JPH01219556A - 溶接部の超音波探傷方法 - Google Patents
溶接部の超音波探傷方法Info
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- JPH01219556A JPH01219556A JP63044848A JP4484888A JPH01219556A JP H01219556 A JPH01219556 A JP H01219556A JP 63044848 A JP63044848 A JP 63044848A JP 4484888 A JP4484888 A JP 4484888A JP H01219556 A JPH01219556 A JP H01219556A
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- JP
- Japan
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- gate
- probe
- weld zone
- echo
- distance
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は突合わせ溶接鋼管等の溶接部の超音波探傷方法
に関する。
に関する。
突合わせ溶接した鋼管等の溶接部の超音波探傷は斜角探
傷によって通常行なうが、その検出エコーは、ビードで
反射することによって発生するビードエコー及び溶接欠
陥部で反射することによって発生する欠陥エコーを含ん
でいるため、ビードエコーを除去して欠陥エコーのみを
抽出する必要がある。以下に従来使用されている主な2
つの抽出方法について述べる。第7図は第1の方法を示
す模式図であり、溶接部2の近傍の探傷用被検香材l上
に載置された探触子4aからビードの下側の肩部3に対
して超音波ビームを入射させると該肩部3で反射してビ
ードエコーが発生する。ここで、溶接部2の中央線と探
触子4aのビーム入射点との間の水平距離(以下、探触
子距離という)Xの値により、ビードエコーが発生する
場合のビーム入射点から該ビームがビードで反射する点
までのビ−ム路程Wを予め幾何学的に求めておき、探触
子距離Xに応じてビードエコーが検出エコーに含まれな
いように監視信号の抽出をするゲートを設定して探傷を
行う。
傷によって通常行なうが、その検出エコーは、ビードで
反射することによって発生するビードエコー及び溶接欠
陥部で反射することによって発生する欠陥エコーを含ん
でいるため、ビードエコーを除去して欠陥エコーのみを
抽出する必要がある。以下に従来使用されている主な2
つの抽出方法について述べる。第7図は第1の方法を示
す模式図であり、溶接部2の近傍の探傷用被検香材l上
に載置された探触子4aからビードの下側の肩部3に対
して超音波ビームを入射させると該肩部3で反射してビ
ードエコーが発生する。ここで、溶接部2の中央線と探
触子4aのビーム入射点との間の水平距離(以下、探触
子距離という)Xの値により、ビードエコーが発生する
場合のビーム入射点から該ビームがビードで反射する点
までのビ−ム路程Wを予め幾何学的に求めておき、探触
子距離Xに応じてビードエコーが検出エコーに含まれな
いように監視信号の抽出をするゲートを設定して探傷を
行う。
一方、第2の方法は、ビードエコー及び欠陥エコーを両
者ともゲート内に入れて検出エコーとして検出し、その
結果を画像化し、その表示された位置及び形状によりビ
ードエコーと欠陥エコーとの判別を行い、欠陥エコーの
みを抽出するという方法である。
者ともゲート内に入れて検出エコーとして検出し、その
結果を画像化し、その表示された位置及び形状によりビ
ードエコーと欠陥エコーとの判別を行い、欠陥エコーの
みを抽出するという方法である。
第1の方法では、溶接部2のわずかな形状変化によりビ
ードエコーの反射位置が変化し、また同一形状であって
も母材内を透過するビームの音速等が変化すればビーム
の往復伝播時間が異なり、ビーム路程Wが変動してモニ
タゲートの設定が不確実になるという問題があった。一
方、大径鋼管の溶接部に対して探傷する場合には同一寸
法に成形しても母材の強度にばらつきがあり真円度が異
なるため、真円を仮定して予め幾何学的に計算したビー
ドエコーが発生するビーム路程と実際のビーム路程との
間に誤差を生じ、ゲートの正確な設定が難しいという問
題があった。また第8図に示す如く、横波として入射し
た超音波ビームがビードに当たって縦波にモード変換し
て照射ビードと反対側のビードで反射し、元の横波に再
