JPH01221673A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
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- JPH01221673A JPH01221673A JP4786688A JP4786688A JPH01221673A JP H01221673 A JPH01221673 A JP H01221673A JP 4786688 A JP4786688 A JP 4786688A JP 4786688 A JP4786688 A JP 4786688A JP H01221673 A JPH01221673 A JP H01221673A
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- probe
- cycle
- obstacle
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、試料に試薬を反応させた反応液内の特定成分
の濃度を測定する自動化学分析装置に関する。
の濃度を測定する自動化学分析装置に関する。
(従来の技術)
人体の血清等を対象としてこれを試料(サンプル)とし
て用いこれに所望の試薬を加えて化学反応を起させて、
この反応液内の特定成分の濃度を例えば比色法により測
定して診断に供するようにした自動化学分析装置が知ら
れている。このような化学分析を行うに当っては分析す
べき試料を予め用意し、この試料を測定項目に応じて複
数の反応容器に分配する動作が必要となる。第9図はこ
のような分配動作の概要を説明するもので、試料が満た
された複数の試料容器2が例えば円形テーブル3に収納
されたサンプラ1と、複数の反応容器4が収納されこれ
らを一定のサイクルで搬送、停止状態を繰返して間欠移
動させる反応ディスク5との間にはサンプリングアーム
6が配置され、このアーム6は先端にプローブ7を備え
ると共に基部のセンタシャフト8を支点として矢印方向
に揺動可能に構成されている。このような構成で、アー
ム6のプローブ7を先ずサンプラ1の試料容器2上に位
置させアーム6と共にプローブ7を下降させて試料を吸
収した後再上昇させ、次にアーム6を揺動させて反応デ
ィスク5の反応容器4上に位置させアーム6を前記同様
に下降させ吸入している試料を容器4内に吐出すること
により試料の分配動作いわゆるサンプリングが行われる
。このようなサンプリング動作は各サイクルごとに繰返
えされ、分析すべき試料の測定項目に応じて複数の反応
容器4に対するサンプリングが行われる。
て用いこれに所望の試薬を加えて化学反応を起させて、
この反応液内の特定成分の濃度を例えば比色法により測
定して診断に供するようにした自動化学分析装置が知ら
れている。このような化学分析を行うに当っては分析す
べき試料を予め用意し、この試料を測定項目に応じて複
数の反応容器に分配する動作が必要となる。第9図はこ
のような分配動作の概要を説明するもので、試料が満た
された複数の試料容器2が例えば円形テーブル3に収納
されたサンプラ1と、複数の反応容器4が収納されこれ
らを一定のサイクルで搬送、停止状態を繰返して間欠移
動させる反応ディスク5との間にはサンプリングアーム
6が配置され、このアーム6は先端にプローブ7を備え
ると共に基部のセンタシャフト8を支点として矢印方向
に揺動可能に構成されている。このような構成で、アー
ム6のプローブ7を先ずサンプラ1の試料容器2上に位
置させアーム6と共にプローブ7を下降させて試料を吸
収した後再上昇させ、次にアーム6を揺動させて反応デ
ィスク5の反応容器4上に位置させアーム6を前記同様
に下降させ吸入している試料を容器4内に吐出すること
により試料の分配動作いわゆるサンプリングが行われる
。このようなサンプリング動作は各サイクルごとに繰返
えされ、分析すべき試料の測定項目に応じて複数の反応
容器4に対するサンプリングが行われる。
また反応ディスク5の周囲の他の位置には試薬部(図示
せず)が配置され、反応容器4に所望の試薬の分配が行
われるように構成されている。
せず)が配置され、反応容器4に所望の試薬の分配が行
われるように構成されている。
このように試料又は試薬の分配動作中、試料交換や試薬
交換等の作業を行っているオペレータと移動中のサンプ
リングアーム6又は上下動中のプローブ7が触れるおそ
れがある。このため安全対策上オペレータがアーム6又
はプローブ7に触れたときは、この状態を検知して直ち
