JPH01244358A - 溶接部の超音波探傷方法 - Google Patents
溶接部の超音波探傷方法Info
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- JPH01244358A JPH01244358A JP63072262A JP7226288A JPH01244358A JP H01244358 A JPH01244358 A JP H01244358A JP 63072262 A JP63072262 A JP 63072262A JP 7226288 A JP7226288 A JP 7226288A JP H01244358 A JPH01244358 A JP H01244358A
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- JP
- Japan
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- probe
- echoes
- clusters
- weld
- longitudinal direction
- Prior art date
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は突合わせ溶接鋼管等のビード残存溶接部の超音
波探傷方法に関する。
波探傷方法に関する。
突合わせ溶接した鋼管等のビード残存溶接部の超音波探
傷は斜角探傷によって通常行なうが、その検出エコーは
、ビードで反射することによって発生するビードエコー
及び溶接欠陥部で反射することによって発生する欠陥エ
コーを含んでいるため、ビードエコーと欠陥エコーとを
判別する必要がある。以下に従来使用されている主な２
つの判別方法について述べる。第６図は第１の方法を示
す模式図であり、溶接部２の近傍の探傷用被検査材１上
に載置された探触子４ａがらビードの下側の肩部３に対
して超音波ビームを入射させると該肩部３で反射してビ
ードエコーが発生する。ここで、溶接部２の中央線と探
触子４ａのビーム入射点との間の水平距離（以下、探触
子距離という）Ｘの値により、ビードエコーが発生する
場合のビーム入射点から該ビームが肩部３で反射する点
までのビーム路程Ｗを予め幾何学的に求めておき、探触
子距離Ｘに応じてビードエコーが検出エコーに含まれな
いように監視信号の判別をするゲートを設定して探傷を
行う。
傷は斜角探傷によって通常行なうが、その検出エコーは
、ビードで反射することによって発生するビードエコー
及び溶接欠陥部で反射することによって発生する欠陥エ
コーを含んでいるため、ビードエコーと欠陥エコーとを
判別する必要がある。以下に従来使用されている主な２
つの判別方法について述べる。第６図は第１の方法を示
す模式図であり、溶接部２の近傍の探傷用被検査材１上
に載置された探触子４ａがらビードの下側の肩部３に対
して超音波ビームを入射させると該肩部３で反射してビ
ードエコーが発生する。ここで、溶接部２の中央線と探
触子４ａのビーム入射点との間の水平距離（以下、探触
子距離という）Ｘの値により、ビードエコーが発生する
場合のビーム入射点から該ビームが肩部３で反射する点
までのビーム路程Ｗを予め幾何学的に求めておき、探触
子距離Ｘに応じてビードエコーが検出エコーに含まれな
いように監視信号の判別をするゲートを設定して探傷を
行う。
一方、第２の方法は、ビードエコー及び欠陥エコーを両
者ともゲート内に入れて検出エコーとして検出し、その
結果を画像化し、その表示された位置及び形状によりビ
ードエコーと欠陥エコーとの判別を行い、欠陥エコーの
みを抽出するという方法である。