びモード変換して受信されるようなエコー(以下、モー
ド変換エコーという)は、ビード形状によっては設定さ
れたゲート内に入り、欠陥エコーとして判別されるとい
う問題があった。
ードエコーの反射位置が変化し、また同一形状であって
も母材内を透過するビームの音速等が変化すればビーム
の往復伝播時間が異なり、ビーム路程Wが変動してモニ
タゲートの設定が不確実になるという問題があった。一
方、大径鋼管の溶接部に対して探傷する場合には同一寸
法に成形しても母材の強度にばらつきがあり真円度が異
なるため、真円を仮定して予め幾何学的に計算したビー
ドエコーが発生するビーム路程と実際のビーム路程との
間に誤差を生じ、ゲートの正確な設定が難しいという問
題があった。また第8図に示す如く、横波として入射し
た超音波ビームがビードに当たって縦波にモード変換し
て照射ビードと反対側のビードで反射し、元の横波に再
びモード変換して受信されるようなエコー(以下、モー
ド変換エコーという)は、ビード形状によっては設定さ
れたゲート内に入り、欠陥エコーとして判別されるとい
う問題があった。
一方、第2の方法ではオペレータが得られた検出エコー
の画像からビードエコーと欠陥エコーとを判別すること
が可能であるが、オペレータの熟練度が低い場合には探
傷に長時間を要し、また誤判定を行なうという問題があ
った。
の画像からビードエコーと欠陥エコーとを判別すること
が可能であるが、オペレータの熟練度が低い場合には探
傷に長時間を要し、また誤判定を行なうという問題があ
った。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、その
目的とするところは、健全な溶接部に対して超音波を入
射することによってゲートを予め正確に設定し、該ゲー
ト内で溶接部欠陥の探傷を行うことにより欠陥エコーの
みを正確に抽出し、また探傷時間を短縮し、誤判定のな
い溶接部の超音波探傷方法を提供することにある。
目的とするところは、健全な溶接部に対して超音波を入
射することによってゲートを予め正確に設定し、該ゲー
ト内で溶接部欠陥の探傷を行うことにより欠陥エコーの
みを正確に抽出し、また探傷時間を短縮し、誤判定のな
い溶接部の超音波探傷方法を提供することにある。
本発明に係る溶接部の超音波探傷方法は、突合わせ溶接
によって形成された溶接部に対して超音波を入射し、そ
の反射信号にゲートをかけて所要信号を抽出して溶接部
の探傷を行う方法において、検査対象溶接部とビード形
状及び母材材質が実質的に同一の実質的に無欠陥の溶接
部に対して超音波を入射し、その反射信号により超音波
入射点と溶接部ビードでの超音波反射点との間の路程を
測定し、探触子と溶接部との離隔距離を同じくする前記
路程の複数の測定値の平均値及び標準偏差を溶接部全体
積を探傷するに必要な範囲の異なる離隔距離それぞれに
おいて算出し、これらと前記離隔距離との関係に基づき
所定の算出式を用いてゲートを設定することを特徴とす
る。
によって形成された溶接部に対して超音波を入射し、そ
の反射信号にゲートをかけて所要信号を抽出して溶接部
の探傷を行う方法において、検査対象溶接部とビード形
状及び母材材質が実質的に同一の実質的に無欠陥の溶接
部に対して超音波を入射し、その反射信号により超音波
入射点と溶接部ビードでの超音波反射点との間の路程を
測定し、探触子と溶接部との離隔距離を同じくする前記
路程の複数の測定値の平均値及び標準偏差を溶接部全体
積を探傷するに必要な範囲の異なる離隔距離それぞれに
おいて算出し、これらと前記離隔距離との関係に基づき
所定の算出式を用いてゲートを設定することを特徴とす
る。
本発明方法においては、あらかじめ同一形状の同−母材
材質無欠陥溶接部に対して超音波ビームを入射すること
により探傷装置にモニタゲートを設定し、該モニタゲー
ト内で探傷用被検査体の超音波探傷を行う。
材質無欠陥溶接部に対して超音波ビームを入射すること
により探傷装置にモニタゲートを設定し、該モニタゲー
ト内で探傷用被検査体の超音波探傷を行う。
以下、本発明方法をその実施例を示す図面に基づき具体
的に説明する。第1図は本発明方法の実施に使用する超
音波探傷用の探触子走査装置20の斜視図であり、図に
示す如く、該装置20は、矩形に枠組みされた架台13
をその四隅に取付けられた脚部15.15.15.15
の下端には夫々台座15a+ 15a+15a、 15
aを設けている。また、架台13は夫々相対する長辺2
0a、 20b及び短辺20c、 20dを有しており
、短辺20c、 20dは溶接部2を中央にして、その
中央線2aと平行に配されている。長辺20a、 20