に装置の動作を停止させるように各々に感圧センサが設
けられている。また、このJ:うにアーム6又はプロー
ブ7に感圧センサを設けることは安全上の問題だけでな
く、アーム6又はプローブ7が障害物に触れて動作が停
止されることにより装置を構成している各ユニット相互
間の動作のシーケンスがずれて誤動作が行われるという
問題も防いでいる。
交換等の作業を行っているオペレータと移動中のサンプ
リングアーム6又は上下動中のプローブ7が触れるおそ
れがある。このため安全対策上オペレータがアーム6又
はプローブ7に触れたときは、この状態を検知して直ち
に装置の動作を停止させるように各々に感圧センサが設
けられている。また、このJ:うにアーム6又はプロー
ブ7に感圧センサを設けることは安全上の問題だけでな
く、アーム6又はプローブ7が障害物に触れて動作が停
止されることにより装置を構成している各ユニット相互
間の動作のシーケンスがずれて誤動作が行われるという
問題も防いでいる。
(発明が解決しようとする課題)
ところで従来の自動化学分析装置では、感圧センサによ
って障害物が検知されると装置の動作が直ちに停止され
るので検知ごとに測定動作が中断されてしまうという問
題がある。例えば一定のサイクルで反応容器を間欠移動
させている反応ディスクの反応容器には、分析項目に応
じて各種の試料又は試薬の分配が終了しているものが存
在しているにも拘わらず、装置の動作が停止されると停
止期間中にそれらの試料等が変質してしまうおそれがあ
るので、多量の検体が無駄になってしまうことになる。
って障害物が検知されると装置の動作が直ちに停止され
るので検知ごとに測定動作が中断されてしまうという問
題がある。例えば一定のサイクルで反応容器を間欠移動
させている反応ディスクの反応容器には、分析項目に応
じて各種の試料又は試薬の分配が終了しているものが存
在しているにも拘わらず、装置の動作が停止されると停
止期間中にそれらの試料等が変質してしまうおそれがあ
るので、多量の検体が無駄になってしまうことになる。
また度々測定が中断されてしまうことは測定効率を低下
させることにもなる。更に装置の動作を復帰させるため
に電源のオフ、オンを行ってリセット操作をその都度行
う必要がある。
させることにもなる。更に装置の動作を復帰させるため
に電源のオフ、オンを行ってリセット操作をその都度行
う必要がある。
本発明は以上のような問題に対処してなされたもので、
感圧センサによって障害物が検知されたときでも中断す
ることなく測定を行うことができる自動化学分析装置を
提供することを目的とするものである。
感圧センサによって障害物が検知されたときでも中断す
ることなく測定を行うことができる自動化学分析装置を
提供することを目的とするものである。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するために本発明は、感圧センサによっ
て障害物が検知されたときは分配動作を停止し一連の所
定の制御動作を行った後、次のサイクルから分配動作を
自動的に継続するようにしたものでおる。
て障害物が検知されたときは分配動作を停止し一連の所
定の制御動作を行った後、次のサイクルから分配動作を
自動的に継続するようにしたものでおる。
(作 用)
各サイクルでプローブ付アームによる分配動作を行って
いるとき、アームにオペレータのような障害物が触れる
と感圧センサがこの状態を検知することによりアームは
分配動作を停止する。次にアームの原点の割出しが行わ
れてアームは原点位置へ戻され、このサイクルにおける
停止以降の動作はスキップされる。続いてアームは原点
位置から次のサイクルの分配動作を開始して、試料分配
、試薬分配等の所望の動作を行う。従って装置の測定を
中断することなく、障害物が検知されたサイクルのみの
分配動作を中止するだけで、次のサイクルからは正常な
分配動作を自動的に継続することができる。
いるとき、アームにオペレータのような障害物が触れる
と感圧センサがこの状態を検知することによりアームは
分配動作を停止する。次にアームの原点の割出しが行わ
れてアームは原点位置へ戻され、このサイクルにおける
停止以降の動作はスキップされる。続いてアームは原点
位置から次のサイクルの分配動作を開始して、試料分配
、試薬分配等の所望の動作を行う。従って装置の測定を
中断することなく、障害物が検知されたサイクルのみの
分配動作を中止するだけで、次のサイクルからは正常な
分配動作を自動的に継続することができる。
(実施例)
以下図面を参照して本発明実施例を説明する。
