。

そこで、ピン状のプローブに代えて、支持基板に固定電
極端子を設け、固定電極端子を異方性導電ゴムからなる
感圧導電シートを介して印刷配線板の配線パターン形成
面に押し当てるようにした検査用治具が考えられている
。このような検査用治具を用いた場合、感圧導電シート
が圧縮されることにより、印刷配線板上の配線パターン
に対応する箇所の固定電極端子が感圧導電シートを介し
て配線パターンと導通するので、印刷配線板と各固定電
極端子とを配線によって導通測定装置に接続することに
より、印刷配線板上の配線パターンの導通状態を調べる
ことができる。

固定電極端子と感圧導電シートとを用いた上述の検査用
治具の場合、ビン状のプローブとコンタクトばねとを組
合せた検査用治具に比べると、固定電極端子の配設ピッ
チ間隔すなわち検出ピンチ間隔を狭めることができるが
、個々の固定電極端子と導通測定装置との間の接続のた
めの配線を省略することは原理的に不可能であるため、
固定電極端子に対する配線上の制約のために、検出ピッ
チ間隔を狭めることに限界がある。例えば、２００ａ＋
ａ＋Ｘ　３００ｍｍの基板を用いて検出ピッチ間隔をピ
ン状プローブ方式の検出ピッチ間隔の半分（１，７４ｍ
ｍ）にするためには、約３７００本の固定電極端子と同
数の配線が必要となるため、検査用治具の製造は非常に
困難となる。

一方、印刷配線板の表層の配線パターンやスルーホール
内のメツキ欠損等を光学的手段により漏光検査する方法
が知られているが、このような方法では、多層印刷配線
板の内層の接続不良等を検査することはできない。

更に、最近では、印刷配線板の裏面を共通アースとし、
高真空容器内で印刷配線板の表面側に電子ビームを当て
て配線パターンから電流を流し、アースへの漏れ電流の
有無を検査することにより印刷配線板の導通を検査する
方法や、アルゴンガス等の不活性ガス雰囲気（１０−”
〜１０−３Ｔｏｒｒ）内で印刷配線板の配線パターンと
カソード間との間にコロナ放電を発生させることにより
導通を検査する方法等が提案されている。これら２つの
検査方法の場合、検出ピッチ間隔がほぼ無制限になると
いう利点があるが、検査を行なうためには特殊な環境（
真空減圧システム）が必要になるため、検査装置の大型
複雑化及び検査工程の長時間化を招くという問題が生じ
るとともに、印刷配線板の素材からのガスの発生等によ
り検査に支障が生じる等の問題が生じる。

上記問題点に鑑み、本発明は、印刷配線板の導通検査の
ための配線構造を簡素化することができ、検出ピッチ間
隔を狭めて導通検査精度を高めることができ、しかも、
室内等の通常環境内で容易に検査を行なうことができる
印刷配線板の導通検査装置を提供することを目的とする
。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に従う印刷配線板の導通検査装置は、電圧の印加
によってその電圧印加箇所が光学的変化を起こす電気光
学的表示セルと、電気光学的表示セルの一例に配設され
た共通の透明電極と、電気光学的表示セルの他側に配設
されて印刷配線板の導体パターン形成面に直接又は感圧
導電シートを介して間接的に押し当てられる絶縁基板と
、絶縁基板を貫通する多数の互いに独立した測定電極と
、一端が透明電極に接続され他端が印刷配線板に接続さ
れる電圧印加装置とを備え、絶縁基板を印刷配線板の導
体パターン形成面に直接又は感圧導電シートを介して間
接的に押し当てたときに導体パターンに対応する箇所の
測定電極が導体パターンと直接又は感圧導電シートを介
して間接的に導通することにより、電圧印加回路に電気
的に接続された導体パターンに対応する箇所の測定電極
と共通の透明電極との間に電圧が印加されように構成す
る。

〔作　用〕

本発明による印刷配線板の導通検査装置においては、絶
縁基板を印刷配線板の導体パターン形成面に直接又は感
圧導電シートを介して間接的に押し当てたときに導体パ
ターンに対応する箇所の測定電極が導体パターンと直接
又は感圧導電シートを介して間接的に導通し、電圧印加
回路に電気的に接続された導体パターンに対応する箇所
の測定電極と共通の透明電極との間に電圧が印加される
ので、電気光学的表示セルにおける電圧印加箇所が光学
的な変化を起こす。