bの内側にはガイドロッド9及びねじ棒10(一方のみ
現われている)が設けである。
的に説明する。第1図は本発明方法の実施に使用する超
音波探傷用の探触子走査装置20の斜視図であり、図に
示す如く、該装置20は、矩形に枠組みされた架台13
をその四隅に取付けられた脚部15.15.15.15
の下端には夫々台座15a+ 15a+15a、 15
aを設けている。また、架台13は夫々相対する長辺2
0a、 20b及び短辺20c、 20dを有しており
、短辺20c、 20dは溶接部2を中央にして、その
中央線2aと平行に配されている。長辺20a、 20
bの内側にはガイドロッド9及びねじ棒10(一方のみ
現われている)が設けである。
ガイドロッド9及びねじ棒10は移動子7,7を貫通し
てこれを支持しており、移動子7.7は図示しないパル
スモータ等の駆動装置によるねじ棒10の回転に伴って
長辺20a、 20bの内側に沿って夫々ガイドロッド
9に対しては摺動、ねじ棒10に対して・は螺動しなが
ら移動すべ(配しである。また、短辺20c、 20d
の内側にはガイドロッド11及びねじ棒12 (一方の
み現われている)が設けである。ガイドロッド11及び
ねじ棒12は移動子8,8を貫通してこれを支持してお
り、移動子8,8は図示しないパルスモータ等の駆動装
置によるねじ棒12の回転に伴って短辺20c、 20
dの内側に沿って夫々ガイドロッド11に対しては摺動
、ねじ捧12に対しては螺動しながら移動すべく配しで
ある。
てこれを支持しており、移動子7.7は図示しないパル
スモータ等の駆動装置によるねじ棒10の回転に伴って
長辺20a、 20bの内側に沿って夫々ガイドロッド
9に対しては摺動、ねじ棒10に対して・は螺動しなが
ら移動すべ(配しである。また、短辺20c、 20d
の内側にはガイドロッド11及びねじ棒12 (一方の
み現われている)が設けである。ガイドロッド11及び
ねじ棒12は移動子8,8を貫通してこれを支持してお
り、移動子8,8は図示しないパルスモータ等の駆動装
置によるねじ棒12の回転に伴って短辺20c、 20
dの内側に沿って夫々ガイドロッド11に対しては摺動
、ねじ捧12に対しては螺動しながら移動すべく配しで
ある。
移動子7.7の対向面間にはガイドロッド5゜5が平行
に架設してあり、また移動子8.8の対向面間にはガイ
ドロッド6.6が平行に架設しである。これら両ガイド
ロフトは、ブロック状の探触子走査ブロック40内を移
動自在に挿通している。
に架設してあり、また移動子8.8の対向面間にはガイ
ドロッド6.6が平行に架設しである。これら両ガイド
ロフトは、ブロック状の探触子走査ブロック40内を移
動自在に挿通している。
また、長辺20a、短辺20cには図示しないディジタ
ルスケールがその長手方向に取付けられており、そのヘ
ッドが移動子7.8に設けられている。−方、探触子走
査部40を上下動可能に貫通させた軸40aが設けられ
ており、その下端には探触子保持具4を連繋している。
ルスケールがその長手方向に取付けられており、そのヘ
ッドが移動子7.8に設けられている。−方、探触子走
査部40を上下動可能に貫通させた軸40aが設けられ
ており、その下端には探触子保持具4を連繋している。
また、軸40aは図示しない圧力付加装置により下向き
に付勢されている。探触子保持具4は軸40aに連結さ
れた連結治具30とピン31に゛よって固定され大径管
のような曲率を有する被検材に探触子保持具4が追随す
るよう回転可能となっている探触子保持具4には探触子
4a及び探傷用被検金材1上を円滑に転勤させるための
ローラ14が取付けられている。
に付勢されている。探触子保持具4は軸40aに連結さ
れた連結治具30とピン31に゛よって固定され大径管
のような曲率を有する被検材に探触子保持具4が追随す
るよう回転可能となっている探触子保持具4には探触子
4a及び探傷用被検金材1上を円滑に転勤させるための
ローラ14が取付けられている。
第2図は、上述した探触子走査装置20を用いて本発明
方法を実施する場合の全体装置の構成を示す模式的ブロ
ック図であり、図に示す如く、計算機24から送られる
情報により探触子走査装置コントローラ21が探触子走
査装置20の移動子7,7及び8,8を、図示しないパ
ルスモータにより駆動させる。それによって探傷用被検
香材1上を移動する探触子4aの位置情報は移動子7,
8に取付けたディジタルスケールのヘッドからの出力と
して位置読取機22へ入力される。これを探触子距離の
データとして計算機24へ出力する。一方、探触子4a