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図で、サンプラ1には分析すべき試料が満たされた複数
の試料容器2が円形テーブル3に収納され、同心円状に
複数列に配置されている。
図で、サンプラ1には分析すべき試料が満たされた複数
の試料容器2が円形テーブル3に収納され、同心円状に
複数列に配置されている。
反応ディスク5には複数の反応容器4が収納されこれら
反応容器4は図示しない駆動機構によって一定のサイク
ルで搬送、停止状態を繰返して例えば反時計方向に間欠
移動される。サンプラ1と反応ディスク5との間には先
端にプローブ7が取付けられセンタシャフト8を支点と
して揺動運動を行うサンプリングアーム6が配置され、
サンプラ1と反応ディスク5間を各サイクルごとに往復
して試料容器2の試料を反応容器4に分配可能に構成さ
れている。
反応容器4は図示しない駆動機構によって一定のサイク
ルで搬送、停止状態を繰返して例えば反時計方向に間欠
移動される。サンプラ1と反応ディスク5との間には先
端にプローブ7が取付けられセンタシャフト8を支点と
して揺動運動を行うサンプリングアーム6が配置され、
サンプラ1と反応ディスク5間を各サイクルごとに往復
して試料容器2の試料を反応容器4に分配可能に構成さ
れている。
反応ディスク5の周囲には試薬庫9が設けられてこれに
は試薬が満たされた複数の試薬容器10が収納され、試
薬アーム11によって試薬容器10の試薬が前記反応容
器4に分配可能に構成されている。また反応ディスク5
の周囲には反応容器4に分配された試料と試薬とから成
る反応液を撹拌するための撹拌アーム121反応液内の
特定成分の濃度を測定するための測光部132反応容器
4を洗浄するためのキュベツト洗浄エレベータ14が各
々設けられている。またサンプラ1と反応ディスク5間
にはプローブ7を洗浄するための洗浄プール15が設け
られている。
は試薬が満たされた複数の試薬容器10が収納され、試
薬アーム11によって試薬容器10の試薬が前記反応容
器4に分配可能に構成されている。また反応ディスク5
の周囲には反応容器4に分配された試料と試薬とから成
る反応液を撹拌するための撹拌アーム121反応液内の
特定成分の濃度を測定するための測光部132反応容器
4を洗浄するためのキュベツト洗浄エレベータ14が各
々設けられている。またサンプラ1と反応ディスク5間
にはプローブ7を洗浄するための洗浄プール15が設け
られている。
測光部13の測光データはインターフニス16を介して
CPU(中央演算処理装置)17に送られる。CPtJ
17は専用のマイクロプロセッサから構成され分析を行
うのに必要な装置全体の制御動作を司っている。また、
このCPU17は後述のように、サンプリングアーム6
が障害物に触れたとき、一連の所定の動作を行うように
制御する機能を有している。
CPU(中央演算処理装置)17に送られる。CPtJ
17は専用のマイクロプロセッサから構成され分析を行
うのに必要な装置全体の制御動作を司っている。また、
このCPU17は後述のように、サンプリングアーム6
が障害物に触れたとき、一連の所定の動作を行うように
制御する機能を有している。
キーボード18は分析を行うに当り所望のデータを入力
するためのもの、CRT19は分析結果を表示するため
のもの、プリンタ20は分析結果をプリントするための
ものである。
するためのもの、CRT19は分析結果を表示するため
のもの、プリンタ20は分析結果をプリントするための
ものである。
第2図は特にサンプリングアーム6の構成を詳細に示す
もので、センタシャフト8・を支点として回転可能なア
ームヘッド21の底部にはアーム感圧センサ22が取付
けられている。このアーム感圧センサ22は例えば第3
図に示すように、アームへラドベース22a上に導電性
ゴム入りのコードスイッチ22bを両側からゴム部材2
2G及び金具部材22dで挾持したものを組立て、これ
らを両側面に2個設けるようにしたものである。アーム
6が分配動作を行うために移動中感圧センサ22がオペ
レータ等に触れると、ゴム部材22Gが変形してコード
スイッチ22bの抵抗が変化することによって、この抵
抗変化に基いた検出信号がCPU17に送られることに
より障害物の存在が検知される。
もので、センタシャフト8・を支点として回転可能なア
ームヘッド21の底部にはアーム感圧センサ22が取付
けられている。このアーム感圧センサ22は例えば第3
図に示すように、アームへラドベース22a上に導電性
ゴム入りのコードスイッチ22bを両側からゴム部材2