電気光学的表示セルが液晶セル或いはエレクトロクロミ
ック・セルの場合、個々の測定電極に対応する箇所が電
圧の印加により例えば黒色変化を起こす。また、電気光
学的表示セルがエレクトロルミネセンス・セル或いは放
電管セルの場合、個々の測定電極に対応する箇所が電圧
の印加により発光する。したがって、電気光学的表示セ
ルに光学的変化が生じた箇所を観測することにより、印
刷配線板上の導体パターンと電圧印加回路に対する印刷
配線板の接続箇所との間の配線が正常な４通状態にある
か否かを目視或いは光学観測装置を利用して容易に調べ
ることができる。印刷配線板は真空減圧容器内等の特殊
環境に置く必要がないので、印刷配線板の導通検査を簡
単に且つ安価に行なうことができる。

絶縁基板を貫通する多数の独立した測定電極には電圧印
加回路に対する接続配線の必要がなく、しかも、共通の
透明電極と電圧印加回路との間の接続は１本の配線で足
りるので、印刷配線板の導通検査装置の配線構造が掻め
て簡素になる。

一方、絶縁基板には測定電極を形成するための多数の独
立した貫通孔を形成する必要があるが、各貫通孔の直径
は例えばレーザー加工等により０、１　ｍｍ以下とする
ことが可能であり、また、貫通孔のピッチ間隔は測定電
極に対する配線の必要が全くないことから例えばｌｌ１
１ｗ１以下とすることが可能である。また、絶縁基板に
貫通孔を形成した後、例えば無電解メツキ等の化学的方
法、或いは、真空蒸着、スパッタリング等の物理的方法
により貫通孔内が導体で埋まるように絶縁基板の表面に
導体を付着形成し、次いで、フォトエツチング等により
、絶縁基板上の不要な導体膜を除去することにより、絶
縁基板に測定電極を高精度に形成することができる。し
たがって、絶縁基板に対するａｌｌｌｌ極電極設ピッチ
間隔を狭めて検出精度を高めることができる。

〔実施例〕

、以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明の一実施例を示したものである。

第１図を参照すると、測定対象である印刷配線板１は５
層印刷配線板であり、その表側の配線パターンｌａと裏
側の配線パターン１ｂとがスルーホールＩＣを介して導
通されている。導通検査装置は印刷配線板ｌの例えば表
側の配線パターン形成面１ｄに押し当てられる測定治具
１０と、印刷配線板ｌの例えば裏側の配線パターン形成
面１ｅに押し当てられる接続治具１１とを備えている。

接続治具１１は導体基板１２とその一面に付設された異
方性導電ゴムからなる感圧導電シート１３とを備えてお
り、感圧導電シート１３を印刷配線板１の裏側の配線パ
ターン形成面１ｅに押し付けることにより印刷配線板ｌ
の裏側の配線パターンｌｂが感圧導電シート１３及び４
体基板１２を介して相互に短絡される。

測定治具１０は電圧の印加によってその電圧印加箇所が
光学的変化を起こす電気光学的表示セル１４を備えてい
る。ここでは、電気光学的表示セル１４として、電圧の
印加によってその電圧印加箇所が例えば黒色変化を起こ
す液晶セルが用いられている。

電気光学的表示セルすなわち液晶セル１４は透明ガラス
等からなる表側の透明絶縁板１５とセラミック等からな
る裏側の絶縁基板１６との間に封止されており、表側の
透明絶縁板１５の下面には液晶セル１４に電圧を印加す
るための一方の共通の透明電極１７が形成されている。

この透明電極１７は例えば酸化インジウム（Ｉｎｋ）等
を表側透明絶縁板１５の下面全体に蒸着或いはスパッタ
リング等によってメタライズすることにより、形成する
ことができる。

この実施例においては、液晶セル１４の裏側の絶縁基板
１６は異方性導電ゴムからなる感圧導電シート１８を介
して印刷配線板ｌの配線パターン形成面１ｄに間接的に
押し当てられるようになっている。