者ともゲート内に入れて検出エコーとして検出し、その
結果を画像化し、その表示された位置及び形状によりビ
ードエコーと欠陥エコーとの判別を行い、欠陥エコーの
みを抽出するという方法である。
第１の方法では、溶接部２のわずがな形状変化によりビ
ードエコーの反射位置が変化し、また同一形状であって
も母材内を透過するビームの音速等が変化すればビーム
の往復伝播時間が異なり、ビーム路程Ｗが変動してモニ
タゲートの設定が不確実になるという問題があった。一
方、大径鋼管の溶接部に対して探傷する場合には同一寸
法に成形しても母材の強度にばらつきがあり真円度が異
なるため、真円を仮定して予め幾何学的に計算したビー
ドエコーが発生するビーム路程と実際のビーム路程との
間に誤差を生じ、ゲートの正確な設定が難しいという問
題があった。また第７図に示す如く、横波として入射し
た超音波ビームがビードに当たって縦波にモード変換し
て照射ビードと反対側のビードで反射し、元の横波に再
びモード変換して受信されるようなエコー（以下、モー
ド変換エコーという）は、ビード形状によっては設定さ
れたゲート内に入り、欠陥エコーとして判別されるとい
う問題があった。
ードエコーの反射位置が変化し、また同一形状であって
も母材内を透過するビームの音速等が変化すればビーム
の往復伝播時間が異なり、ビーム路程Ｗが変動してモニ
タゲートの設定が不確実になるという問題があった。一
方、大径鋼管の溶接部に対して探傷する場合には同一寸
法に成形しても母材の強度にばらつきがあり真円度が異
なるため、真円を仮定して予め幾何学的に計算したビー
ドエコーが発生するビーム路程と実際のビーム路程との
間に誤差を生じ、ゲートの正確な設定が難しいという問
題があった。また第７図に示す如く、横波として入射し
た超音波ビームがビードに当たって縦波にモード変換し
て照射ビードと反対側のビードで反射し、元の横波に再
びモード変換して受信されるようなエコー（以下、モー
ド変換エコーという）は、ビード形状によっては設定さ
れたゲート内に入り、欠陥エコーとして判別されるとい
う問題があった。
一方、第２の方法ではオペレータが得られた検出エコー
の画像からビードエコーと欠陥エコーとを判別すること
が可能であるが、オペレータの熟練度が低い場合には探
傷に長時間を要し、また誤判定を行なうという問題があ
った。
の画像からビードエコーと欠陥エコーとを判別すること
が可能であるが、オペレータの熟練度が低い場合には探
傷に長時間を要し、また誤判定を行なうという問題があ
った。
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、その
目的とするところは、溶接部の長手方向に分画した区画
毎に前記ＸとＷとを所定の基準によりクラスタ分類し、
各クラスタが出現する区画数に基づいて欠陥エコーを正
確に判別し、また探傷時間を短縮し、誤判定のない溶接
部の超音波探傷方法を提供することにある。
目的とするところは、溶接部の長手方向に分画した区画
毎に前記ＸとＷとを所定の基準によりクラスタ分類し、
各クラスタが出現する区画数に基づいて欠陥エコーを正
確に判別し、また探傷時間を短縮し、誤判定のない溶接
部の超音波探傷方法を提供することにある。
本発明に係る溶接部の超音波探傷方法は、突合わせ溶接
等によって形成されたビード残存溶接部に対して超音波
を斜めに入射し、その反射エコーによって欠陥を検出す
る超音波斜角探傷方法において、溶接部の長手方向に探
触子を走査させ、これによって得られた反射エコーのう
ち閾値を超えるものにつき、溶接部の長手方向に分画し
た区画ごとに、溶接部と探触子との離隔距離が同一であ
るものに対して超音波の入射点と反射点との間の路程の
平均値を求め、前記離隔距離及び前記路程の２次元座標
