JPH01212757A - スパッタリング装置 - Google Patents
スパッタリング装置Info
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- JPH01212757A JPH01212757A JP3481088A JP3481088A JPH01212757A JP H01212757 A JPH01212757 A JP H01212757A JP 3481088 A JP3481088 A JP 3481088A JP 3481088 A JP3481088 A JP 3481088A JP H01212757 A JPH01212757 A JP H01212757A
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- Japan
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- target
- substrate
- shield plate
- sputtering
- discharge
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
この発明は、基板等の表面に成膜を行うためのスパッタ
リング装置に関し、特にマグふトロンスパッタリング法
によって合金薄膜あるいは多元系薄膜を成膜する装置に
関するものである。
リング装置に関し、特にマグふトロンスパッタリング法
によって合金薄膜あるいは多元系薄膜を成膜する装置に
関するものである。
〔従来の技術]
一般に、スパッタリング法は成膜やエツチング等に用い
られている。このスパッタリング法による成膜装置(以
下、単にスパッタリング装置と記す)は、真空容器内に
例えばアルゴンガス等の不活性ガスを封入し、基板や真
空容器とターゲット間に高周波電源等により電圧を印加
してグロー放電を起こさせ、ターゲットにガスイオンを
衝突させることによりスパッタされたスパッタリング粒
子(ターゲット原子)を基板表面に付着させ、この基板
上に薄nりを形成するものである。
られている。このスパッタリング法による成膜装置(以
下、単にスパッタリング装置と記す)は、真空容器内に
例えばアルゴンガス等の不活性ガスを封入し、基板や真
空容器とターゲット間に高周波電源等により電圧を印加
してグロー放電を起こさせ、ターゲットにガスイオンを
衝突させることによりスパッタされたスパッタリング粒
子(ターゲット原子)を基板表面に付着させ、この基板
上に薄nりを形成するものである。
このようなスパッタリング装置において、合金の薄膜又
は多元系の薄膜を形成する場合は、従来から第6図〜第
8図に示すような構成が用いられている。即ち、第6図
(a)に示す構成においては、基板ホルダ51に基板5
2を装着するとともに、単元素2合金、又は多元系の複
数のターゲット53a及び53bのそれぞれを前記基板
52に対向して配置し、これらを同時放電させて前記基
板52上に合金薄膜等を成膜するものである。また、第
7図に示す構成のものでは、基板52を回転又は移動可
能に構成された基板ホルダ51に装着するとともに、前
記同様のターゲラ)53a及び53bを前記基板52に
対向して並列に配置し、これらを同時放電させるととも
に、前記基板52を複数のターゲット53a及び53b
間で回転又は移動させるものである。さらに、第8図に
示す構成のものでは、1つの合金又は多元系ターゲット
53を基板52に対向して配置し、放電させるものであ
る。
は多元系の薄膜を形成する場合は、従来から第6図〜第
8図に示すような構成が用いられている。即ち、第6図
(a)に示す構成においては、基板ホルダ51に基板5
2を装着するとともに、単元素2合金、又は多元系の複
数のターゲット53a及び53bのそれぞれを前記基板
52に対向して配置し、これらを同時放電させて前記基
板52上に合金薄膜等を成膜するものである。また、第
7図に示す構成のものでは、基板52を回転又は移動可
能に構成された基板ホルダ51に装着するとともに、前
記同様のターゲラ)53a及び53bを前記基板52に
対向して並列に配置し、これらを同時放電させるととも
に、前記基板52を複数のターゲット53a及び53b
間で回転又は移動させるものである。さらに、第8図に
示す構成のものでは、1つの合金又は多元系ターゲット
53を基板52に対向して配置し、放電させるものであ
る。
ところが、前記第6図(a)に示すものでは、各ターゲ