に接続しである探傷器23は探触子4aから超音波・ビ
ームを溶接部2に対して入射させ、それによって生じる
エコーを検出し、検出したエコーを計算機24へ入力す
る。
方法を実施する場合の全体装置の構成を示す模式的ブロ
ック図であり、図に示す如く、計算機24から送られる
情報により探触子走査装置コントローラ21が探触子走
査装置20の移動子7,7及び8,8を、図示しないパ
ルスモータにより駆動させる。それによって探傷用被検
香材1上を移動する探触子4aの位置情報は移動子7,
8に取付けたディジタルスケールのヘッドからの出力と
して位置読取機22へ入力される。これを探触子距離の
データとして計算機24へ出力する。一方、探触子4a
に接続しである探傷器23は探触子4aから超音波・ビ
ームを溶接部2に対して入射させ、それによって生じる
エコーを検出し、検出したエコーを計算機24へ入力す
る。
以上の構成を有する装置によって本発明方法は次のよう
にして行なわれる。
にして行なわれる。
まず超音波探傷しようとする溶接部を有する大径鋼管等
の探傷用被検香材と同一の材質、肉厚及び溶接部形状を
有するゲート設定用試験材の健全な溶接部に対して超音
波ビームを探触子保持具4を図1の2点鎖線に示すよう
に走査させながら入射させ、発生するエコーを検出する
。即ち探触子走査装置20を、溶接部2と平行に前記ゲ
ート設定用試験材上に載置する。そして第3図に示すよ
うに無欠陥溶接部2から適長離隔した走査基準点Oを始
点として無欠陥溶接部2の中央線2aに平行に探触子4
aを走査する。これを複数の探触子距離Xについて反復
する。この間計算機24は位置読取器22が出力する信
号を取込み探触子距離X及び溶接線方向距離Yを算出す
る。
の探傷用被検香材と同一の材質、肉厚及び溶接部形状を
有するゲート設定用試験材の健全な溶接部に対して超音
波ビームを探触子保持具4を図1の2点鎖線に示すよう
に走査させながら入射させ、発生するエコーを検出する
。即ち探触子走査装置20を、溶接部2と平行に前記ゲ
ート設定用試験材上に載置する。そして第3図に示すよ
うに無欠陥溶接部2から適長離隔した走査基準点Oを始
点として無欠陥溶接部2の中央線2aに平行に探触子4
aを走査する。これを複数の探触子距離Xについて反復
する。この間計算機24は位置読取器22が出力する信
号を取込み探触子距離X及び溶接線方向距離Yを算出す
る。
一方、超音波探傷器23は探触子4aを励振し、溶接部
2からのエコーを一定ピッチのY毎に捉え、これを計算
機24へ入力する。計算機24はこれによりビーム路程
Wを求める。走査終了後同一のXに対して読込まれたビ
ーム路程Wにより計算機24が統計的計算を行うが、超
音波ビームの拡がりを考慮すると同一のXに対してもビ
ードの下側に当り反射するビードエコー(以下、内面ビ
ードエコーという)、ビードの上側に当り反射するビー
ドエコー(以下、外面ビードエコーという)又は前述し
たモード変換エコーの3種類のエコー群が検出され得る
ため、同一のXに対して同種のエコー群と見なせるビー
ム路程Wの複数データについてその平均値および標準偏
差を求める。
2からのエコーを一定ピッチのY毎に捉え、これを計算
機24へ入力する。計算機24はこれによりビーム路程
Wを求める。走査終了後同一のXに対して読込まれたビ
ーム路程Wにより計算機24が統計的計算を行うが、超
音波ビームの拡がりを考慮すると同一のXに対してもビ
ードの下側に当り反射するビードエコー(以下、内面ビ
ードエコーという)、ビードの上側に当り反射するビー
ドエコー(以下、外面ビードエコーという)又は前述し
たモード変換エコーの3種類のエコー群が検出され得る
ため、同一のXに対して同種のエコー群と見なせるビー
ム路程Wの複数データについてその平均値および標準偏
差を求める。
その処理手順を第4図に示すフローチャートに従って以
下に説明する。まず、ビーム路程を最大3つにグループ
分けするためのビーム路程分離距離δWを初期設定し、
グループ内でのデータカウントに用いる変数M、N、P
を0にしておく (ステップ1)0次にWのデータをセ
ントしくステップ2)、1個目のデータであれば(ステ
ップ3)、第1グ 6ループの(M+1)番目までのW
の平均値W□1゜第2グループの(N+1)番目までの
Wの平均値W 812 +第3グループの(P+1)番
目までのWの平均値W、3.に1番目のWをセットして
おく(ステップ4)、2個目以降のデータについてはX
が同一かどうかの判断を行ない(ステップ5)、次にl
W −W−w IlとδWとの比較を行い(ステップ
6) 、l W W−Il lがδWよりも小ならば