面内で得られる集合を所定基準に従ってクラスタ分類し
、各クラスタが表現する区画数に基づいて欠陥を検出す
ることを特徴とする。
等によって形成されたビード残存溶接部に対して超音波
を斜めに入射し、その反射エコーによって欠陥を検出す
る超音波斜角探傷方法において、溶接部の長手方向に探
触子を走査させ、これによって得られた反射エコーのう
ち閾値を超えるものにつき、溶接部の長手方向に分画し
た区画ごとに、溶接部と探触子との離隔距離が同一であ
るものに対して超音波の入射点と反射点との間の路程の
平均値を求め、前記離隔距離及び前記路程の２次元座標
面内で得られる集合を所定基準に従ってクラスタ分類し
、各クラスタが表現する区画数に基づいて欠陥を検出す
ることを特徴とする。
多数の区画に現れるクラスタは欠陥によるものではなく
、少数の区画に現れるクラスタは欠陥によるものである
と判定する。
、少数の区画に現れるクラスタは欠陥によるものである
と判定する。
以下、本発明方法をその実施例を示す図面に基づき具体
的に説明する。第１図は本発明方法の実施に使用する超
音波探傷用の探触子走査装置２０の斜視図であり、図に
示す如く、該装置１！２０は、矩形に枠組みされた架台
１３をその四隅に取付けられた脚部１５．１５．１５．
１５の下端には夫々台座１５ａ、 １５ａ。
的に説明する。第１図は本発明方法の実施に使用する超
音波探傷用の探触子走査装置２０の斜視図であり、図に
示す如く、該装置１！２０は、矩形に枠組みされた架台
１３をその四隅に取付けられた脚部１５．１５．１５．
１５の下端には夫々台座１５ａ、 １５ａ。
１５ａ、 １５ａを設けている。また、架台１３は夫々
相対する長辺２０ａ、 ２０ｂ及び短辺２０ｃ、 ２０
ｄを有しており、短辺２０ｃ、 ２０ｄは溶接部２を中
央にして、その中央線２ａと平行に配されている。長辺
２０ａ、 ２０ｂの内側にはガイドロッド９及びねじ棒
１０（一方のみ現われている）が設けである。
相対する長辺２０ａ、 ２０ｂ及び短辺２０ｃ、 ２０
ｄを有しており、短辺２０ｃ、 ２０ｄは溶接部２を中
央にして、その中央線２ａと平行に配されている。長辺
２０ａ、 ２０ｂの内側にはガイドロッド９及びねじ棒
１０（一方のみ現われている）が設けである。
ガイドロッド９及びねじ棒１０は移動子７，７を貫通し
てこれを支持しており、移動子７．７は図示しないパル
スモータ等の駆動装置によるねじ棒１０の回転に伴って
長辺２０ａ、 ２０ｂの内側に沿って夫々ガイドロッド
９に対しては摺動、ねじ捧１０に対しては螺動しながら
移動すべく配しである。また、短辺２０ｃ、 ２０ｄの
内側にはガイドロッド１１及びねじ棒１２（一方のみ現
われている）が設けである。ガイドロッド１１及びねじ
棒１２は移動子８．８を貫通してこれを支持しており、
移動子８．８は図示しないパルスモータ等の駆動装置に
よるねじ捧１２の回転に伴って短辺２０ｃ、 ２０ｄの
内側に沿って夫々ガイドロッド１１に対しては摺動、ね
じ棒１２に対しては螺動しながら移動すべく配しである
。
てこれを支持しており、移動子７．７は図示しないパル
スモータ等の駆動装置によるねじ棒１０の回転に伴って
長辺２０ａ、 ２０ｂの内側に沿って夫々ガイドロッド
９に対しては摺動、ねじ捧１０に対しては螺動しながら
移動すべく配しである。また、短辺２０ｃ、 ２０ｄの
内側にはガイドロッド１１及びねじ棒１２（一方のみ現
われている）が設けである。ガイドロッド１１及びねじ
棒１２は移動子８．８を貫通してこれを支持しており、
移動子８．８は図示しないパルスモータ等の駆動装置に
よるねじ捧１２の回転に伴って短辺２０ｃ、 ２０ｄの
内側に沿って夫々ガイドロッド１１に対しては摺動、ね
じ棒１２に対しては螺動しながら移動すべく配しである
