JPH01215305A - 化学製品等の自動蒸留試験装置 - Google Patents
化学製品等の自動蒸留試験装置Info
- Publication number
- JPH01215305A JPH01215305A JP3764688A JP3764688A JPH01215305A JP H01215305 A JPH01215305 A JP H01215305A JP 3764688 A JP3764688 A JP 3764688A JP 3764688 A JP3764688 A JP 3764688A JP H01215305 A JPH01215305 A JP H01215305A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- distillation
- distillate
- chemical products
- amount
- curve
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Vaporization, Distillation, Condensation, Sublimation, And Cold Traps (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、化学製品等を蒸留試験を自動的に行う装置に
関する。
関する。
（従来の技術）
化学製品等の蒸留試験方法は、日本工業規格（Ｊ Ｉ
Ｓ） Ｋ−００６６号に規定されている。
Ｓ） Ｋ−００６６号に規定されている。
この規定には、例えばガス加熱式の場合第２図に示す如
き装置を用い、試験条件に示されている加熱速度に従っ
て、初留点、留出量と温度の関係（蒸留曲線）、終点、
残液量を求める方法が記載されてハる。
き装置を用い、試験条件に示されている加熱速度に従っ
て、初留点、留出量と温度の関係（蒸留曲線）、終点、
残液量を求める方法が記載されてハる。
なお第２図において液体試料は、フラスコ２１に入れら
れ、ガスバーナー２２で加熱されることにより蒸発し、
凝縮浴２３において凝縮し、水浴２４中にある受器２５
に採取される。この蒸留操作における蒸留温度は温度計
２６により測定される。
れ、ガスバーナー２２で加熱されることにより蒸発し、
凝縮浴２３において凝縮し、水浴２４中にある受器２５
に採取される。この蒸留操作における蒸留温度は温度計
２６により測定される。
（発明が解決しようとする課題）
従来のＪＩＳに規定されている方法では、蒸留温度と留
出量を同時に測定する必要があるので、蒸留試験中は分
析具が２名蒸留試験装置の近くに居る必要があり、その
省力化が望まれている。
出量を同時に測定する必要があるので、蒸留試験中は分
析具が２名蒸留試験装置の近くに居る必要があり、その
省力化が望まれている。
即ちＪＩＳの規定では、
（１）加熱時間から初留点に達するまでの時間（２）初
留点から留出量５％に達するまでの時間（３）５％留出
してからフラスコ内残量が５ｍｊ７になるまでの卑均毎
分留出量 （４）フラスコ内残量が５ｍｌから終点に至るまでの時
間等が試料により細かく規定されており、通常この蒸留
操作に２０〜３０分要し、この間二人の分析具は蒸留試
験器より離れることができない。また蒸留試験の結果は
、蒸留温度と留出量の関係を通常グラフにプロットする
が、このためにも多くの労力を要する。
留点から留出量５％に達するまでの時間（３）５％留出
してからフラスコ内残量が５ｍｊ７になるまでの卑均毎
分留出量 （４）フラスコ内残量が５ｍｌから終点に至るまでの時
間等が試料により細かく規定されており、通常この蒸留
操作に２０〜３０分要し、この間二人の分析具は蒸留試
験器より離れることができない。また蒸留試験の結果は
、蒸留温度と留出量の関係を通常グラフにプロットする
が、このためにも多くの労力を要する。
このため化学製品等の蒸留試験は、複数の分析具で多く
の時間を要し、その省力化が重要な課題となっている。
の時間を要し、その省力化が重要な課題となっている。
（課題を解決するための手段）
発明者等は上記の如く多くの労力を必要とする化学製品
等の蒸留試験の省力化について検討した結果、蒸留温度
および留出量等をセンサーを用いて測定し、小型電算機
により蒸留曲線を作成すれば、効率的に省力化ができる
ことを見出し本発明に至った。
等の蒸留試験の省力化について検討した結果、蒸留温度
および留出量等をセンサーを用いて測定し、小型電算機
により蒸留曲線を作成すれば、効率的に省力化ができる
ことを見出し本発明に至った。
即ち本発明は、化学製品の蒸留試験を行うに際し、初留
点、蒸留温度と留出量、終点等をセンサーを用いて測定
し、小型電算機を用いて蒸留曲線を作することを特徴と