第1グループのカウント数Mをアンプしくステップ7)
、第1グループの(M+1)番目までの平均値W1を求
める(ステップ8)、またIW−W、、、lがδWより
大か等しければこのWは第2グループまたは第3グルー
プに所属するデータであり、第2グループの最初のデー
タならば(ステップ9)、W、2の初期値を改めてセン
トする(ステップ10)。
下に説明する。まず、ビーム路程を最大3つにグループ
分けするためのビーム路程分離距離δWを初期設定し、
グループ内でのデータカウントに用いる変数M、N、P
を0にしておく (ステップ1)0次にWのデータをセ
ントしくステップ2)、1個目のデータであれば(ステ
ップ3)、第1グ 6ループの(M+1)番目までのW
の平均値W□1゜第2グループの(N+1)番目までの
Wの平均値W 812 +第3グループの(P+1)番
目までのWの平均値W、3.に1番目のWをセットして
おく(ステップ4)、2個目以降のデータについてはX
が同一かどうかの判断を行ない(ステップ5)、次にl
W −W−w IlとδWとの比較を行い(ステップ
6) 、l W W−Il lがδWよりも小ならば
第1グループのカウント数Mをアンプしくステップ7)
、第1グループの(M+1)番目までの平均値W1を求
める(ステップ8)、またIW−W、、、lがδWより
大か等しければこのWは第2グループまたは第3グルー
プに所属するデータであり、第2グループの最初のデー
タならば(ステップ9)、W、2の初期値を改めてセン
トする(ステップ10)。
次にIw−w、。1とδWとの比較を行ない、1w−w
、tz lがδWより小ならば(ステップ11)、第
2グループのカウント数Nをアップしくステップ12)
、第2グループの(N+1)番目までの平均値W1□を
求める(ステップ13)。また、IW−W、!□ 1が
δWより大か等しければこのWは第3グループに所属す
るデータであり第3グループの最初のデータならば(ス
テップ14)、W、3゜の初期値を改めてセットする(
ステップ15)。
、tz lがδWより小ならば(ステップ11)、第
2グループのカウント数Nをアップしくステップ12)
、第2グループの(N+1)番目までの平均値W1□を
求める(ステップ13)。また、IW−W、!□ 1が
δWより大か等しければこのWは第3グループに所属す
るデータであり第3グループの最初のデータならば(ス
テップ14)、W、3゜の初期値を改めてセットする(
ステップ15)。
次に第3グループのカウント数Pをアンプしくステップ
16)、第3グループの(P+1)番目までの平均値W
、3.を求める(ステップ17)。以上述べた各グルー
、プ別の平均値算出フローのうちの1つを通過した後火
のデータWのセットへ戻る(ステップ2)0次に同様の
フローでXが同一である限りループし、異なるXが読み
込れた時点で第1グループ全体のWの平均値W1及び標
準偏差W、lを計算しくステップ18)、第2グループ
全体のWの平均値W、!及び標準偏差W、2を計算しく
スッテプ19)、第3グループ全体のWの平均値W、3
及び標準偏差W、、を計算する(ステップ20)。
16)、第3グループの(P+1)番目までの平均値W
、3.を求める(ステップ17)。以上述べた各グルー
、プ別の平均値算出フローのうちの1つを通過した後火
のデータWのセットへ戻る(ステップ2)0次に同様の
フローでXが同一である限りループし、異なるXが読み
込れた時点で第1グループ全体のWの平均値W1及び標
準偏差W、lを計算しくステップ18)、第2グループ
全体のWの平均値W、!及び標準偏差W、2を計算しく
スッテプ19)、第3グループ全体のWの平均値W、3
及び標準偏差W、、を計算する(ステップ20)。
その後初期設定へ戻り、前記異なるXに対して上述した
処理を行う0以上述べた演算を行なうに当たって用いた
ビーム路程分離距離δWは、ビーム路程を3つのグルー
プに分離する為の許容誤差範囲である。
処理を行う0以上述べた演算を行なうに当たって用いた
ビーム路程分離距離δWは、ビーム路程を3つのグルー
プに分離する為の許容誤差範囲である。
厚肉鋼管の溶接部に対して超音波探傷を行う場合に、同
一の探触子距離Xに対して検出され得るビーム路程Wの
グループは内面ビードエコー、外面ビードエコー又はモ
ード変換エコーのうちいずれか一つに対応するものだけ
であることが多いため、第4図に示したフローチャート
の中で第2グループ及び第3グループに関連する処理(
ステップ9)〜(ステップ17) 、(ステップ19)
、(ステップ20)は行なわれないことが多いが、薄
