JPH11101841A - 導電性ペーストスルーホール型両面プリント配線基板及びその電気特性試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 導電性ペーストスルーホール型両面プリント
配線基板のオープン・ショート検査と、スルーホールの
導通抵抗検査とを同時に行うことのできる電気特性試験
装置を提供する。 【解決手段】 本装置３０は、絶縁性基板７０の両面に
プリント配線７２Ａ、Ｂを有し、基板のスルーホール７
４を埋めた導電性ペースト層７６を介して基板両面のプ
リント配線を導通させる導電性ペーストスルーホール型
両面プリント配線基板の電気特性を試験する装置であ
る。本装置は、プリント配線のオープン・ショート状態
を検査するオープン・ショート検査部３２と、導電性ペ
ーストスルーホールの導通抵抗値を測定する導通抵抗検
査部３４とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、導電性ペーストス
ルーホール型両面プリント配線基板（以下、簡単に両面
プリント配線基板と言う）の電気特性試験装置に関し、
更に詳細には、両面プリント配線基板のオープン・ショ
ート検査と導通抵抗検査とを同時に行うことの出来る電
気特性試験装置に関するものであり、更には、本電気特
性試験装置の被試験体として好適な構成の両面プリント
配線基板に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】導電性ペーストスルーホール型両面プリ
ント配線基板（以下、簡単に両面プリント配線基板と言
う）６９は、図５に示すように、絶縁性基板７０と、基
板７０の両面に設けられた、金属箔、例えば銅箔からな
るプリント配線７２Ａ、Ｂと、基板７０に設けられたス
ルーホール７４を介して両面のプリント配線７２Ａ、Ｂ
間を導通させる導電性ペースト層、例えば銀ペースト層
７６とを有する実装基板であって、電気・電子素子をコ
ンパクトに実装できるので、近年、各種電気・電子製品
で多用されている。図５中、７８は両面プリント配線基
板６９のプリント配線回路を意味し、７９はプリント配
線回路７８の電極である。銀ペーストを使ったものは、
銀ペーストスルーホール型両面プリント配線基板と呼ば
れ、銅ペーストを使ったものは、銅ペーストスルーホー
ル型両面プリント配線基板と呼ばれる。銀又は銅ペース
トは、低温硬化性樹脂に導電体として銀金属粒子又は銅
金属粒子がそれぞれ分散されたもので、流動状態で送入
されてスルーホールを埋め込み、硬化して導電線として
使用される。

【０００３】両面プリント配線基板は、従来、一般の片
面プリント配線基板に適用する２端子法のオープン・シ
ョート検査装置を使って、プリント配線についてのオー
プン・ショート検査のみが行われていた。従来の２端子
法のオープン・ショート検査装置８０は、図５に示すよ
うに、ピンボード９０に支持された、多数の対（図５で
は、簡単に１対のみ図示）のオープン・ショート検査用
プローブピン８２Ａ、Ｂ（以下、簡単にプローブピンと
言う）と、プローブピン８２Ａ、Ｂの間に設けられた電
池８４と、電池８４の起電力を測定する電圧計８６と、
プローブピン８２Ａ、Ｂの間を流れる電流を測定する電
流計８８と備えている。通常、ピンボード９０は、図６
に示すように、上下２枚あって、その間に両面プリント
配線基板６９をプローブピン８２で挟むようにして支持
する。オープン・ショート検査を行う際には、図６に示
すように、オープン・ショート検査装置８０の上下２枚
のピンボード９０により両面プリント配線基板６９を、
プローブピン８２を介して挟み、かつ、図５に示すよう
に、プローブピン８２Ａ、Ｂを両面プリント配線基板６
９のプリント配線回路７８の電極７９に接触させて、電
流計８８で電流を計測し、両面プリント配線基板６９の
オープン状態又はショート状態を測定している。