2G及び金具部材22dで挾持したものを組立て、これ
らを両側面に2個設けるようにしたものである。アーム
6が分配動作を行うために移動中感圧センサ22がオペ
レータ等に触れると、ゴム部材22Gが変形してコード
スイッチ22bの抵抗が変化することによって、この抵
抗変化に基いた検出信号がCPU17に送られることに
より障害物の存在が検知される。
このようにアーム6が分配動作中障害物に触れたことが
検知されると、CPU17の制御に基きアーム6は直ち
にその移動を停止する。次にアーム6は同様にCPU1
7の制御によって原点(ホームポジション)の割出しが
行われる。原点はアーム6のような各ユニットごとに予
め設定されており、アーム6の場合は反応ディスク5の
反応容器4の真上の位置が原点に設定される。この原点
はアーム6が各サイクルごとに分配動作を行う場合に、
動作を開始する基準位置とするためのものである。この
アーム6の原点の割出しはアーム移動パルスモータ23
によってこの回転力を小プーリ24.ベルト25を介し
て、アーム6側の大プ一り26.センタシャフト8に伝
達してアーム6を回転することにより行われる。この場
合前記パルスモータ23は正方向及び逆方向に回転可能
に制御され、アーム6が障害物によっていかなる位置で
停止しても効率的に原点割出しが行われるように対処さ
れている。センタシャフト8の下端にはカット板27が
固定されており、シャフト8と一体的に回転可能に構成
されている。一方カット板27と組合わされて原点を割
出すためのアームホームセンサ28が、カット板27の
動きとは独立して固定して設けられている。パルスモー
タ23の正転又は逆転に基いてセンタシャフト8が回転
し、カット板27が移動してアームホームセンサ28と
交差した位置に達するとアーム6が原点に戻ったことが
検出されて、ホーム信号がアームホームセンサ28から
CPU17に送られる。
検知されると、CPU17の制御に基きアーム6は直ち
にその移動を停止する。次にアーム6は同様にCPU1
7の制御によって原点(ホームポジション)の割出しが
行われる。原点はアーム6のような各ユニットごとに予
め設定されており、アーム6の場合は反応ディスク5の
反応容器4の真上の位置が原点に設定される。この原点
はアーム6が各サイクルごとに分配動作を行う場合に、
動作を開始する基準位置とするためのものである。この
アーム6の原点の割出しはアーム移動パルスモータ23
によってこの回転力を小プーリ24.ベルト25を介し
て、アーム6側の大プ一り26.センタシャフト8に伝
達してアーム6を回転することにより行われる。この場
合前記パルスモータ23は正方向及び逆方向に回転可能
に制御され、アーム6が障害物によっていかなる位置で
停止しても効率的に原点割出しが行われるように対処さ
れている。センタシャフト8の下端にはカット板27が
固定されており、シャフト8と一体的に回転可能に構成
されている。一方カット板27と組合わされて原点を割
出すためのアームホームセンサ28が、カット板27の
動きとは独立して固定して設けられている。パルスモー
タ23の正転又は逆転に基いてセンタシャフト8が回転
し、カット板27が移動してアームホームセンサ28と
交差した位置に達するとアーム6が原点に戻ったことが
検出されて、ホーム信号がアームホームセンサ28から
CPU17に送られる。
すなわちカット板27とアームホームセンサ28とは、
前記原点に対応ずけられた組合せ位置となったときに原
点割出しが行われるように構成されている。原点割出し
が行われるとCPU17の制御に基きパルスモータ23
の回転は停止する。
前記原点に対応ずけられた組合せ位置となったときに原
点割出しが行われるように構成されている。原点割出し
が行われるとCPU17の制御に基きパルスモータ23
の回転は停止する。
アーム6の原点割出しに準じてプローブ7の原点割出し
も行われる。プローブ7の場合は分配動作を行うとき、
その高さが上端にある位置が原点に設定されている。こ
の位置はアーム6を移動してもプローブ7の先端が衝突
しない位置に選ばれている。第4図(a)、(b)はプ
ローブ7の構成を示すもので、(a>は原点の位置にあ
る通常時、(b)は障害物に触れてプローブ7が上昇し
たときの状態である。プローブ干渉センサ29はアーム
ベース29a上に設けられ、プローブ7が下降して障害
物に触れるとこれを検知するように働く。第2図におい
て、アーム6により分配動作を行うときプローブ7の上
下動は上下用パルスモータ30によって行われる。パル
スモータ30の回転力は小プーリ31a、ベルト32.