肉鋼管の溶接部に対して超音波探傷を行う場合には、同
一の探触予圧MXに対して検出され得るビーム路程Wの
グループは前記3種類のエコーに夫々対応する3つのグ
ループが同時に存在することもかなり起こるため、第4
図に示したフローチャートの処理がすべて行なわれるこ
とになる。
一の探触子距離Xに対して検出され得るビーム路程Wの
グループは内面ビードエコー、外面ビードエコー又はモ
ード変換エコーのうちいずれか一つに対応するものだけ
であることが多いため、第4図に示したフローチャート
の中で第2グループ及び第3グループに関連する処理(
ステップ9)〜(ステップ17) 、(ステップ19)
、(ステップ20)は行なわれないことが多いが、薄
肉鋼管の溶接部に対して超音波探傷を行う場合には、同
一の探触予圧MXに対して検出され得るビーム路程Wの
グループは前記3種類のエコーに夫々対応する3つのグ
ループが同時に存在することもかなり起こるため、第4
図に示したフローチャートの処理がすべて行なわれるこ
とになる。
このようにして求めた第1グループから第3グループの
Wの平均値W、、、W、、、W、、、標準偏差W、、、
W、tW、、およびXの実測値から欠陥エコーのみを検
出し得るゲート始点W、およびゲート終点W、を求める
。まず、同一のXについて、Wの平均値W aiとW、
五 (但し、i=1.2.3)を求め、各ビードエコー
のXとi番目のWsiとの関係を連続とみなし得る同一
のグループのXの最小値と最大値の間で回帰直線近似を
行って下記式(1)を得る。
Wの平均値W、、、W、、、W、、、標準偏差W、、、
W、tW、、およびXの実測値から欠陥エコーのみを検
出し得るゲート始点W、およびゲート終点W、を求める
。まず、同一のXについて、Wの平均値W aiとW、
五 (但し、i=1.2.3)を求め、各ビードエコー
のXとi番目のWsiとの関係を連続とみなし得る同一
のグループのXの最小値と最大値の間で回帰直線近似を
行って下記式(1)を得る。
W@! = AAX + B t (t =L2
.3)・・・(1)A五、B五:定数 ここで、同一のXに対してW4〜W1.の最大3通りの
回帰直線が検出され得るが、その中からW、iが最小の
ものを選択し、そのときのiをk、ゲート終点をW、と
するとWtは下記式(2)で示される。
.3)・・・(1)A五、B五:定数 ここで、同一のXに対してW4〜W1.の最大3通りの
回帰直線が検出され得るが、その中からW、iが最小の
ものを選択し、そのときのiをk、ゲート終点をW、と
するとWtは下記式(2)で示される。
WE = A@ X + Bk −nWa e II”
’(2)但し、W、、、はWow (k=1.2.3
)の平均値であり、またnは経験により3が望ましい。
’(2)但し、W、、、はWow (k=1.2.3
)の平均値であり、またnは経験により3が望ましい。
外径56″、肉厚18mmの大径鋼管を探傷用検査材と
し、その健全な溶接部について、Xを変化させWの値を
測定した結果を第5図に示す。
し、その健全な溶接部について、Xを変化させWの値を
測定した結果を第5図に示す。
図中、点で示したものは実測値であり、Xの範囲によっ
て3つのグループに分かれた。Wの値の、低い順に内面
ビードエコー、モード変換エコー、外面ビードエコー夫
々に対応している0本実施例では厚肉鋼管であるため、
同一のXに対して得られる回帰直線は1つしか検出され
ず式(2)のkは1となりゲート終点W、は下記式(3
)で示される。
て3つのグループに分かれた。Wの値の、低い順に内面
ビードエコー、モード変換エコー、外面ビードエコー夫
々に対応している0本実施例では厚肉鋼管であるため、
同一のXに対して得られる回帰直線は1つしか検出され
ず式(2)のkは1となりゲート終点W、は下記式(3
)で示される。
Wl =AIX+Bl 3W@ g+ ・・
・(3)本実施例のようにXに対応して求められた回帰
直線が連続しない場合には1つの回帰直線のXの最大値
に対応する終点を夫々下記式(4)に対応するXの位置
まで延長し、前記終点からXの高いレベルに対応する回
帰直線の始点までを直線で結ぶことによりゲート終点W
えを求める。
・(3)本実施例のようにXに対応して求められた回帰
直線が連続しない場合には1つの回帰直線のXの最大値
に対応する終点を夫々下記式(4)に対応するXの位置
まで延長し、前記終点からXの高いレベルに対応する回
帰直線の始点までを直線で結ぶことによりゲート終点W
えを求める。
X k= X kllia + 1.3(X ha□−
X1aifi) ・・・(4)Xks□:に番目に検