。
移動子７，７の対向面間にはガイドロッド５゜５が平行
に架設してあり、また移動子８．８の対向面間にはガイ
ドロッド６．６が平行に架設しである。これら両ガイド
ロッドは、ブロック状の探触子走査ブロック４０内を移
動自在に挿通している。
に架設してあり、また移動子８．８の対向面間にはガイ
ドロッド６．６が平行に架設しである。これら両ガイド
ロッドは、ブロック状の探触子走査ブロック４０内を移
動自在に挿通している。
また、長辺２０ａ、短辺２０ｃには図示しないディジタ
ルスケールがその長手方向に取付けられており、そのヘ
ッドが移動子７，８に設けられている。−方、探触子走
査部４０を上下動可能に貫通させた軸４０ａが設けられ
ており、その下端には探触子保持具４を連繋している。
ルスケールがその長手方向に取付けられており、そのヘ
ッドが移動子７，８に設けられている。−方、探触子走
査部４０を上下動可能に貫通させた軸４０ａが設けられ
ており、その下端には探触子保持具４を連繋している。
また、軸４０ａは図示しない圧力付加装置により下向き
に付勢されている。探触子保持具４は軸４０ａに連結さ
れた連結治具３０とビン３１によって固定され大径管の
ような曲率を有する被検材に探触子保持具４が追随する
よう回転可能となっている探触子保持具４には探触子４
ａ及び探傷用被検査材１上を円滑に転勤させるためのロ
ーラ１４が取付けられている。
に付勢されている。探触子保持具４は軸４０ａに連結さ
れた連結治具３０とビン３１によって固定され大径管の
ような曲率を有する被検材に探触子保持具４が追随する
よう回転可能となっている探触子保持具４には探触子４
ａ及び探傷用被検査材１上を円滑に転勤させるためのロ
ーラ１４が取付けられている。
第２図は、上述した探触子走査装置２ｏを用いて本発明
方法を実施する場合の全体装置の構成を示す模式的ブロ
ック図であり、図に示す如く、計算機２４から送られる
情報により探触子走査装置コントローラ２１が探触子走
査装置２ｏの移動子７．７及び８．８を、図示しないパ
ルスモータにより駆動させる。それによって探傷用被検
査材１上を移動する探触子４ａの位置情報は移動子７．
８に取付けたディジタルスケールのヘッドからの出力と
して位置読取機２２へ入力される。これを探触子距離の
データとして計算機２４へ出力する。一方、探触子４ａ
に接続しである探傷器２３は探触子４ａがら超音波ビー
ムを溶接部２に対して入射させ、それによって生じるエ
コーを検出し、検出したエコーのうち所定の閾値より大
きいものを計算機２４へ入力する。
方法を実施する場合の全体装置の構成を示す模式的ブロ
ック図であり、図に示す如く、計算機２４から送られる
情報により探触子走査装置コントローラ２１が探触子走
査装置２ｏの移動子７．７及び８．８を、図示しないパ
ルスモータにより駆動させる。それによって探傷用被検
査材１上を移動する探触子４ａの位置情報は移動子７．
８に取付けたディジタルスケールのヘッドからの出力と
して位置読取機２２へ入力される。これを探触子距離の
データとして計算機２４へ出力する。一方、探触子４ａ
に接続しである探傷器２３は探触子４ａがら超音波ビー
ムを溶接部２に対して入射させ、それによって生じるエ
コーを検出し、検出したエコーのうち所定の閾値より大
きいものを計算機２４へ入力する。
以上の構成を有する装置によって本発明方法は次のよう
にして行なわれる。
にして行なわれる。
まず超音波探傷しようとすると一ドを有する大゛径鋼管
等の探傷用被検査材の溶接部２に対して超音波ビームを
、探触子保持具４を第１図の２点鎖線に示すように走査
させながら入射させ、発生するエコーを検出する。即ち
探触子走査装置２０を、溶接部２と平行に被検査材上に