する化学製品等の自動蒸留試験装置である。
点、蒸留温度と留出量、終点等をセンサーを用いて測定
し、小型電算機を用いて蒸留曲線を作することを特徴と
する化学製品等の自動蒸留試験装置である。
本発明において蒸留試験器は、ＪＩＳ Ｋ−００６６号
に規定されたものを用い、次の如き方法により各データ
を測定し、蒸留曲線を作成する。
に規定されたものを用い、次の如き方法により各データ
を測定し、蒸留曲線を作成する。
第１図は本発明の測定原理を示す図である。第１図にお
いて、測温抵抗体１により測定された蒸留温度の信号は
、増幅器２を経て変換器３に送られ、デジタル信号とな
り、小型電算機４に人力される。また受器５に取り付け
られた光源部６からの光線により受光部７でその留出量
等を検知し、その信号が増幅器および変換器を備えたア
ンプユニット８においてデジタル信号となり小型電算機
４に入力される。
いて、測温抵抗体１により測定された蒸留温度の信号は
、増幅器２を経て変換器３に送られ、デジタル信号とな
り、小型電算機４に人力される。また受器５に取り付け
られた光源部６からの光線により受光部７でその留出量
等を検知し、その信号が増幅器および変換器を備えたア
ンプユニット８においてデジタル信号となり小型電算機
４に入力される。
小型電算機４において両信号より蒸留曲線を作成してプ
リンター９に出力される。なお留出量は、後に述べる如
く超音波を用いて測定することもできる。
リンター９に出力される。なお留出量は、後に述べる如
く超音波を用いて測定することもできる。
蒸留温度の測定には通常測温抵抗体を用いる。測温抵抗
体１は例えば第３図に示す如き形状であり、硬質ガラス
３１中に白金線３２が組み込まれており、端子３３から
リード線が増幅器に連結される。白金線は通常Ｑ、１ｍ
ｍ径程度のものが用いられ、使用温度範囲は０〜３５０
℃である。この測定精度はＪＩＳで規定されているガラ
ス製温度計に比較して著しく高くなる。
体１は例えば第３図に示す如き形状であり、硬質ガラス
３１中に白金線３２が組み込まれており、端子３３から
リード線が増幅器に連結される。白金線は通常Ｑ、１ｍ
ｍ径程度のものが用いられ、使用温度範囲は０〜３５０
℃である。この測定精度はＪＩＳで規定されているガラ
ス製温度計に比較して著しく高くなる。
留出量の検出には例えば次の二つの方法が用いられる。
（１〕留出液が光路に入ると受光部でのエネルギーが減
少することを利用して計測する。例えば第４図に示す如
き構造とし、光源部４１より赤外線を水平に受器４２内
に通過させ、受光部４３に右いて光センサーにより留出
量を測定する。なお光源部および受光部の内部は右図に
示す如く、光源４５およびセンサー４６をスキャナーモ
ーター４７で平行に移動させ、受器内の液面を検出する
。この信号はリード線４４によりアンプユニットに送ら
れる。
少することを利用して計測する。例えば第４図に示す如
き構造とし、光源部４１より赤外線を水平に受器４２内
に通過させ、受光部４３に右いて光センサーにより留出
量を測定する。なお光源部および受光部の内部は右図に
示す如く、光源４５およびセンサー４６をスキャナーモ
ーター４７で平行に移動させ、受器内の液面を検出する
。この信号はリード線４４によりアンプユニットに送ら
れる。
（２）例えば第５図に示す如き構造とし、受器５１の上
部に超音波センサー発振器５２を設け、間欠的に発する
超音波の留出液面での反射波と時間間隔をこの超音波セ
ンサー発振器で測定し、これをアンプユニット５３で液
面からの距離に比例した信号に変えて留出量を測定する
。
部に超音波センサー発振器５２を設け、間欠的に発する
超音波の留出液面での反射波と時間間隔をこの超音波セ
ンサー発振器で測定し、これをアンプユニット５３で液
面からの距離に比例した信号に変えて留出量を測定する
。
なお初留温度の測定には、第６図に示す如く受器６１の
上部にある凝縮管６２の端に光源６３よりの光線が通過
するようにしてその光線をセンサー６４にて検知させる
。また終点温度は測定温度のはね上がりより検知できる
。
上部にある凝縮管６２の端に光源６３よりの光線が通過
するようにしてその光線をセンサー６４にて検知させる
。また終点温度は測定温度のはね上がりより検知できる
。
蒸留曲線は、小型電算機に記憶された蒸留温度と留出量
から作成される。なお蒸留温度はＪＩＳに従い大気圧の
補正を行う。
から作成される。なお蒸留温度はＪＩＳに従い大気圧の
補正を行う。
（発明の効果）
本発明による蒸留試験装置を用いることにより、化学製
品等の蒸留試験が自動的に行われるようになるので分析
具の著しい省力化が計られ、且つより正確な測定結果が
得られる。
品等の蒸留試験が自動的に行われるようになるので分析
具の著しい省力化が計られ、且つより正確な測定結果が
得られる。