出される回帰直線のXの最大値 X11イ:に番目に検出される回帰直線のXの最小値 に:本実施例では1 なお、計数1.3は経験により求めた数値である。
X1aifi) ・・・(4)Xks□:に番目に検
出される回帰直線のXの最大値 X11イ:に番目に検出される回帰直線のXの最小値 に:本実施例では1 なお、計数1.3は経験により求めた数値である。
また、式(4)により延長した直線が、Xの高いレベル
に対応する回帰直線と、同一のXに対して重複する場合
には前記回帰直線の方を採用する。
に対応する回帰直線と、同一のXに対して重複する場合
には前記回帰直線の方を採用する。
一方、ゲート始点W、は下記式(5)によって求める。
ここでθは第6図に示す如く母材中におけるビームの実
屈折角であり、またB。はビードの幅である。これらの
値は予め入力しである。
屈折角であり、またB。はビードの幅である。これらの
値は予め入力しである。
以上述べたようにして求められたゲート始点W。
は第6図に示すようにビームが溶接部に入射し始める付
近までの路程であり、ゲート終点W、はビームがビード
肩部3に照射される場合よりも少し手前までの路程であ
る。また、ゲート始点W、は溶接部が十分探傷でき、探
触子内での残響エコー等の影響を受けない範囲に設定す
る必要があることは言うまでもない。
近までの路程であり、ゲート終点W、はビームがビード
肩部3に照射される場合よりも少し手前までの路程であ
る。また、ゲート始点W、は溶接部が十分探傷でき、探
触子内での残響エコー等の影響を受けない範囲に設定す
る必要があることは言うまでもない。
このようにして求めたゲート始点W、及びゲート終点W
、を超音波探傷機に予め設定し、探傷用検査材の溶接部
に対して超音波を入射し第3図に示すように走査してX
の値に応じて、その反射信号にゲート始点W、とゲート
終点Wえとの間のゲートを設定しながら所要信号を抽出
し、探傷用検査材の溶接部の探傷を行う。
、を超音波探傷機に予め設定し、探傷用検査材の溶接部
に対して超音波を入射し第3図に示すように走査してX
の値に応じて、その反射信号にゲート始点W、とゲート
終点Wえとの間のゲートを設定しながら所要信号を抽出
し、探傷用検査材の溶接部の探傷を行う。
本実施例で用いた外径56″、肉厚18mの大径鋼管を
供試材とし、その50本の、溶接部の72欠陥部位につ
いて超音波探傷を行うとゲート内にビードエコーは検出
されず、欠陥エコーのみが検出された。
供試材とし、その50本の、溶接部の72欠陥部位につ
いて超音波探傷を行うとゲート内にビードエコーは検出
されず、欠陥エコーのみが検出された。
以上に詳述した如く、本発明方法においては、探傷用検
査材と同一の材質、肉厚および溶接部形状を有するゲー
ト設定用試験材の健全な無欠陥溶接部を用いて、予め欠
陥エコーのみを抽出し得るゲート始点及びゲート終点を
設定しているため、探傷用被検査体の溶接欠陥部を探傷
する場合にビードエコーが確実に除去され、欠陥エコー
のみが抽出されて正確な探傷ができ、また計算機による
ゲートの設定が行なえるため探傷時間を大巾に短縮でき
、誤判定もなくなる等優れた効果を奏する。
査材と同一の材質、肉厚および溶接部形状を有するゲー
ト設定用試験材の健全な無欠陥溶接部を用いて、予め欠
陥エコーのみを抽出し得るゲート始点及びゲート終点を
設定しているため、探傷用被検査体の溶接欠陥部を探傷
する場合にビードエコーが確実に除去され、欠陥エコー
のみが抽出されて正確な探傷ができ、また計算機による
ゲートの設定が行なえるため探傷時間を大巾に短縮でき
、誤判定もなくなる等優れた効果を奏する。
第1図は本発明に係る探触子走査装置の立体図、第2図
は本発明に係る全体装置の構成を示す模式的ブロック図
、第3図は試験材の健全な溶接部に対する探触子の走査
方向を示す模式図、第4図はゲート設定のために行う検
出エコーの判別と、ビーム路程の平均値および標準偏差
を求める処理の内容を示すフローチャート、第5図は本
発明に係るゲート設定の結果を示すグラフ、第6図はゲ
ート始点とゲート終点とを具体的に示す模式図、第7図
は従来の探傷法を説明する模式図、第8図はモード変換
エコーの発生を説明する模式図である。 1・・・探傷用被検査体 2・・・ビード 4a・・・
探触子持 許 出願人° 住友金属工業株式会社会社代
理人 弁理士 河 野 登 夫第2図 第3図 第5図 第6肩 第7図 第8図 手続補正書(自発) 昭和63年3月1日 2、発明の名称 溶接部の超音波探傷方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 所在地 大阪市東区北浜5丁目15番地名 称 (21