！３！置する。そして第３図に示すように溶接部２から
適長離隔した走査基準点０を始点として溶接部２の中央
線２ａに平行に探触子４ａを走査する。これを複数の探
触子距離Ｘについて反復する。この間計算機２４は位置
読取器２２が出力する信号を取込み探触子距離Ｘ及び溶
接線方向距離Ｙを算出する。
等の探傷用被検査材の溶接部２に対して超音波ビームを
、探触子保持具４を第１図の２点鎖線に示すように走査
させながら入射させ、発生するエコーを検出する。即ち
探触子走査装置２０を、溶接部２と平行に被検査材上に
！３！置する。そして第３図に示すように溶接部２から
適長離隔した走査基準点０を始点として溶接部２の中央
線２ａに平行に探触子４ａを走査する。これを複数の探
触子距離Ｘについて反復する。この間計算機２４は位置
読取器２２が出力する信号を取込み探触子距離Ｘ及び溶
接線方向距離Ｙを算出する。
一方、超音波探傷器２３は探触子４ａを励振し、溶接部
２からのエコーを探触子路Ｈｘに応じて十分溶接部全域
をカバーするように計算機２４が設定したゲート範囲内
で捉え、該エコーが閾値を超える場合には、Ｘ、Ｙ、及
びエコー高さ１ｌｉＨを計算機２４へ記憶させる。また
、計算機２４はエコーによりビーム路程Ｗを求め、記憶
する。
２からのエコーを探触子路Ｈｘに応じて十分溶接部全域
をカバーするように計算機２４が設定したゲート範囲内
で捉え、該エコーが閾値を超える場合には、Ｘ、Ｙ、及
びエコー高さ１ｌｉＨを計算機２４へ記憶させる。また
、計算機２４はエコーによりビーム路程Ｗを求め、記憶
する。
一方、超音波探傷機２３は探触子４ａを励振し、溶接部
２からのエコーを探触子距離Ｘに応じて十分溶接部全域
をカバーするように計算機２４が設定したゲート範囲内
で捉え、該エコーが閾値を超える場合には、ｘ、ｙ、及
びエコー高さＥＨを計算機２４へ記憶させる。また、計
算機２４はエコーによりビーム路程Ｗを求め、記憶する
。これらのデータに基づき、検出されたエコーをビード
エコーと欠陥エコーとに判別するための処理を行う。そ
の処理手順を第４図に示すフローチャートに従って以下
に説明する。
２からのエコーを探触子距離Ｘに応じて十分溶接部全域
をカバーするように計算機２４が設定したゲート範囲内
で捉え、該エコーが閾値を超える場合には、ｘ、ｙ、及
びエコー高さＥＨを計算機２４へ記憶させる。また、計
算機２４はエコーによりビーム路程Ｗを求め、記憶する
。これらのデータに基づき、検出されたエコーをビード
エコーと欠陥エコーとに判別するための処理を行う。そ
の処理手順を第４図に示すフローチャートに従って以下
に説明する。
まず溶接線方向距離ＹをＮ個の小区画ΔＹＬ（ｉ＝１−
Ｎ）に分割する（ステップ１）。次にｉに初期値０を与
え（ステップ２）、ｉをカウントア・ノブしくステップ
３） ｉがＮよりも小さいが等しい間は、小区画ΔＹｉ
’毎にＷの平均値を算出するループ処理Ａを行う（ステ
ップ５）。
Ｎ）に分割する（ステップ１）。次にｉに初期値０を与
え（ステップ２）、ｉをカウントア・ノブしくステップ
３） ｉがＮよりも小さいが等しい間は、小区画ΔＹｉ
’毎にＷの平均値を算出するループ処理Ａを行う（ステ
ップ５）。
第５図はループ処理Ａを示すフローチャートであり、以
下に処理の流れを説明する。まずｋに初期値１を与え（
ステップ６）、同一のｘｋに対して得られるｒ個のビー
ム路程Ｗｋ、Ｗ、、のデータについて、所定の・弐によ
って求めた値が、ビーム路程分離距離の閾値ｄ８よりも
小さいものを最短距離法によって８個のクラスタに分類
する（ステップ７）、次に、各クラスタの平均値ＷＡＶ
ｔｌｋ〜Ｗ Ａ Ｖ Ｅ Ｓ ｋとクラスタの個数ｎｋ
を計算しくステップ８） 、ｘ、のデータが終了するま