【０００４】製造された両面プリント配線基板製品６９
は、全数、図６に示すように、順次、基板供給装置から
供給されて、オープン・ショート検査装置８０に移送さ
れ、そこで、プリント配線のオープン・ショート状態が
検査されて、良品と、オープン不良品と、ショート不良
品に区別され、基板収納装置によりそれぞれの収納箇所
に収納される。両面プリント配線基板のオープン・ショ
ート検査では、両面プリント配線基板製品の抵抗測定値
が、所定範囲のときには、良品と判定し、所定の抵抗値
以上のときには、オープンモードになっているとしてオ
ープン不良品と判定し、逆にほぼ零のときには、ショー
トモードになっているとしてショート不良品と判定して
いる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、両面プリン
ト配線基板のプリント配線の電気特性では、オープン・
ショート検査に加えて、導電性ペーストで埋め込んだス
ルーホール（以下、簡単にスルーホールと言う）の導通
抵抗が、両面プリント配線基板の信頼性を評価する上
で、重要な因子の一つである。また、スルーホールの導
通抵抗は、熱履歴により変化する傾向がある等の理由か
らも、両面プリント配線基板毎に厳密に管理する必要の
ある因子である。しかし、スルーホールの導通抵抗は、
従来、両面プリント配線基板の製造メーカーが出荷前に
ロット毎に行う導通検査によってロット毎の管理が行わ
れているのみであって、両面プリント配線基板を使って
実装し、組み立てて、最終部品とするユーザー側では十
分に管理されていない。更に言えば、ユーザー側では、
部品実装工程中及び部品実装工程後の熱処理により導通
抵抗に熱履歴を及ぼしているにもかかわらず、製品出荷
時、及び製品出荷後のスルーホールの導通抵抗を管理
し、履歴を記録することが、効率的にできなかった。こ
れでは、両面プリント配線基板の品質管理上で問題であ
る。

【０００６】全ての両面プリント配線基板製品について
オープン・ショート検査を行っているにもかかわらず、
信頼性因子として重要な導通抵抗検査を行わない大きな
理由の一つは、従来の検査装置を使って、オープン・シ
ョート検査とスルーホールの導通抵抗検査とを一つの検
査工程で同時に行うことができないからである。従来の
オープン・ショート検査装置の測定限界は、オープン不
良モードで１０〜１０００Ω程度の抵抗である。一方、
導通抵抗値は、導電性ペースト材料の異常のために、ペ
ースト導通抵抗値が傾向的に高めに上昇していたとして
も、スルーホール１個当たりの導通抵抗値は高々２００
ｍΩ以下であって、これでは、導通抵抗値が従来のオー
プン・ショート検査装置の測定下限以下であるために、
スルーホールの導通抵抗を検査することが難しかったか
らである。第２の理由は、従来の両面プリント配線基板
は、その構造上の制約から、スルーホールの導通抵抗の
事後管理を厳密に行うことが容易であるとは必ずしも言
えなかったからである。

【０００７】以上の理由から、本発明の第１の目的は、
導電性ペーストスルーホール型両面プリント配線基板の
オープン・ショート検査と、スルーホールの導通抵抗検
査とを同時に行うことのできる電気特性試験装置を提供
することであり、第２の目的はその試験装置の被試験体
として好適な構成を備えた両面プリント配線基板を提供
することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために、本発明に係る導電性ペーストスルーホール型
両面プリント配線基板の電気特性試験装置（以下、第１
の発明と言う）は、絶縁性基板の両面にプリント配線を
有し、基板のスルーホールを埋めた導電性ペースト層を
介して基板両面のプリント配線を導通させる導電性ペー
ストスルーホール型両面プリント配線基板の電気特性を
試験する装置であって、プリント配線のオープン・ショ
ート状態を検査するオープン・ショート検査部と、導電
性ペーストスルーホールの導通抵抗値を測定する導通抵
抗検査部とを備えていることを特徴としている。本発明
では、両面プリント配線基板のオープン・ショート検査
に用いられている既知のオープン・ショート検査装置
と、導電性ペーストスルーホールの導通抵抗検査装置と
を同一のフィクスチャに組み込むことにより、オープン
・ショート検査と導通抵抗検査とを同時に行い、電気特
性の検査作業の生産性を向上させることができる。