ット53a及び53bが基板52に対して傾斜して対向
しているので、同図(b)の破線で示すように、基板5
2上に形成された膜において膜厚分布、特に合金又は多
元素の組成分布のバラツキが大きくなってしまうという
問題がある。また、第7回に示すものでは、各ターゲツ
ト53a、53b間の距離が大きいために、各ターゲッ
ト粒子を同時に基板52に付着させることが困難で、ど
うしても層状の合金膜となってしまう。さらに、第8図
に示すものでは、ターゲットによって組成の比率が固定
されてしまい、任意に組成を選択することができないと
いう問題がある。
ット53a及び53bが基板52に対して傾斜して対向
しているので、同図(b)の破線で示すように、基板5
2上に形成された膜において膜厚分布、特に合金又は多
元素の組成分布のバラツキが大きくなってしまうという
問題がある。また、第7回に示すものでは、各ターゲツ
ト53a、53b間の距離が大きいために、各ターゲッ
ト粒子を同時に基板52に付着させることが困難で、ど
うしても層状の合金膜となってしまう。さらに、第8図
に示すものでは、ターゲットによって組成の比率が固定
されてしまい、任意に組成を選択することができないと
いう問題がある。
この発明は、かかる点に鑑みてなされたもので、合金薄
膜又は多元系薄膜を形成する際、組成分布が良く、また
組成の比率を任意に可変できるスパッタリング装置を得
ることを目的とする。
膜又は多元系薄膜を形成する際、組成分布が良く、また
組成の比率を任意に可変できるスパッタリング装置を得
ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段]
ところで、スパッタリングの方式としては、従来より各
種の方式が提供されているが、今日では高速低温スパッ
タリング、即らマグネトロンスパッタリングが主として
用いられている。
種の方式が提供されているが、今日では高速低温スパッ
タリング、即らマグネトロンスパッタリングが主として
用いられている。
このマグネトロンスパッタリングは、従来の、基板の温
度上昇が激しい、成膜速度が遅い等の欠点を改善するた
めに開発されたものであり、電界と直交する磁界を形成
し、この電界と磁界の直交する領域でいわゆるマグネト
ロン放電を起こさせ、高密度のプラズマをターゲット近
傍に閉し込める方法である。従ってこのマグネトロンス
パッタリングの特性、即ち電界と磁界の直交する局所的
な領域に高密度のプラズマが生じるという特性を利用す
れば、非常に精度良く組成分布を制御して合金膜等を成
膜することができると考えられる。
度上昇が激しい、成膜速度が遅い等の欠点を改善するた
めに開発されたものであり、電界と直交する磁界を形成
し、この電界と磁界の直交する領域でいわゆるマグネト
ロン放電を起こさせ、高密度のプラズマをターゲット近
傍に閉し込める方法である。従ってこのマグネトロンス
パッタリングの特性、即ち電界と磁界の直交する局所的
な領域に高密度のプラズマが生じるという特性を利用す
れば、非常に精度良く組成分布を制御して合金膜等を成
膜することができると考えられる。
そこでこの発明に係るスパッタリング装置は、ターゲッ
トを、それぞれ区分けされた複数種類の材料で一体的に
形成し、この各ターゲットに対応して複数の磁界発生手
段を設けるとともに、前記基板とターゲットとの間に、
前記ターゲットに近接して放電用の孔を有する回転シー
ルド板を回転。
トを、それぞれ区分けされた複数種類の材料で一体的に
形成し、この各ターゲットに対応して複数の磁界発生手
段を設けるとともに、前記基板とターゲットとの間に、
前記ターゲットに近接して放電用の孔を有する回転シー
ルド板を回転。
停止の制御が可能なように設けたものである。
この発明においては、回転制御手段のプログラム制御に
より回転シールド板の回転、停止が制御され、グロー放
電の発生する領域1時間が制御されるから、これにより
成膜が制御されることとなる。即ち、回転シールド板を
ターゲットに近接して配置すると、マグネトロンスパッ
タリングの特性上、回転シールド板の放電用孔が磁石等
の磁界発生手段とほぼ対向する位置に停止したときのみ
放電が生じ、放電用孔以外の部分では放電は発生しない
し、また前記回転シールド板が回転しているときも放電
は発生しない。従って、ターゲットを複数種類の材料か
ら構成し、前記回転シールド板の放電用孔の停止する位
置及びその停止している時間を、前記各ターゲット材料
の配設された位置に応じて制御することにより、形成さ