大プーリ31bを介してリードねじ33に伝達され、ね
じ33が回転するとり一ドナット34が上下し、これを
保持しているリフタ35も上下する。リフタ35とセン
タシャフト8とはセンタシャフト8が回転可能な方法で
連結されており、センタシャツl−8を上げるときはり
フタ35を持上げることにより行い、下げるときはりフ
タ35を押下げることにより行う。アームヘッド21が
センタシャフト8に取付けられており、このアームヘッ
ド21を上下動することによりプローブ7が上下動され
る。プローブホームセンサ39がカット板40と交差す
るとホーム信号がCPU17に送られ、このときのプロ
ーブ7の位置は原点にあることになる。パルスモータ3
0は正逆転可能に構成され、正転時はプローブ7を上げ
、逆転時はプローブ7を下げるように働く。
も行われる。プローブ7の場合は分配動作を行うとき、
その高さが上端にある位置が原点に設定されている。こ
の位置はアーム6を移動してもプローブ7の先端が衝突
しない位置に選ばれている。第4図(a)、(b)はプ
ローブ7の構成を示すもので、(a>は原点の位置にあ
る通常時、(b)は障害物に触れてプローブ7が上昇し
たときの状態である。プローブ干渉センサ29はアーム
ベース29a上に設けられ、プローブ7が下降して障害
物に触れるとこれを検知するように働く。第2図におい
て、アーム6により分配動作を行うときプローブ7の上
下動は上下用パルスモータ30によって行われる。パル
スモータ30の回転力は小プーリ31a、ベルト32.
大プーリ31bを介してリードねじ33に伝達され、ね
じ33が回転するとり一ドナット34が上下し、これを
保持しているリフタ35も上下する。リフタ35とセン
タシャフト8とはセンタシャフト8が回転可能な方法で
連結されており、センタシャツl−8を上げるときはり
フタ35を持上げることにより行い、下げるときはりフ
タ35を押下げることにより行う。アームヘッド21が
センタシャフト8に取付けられており、このアームヘッ
ド21を上下動することによりプローブ7が上下動され
る。プローブホームセンサ39がカット板40と交差す
るとホーム信号がCPU17に送られ、このときのプロ
ーブ7の位置は原点にあることになる。パルスモータ3
0は正逆転可能に構成され、正転時はプローブ7を上げ
、逆転時はプローブ7を下げるように働く。
第5図は1サイクルの分配動作を行う場合の各ユニット
のシーケンス動作を示すタイミングチャートであり、−
例として1サイクルタイムが18秒の例を示している。
のシーケンス動作を示すタイミングチャートであり、−
例として1サイクルタイムが18秒の例を示している。
この例はサンプリングアーム6(プローブ付アーム)に
よって、サンプラ1の試料容器2の試料を吸引して反応
ディスク5の反応容器4に分配を行う動作について示し
ている。
よって、サンプラ1の試料容器2の試料を吸引して反応
ディスク5の反応容器4に分配を行う動作について示し
ている。
サンプリングポンプはプローブ7による試料の吸入、吐
出のために用いられるもの、プローブ電磁弁はその吸入
、吐出の動作を制御するためのもの、プローブ洗浄ポン
プは吸入、吐出俊の不要又は残りの試料を洗浄するため
のもの、キュベツト洗浄ポンプは反応容器(キュベツト
)4の洗浄のために用いられるものである。
出のために用いられるもの、プローブ電磁弁はその吸入
、吐出の動作を制御するためのもの、プローブ洗浄ポン
プは吸入、吐出俊の不要又は残りの試料を洗浄するため
のもの、キュベツト洗浄ポンプは反応容器(キュベツト
)4の洗浄のために用いられるものである。
次に本実施例によりサンプリング操作を行う場合の作用
をフローチャートを参照して説明する。
をフローチャートを参照して説明する。
先ず原点位置にあるアーム6を試料の分配動作を行うべ
くサンプラ1の試料容器2に移動する(ステップa)。
くサンプラ1の試料容器2に移動する(ステップa)。
この移動中アーム感圧センサ22によって障害物が検知
(エラー発生)されると流れは■に進む。正常な場合ア
ーム6と共にプローブ7を試料容器2内に下ろす(ステ
ップb)。
(エラー発生)されると流れは■に進む。正常な場合ア
ーム6と共にプローブ7を試料容器2内に下ろす(ステ
ップb)。
この下降中プローブ干渉センサ29によって障害物が検
知されると流れは◎に進む。■、◎については後述する
。続いて試料吸入を行った(ステップC)後、プローブ
7を元の位置(原点)に上げる(ステップd)。次にア
ーム6を洗浄プール15上に移動した(ステップe)後
、プローブ7を下ろして洗浄を行い(ステップf)、終
了後プローブ7を上げる(ステップq)。続いてアーム
6を反応容器4上に移動した(ステップh)後、プロー
ブ7を下ろしくステップi)、試料を反応容器4内に吐
出する(ステップj)。続いてプローブ7を上げた(ス
テップk)後、アーム6を再び洗浄プール15上に移動
しくステップ1)、プローブ7を洗浄プール15に下ろ
す(ステップm)。次にサンプリング流路の電磁弁をオ