では（ステップ９）ｋをカウントアツプしくステップ１
０）、ステップ７．８の処理を引き続き行う。Ｘ、デー
タ終了後第４図フローチャートのステップ３へもどり、
ｉをカウントアツプして次の小区画ΔＹ ｉ ＋ １に
ついて再び処理Ａを行う。ｉがＮよりも大きくなればル
ープ処理Ａが終了し、ΔＹ、毎に求めた（Ｘｍ 、 Ｗ
Ａｖｔｓｍ ）の２次元集合データについて、所定の式
によって求めた値が、分離距離の閾値ｄＴＭよりも小さ
いものを最短距離法によってｅ個のクラスタＣｉｅに分
類する（ステップ１１）。次に、各Ｃｉｅにつき最小２
乗法により直線近似を行い、下記！１１式で示す複数の
直線近似式を得る。
下に処理の流れを説明する。まずｋに初期値１を与え（
ステップ６）、同一のｘｋに対して得られるｒ個のビー
ム路程Ｗｋ、Ｗ、、のデータについて、所定の・弐によ
って求めた値が、ビーム路程分離距離の閾値ｄ８よりも
小さいものを最短距離法によって８個のクラスタに分類
する（ステップ７）、次に、各クラスタの平均値ＷＡＶ
ｔｌｋ〜Ｗ Ａ Ｖ Ｅ Ｓ ｋとクラスタの個数ｎｋ
を計算しくステップ８） 、ｘ、のデータが終了するま
では（ステップ９）ｋをカウントアツプしくステップ１
０）、ステップ７．８の処理を引き続き行う。Ｘ、デー
タ終了後第４図フローチャートのステップ３へもどり、
ｉをカウントアツプして次の小区画ΔＹ ｉ ＋ １に
ついて再び処理Ａを行う。ｉがＮよりも大きくなればル
ープ処理Ａが終了し、ΔＹ、毎に求めた（Ｘｍ 、 Ｗ
Ａｖｔｓｍ ）の２次元集合データについて、所定の式
によって求めた値が、分離距離の閾値ｄＴＭよりも小さ
いものを最短距離法によってｅ個のクラスタＣｉｅに分
類する（ステップ１１）。次に、各Ｃｉｅにつき最小２
乗法により直線近似を行い、下記！１１式で示す複数の
直線近似式を得る。
Ｗ＝ａＸ＋ｂ ・・・（１）
ここでパラメータａ、ｂの代表値をａｉｌｉ＋ ｂｉ
＠とし、また各Ｃｉｅのデータ個数が予め設定した閾値
よりも大きい場合のＸの最小値Ｘ１□７、最大値Ｘ ｔ
ｍａｘを求める（ステップ１２）。その後区間の異なる
２個のクラスタＣ１ｔｅｎ ｌ Ｃ１ｗｅｔについて、
夫々のａｉｅ及びｂ ｊａがお互いに路間−と見なせて
、夫々のＸ ｎｉｒ＋〜ＸｏＸの範囲が一部でも重なる
場合にＣｉ、ｅ、及びＣｉ、ｅ、は同一であると判断し
くステップ１３）、新たにクラスタこ、を作成する（ス
テップ１４）。
＠とし、また各Ｃｉｅのデータ個数が予め設定した閾値
よりも大きい場合のＸの最小値Ｘ１□７、最大値Ｘ ｔ
ｍａｘを求める（ステップ１２）。その後区間の異なる
２個のクラスタＣ１ｔｅｎ ｌ Ｃ１ｗｅｔについて、
夫々のａｉｅ及びｂ ｊａがお互いに路間−と見なせて
、夫々のＸ ｎｉｒ＋〜ＸｏＸの範囲が一部でも重なる
場合にＣｉ、ｅ、及びＣｉ、ｅ、は同一であると判断し
くステップ１３）、新たにクラスタこ、を作成する（ス
テップ１４）。
このようにＣｉｅの比較処理を行い、終了すれば（ステ
ップ１５） 、Ｙの全長に亘って各クラスタご。
ップ１５） 、Ｙの全長に亘って各クラスタご。
の出現区画数Ｙ（ご、、）０≦Ｙ（ご。）≦Ｎを計算し
記憶させる（ステップ１６）。
記憶させる（ステップ１６）。
次に、ｍに初期値Ｏを与え（ステップ１７） 、ｍをカ
ウントアツプしくステップ１８） 、ｙ ＜ｃ、 ＞と
予め経験により定めた閾値Ｙ７Ｈとの比較を行い（ステ
ップ１９） 、Ｙ （ご、）がＹ、Ｈよりも小さい場合
（ステップ２０）は欠陥エコー、大きいが等しい場合（
ステップ２１）はビードエコーの判別を行い′２′、の
データがなくなるまで上記の処理を行う（ステップ２２
）。
ウントアツプしくステップ１８） 、ｙ ＜ｃ、 ＞と
予め経験により定めた閾値Ｙ７Ｈとの比較を行い（ステ