【０００９】好適には、オープン・ショート検査部及び
導通抵抗検査部が、それぞれ、２端子法による検査装置
及び４端子法による検査装置として構成され、共通のピ
ンボードにそれぞれのプローブピンを備えている。導通
抵抗検査部を４端子法の検査装置として構成することに
より、導通抵抗を求める際、電流計の抵抗による電圧降
下の影響を排除して、電位差と微弱電流とを正確に計測
し、結果として正確な導通抵抗を求めることができるの
で、検査精度を向上させることができる。

【００１０】本発明に係る導電性ペーストスルーホール
型両面プリント配線基板（以下、第２の発明と言う）
は、絶縁性基板の両面にプリント配線を有し、基板のス
ルーホールを埋めた導電性ペースト層を介して基板両面
のプリント配線を導通させる導電性ペーストスルーホー
ル型両面プリント配線基板であって、製品として使用さ
れる基板領域からなる製品基板部と、製品として使用さ
れない基板領域からなる捨て基板部とを有し、捨て基板
部には、ダミー導電性ペーストスルーホールと、ダミー
導電性ペーストスルーホールと接続するダミー電極を備
えたテストクーポンが設けられていることを特徴として
いる。また、好適的には、捨て基板部の基板面、又は捨
て基板部及び製品基板部の双方の基板面に所定事項を表
示した表示面を備えている。

【００１１】以上の構成により、本発明の導電性ペース
トスルーホール型両面プリント配線基板は、テストクー
ポンを備えているので、本発明に係る電気特性試験装置
による導通抵抗検査が容易になり、また、表示面に、所
定事項として、基板製造年月日、製造ロット、部品番号
等の記録必要事項をシンボルシルク印刷表示しておくこ
とにより、両面プリント配線基板のユーザーが、スルー
ホール導通抵抗の品質管理・不良追跡を容易に行うこと
ができる。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下に、実施形態例を挙げ、添付
図面を参照して、本発明の実施の形態を具体的かつ詳細
に説明する。実施形態例１ 本実施形態例は、第１の発明の実施の形態例であって、
本発明に係る電気特性試験装置を使った両面プリント配
線基板の電気特性試験システムの例である。図１は本発
明に係る電気特性試験装置を用いた本実施形態例の電気
特性試験システムの基本的構成を示す概念図である。本
電気特性試験システム１０は、基板供給装置１２と、本
発明に係る両面プリント配線基板の電気特性試験装置１
４（以下、簡単に電気特性試験装置１４と言う）と、基
板収納装置１６とから構成されている。電気特性試験装
置１４は、図１に示すように、既知の構成のオープン・
ショート検査部１８と、スルーホール導通抵抗検査部２
０と、両検査部共通のピンボード部２２とを備え、両面
プリント配線基板のオープン・ショート検査及びスルー
ホール導通抵抗を同時に検査することができる。

【００１３】ピンボード部２２は、自在に相互に接近離
間する上下２枚のピンボード２６Ａ、Ｂと、オープン・
ショート検査部１８及びスルーホール導通抵抗検査部２
０に接続され、ピンボード２６Ａ、Ｂの対向する面に設
けられたプローブピン２４とを有する。これにより、ピ
ンボード部２２は、対向するピンボード２６Ａ、Ｂのプ
ローブピン２４で両面プリント配線基板２８を適当な圧
力で挟み込む両面ピンボード機構をフィクスチャとして
備える。製造された両面プリント配線基板製品は、図１
に示すように、順次、基板供給装置１２から供給されて
電気特性試験装置１４に移送される。電気特性試験装置
１４は、両面プリント配線基板２８の両面からプローブ
ピン２４により適当な圧力で挟み込むようにして両面プ
リント配線基板２８を保持し、両面プリント配線基板２
８の電極（図示せず）にプローブピン２４を接触させ、
オープン・ショート検査とスルーホール導通検査を同時
に行う。両面プリント配線基板２８は、電気特性試験装
置１４により良否判定され、良品、オープン不良品、シ
ョート不良品、及びスルーホール導通不良品に分別さ
れ、基板収納部１６によりそれぞれの収容箇所に収容さ
れる。