れる膜の組成の比率が制御できることとなる。しかも回
転シールド板の放電用孔が所定の位置にないときは放電
が発生しないので、前記制御を容易にかつ精度よく行う
ことができる。
より回転シールド板の回転、停止が制御され、グロー放
電の発生する領域1時間が制御されるから、これにより
成膜が制御されることとなる。即ち、回転シールド板を
ターゲットに近接して配置すると、マグネトロンスパッ
タリングの特性上、回転シールド板の放電用孔が磁石等
の磁界発生手段とほぼ対向する位置に停止したときのみ
放電が生じ、放電用孔以外の部分では放電は発生しない
し、また前記回転シールド板が回転しているときも放電
は発生しない。従って、ターゲットを複数種類の材料か
ら構成し、前記回転シールド板の放電用孔の停止する位
置及びその停止している時間を、前記各ターゲット材料
の配設された位置に応じて制御することにより、形成さ
れる膜の組成の比率が制御できることとなる。しかも回
転シールド板の放電用孔が所定の位置にないときは放電
が発生しないので、前記制御を容易にかつ精度よく行う
ことができる。
また、複数種類のターゲットが一体的に形成されている
ので、例えば前記従来の第7図に示すような構成のもの
に比較して、あるターゲットによる成膜から次のターゲ
ットによる成膜までの時間が著しく短縮され、各ターゲ
ットのスパッタリング粒子はほぼ同時に基板に到着し、
層状の膜が形成されることもない。
ので、例えば前記従来の第7図に示すような構成のもの
に比較して、あるターゲットによる成膜から次のターゲ
ットによる成膜までの時間が著しく短縮され、各ターゲ
ットのスパッタリング粒子はほぼ同時に基板に到着し、
層状の膜が形成されることもない。
(実施例〕
以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例によるスパッタリング装置の
模式的な断面構成図である。図において、1は真空容器
であり、この真空容器lにはガス導入系2及び排気系3
が接続されている。また、真空容器l内には、基板ホル
ダ4に装着された基板5が設置されるとともに、この基
板5と対向して例えば直径8インチのターゲット6が配
置されている。前記基板5はアースに、またターゲット
6はマツチング回路7を介して高周波電源等のスパッタ
リング電源8に接続されている。前記ターゲット6は第
2図の平面図で示すように、3種類の材料の第1〜第3
ターゲット6a、6b、6cが各領域に区分けされて一
体的に形成されており、この各ターゲット6a、6b、
6cに対応して、該ターゲット6の裏面に3個の磁界発
生手段としての磁石(例えば、外径4インチ)9a〜9
Cが配置されている(第2図参照)。
模式的な断面構成図である。図において、1は真空容器
であり、この真空容器lにはガス導入系2及び排気系3
が接続されている。また、真空容器l内には、基板ホル
ダ4に装着された基板5が設置されるとともに、この基
板5と対向して例えば直径8インチのターゲット6が配
置されている。前記基板5はアースに、またターゲット
6はマツチング回路7を介して高周波電源等のスパッタ
リング電源8に接続されている。前記ターゲット6は第
2図の平面図で示すように、3種類の材料の第1〜第3
ターゲット6a、6b、6cが各領域に区分けされて一
体的に形成されており、この各ターゲット6a、6b、
6cに対応して、該ターゲット6の裏面に3個の磁界発
生手段としての磁石(例えば、外径4インチ)9a〜9
Cが配置されている(第2図参照)。
また、前記基板5とターゲット6との間には、前記ター
ゲット6に近接して、l1fllち例えばターゲット6
との間隔が5M以下となるように、回転シールド板10
が回転可能に設けられている。この回転シールド4N、
IOには、第1図及び第3図の斜視図で示すように、放
電用孔10a (例えば直径4インチ程度)が形成され
るとともに、該回転ソールドFiIOの裏面の外周縁部
には、この回転シールド板10を回転させるためのラッ
クIIが固定されている。そして、このランク11には
、真空容器lの外部に設けられたステッピングモータI
2により回転駆動されるピニオン13が噛み合っている
。また、前記ステッピングモータ12はモータ制御回路
14により、その停止2回転時間等がプログラム制御さ
れるようになっている。なお、前記回転シールド仮1o
は前記基板5とともにアース接続されている。
ゲット6に近接して、l1fllち例えばターゲット6
との間隔が5M以下となるように、回転シールド板10