1)住友金属工業株式会社代表者新宮康男 4、代理人 住 所 ■543大阪市天王寺区四天王寺1丁目14番
22号 日進ビル207号 6、補正の内容 明細書の第18頁第16行に「住友金属工業株式会社会
社」とあるのを「住友金属工業株式会社」と訂正する。
は本発明に係る全体装置の構成を示す模式的ブロック図
、第3図は試験材の健全な溶接部に対する探触子の走査
方向を示す模式図、第4図はゲート設定のために行う検
出エコーの判別と、ビーム路程の平均値および標準偏差
を求める処理の内容を示すフローチャート、第5図は本
発明に係るゲート設定の結果を示すグラフ、第6図はゲ
ート始点とゲート終点とを具体的に示す模式図、第7図
は従来の探傷法を説明する模式図、第8図はモード変換
エコーの発生を説明する模式図である。 1・・・探傷用被検査体 2・・・ビード 4a・・・
探触子持 許 出願人° 住友金属工業株式会社会社代
理人 弁理士 河 野 登 夫第2図 第3図 第5図 第6肩 第7図 第8図 手続補正書(自発) 昭和63年3月1日 2、発明の名称 溶接部の超音波探傷方法 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 所在地 大阪市東区北浜5丁目15番地名 称 (21
1)住友金属工業株式会社代表者新宮康男 4、代理人 住 所 ■543大阪市天王寺区四天王寺1丁目14番
22号 日進ビル207号 6、補正の内容 明細書の第18頁第16行に「住友金属工業株式会社会
社」とあるのを「住友金属工業株式会社」と訂正する。
Claims (1)
- 1、突合わせ溶接によって形成された溶接部に対して超
音波を入射し、その反射信号にゲートをかけて所要信号
を抽出して溶接部の探傷を行う方法において、検査対象
溶接部とビード形状及び母材材質が実質的に同一で実質
的に無欠陥の溶接部に対して超音波を入射し、その反射
信号により超音波入射点と上記無欠陥溶接部での超音波
反射点との間の路程を測定し、探触子と上記無欠陥溶接
部との離隔距離を同じくする前記路程の複数の測定値の
平均値及び標準偏差を溶接部全体積を探傷するに必要な
範囲の異なる離隔距離それぞれについて算出し、これら
と前記離隔距離との関係に基づき所定の算出式を用いて
ゲートを設定することを特徴とする溶接部の超音波探傷
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63044848A JPH01219556A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 溶接部の超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63044848A JPH01219556A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 溶接部の超音波探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01219556A true JPH01219556A (ja) | 1989-09-01 |
Family
ID=12702900
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63044848A Pending JPH01219556A (ja) | 1988-02-26 | 1988-02-26 | 溶接部の超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01219556A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103901100A (zh) * | 2014-03-25 | 2014-07-02 | 深圳市神视检验有限公司 | 一种超声波探伤缺陷定位方法及超声波探伤仪 |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP63044848A patent/JPH01219556A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103901100A (zh) * | 2014-03-25 | 2014-07-02 | 深圳市神视检验有限公司 | 一种超声波探伤缺陷定位方法及超声波探伤仪 |
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