ンにしくステップn)、プローブ7を洗浄する(ステッ
プ0)。続いてプランジャを原点に戻した(ステップp
)債、電磁弁をオフにする(ステップq)。
知されると流れは◎に進む。■、◎については後述する
。続いて試料吸入を行った(ステップC)後、プローブ
7を元の位置(原点)に上げる(ステップd)。次にア
ーム6を洗浄プール15上に移動した(ステップe)後
、プローブ7を下ろして洗浄を行い(ステップf)、終
了後プローブ7を上げる(ステップq)。続いてアーム
6を反応容器4上に移動した(ステップh)後、プロー
ブ7を下ろしくステップi)、試料を反応容器4内に吐
出する(ステップj)。続いてプローブ7を上げた(ス
テップk)後、アーム6を再び洗浄プール15上に移動
しくステップ1)、プローブ7を洗浄プール15に下ろ
す(ステップm)。次にサンプリング流路の電磁弁をオ
ンにしくステップn)、プローブ7を洗浄する(ステッ
プ0)。続いてプランジャを原点に戻した(ステップp
)債、電磁弁をオフにする(ステップq)。
次にプローブ7を上げたくステップr)後、プローブ7
を洗浄する(ステップS)。
を洗浄する(ステップS)。
以上の各ステップによって1サイクルの試料の分配動作
が終了する。
が終了する。
次に分配動作の途中で障害物が検知された場合の操作を
説明する。
説明する。
ステップaにおいて障害物が検知されると、流れは第8
図(a)の■に進み、障害物が無くなったか否かの判断
が行われる(ステップt)。障害物が無くなるまでこの
ステップtが繰返され、障害物が無くなると遅延動作が
行われる(ステップU)。例えば1秒間の遅延動作が行
われ、これは障害物除去後急にアーム6を移動して衝突
事故等が発生するのを防止するための配慮である。次に
アーム6を原点に移動する(ステップ■)。この動作は
前記したようにCPU17のパルスモータ23に対する
制御動作によって行われる。この動作が終了すると流れ
はステップ1へとジャンプする。
図(a)の■に進み、障害物が無くなったか否かの判断
が行われる(ステップt)。障害物が無くなるまでこの
ステップtが繰返され、障害物が無くなると遅延動作が
行われる(ステップU)。例えば1秒間の遅延動作が行
われ、これは障害物除去後急にアーム6を移動して衝突
事故等が発生するのを防止するための配慮である。次に
アーム6を原点に移動する(ステップ■)。この動作は
前記したようにCPU17のパルスモータ23に対する
制御動作によって行われる。この動作が終了すると流れ
はステップ1へとジャンプする。
従ってこのように障害物が検知されるとステップbとス
テップにとの間のステップは省略されるが、これはアー
ム6の移動が一時停止されたことにより、予めプログラ
ムによって決められている各ユニット相互間の動作のシ
ーケンスがずれて誤動作が発生するのを防止するために
行うものでおる。同様にしてステップe、ステップh、
ステップ1において障害物が検知された場合も流れは■
に進むように設定される。このように中間のステップを
ジャンプしてステップ1へ進んだ場合、既に吸入した試
料が測定に用いられることなく排出されて無駄になるが
これは1サイクルだけの問題であり、多サイクルにわた
って発生し得る誤動作、誤測定等を考慮すると実際的に
問題にならない。
テップにとの間のステップは省略されるが、これはアー
ム6の移動が一時停止されたことにより、予めプログラ
ムによって決められている各ユニット相互間の動作のシ
ーケンスがずれて誤動作が発生するのを防止するために
行うものでおる。同様にしてステップe、ステップh、
ステップ1において障害物が検知された場合も流れは■
に進むように設定される。このように中間のステップを
ジャンプしてステップ1へ進んだ場合、既に吸入した試
料が測定に用いられることなく排出されて無駄になるが
これは1サイクルだけの問題であり、多サイクルにわた
って発生し得る誤動作、誤測定等を考慮すると実際的に
問題にならない。
なお、ステップ■において、障害物が検知された場合は
流れはステップtに戻ることになる。
流れはステップtに戻ることになる。
次にステップbにおいて障害物が検知されると、流れは
第8図(b)の◎に進み、プローブ7が原点へ上げられ
(ステップW)、続いてアーム6が原点へ移動される(
ステップX)。次に流れはステップ1へとジャンプする
。同様にしてステップf、ステップi、ステップmにお
いて障害物が検知された場合も流れは◎に進むように設
定される。
第8図(b)の◎に進み、プローブ7が原点へ上げられ
(ステップW)、続いてアーム6が原点へ移動される(
ステップX)。次に流れはステップ1へとジャンプする
。同様にしてステップf、ステップi、ステップmにお
いて障害物が検知された場合も流れは◎に進むように設
定される。
このような場合も前記■に進んだ場合と同様な作用、効
果が得られる。
果が得られる。
このように本実施例によれば、各サイクルで試料の分配
動作を行うときアーム6又はプローブ7によって障害物