液晶セル１４の裏側の絶縁基板１６には絶縁基板１６を
貫通する多数の互いに独立した測定電極１９が例えば格
子状に配設されている。個々の測定電極１９と共通の透
明電極１７との間にパルス電圧が印加されると液晶セル
１４内の測定電極１９に対応した箇所が光学的変化（黒
色変化）を起こす。

絶縁基板１６には測定電極１９を形成するための多数の
独立した貫通孔１６ａを予め形成する必要があるが、各
貫通孔１６ａの直径は例えばレーザー加工等により０．
１　ｍｍ以下とすることが可能であり、また、貫通孔１
６ａの配設ピッチ間隔は測定電極１９に対する配線の必
要が全くないことから例えば１＋ｎｍ以下とすることが
可能である。

ｖＡ縁基板１６に貫通孔１６ａを形成した後、例えば無
電解メツキ等の化学的方法、或いは、真空蒸着、スパッ
タリング等の物理的方法により貫通孔１６ａ内が導体で
埋まるように絶縁基板１６の表面に導体を付着形成し、
次いで、フォトエツチング等によって絶縁基板１６上の
不要な導体膜を除去することにより、絶縁基板１６に測
定電極１９を高精度に形成することができる。

測定治具１０の共通の透明電極１７は１本の配線２１を
介して電圧印加装置としてのパルス電圧信号発生器２０
の一方の信号出力端に接続されており、接続治具１１の
導体基板１１は１本の配線２２を介してパルス電圧発生
器２０の他方の信号出力単に接続されている。

上記構成を有する印刷配線板の導通検査装置によって印
刷配線板１の導通検査を行なう場合、接続治具１１の感
圧導電シート１３を印刷配線板１の裏側配線パターン形
成面１ｅに押し当て、測定治具１０の感圧導電シート１
８を印刷配線板ｌの表側配線パターン形成面１ｄに押し
当てる。これにより、接続治具１１の導体基板１２は感
圧導電シート１３を介して印刷配線板１の裏側の配線パ
ターン１ｂと導通状態になり、また、測定治具１０の測
定電極１９のうち印刷配線板ｌの表側の配線パターンｌ
ａに対応する箇所の測定電極１９が感圧導電シート１８
を介して配線パターン１ａと導通状態になる。

したがって、パルス電圧発生器２０により透明電極１７
と導体基板１１との間にパルス電圧を印加すると、印刷
配線板ｌの表側配線パターン１ａと裏側配線パターン１
ｂとの間の正常な又は異常な導通により、裏側配線パタ
ーン１ｂに対し導通状態にある表側配線パターン１ａに
対応する測定電極１９と共通の透明電極１７との間にパ
ルス電圧が印加されることとなり、その電圧印加箇所の
液晶セル１４が光学的に黒色変化を起こすこととなる。

したがって、外部から液晶セル１４の黒色変化パターン
を観察することにより、印刷配線板１における配線パタ
ーンｌａ、ｌｂ間の導通状態が正常か否かを調べること
ができる。

第２図は上記導通検査装置と組み合わされる光学的観測
装置の構成を概略的に示したものである。

第２図を参照すると、光学的観測装置は、撮像装置３１
によって液晶セル１４に発生した黒色変化パターンを攪
像し、その映像信号を画像変換部３２により二値図形デ
ータに変換し、一方、予め例えばＣＡＤデータ入力部３
３によって基準パターン画像を作成するためのデータを
入力し、その入力データを画像変換部３４により二値図
形データに変換し、両画像変換部３２．３４で得られた
二値図形データを比較部３５により比較して、両者の不
一致箇所を不具合検出部３６゛により検出する。不一致
箇所が検出された場合には、印刷配線板ｌに配線パター
ンの断線或いは異常な短絡が生じていることとなり、不
良品として処理することができる。

第３図は本発明による印刷配線板の導通検査装置の他の
実施例を示したものである。第３図において上記実施例
と同一の構成要素には同一の参照符号が付されている。

この実施例は、厚膜法等で多層配線を行なったセラミッ
ク多゛層基板２を測定対象物とする場合に好適なもので
あり、セラミック多層基板２には出力端子部２ａが形成
されている。そこで、上記実施例と同一の構成を有する
測定治具１０をセラミック多層基板２の配線パターン形
成面２ｂに押し当て、セラミック多層基板２の出力端子
部２ａを配！ｖＩ２２を介してパルス電圧発生器２０の
一方の信号出力端に接続し、測定治具誹０の透明電極１
７を配線２１を介してパルス電圧発生器２０の他方の信
号出力端に接続することにより、上記実施例と同様の方
法で、セラミック多層基板２の配線パターン２Ｃと出力
端子部２ａとの間の導通を検査することができる。