【００１４】オープン・ショート検査部１８で行うオー
プン・ショート検査では、銅箔エッチング不良や、導電
性ペーストの印刷ミス等によるペーストニジミ・かすれ
によるオープン・ショート不良等を検出できるが、オー
プン・ショート検査部１８の断線検出下限値は１０Ωで
あるから、オープン・ショート検査部１８は、スルーホ
ールの信頼性に大きく影響する導通抵抗値を検出するこ
とができない。そこで、本実施形態例では、オープン・
ショート検査部１８と並設した導通抵抗検査部２０によ
り、導通抵抗値を測定する。

【００１５】実施形態例２ 本実施形態例は、第１の発明の実施の別の形態例であっ
て、本発明に係る両面プリント配線基板の電気特性試験
装置の構成を示す。図２は本実施形態例の電気特性試験
装置の構成を示す概念図である。本実施形態例の両面プ
リント配線基板の電気特性試験装置３０（以下、簡単に
電気特性試験装置３０と言う）は、図２に示すように、
既知の２端子法のオープン・ショート検査部３２と、４
端子法のスルーホール導通抵抗検査部３４とを備えてい
る。スルーホール導通抵抗検査部３４（以下、簡単に導
通抵抗検査部３４と言う）は、上下に昇降するピンボー
ド３６を備えている。更に、導通抵抗検査部３４は、ピ
ンボード３６に設けられ、両面プリント配線基板の電極
に接触する対のプローブピン３８Ａ、Ｂと、対のプロー
ブピン３８Ａ、Ｂ間に設けられた電圧計４０とを有する
電圧計系統と、ピンボード３６に設けられ、両面プリン
ト配線基板の電極に接触する対のプローブピン４２Ａ、
Ｂと、ピンボード４２Ａ、Ｂ間に直列に設けられた電流
計４４と電池４６とを有する電流計系統とを備えてい
る。通常、ピンボード３６は、図１に示すように、自在
に相互に接近離間する上下２枚のピンボードで構成さ
れ、その間に両面プリント配線基板２８をプローブピン
３８、４２で挟むようにして支持する。また、別法とし
て、２枚のピンボード３６は定位置に配置され、プロー
ブピン３８、４２が自在に伸縮して、両面プリント配線
基板２８を保持するようにしても良い。導通抵抗検査部
３４は、上述のような４端子法の検査機構として構成さ
れているので、プローブピン４２Ａ、Ｂ間を流れる微小
電流を電流計４６で計測する際、従来の２端子法のオー
プン・ショート検査装置８０のように、電圧計８６で測
定したプローブピン８２Ａ、Ｂ間の電位差が電流計８８
の抵抗値により影響されるようなことはないので、導通
抵抗値の算出に誤差が出るようなことはない。これによ
り、導通抵抗値を正確に計測することができる。

【００１６】オープン・ショート検査部３２の構成は、
図５に示した従来のオープン・ショート検査装置８０の
構成と同じであって、多数の対（図２では、簡単に１対
のみ図示）のプローブピン８２Ａ、Ｂと、プローブピン
８２Ａ、Ｂの間に設けられた電池８４と、電池８４の起
電力を測定する電圧計８６と、プローブピン８２Ａ、Ｂ
の間を流れる電流を測定する電流計８８と備え、プロー
ブピン８２Ａ、Ｂは、導通抵抗検査部３４と共通のピン
ボード３６により支持されている。