ップ１９） 、Ｙ （ご、）がＹ、Ｈよりも小さい場合
（ステップ２０）は欠陥エコー、大きいが等しい場合（
ステップ２１）はビードエコーの判別を行い′２′、の
データがなくなるまで上記の処理を行う（ステップ２２
）。
以上述べた本発明方法により下記表１に示す条件で超音
波探傷処理を行い、求められたクラスタの分類結果の１
例を表２に示す。
波探傷処理を行い、求められたクラスタの分類結果の１
例を表２に示す。
（以下余白）
表 １
表 ２
表２より明らかな如く、ビードエコー及び欠陥エコーの
判別が正確に行われる。つまり本発明は内外のビードエ
コー等、溶接部長手方向に共通するエコー発生要因につ
いては全区画又は多数区画から得られ、部分的に存在す
る欠陥については少数の区画から得られるという原理に
基づいているのである。
判別が正確に行われる。つまり本発明は内外のビードエ
コー等、溶接部長手方向に共通するエコー発生要因につ
いては全区画又は多数区画から得られ、部分的に存在す
る欠陥については少数の区画から得られるという原理に
基づいているのである。
以上に詳述した如く、本発明方法においては、溶接部の
長手方向の一定範囲に対して超音波を入射させ、その反
射エコーを長手方向の小区画毎にクラスタ分類し、同一
のクラスタの出現個数と閾値とを比較することにより欠
陥エコーの判別が容易に行われ、またその処理が計算機
によるため探傷時間を大幅に短縮でき誤判定もなくなる
等価れた効果を奏する。
長手方向の一定範囲に対して超音波を入射させ、その反
射エコーを長手方向の小区画毎にクラスタ分類し、同一
のクラスタの出現個数と閾値とを比較することにより欠
陥エコーの判別が容易に行われ、またその処理が計算機
によるため探傷時間を大幅に短縮でき誤判定もなくなる
等価れた効果を奏する。
第１図は本発明に係る探触子走査装置の立体図、第２図
は本発明に係る全体装置の構成を示す模式的ブロック図
、第３図は試験材の溶接部に対する探触子の走査方向を
示す模式図、第４図は検出エコーの判別処理の内容を示
すフローチャート、第５図は同一の探触子距離に対して
ビーム路程の平均値を求める方法を示すフローチャート
、第６図は従来の探傷法を説明する模式図、第７図はモ
ード変換エコーの発生を説明する模式図である。 １・・・探傷用液検査体 ２・・・溶接部 ４ａ・・・
探触子持 許 出願人 住友金属工業株式会社代理人
弁理士 河 野 登 夫２ ２ 凹 算 ３ 図 〔支−ｈ−エシコー脚１１ｉすＪ誤１１２〕４ 凶 算 ５ 回 算 ６ Ｓ ノ 算 ７ 図 手続補正書（自発） ｌ昭和６
３年３月２９日 ２、発明の名称 溶接部の超音波探傷方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 所在地 大阪市東区北浜５丁目１５番地名 称 （２１
１）住友金属工業株式会社代表者新宮康男 ４、代理人 住 所 ■５４３大阪市天王寺区四天王寺１丁目１４番
２２号 日進ビル２０７号 河野特許事務所（置 ０６−７７９−３０８８）氏名（
７８８６）弁理士河野登夫゛２ ５、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 ６、補正の内容 明細書第１４頁表２を下記のとおりに訂正する。 表 ２ 以上
は本発明に係る全体装置の構成を示す模式的ブロック図
、第３図は試験材の溶接部に対する探触子の走査方向を
示す模式図、第４図は検出エコーの判別処理の内容を示
すフローチャート、第５図は同一の探触子距離に対して
ビーム路程の平均値を求める方法を示すフローチャート
、第６図は従来の探傷法を説明する模式図、第７図はモ
ード変換エコーの発生を説明する模式図である。 １・・・探傷用液検査体 ２・・・溶接部 ４ａ・・・