が検知された場合は、分配動作を一時停止し原点(ホー
ムポジション)にアームを戻すようにしたので、次サイ
クルからは正常な分配動作を行うことができる。
動作を行うときアーム6又はプローブ7によって障害物
が検知された場合は、分配動作を一時停止し原点(ホー
ムポジション)にアームを戻すようにしたので、次サイ
クルからは正常な分配動作を行うことができる。
これにより従来のように障害物が検知されると装置の動
作を停止して測定を中断させる必要はなくなるので、多
量の検体等を無駄にすることはない。また測定は1サイ
クルのみスキップされるだけで中断されることはないた
め、測定効率を向上することができる。更に面倒な電源
のリセット操作を行うことも不要となる。
作を停止して測定を中断させる必要はなくなるので、多
量の検体等を無駄にすることはない。また測定は1サイ
クルのみスキップされるだけで中断されることはないた
め、測定効率を向上することができる。更に面倒な電源
のリセット操作を行うことも不要となる。
本実施例ではサンプリングアームを用いて試料の分配動
作を行う例で、説明したが、試薬の分配動作を行う場合
にも同様に適用することができる。。
作を行う例で、説明したが、試薬の分配動作を行う場合
にも同様に適用することができる。。
なおスキップされたサイクルにおいて、試料分配又は試
薬分配ができなかった場合には、その試料の測定結果に
エラーの表示を付加するようにすれば便利である。
薬分配ができなかった場合には、その試料の測定結果に
エラーの表示を付加するようにすれば便利である。
[発明の効果]
以上述べたように本発明によれば、プローブ付アームに
よる液の分配動作時障害物が検知されたときは、分配動
作を停止し一連の所定の制御動作を行った後火のサイク
ルから分配動作を自動的に継続するようにしたので、測
定を中断することなく続けることができる。
よる液の分配動作時障害物が検知されたときは、分配動
作を停止し一連の所定の制御動作を行った後火のサイク
ルから分配動作を自動的に継続するようにしたので、測
定を中断することなく続けることができる。
第1図は本発明の自動化学分析装置の実施例を示す構成
図、第2図は本実施例装置のサンプリングアームの構成
を示す斜視図、第3図はサンプリングアームに取付けら
れる感圧センサの組立図、第4図(a)、(b)は本実
施例装置のプローブの構成を示す側面図、第5図は本実
施例装置の各ユニットの動作を示すタイミングチャート
、第6図乃至第8図(a)、(b)は本実施例の作用を
説明するタイミングチャート、第9図は試料の分配動作
の説明図である。 1・・・サンプラ、 2・・・試料容器、4・・・反
応容器、 5・・・反応ディスク、6・・・サンプリ
ングアーム、 7・・・プローブ、17・・・CPL
J (中央演算処理装置)、22・・・アーム感圧セン
サ、 23・・・アーム移動パルスモータ、 27.40・・・カット板、 28・・・アームホームセンサ、 29・・・プローブ干渉センサ、 30・・・上下用パルスモータ、 39・・・プローブホームセンサ。 第1図 22aア弘へ・ソ)゛へ゛−7 (G) 第4図 第7図 第 9 図
図、第2図は本実施例装置のサンプリングアームの構成
を示す斜視図、第3図はサンプリングアームに取付けら
れる感圧センサの組立図、第4図(a)、(b)は本実
施例装置のプローブの構成を示す側面図、第5図は本実
施例装置の各ユニットの動作を示すタイミングチャート
、第6図乃至第8図(a)、(b)は本実施例の作用を
説明するタイミングチャート、第9図は試料の分配動作
の説明図である。 1・・・サンプラ、 2・・・試料容器、4・・・反
応容器、 5・・・反応ディスク、6・・・サンプリ
ングアーム、 7・・・プローブ、17・・・CPL
J (中央演算処理装置)、22・・・アーム感圧セン
サ、 23・・・アーム移動パルスモータ、 27.40・・・カット板、 28・・・アームホームセンサ、 29・・・プローブ干渉センサ、 30・・・上下用パルスモータ、 39・・・プローブホームセンサ。 第1図 22aア弘へ・ソ)゛へ゛−7 (G) 第4図 第7図 第 9 図
Claims (3)
- (1)少なくともアームの部分に感圧センサが取付けら
れて成るプローブ付アームによつて分析に必要な液を一
方の容器から他方の容器に分配し、一定のサイクルで前
記液を含んだ反応液内の特定成分の濃度を測定する自動
化学分析装置において、各サイクルの分配動作時前記感
圧センサによつて障害物が検知されたときプローブ付ア
ームの分配動作を停止し一連の所定の制御動作を行つた
後、次のサイクルから分配動作を自動的に継続する制御
手段を備えたことを特徴とする自動化学分析装置。 - (2)プローブ付アームのプローブの部分に感圧センサ
が取付けられて成る請求項1記載の自動化学分析装置。 - (3)一連の所定の制御動作が前記プローブ付アームの