【００１７】本電気特性試験装置３０で測定する両面プ
リント配線基板２８は、図５に示す両面プリント配線基
板６９と同じ構成であって、図２に示すように、絶縁性
基板７０と、基板７０の両面に設けられた、金属箔、例
えば銅箔からなるプリント配線７２Ａ、Ｂと、基板７０
に設けられたスルーホール７４を介して両面の配線間を
導通させる銀ペースト層７６とを有する。図２中、７８
は両面プリント配線基板６９のプリント配線回路を意味
し、７９はプリント配線回路７８の電極である。

【００１８】導通抵抗の検査に際しては、実施形態例１
と同様にして、導通抵抗検査部３４の上下２枚のピンボ
ード３６のプローブピン３８、４２で両面プリント配線
基板２８を挟み、かつ、図２に示すように、プローブピ
ン３８、４２を両面プリント配線基板２８のプリント配
線回路７８の電極７９に接触させて、電流計４４で電流
値を計測し、電圧計４０でプローブピン４２間の電圧を
計測して、銀ペースト層７６の導通抵抗値を求める。好
適には、ダミースルーホールを直列に接続したテストク
ーポンを両面プリント配線基板の適所に配置し、テスト
クーポンの両端より電極を引き出し、その電極にプロー
ブピン３８Ａ、Ｂ及び４２Ａ、Ｂを接触させ、これによ
り４端子法で導通抵抗を測定する。オープン・ショート
検査は、オープン・ショート検査部３２により、従来と
同様にして検査する。

【００１９】以上の構成により、本電気特性試験装置３
０では、ピンボード３６を上下して両面プリント配線基
板２８にプローブピン８２Ａ、Ｂ、３８Ａ、Ｂ、及び４
２Ａ、Ｂを接触させつつプレスすると、両面プリント配
線基板２８のオープン・ショート検査とスルーホール導
通検査を同時に行うことができる。

【００２０】両面プリント配線基板のスルーホールの全
数のうちの７０〜８０％の数のスルーホールの導通抵抗
を測定する検査装置は、従来から存在したものの、検査
装置及びフィクスチャが高価で、かつ測定に時間がかか
るので、生産性が悪かった。また、手作業による導通抵
抗の検査も行われていたが、プローブピンの接触圧力が
作業者によりばらつくため、正確な導通抵抗を求めるこ
とが難しかった。一方、本実施形態例の電気特性試験装
置３０は、上述のように、スルーホールの全数の導通抵
抗を正確に計測することができる。

【００２１】実験例 本発明に係る両面プリント配線基板の電気特性試験装置
の性能を評価するために、実施形態例２に示した電気特
性試験装置３０を用いて、実施形態例１に示した電気特
性試験システム１０により、銅ペーストスルーホール両
面プリント配線基板の電気特性試験を行った。４個のス
ルーホールを直列に配置した銅ペーストスルーホール両
面プリント配線基板を試料として用意し、オープン・シ
ョート検査及びスルーホール導通抵抗を検査した。スル
ーホール導通抵抗検査では、４個のスルーホールの合計
の導通抵抗を４端子法により測定した。本実験では、オ
ープン・ショート検査と同時にスルーホール導通抵抗の
検査を４秒タクトで行うことができ、４個のスルーホー
ルの合計導通抵抗が１０〜４００ｍΩであることを安定
的に検出することができた。

【００２２】実施形態例３ 本実施形態例は、第２の発明の実施の形態例であって、
第１の発明の電気特性試験装置の被試験体として好適な
導電性ペーストスルーホール型両面プリント配線基板の
構成を示す。図３は本実施形態例の導電性ペーストスル
ーホール型両面プリント配線基板の平面図である。導電
性ペーストスルーホール型両面プリント配線基板５０
（以下、簡単に両面プリント配線基板５０と言う）は、
製品基板として使用されている製品基板部５２と、製品
基板として使用されていない捨て基板部５４ととから構
成され、製品基板部５２と捨て基板部５４とを分離し易
いように境界に分割線として分割用ミシン目５６とスリ
ット５８が設けられている。分割線に設けたミシン目に
変えてＶカット或いはＵカットでも良い。捨て基板部５
４は、出荷の際、両面プリント配線基板５０から分割線
で分離され、将来の追跡調査用資料として保管される。