が回転可能に設けられている。この回転シールド4N、
IOには、第1図及び第3図の斜視図で示すように、放
電用孔10a (例えば直径4インチ程度)が形成され
るとともに、該回転ソールドFiIOの裏面の外周縁部
には、この回転シールド板10を回転させるためのラッ
クIIが固定されている。そして、このランク11には
、真空容器lの外部に設けられたステッピングモータI
2により回転駆動されるピニオン13が噛み合っている
。また、前記ステッピングモータ12はモータ制御回路
14により、その停止2回転時間等がプログラム制御さ
れるようになっている。なお、前記回転シールド仮1o
は前記基板5とともにアース接続されている。
次に動作について説明する。ここで、本実施例では特に
合金薄Hりあるいは多元系薄膜の成膜について述べるが
、スパッタリングにょる成膜動作自体は従来と同様であ
る。即ち、まず、ガス導入系2及び排気系3の各バルブ
を制御して真空容器1内を所定の真空圧にする6次に前
記同様に各パルプの開口を制御しながら前記真空容器l
内に例えばアルゴンガスを封入し、所定のガス圧に設定
する。
合金薄Hりあるいは多元系薄膜の成膜について述べるが
、スパッタリングにょる成膜動作自体は従来と同様であ
る。即ち、まず、ガス導入系2及び排気系3の各バルブ
を制御して真空容器1内を所定の真空圧にする6次に前
記同様に各パルプの開口を制御しながら前記真空容器l
内に例えばアルゴンガスを封入し、所定のガス圧に設定
する。
この状態で、プレスパツタリング等を行った後、成膜の
ためのスパックリングを行う。このとき、ターゲット6
にはスパッタリング電′fA8により高周波電圧が印加
されている。そして、ステッピングモータ12を駆動し
て、ビニオン13. ラック11を介して回転シール
ド板10を回転させ、該回転シールド板10の放電用孔
10aを、例えばEft石9aと対向する位置に移動さ
せて停止させる。
ためのスパックリングを行う。このとき、ターゲット6
にはスパッタリング電′fA8により高周波電圧が印加
されている。そして、ステッピングモータ12を駆動し
て、ビニオン13. ラック11を介して回転シール
ド板10を回転させ、該回転シールド板10の放電用孔
10aを、例えばEft石9aと対向する位置に移動さ
せて停止させる。
この回転シールド10が所定の位置に停止した状態では
、放電用孔10aを介していわゆるマグネトロン放電が
生じ、第4図に示すように、所定領域Aの部分に高密度
のプラズマが発生して、第1ターゲツト6aのスパッタ
リングが行われる。この場合、他の第2.第3ターゲツ
ト6b及び6Cの部分では、回転シールド板1oが各タ
ーゲット6b、6cに近接した位置に在るので、放電は
起こらず、前記のように第1ターゲツト6aの蒸発物だ
けが発生する。
、放電用孔10aを介していわゆるマグネトロン放電が
生じ、第4図に示すように、所定領域Aの部分に高密度
のプラズマが発生して、第1ターゲツト6aのスパッタ
リングが行われる。この場合、他の第2.第3ターゲツ
ト6b及び6Cの部分では、回転シールド板1oが各タ
ーゲット6b、6cに近接した位置に在るので、放電は
起こらず、前記のように第1ターゲツト6aの蒸発物だ
けが発生する。
そして所定時間第1ターゲツ)6aのスパッタリングを
行った後は、前記回転シールド板10の放電用孔10a
を、次の所定位置、即ち第2ターゲット6b裏面の磁石
9bと対向する位置まで回転させ・て停止する。この状
態で前記同様にして第2ターゲツト6bのスパッタリン
グを行い、さらに第3ターゲツト6cについても同様に
して、前記回転シールド板10を回転制御し、所定時間
の間、スパッタリングを行う。なお、前記回転シールド
板IOの放電用孔10aが回転途中で、所定の位置にな
いとき、例えば第5図のような位置に在るときは放電は
発生せず、従って2つのターゲットが同時にスパッタリ
ングされるようなことはない。
行った後は、前記回転シールド板10の放電用孔10a
を、次の所定位置、即ち第2ターゲット6b裏面の磁石
9bと対向する位置まで回転させ・て停止する。この状
態で前記同様にして第2ターゲツト6bのスパッタリン
グを行い、さらに第3ターゲツト6cについても同様に
して、前記回転シールド板10を回転制御し、所定時間
の間、スパッタリングを行う。なお、前記回転シールド
板IOの放電用孔10aが回転途中で、所定の位置にな
いとき、例えば第5図のような位置に在るときは放電は
発生せず、従って2つのターゲットが同時にスパッタリ