探触子持 許 出願人 住友金属工業株式会社代理人
弁理士 河 野 登 夫２ ２ 凹 算 ３ 図 〔支−ｈ−エシコー脚１１ｉすＪ誤１１２〕４ 凶 算 ５ 回 算 ６ Ｓ ノ 算 ７ 図 手続補正書（自発） ｌ昭和６
３年３月２９日 ２、発明の名称 溶接部の超音波探傷方法 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 所在地 大阪市東区北浜５丁目１５番地名 称 （２１
１）住友金属工業株式会社代表者新宮康男 ４、代理人 住 所 ■５４３大阪市天王寺区四天王寺１丁目１４番
２２号 日進ビル２０７号 河野特許事務所（置 ０６−７７９−３０８８）氏名（
７８８６）弁理士河野登夫゛２ ５、補正の対象 明細書の「発明の詳細な説明」の欄 ６、補正の内容 明細書第１４頁表２を下記のとおりに訂正する。 表 ２ 以上
Claims (1)
- １、溶接によって形成されたビード残存溶接部に対して
超音波を斜めに入射し、その反射エコーによって欠陥を
検出する超音波斜角探傷方法において、溶接部の長手方
向に探触子を走査させ、これによって得られた反射エコ
ーのうち閾値を超えるものにつき、溶接部の長手方向に
分画した区画ごとに、溶接部と探触子との離隔距離が同
一であるものに対して超音波の入射点と反射点との間の
路程の平均値を求め、前記離隔距離及び前記路程の２次
元座標面内で得られる集合を所定基準に従ってクラスタ
分類し、各クラスタが出現する区画数に基づいて欠陥を
検出することを特徴とする溶接部の超音波探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63072262A JPH01244358A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 溶接部の超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63072262A JPH01244358A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 溶接部の超音波探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01244358A true JPH01244358A (ja) | 1989-09-28 |
Family
ID=13484197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63072262A Pending JPH01244358A (ja) | 1988-03-25 | 1988-03-25 | 溶接部の超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01244358A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103487510A (zh) * | 2013-10-14 | 2014-01-01 | 南车戚墅堰机车有限公司 | 不等厚对接焊缝超声波检测缺陷定位方法及装置 |
-
1988
- 1988-03-25 JP JP63072262A patent/JPH01244358A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103487510A (zh) * | 2013-10-14 | 2014-01-01 | 南车戚墅堰机车有限公司 | 不等厚对接焊缝超声波检测缺陷定位方法及装置 |
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