【００２３】捨て基板部５２の基板面には、ダミー導電
性ペーストスルーホール６０を単独又は複数個（図３で
は、４個のダミー導電性ペーストスルーホールを図示）
を直列に表面の配線６１と裏面の配線６２により接続し
たテストクーポン６４が配置されている。テストクーポ
ン６４の両端には、銅箔電極６６Ａ、Ｂが、テストクー
ポン６４の導通抵抗を計測するための４端子法導通抵抗
測定端子として設けられ、それぞれの銅箔ランドに導通
抵抗検査装置のプローブピンを接触させる。また、捨て
基板部５２の基板面のテストクーポン６４の近傍に、図
３に示すように、表示面６８を備え、シンボルシルク印
刷により、基板製造年月日、基板製造ロット、部品番
号、面付け箇所を表示させる。また、また同じ表示を製
品基板部５２に施して良い。

【００２４】図４を参照して、本両面プリント配線基板
５０の導通抵抗を検査する方法を説明する。図４は、実
施形態例２の電気特性試験装置３０の導通抵抗検査部３
４と、被試験体としての本両面プリント配線基板５０を
示している。導通抵抗を検査する際には、実施形態例２
と同様にして、導通抵抗検査部３４の上下２枚のピンボ
ード３６のプローブピン３８、４２で両面プリント配線
基板２８を挟み、かつ、図４に示すように、プローブピ
ン３８、４２を両面プリント配線基板５０のプリント配
線回路７８の電極７９に接触させて、電流計４４で電流
値を計測し、電圧計４０でプローブピン４２間の電圧を
計測して、銀ペースト層７６の導通抵抗値を求める。

【００２５】本実施形態例では、製品基板部５２とテス
トクーポン６４を設けた捨て基板部５４の両方に、基板
製造年月日、基板製造ロット、部品番号、面付け箇所の
情報を表示している。これにより、仮に、電子部品実装
による熱履歴負荷後に出荷した製品基板に、導通抵抗値
異常が発生していた場合にも、保管している捨て基板部
５４を追跡調査することにより、傾向不良解析とロット
追跡とを容易に行うことができる。また、本実施形態例
では、或る製品に導通抵抗異常が発生した場合、その製
品と同じロットの保管されいる捨て基板部５４のテスト
クーポンを解析することにより、同一ロットの製品の不
良箇所を追跡調査することができる。一方、従来の両面
プリント配線基板では、このような追跡調査を行うこと
が難しい。

【００２６】

【発明の効果】第１の発明の構成によれば、両面プリン
ト配線基板のオープン・ショート検査と導通抵抗検査と
を同時に実施することができるので、両面プリント配線
基板の電気特性検査作業の効率が高い。また、本電気特
性試験装置は、従来のオープン・ショート検査装置に導
通検査装置を組み込む程度で済むので、設備コストが嵩
まない。また、双方を一つの試験装置に組み込むことに
より、電気特性試験装置を小型化でき、設備スペース効
率を向上させることができる。

【００２７】第２の発明の構成によれば、導通抵抗検査
用のテストクーポンが予め設けてあるので、本両面プリ
ント配線基板では、全スルーホール導通抵抗検査はでき
ないものの、導電ペースト材料自身の不良、ペースト焼
成条件のバラツキの傾向不良を容易に検出ができる。ま
た、捨て基板部を格納しておくことにより、両面プリン
ト配線基板のユーザー側でも、導通抵抗のロット管理を
容易に行うことができ、また、導通抵抗不良が発生した
場合には、同一ロット品の捨て基板にあるテストクーポ
ンの破壊検査・解析を行うことができるため、不良解析
が容易である。また、両面プリント配線基板の表示面に
施す表示は、部品表示用のシンボルシルク表示でおこな
うので、追加費用が発生しない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る電気特性試験装置を用いた本実施
形態例の電気特性試験システムの基本的構成を示す概念
図である。