ングされるようなことはない。
このようにして、回転シールド仮1oの回転及び放電用
孔10aの所定位置における停止時間を予めモータ制御
卸回路14にプログラムしておき、回転、停止を繰り返
して各ターゲットのスパッタリングを行うことにより、
基板5上に形成される膜の組成を制御する。例えば、第
1〜第3ターゲント6a、6b、6cの組成を、6a:
6b:6c=2 : l : 1にしたいときは、回転
シールド板10の放電用孔10aが各ターゲット6a、
6b。
孔10aの所定位置における停止時間を予めモータ制御
卸回路14にプログラムしておき、回転、停止を繰り返
して各ターゲットのスパッタリングを行うことにより、
基板5上に形成される膜の組成を制御する。例えば、第
1〜第3ターゲント6a、6b、6cの組成を、6a:
6b:6c=2 : l : 1にしたいときは、回転
シールド板10の放電用孔10aが各ターゲット6a、
6b。
6c上に停止する時間を、11:1としてスパッタリン
グを行えば、各ターゲットのスパッタリング粒子が前記
停止時間にほぼ比例した割合で基板5上に付着し、前記
所望の化率の組成の合金薄膜を得ることができる。
グを行えば、各ターゲットのスパッタリング粒子が前記
停止時間にほぼ比例した割合で基板5上に付着し、前記
所望の化率の組成の合金薄膜を得ることができる。
このように、本実施例では、基板5とターゲット6との
間に、ターゲット6に近接して回転シールド板10を設
けるとともに、この回転シールド板10に放電用の孔1
0aを形成し、前記回転シールド板10の回転及びその
放電用孔10aの停止位置5停止時間を制御するように
したので、合金又は多元系薄膜の組成の比率を任意に可
変して成膜することができる。このとき、マグネトロン
スパッタリングによってスパッタリングを行うので、放
電の生じる領域及びその時間を容易に、かつ正確に制御
することができ、形成される膜の組成を正確に制御する
ことが可能となる。さらに、ターゲットを一体形成して
いるので、例えば第7図に示した従来装置における各タ
ーゲットを非常に近接して設けたものと同様となり、装
置がコンパクトになるとともに、組成分布も良好となり
、各成分の膜が層状に形成されるというような不具合を
避けることができる。
間に、ターゲット6に近接して回転シールド板10を設
けるとともに、この回転シールド板10に放電用の孔1
0aを形成し、前記回転シールド板10の回転及びその
放電用孔10aの停止位置5停止時間を制御するように
したので、合金又は多元系薄膜の組成の比率を任意に可
変して成膜することができる。このとき、マグネトロン
スパッタリングによってスパッタリングを行うので、放
電の生じる領域及びその時間を容易に、かつ正確に制御
することができ、形成される膜の組成を正確に制御する
ことが可能となる。さらに、ターゲットを一体形成して
いるので、例えば第7図に示した従来装置における各タ
ーゲットを非常に近接して設けたものと同様となり、装
置がコンパクトになるとともに、組成分布も良好となり
、各成分の膜が層状に形成されるというような不具合を
避けることができる。
なお、前記実施例ではターゲットの種類を3種類とした
が、この数は前記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能であることは言うまでもない。
が、この数は前記実施例に限定されるものではなく、種
々の変形が可能であることは言うまでもない。
また、前記実施例では回転シールド板10の放電用孔1
0aを1個所のみ設けた場合について説明したが、この
放電用孔10aを例えば2個形成して、2個所同時放電
させることも考えられる。
0aを1個所のみ設けた場合について説明したが、この
放電用孔10aを例えば2個形成して、2個所同時放電
させることも考えられる。
しかるにこの場合は、2個所の放電が同時に発生しにく
いという問題があり、放電が安定せず、信頼性が低い、
従って、組成を精度よく制御するためには、前記実施例
のように放電用孔10aは1個所が望ましい。
いという問題があり、放電が安定せず、信頼性が低い、
従って、組成を精度よく制御するためには、前記実施例
のように放電用孔10aは1個所が望ましい。
(発明の効果〕
この発明は、以上の通りであるから、放電用の孔を有す
る回転シールド)反によって、該回転シールド板を所定
の位置で停止させ、この停止位置でターゲットのスパッ
タリング時間を任意に制御することができ、しかも磁界
の発生によって成膜組成を精度よく制御できる効果があ