原点位置を割出す動作を含む請求項1記載の自動化学分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63047866A JPH0614055B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63047866A JPH0614055B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 自動化学分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01221673A true JPH01221673A (ja) | 1989-09-05 |
| JPH0614055B2 JPH0614055B2 (ja) | 1994-02-23 |
Family
ID=12787296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63047866A Expired - Lifetime JPH0614055B2 (ja) | 1988-02-29 | 1988-02-29 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0614055B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09171026A (ja) * | 1995-12-19 | 1997-06-30 | Toa Medical Electronics Co Ltd | 試料吸引装置 |
| JP2009128317A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| JP2010216889A (ja) * | 2009-03-13 | 2010-09-30 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| JP2011185729A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-09-22 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| EP2495571A2 (en) | 2011-03-02 | 2012-09-05 | Sysmex Corporation | Analyzer and position confirming method |
| JP2015102410A (ja) * | 2013-11-25 | 2015-06-04 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
| CN111844056A (zh) * | 2019-10-08 | 2020-10-30 | 潍坊市康华生物技术有限公司 | 一种低噪音机械自锁转臂装置及使用方法 |
| CN115684616A (zh) * | 2021-07-30 | 2023-02-03 | 深圳市帝迈生物技术有限公司 | 防撞检测方法、样本分析仪的控制方法及相关设备 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59176946U (ja) * | 1983-05-13 | 1984-11-27 | 株式会社日立製作所 | サンプリングノズルの衝突防止機構 |
| JPS61275660A (ja) * | 1985-05-31 | 1986-12-05 | Hitachi Ltd | サンプリング装置 |
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| JPS6358165A (ja) * | 1986-08-27 | 1988-03-12 | Shimadzu Corp | 自動試料導入装置 |
-
1988
- 1988-02-29 JP JP63047866A patent/JPH0614055B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| JP2015102410A (ja) * | 2013-11-25 | 2015-06-04 | 株式会社東芝 | 自動分析装置 |
| CN111844056A (zh) * | 2019-10-08 | 2020-10-30 | 潍坊市康华生物技术有限公司 | 一种低噪音机械自锁转臂装置及使用方法 |
| CN115684616A (zh) * | 2021-07-30 | 2023-02-03 | 深圳市帝迈生物技术有限公司 | 防撞检测方法、样本分析仪的控制方法及相关设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0614055B2 (ja) | 1994-02-23 |
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