【図２】実施形態例２の電気特性試験装置の構成を示す
概念図である。

【図３】実施形態例３の導電性ペーストスルーホール型
両面プリント配線基板の平面図である。

【図４】実施形態例２の電気特性試験装置の導通抵抗検
査部の要部と、被試験体として実施形態例３の両面プリ
ント配線基板を示し、導通抵抗検査方法を説明する図で
ある。

【図５】従来のオープン・ショート検査装置の構成を示
す概念図である。

【図６】従来のオープン・ショート検査装置を使って、
両面プリント配線基板のオープン・ショート検査方法を
説明する図である。

【符号の説明】

１０……電気特性試験システム、１２……基板供給装
置、１４……本発明に係る両面プリント配線基板の電気
特性試験装置、１６……基板収納装置、１８……オープ
ン・ショート検査部、２０……スルーホール導通抵抗検
査部、２２……ピンボード部、フィクスチャ、２４……
プローブピン、２６……ピンボード、２８……両面プリ
ント配線基板、３０……実施形態例２の両面プリント配
線基板の電気特性試験装置、３２……２端子法のオープ
ン・ショート検査部３２と、３４……４端子法のスルー
ホール導通抵抗検査部、３６……ピンボード、３８Ａ、
Ｂ……プローブピン、４０……電圧計、４２Ａ、Ｂ……
対のプローブピン、４４……電流計、４６……電池、５
０……実施形態例３の両面プリント配線基板、５２……
製品基板部、５４……捨て基板部、５６……分割用ミシ
ン目、５８……スリット、６０……ダミー導電性ペース
トスルーホール、６１……裏面の配線、６２……表面の
配線、６４……テストクーポン、６６Ａ、Ｂ……銅箔電
極、６８……表示面、７０……絶縁性基板、７２Ａ、Ｂ
プリント配線、７４……スルーホール、７６……銀ペー
スト、７８……プリント配線回路、７９……電極、８０
……従来の２端子法のオープン・ショート検査装置、８
２Ａ、Ｂ……対のプローブピン、８４……電池、８６…
…電圧計、８８……電流計、９０……ピンボード。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 絶縁性基板の両面にプリント配線を有
   し、基板のスルーホールを埋めた導電性ペースト層を介
   して基板両面のプリント配線を導通させる導電性ペース
   トスルーホール型両面プリント配線基板の電気特性を試
   験する装置であって、 プリント配線のオープン・ショート状態を検査するオー
   プン・ショート検査部と、導電性ペーストスルーホール
   の導通抵抗値を測定する導通抵抗検査部とを備えている
   ことを特徴とする、導電性ペーストスルーホール型両面
   プリント配線基板の電気特性試験装置。
2. 【請求項２】 オープン・ショート検査部及び導通抵抗
   検査部が、それぞれ、２端子法による検査装置及び４端
   子法による検査装置として構成され、共通のピンボード
   にそれぞれのプローブピンを備えていることを特徴とす
   る請求項１に記載の、導電性ペーストスルーホール型両
   面プリント配線基板の電気特性試験装置。
3. 【請求項３】 絶縁性基板の両面にプリント配線を有
   し、基板のスルーホールを埋めた導電性ペースト層を介
   して基板両面のプリント配線を導通させる導電性ペース
   トスルーホール型両面プリント配線基板であって、 製品として使用される基板領域からなる製品基板部と、
   製品として使用されない基板領域からなる捨て基板部と
   を有し、 捨て基板部には、ダミー導電性ペーストスルーホール
   と、ダミー導電性ペーストスルーホールと接続するダミ
   ー電極を備えたテストクーポンが設けられていることを
   特徴とする、導電性ペーストスルーホール型両面プリン
   ト配線基板。
4. 【請求項４】 捨て基板部の基板面に、又は捨て基板部
   及び製品基板部の双方の基板面に、所定事項を表示した
   表示面を備えていることを特徴とする請求項３に記載
   の、導電性ペーストスルーホール型両面プリント配線基
   板。