JPH01213543A

JPH01213543A - 低温試験装置

Info

Publication number: JPH01213543A
Application number: JP63039186A
Authority: JP
Inventors: Kenji Ito; 憲治伊藤; Masaki Suda; 須田　正樹
Original assignee: Chino Corp
Current assignee: Chino Corp
Priority date: 1988-02-22
Filing date: 1988-02-22
Publication date: 1989-08-28

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この光用は、試料の低温試験を行う低温試験装置に関す
るものである。

［従来の技術］フライオスタラ１〜のような数十に以下での試料の低温
試験装置は、通常、冷凍機のコールドヘッドに直接ヒー
タを巻き、制御用温度センサをコールドヘッドの表面に
設け、冷凍機を動作させ、ヒータの制御を行って、所定
の低）品としている。そして、試料を適当な取付台に取
り付け、リード線を中継するピンをガラス・ハーメチッ
ク封止し信号を外部に取り出し試料の低温試験を（１っ
ている。

［この発明が解決しようとする課題］このため、冷ｍ機の交換等の保持の際、いちいちヒータ
をほどかなければならず、また、ヒータの巻き作業もし
にクク、煩雑だった。また、制御用の温度センサは、コ
ールドヘッドの表面に付けるため、制御性が悪いものだ
った。また、試料取付台も固定的に取り付けられ作業が
不便であった。

また、リード線をハーメチックピンをｆＦ　して取り出
すとＵ質が異なり寄生熱起電力が大きく、低温用には精
度、信頼性が不十分だった。

この発明の目的は、以上の点に嵩み、低温状態の実現に
良好な低温試験装置を提供することである。

また、上記の目的と関連して、この発明の他の目的は、
低温試験装置において、ヒータの取付構造の改良、試料
取付台の改良、リード線取付構造の改良等を行うことで
ある。

［ｙＩ題を解決するための手段］この発明は、冷凍機のコードブロックにヒータを巻回し
たヒータブロックを設けるようにした低；２試験装置で
ある。

また、試料取付台は、ヒータブロックに着脱可能とされ
、また、リード線は、樹脂被覆銅リードピンを中継され
る構造となっている。

［実施例］第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。

図において、１は、図示しない下部の冷凍機により冷却
される円筒上のコールドヘッドで、このコールドヘッド
１の上部には、円柱状のヒータブロック２が設けられ、
このヒータブロック２の周囲にはシースヒータ等のヒー
タ３が無誘導ざさされ、その外側は絶縁をかねた断熱材
４が巻かれて設けられている。このヒータブロック２の
側方の穴部に制御用温度センサ５ａが挿入され、ざらに
ヒータブロック２の上部にはその７ランジ部で内筒６が
テフロンと称される４フフ化エチレンの樹脂製のシール
材６ｂをｆＦしボルト６ａ等で取り付けられている。こ
の内筒６の内部のピークブロック２上に、下部に台座７
ａを有する試Ｒ取付台７がネジ７ｂで着脱可能に設けら
れて内蔵され、試料取付台７の上部に測定監視用温度セ
ンサ５ｂが設けられている。

そして、内筒６の上部に２個のパイプ８８１８ｂ、この
パイプ８ａ　、８ｂにキｔツブ９ａ　、９ｂが取り付け
られ、コールドヘッド１、ヒータブロック２、内筒６等
が外１ｉ１１０に内蔵されている。

この外筒１０もボルト１０ａで分離、＠脱可能とされて
いる。

第２図で示すように、試料取付台７は、Ｃｕ板よりなり
、その両側の取付部に、スタイキャストと称される高熱
伝導性エポキシ樹ｌＪ１等の絶縁材７ａｔａけ、さらに
超伝導体のような試料１１、端子台７ｄを設け、リード
線７ｃを介して測定信丹を外部に取り出す。

この端子台７ｄのリード１７ｃは、ヒータブロック２の
上部に設けられた中継部の穴部に、第３図のような４フ
フ化エチレンのようなパイプ状の樹脂１２ａで被覆され
、エポキシ樹脂等の接着剤１２ｂで封止された銅ピン１
２に接続している。

さらに、内ｆ！１６に１」ｅガスを封入するには、第４
図で示すように、常温で内＠６の上部の一方のパイプ８
ａに、ＨＯを封入したバルーン（風船）１３を取り付け
、バルーン１３を手で圧縮し他方のパイプ８ｂから内部
エアを排出して内部にバルーン１３からのＨｅを封入し
キャップ９ａ　、　９ｂで封止する。

そして、図示しない冷２１ｉ機でコールドヘッド１を冷
却しつつ、制御用温度センサ５ａの出力ｅｉと設定値Ｃ
Ｃとを比較し、両者が一致するよう制御手段１４の出力
ｅｏにより電源１５からヒータ３の出力をｉｌＪ　Ｉｌ
ｌ　Ｌ、所定の温度となるようにする。この状態で、測
定監視用の１ｆｌｌＩ［センサ５ａの出力ｅｍに基き、
試料１１の各種測定出力ｅｓを図示しない測定手段で測
定し、試料の低温試験を行う。

［発明の効果］この発明は、コールドヘッドとは別にヒータブロックを
設け、このヒータブロックにヒータを設けているので、
着脱等の保持が容室で、制御用の温度センサもヒータブ
ロックの）温度を直接測定しているので、制御性も良好
である。また、ヒータには、断熱材を設けているので、
各種リード線がヒータの熱により焼損するおそれがない
。

また、コールドヘッドに設けられる試料取付台は着脱可
能とされ、両側を取付部としているので、試料のセット
、交換等が容易で各種試験が容易である。また、試料、
端子台は、高熱伝導度の絶縁材で絶縁しているので、測
定試験か精度よくできる。

また、リード線を中継する中継部は、樹脂被覆のリード
線と同材質の銅リードピンを接着剤で封止しているので
、寄生熱起電力もなく、熱的接触もよく、余分な熱流入
がなく、低温下の低レベル信号の測定が可能である。

また、Ｈｅガスの内筒への封入は、バルーンを利用する
ようにすれば、封入が容易で、シールは、金属をおしつ
ぶしていないので、交換の手間は不要である。

【図面の簡単な説明】

第１図、第２図、第３図、第４図は、この発明の一実施
例を示す構成説明図である。

Claims

【特許請求の範囲】１、冷凍機のコールドヘッドに設けられ周囲にヒータを
設けたヒータブロックと、このヒータブロック上に設け
られた試料取付台および試料取付台を内蔵する内筒と、
コールドヘッド、ヒータブロック、内筒を内蔵する外筒
と、前記ヒータブロックに設けられた制御用温度センサ
の出力に基きヒータに供給する電源の制御を行う制御手
段とを備え、所定の低温状態として試料の試験を行う低
温試験装置。２、前記ヒータの外周に断熱材を設けた請求項１記載の
低温試験装置。３、低温試験装置のコールドヘッドに接続するヒータブ
ロック上の試料取付台は、ヒータブロックに着脱可能と
されるとともに両側に取付部を設けた構造とした低温試
験装置の試料取付台。４、前記試料取付台は、外側を絶縁材で絶縁して試料お
よび中継端子を設けた請求項３記載の低温試験装置の試
料取付台。５、低温試験装置の試料取付台からのリード線を中継す
る冷凍機のコールドブロック上のヒータブロックに設け
られた中継部の穴部に、樹脂被覆銅ピンを挿入し、接着
剤で封止し、リード線を中継する構造とした低温試験装
置のリード線中継構造。