これにより蒸留試験での分析具の工数が減少して分析コ
ストが低減されると共に精度の高い測定値が得られるの
で、本発明の工業的意義が大きい。
ストが低減されると共に精度の高い測定値が得られるの
で、本発明の工業的意義が大きい。
第１図は本発明の測定原理を示す図であり、第２図は従
来のＪＩＳに規定された蒸留試験装置の一例である。第
３図は本発明に用いる測温抵抗体の構造を示す図、第４
図は光センサーにより留出量を測定する方法を示す図、
第５図は超音波センサー発振器により留出量を測定する
方法を示す図、第６図は初留温度の検出方法を示す図で
ある。 特許出願人 三菱瓦斯化学株式会社 代理人 弁理士 小 堀 貞 文 第１図
来のＪＩＳに規定された蒸留試験装置の一例である。第
３図は本発明に用いる測温抵抗体の構造を示す図、第４
図は光センサーにより留出量を測定する方法を示す図、
第５図は超音波センサー発振器により留出量を測定する
方法を示す図、第６図は初留温度の検出方法を示す図で
ある。 特許出願人 三菱瓦斯化学株式会社 代理人 弁理士 小 堀 貞 文 第１図
Claims (3)
- （１）化学製品の蒸留試験を行うに際し、初留点、蒸留
温度と留出量、終点等をセンサーを用いて測定し、小型
電算機を用いて蒸留曲線を作することを特徴とする化学
製品等の自動蒸留試験装置 - （２）光源部より受器に光線を通過させ、光センサーに
より留出量を測定する特許請求の範囲第１項の化学製品
等の自動蒸留試験装置 - （３）受器の上部に超音波センサー発振器を設置し、間
欠的に発する超音波の留出液面よりの反射波より留出量
を測定する特許請求の範囲第１項の化学製品等の自動蒸
留試験装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3764688A JPH01215305A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 化学製品等の自動蒸留試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3764688A JPH01215305A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 化学製品等の自動蒸留試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01215305A true JPH01215305A (ja) | 1989-08-29 |
Family
ID=12503415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3764688A Pending JPH01215305A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 化学製品等の自動蒸留試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01215305A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0354701U (ja) * | 1989-09-21 | 1991-05-27 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5512462A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-29 | Nec Corp | Acoustic liquid level detection |
| JPS5942001A (ja) * | 1982-06-07 | 1984-03-08 | ジ−・シ−・エ−・コ−ポレ−シヨン | 自動蒸留装置 |
-
1988
- 1988-02-22 JP JP3764688A patent/JPH01215305A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5512462A (en) * | 1978-07-12 | 1980-01-29 | Nec Corp | Acoustic liquid level detection |
| JPS5942001A (ja) * | 1982-06-07 | 1984-03-08 | ジ−・シ−・エ−・コ−ポレ−シヨン | 自動蒸留装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0354701U (ja) * | 1989-09-21 | 1991-05-27 |
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