る。
る回転シールド)反によって、該回転シールド板を所定
の位置で停止させ、この停止位置でターゲットのスパッ
タリング時間を任意に制御することができ、しかも磁界
の発生によって成膜組成を精度よく制御できる効果があ
る。
第1図は本発明の一実施例によるスパッタリング装置の
概略断面構成図、第2図はその一部平面図、第3図はそ
の一部斜視回、第4図及び第5図はともに前記スパッタ
リング装置の作用効果を説明するための図、第6図(a
l (b) 、第7図、第8図はそれぞれ従来の合金薄
膜又は多元系gl膜を形成する場合の構成を示す図であ
る。 l・・・真空容器、5・・・基板、6.6a〜6C・・
・ターゲット、93〜9C・・・磁石、10・・・回転
シールド板、10a・・・放電用孔、12・・・ステン
ピングモータ、14・・・モータ制御回路。 特許出願人 株式会社島津製作所し+−,、”
、j’ ≦32 図 bf5b ・13図 第 6 図 、37 図 (b) 2ラ 8 図 ら1
概略断面構成図、第2図はその一部平面図、第3図はそ
の一部斜視回、第4図及び第5図はともに前記スパッタ
リング装置の作用効果を説明するための図、第6図(a
l (b) 、第7図、第8図はそれぞれ従来の合金薄
膜又は多元系gl膜を形成する場合の構成を示す図であ
る。 l・・・真空容器、5・・・基板、6.6a〜6C・・
・ターゲット、93〜9C・・・磁石、10・・・回転
シールド板、10a・・・放電用孔、12・・・ステン
ピングモータ、14・・・モータ制御回路。 特許出願人 株式会社島津製作所し+−,、”
、j’ ≦32 図 bf5b ・13図 第 6 図 、37 図 (b) 2ラ 8 図 ら1
Claims (1)
- (1)真空容器内に対向して設けられた基板とターゲッ
トとの間に放電を起こさせ、前記ターゲットからのスパ
ッタリング粒子を前記基板表面に付着させて成膜を行う
スパッタリング装置において、前記ターゲットを複数種
類の材料がそれぞれの領域に区分けされて一体的に形成
するとともに、該各領域のターゲットに対応して設けた
複数の磁界発生手段と、前記基板とターゲットとの間で
かつ前記ターゲットに近接して回転可能に設けられた放
電用の孔を有する回転シールド板と、この回転シールド
板の回転、停止を制御する回転制御手段とを具備したこ
とを特徴とするスパッタリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3481088A JPH01212757A (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3481088A JPH01212757A (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | スパッタリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01212757A true JPH01212757A (ja) | 1989-08-25 |
Family
ID=12424572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3481088A Pending JPH01212757A (ja) | 1988-02-17 | 1988-02-17 | スパッタリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01212757A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998020184A1 (en) * | 1996-11-04 | 1998-05-14 | Sola International Holdings Ltd. | Sputter coating apparatus |
-
1988
- 1988-02-17 JP JP3481088A patent/JPH01212757A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998020184A1 (en) * | 1996-11-04 | 1998-05-14 | Sola International Holdings Ltd. | Sputter coating apparatus |
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