第４図は透明絶縁板１５の下面に形成される透明電極１
７のパターン形状の変形例を示したものである。第４図
を参照すると、透明電極１７の格子状パターンの各交差
部１７ａは測定電極１９（第１図参照）の格子状配列と
対応している。透明電極１７の格子状パターンの各交差
部１７ａの面積が局部的に大きくなっていることにより
、透明電極１７による駆動電圧の影響領域を明確化する
ことができるので、液晶セル１４の電圧印加による光学
的変化領域をより明確化することができ。

る。

以上、図示実施例につき説明したが、本発明は図示実施
例の態様のみに限定されるものではない。

例えば、電気光学的表示セル１４としては液晶セルの他
に、電圧の印加箇所が化学的変化により光学的変化を起
こすエレクトロクロミック・セル等や、電圧印加箇所が
発光するエレクトロルミネセンス・セル、放電管セル等
を用いることができる。

また、第１図に示した測定治具１０の感圧導電シー）１
８や接続治具１１の感圧導電シート１３等を省略して、
測定電極１９及び導体基板１１を直接印刷配線板１１の
配線パターンｌａ、ｌｂ等に接触させるようにしてもよ
い。

〔発明の効果〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、印刷
配線板上の配線パターンに対応する箇所の測定電極と共
通の透明電極との間に印加される駆動電圧により電気光
学的表示セルの電圧印加箇所に光学的な変化を起こさせ
ることにより、印刷配線板の導通を光学的に検査するこ
とができる印刷配線板の導通検査装置を提供することが
できる。

しかも、個々の測定電極への配線が不要で共通の透明電
極を１本の配線で電圧発生装置に接続すればよく、した
がって、配線上の制約を受けることなく測定電極の配設
ピッチ間隔を狭くすることができるので、検出精度の高
い印刷配線板の導通検査装置を提供できることとなる。

また、印刷配線板を真空減圧容器内等の特殊環境に置く
必要がないので、印刷配線板の導通検査を簡単に且つ安
価に行なうことができることとなる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す印刷配線板の導通検査
装置の概略断面図、 第２図は第１図に示す導通検査装置と組み合わせた光学
観測装置の構成例を示す図、 第３図は本発明の他の実施例を示す印刷配線板の導通検
査装置の概略断面図、 第４図は透明電極のパターン形状の変形例を示す図であ
る。 図において、ｌは印刷配線板、２はセラミック多層配線
板、１４は電気光学的表示セルとしての液晶セル、１６
は絶縁基板、１７は透明電極、１８は感圧導電シート、
１９は測定電極、２０は電圧印加装置をそれぞれ示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、電圧の印加によってその電圧印加箇所が光学的変化
   を起こす電気光学的表示セル（１４）と、電気光学的表
   示セルの一側に配設された共通の透明電極（１７）と、
   電気光学的表示セルの他側に配設されて印刷配線板（１
   ）の導体パターン形成面に直接又は感圧導電シート（１
   ８）を介して間接的に押し当てられる絶縁基板（１６）
   と、絶縁基板を貫通する多数の互いに独立した測定電極
   （１９）と、一端が透明電極に接続され他端が印刷配線
   板に接続される電圧印加装置（２０）とを備え、 絶縁基板（１６）を印刷配線板（１）の導体パターン形
   成面に直接又は感圧導電シート（１８）を介して間接的
   に押し当てたときに導体パターンに対応する箇所の測定
   電極（１９）が導体パターンと直接又は感圧導電シート
   （１８）を介して間接的に導通することにより、電圧印
   加回路（２０）に電気的に接続された導体パターンに対
   応する箇所の測定電極（１９）と共通の透明電極（１７
   ）との間に電圧が印加されるようにしたことを特徴とす
   る印刷配線板の導通検査装置。