JPH01226022A - 入出力インタフェース回路の折返し診断回路 - Google Patents
入出力インタフェース回路の折返し診断回路Info
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- JPH01226022A JPH01226022A JP63051881A JP5188188A JPH01226022A JP H01226022 A JPH01226022 A JP H01226022A JP 63051881 A JP63051881 A JP 63051881A JP 5188188 A JP5188188 A JP 5188188A JP H01226022 A JPH01226022 A JP H01226022A
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- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 title abstract description 9
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 abstract description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 101000605528 Homo sapiens Kallikrein-2 Proteins 0.000 description 1
- 102100038356 Kallikrein-2 Human genes 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は入出力インタフェース回路における絶縁された
入力、出力回路の折返し機能を診断する回路に関するも
ので、 特に絶縁されたアナログ出力回路とアナログ入力回路が
ワンボード上に実装されたアナログ入出力デバイスの折
返し診断に有用な回路に関する。 なお以下各図において同一の符号は同一もしくは相当部
分を示す。
入力、出力回路の折返し機能を診断する回路に関するも
ので、 特に絶縁されたアナログ出力回路とアナログ入力回路が
ワンボード上に実装されたアナログ入出力デバイスの折
返し診断に有用な回路に関する。 なお以下各図において同一の符号は同一もしくは相当部
分を示す。
アナログ入出力デバイスなどでは、自己診断機能や障害
切分けの°ための診断機能は信鯨性向上のため必須にな
って来ている。従来、これを実現するために第６図、第
７図に示すような回路構成をとっていた。 即ち第６図ではアナログ入出力デバイス９内のアナログ
出力用Ｄ／Ａコンバータ１の出力端子には診断用Ａ／Ｄ
回路７を接続して、Ｄ／Ａコンバータ１が外部機器１１
へ与えるアナログ信号の値を診断用Ａ／Ｄ回路７を介し
て計測するようにしている。 またアナログ入出力デバイス９内のアナログ入力用Ａ／
Ｄコンバータ２の入力部には、マルチプレクサ４と診断
用Ｄ／Ａ回路８とを設け、マルチプレクサ４の１方の入
力点には外部機器１２からのアナログ入力信号を、また
このマルチプレクサ４の他方の入力点には前記診断用Ｄ
／Ａ回路８からの模擬のアナログ入力（１号を与え、診
断指令信号ＤＩＡＣによってマルチプレクサ４への前記
の２つのアナログ入力信号を切換えてＡ／Ｄコンバータ
２へ与えるように構成している。 なお同図において６はバスインタフェース、５はバスイ
ンタフェース６の側とその外部機器側との回路電位を絶
縁するための絶縁素子である。 次に第７図はもう一つの従来の回路としての折返し診断
回路の例である。本回路は診断時にはアナログ出力用Ｄ
／Ａコンバータ１の出力を絶縁アンプ３．マルチプレク
サ４を介してアナログ入力用Ａ／Ｄコンバータ２に入力
するように構成したものである。 即ちアナログ入力用Ａ／Ｄコンバータ２へは診断指令信
号ＤＩＡＧによって入力点を切換えるマルチプレクサ４
により、外部機器１２からのアナログ入力信号と前述の
絶縁アンプ３からのアナログ入力信号とを切換えて与え
るように構成している。 これによりバスインタフェース６を介しＤ／Ａコンバー
タ１に設定した値と、Ａ／Ｄコンバータ２よりバスイン
タフェース６を介し計測した値との比較をすることで診
断が可能となる。 ｒ発明が解決しようとする課題］ しかしながら第６図の構成では診断用に付加した回路規
模が大きく高価でかつ実装スペースの増大を招くという
問題点がある。 また第７図の回路には次の問題点がある。 ■絶縁アンプ３が入力レンジや分解能によっては大へん
高価である。また精度も１２ｂｉｔ以上になると期待で
きない。 ■高速なものは実現しに（い。 ■診断時のアナログ出力を外部機器１１に与えない工夫
が必要である。 この他第６図、第７図の回路の共通の問題点として次の
ような点があげられる。即ち絶縁された入出力回路であ
るため、外部機器側との電位差の問題があり、回路の安
全上、内部で混触しないように配慮する必要が生じてく
る。従ってバス側からの切換信号で切離しや折返しを行
うと誤操作。 誤動作により、外部機器に誤出力を与えたり、内部で混
触する事故が発生する可能性がある。 そこで本発明の課題は、アナログ入出力デバイスと外部
機器とを接続する全てのコネクタの切離し状態を検出し
て閉路する接点を介し、外部機器方向への出力信号を外
部機器からの入力信号の代りに入力する入出力インタフ
ェース回路の折返し診断回路を提供することにより、前
記の問題点を解消することにある。
切分けの°ための診断機能は信鯨性向上のため必須にな
って来ている。従来、これを実現するために第６図、第
７図に示すような回路構成をとっていた。 即ち第６図ではアナログ入出力デバイス９内のアナログ
出力用Ｄ／Ａコンバータ１の出力端子には診断用Ａ／Ｄ
回路７を接続して、Ｄ／Ａコンバータ１が外部機器１１
へ与えるアナログ信号の値を診断用Ａ／Ｄ回路７を介し
て計測するようにしている。 またアナログ入出力デバイス９内のアナログ入力用Ａ／
Ｄコンバータ２の入力部には、マルチプレクサ４と診断
用Ｄ／Ａ回路８とを設け、マルチプレクサ４の１方の入
力点には外部機器１２からのアナログ入力信号を、また
このマルチプレクサ４の他方の入力点には前記診断用Ｄ
／Ａ回路８からの模擬のアナログ入力（１号を与え、診
断指令信号ＤＩＡＣによってマルチプレクサ４への前記
の２つのアナログ入力信号を切換えてＡ／Ｄコンバータ
２へ与えるように構成している。 なお同図において６はバスインタフェース、５はバスイ
ンタフェース６の側とその外部機器側との回路電位を絶
縁するための絶縁素子である。 次に第７図はもう一つの従来の回路としての折返し診断
回路の例である。本回路は診断時にはアナログ出力用Ｄ
／Ａコンバータ１の出力を絶縁アンプ３．マルチプレク
サ４を介してアナログ入力用Ａ／Ｄコンバータ２に入力
するように構成したものである。 即ちアナログ入力用Ａ／Ｄコンバータ２へは診断指令信
号ＤＩＡＧによって入力点を切換えるマルチプレクサ４
により、外部機器１２からのアナログ入力信号と前述の
絶縁アンプ３からのアナログ入力信号とを切換えて与え
るように構成している。 これによりバスインタフェース６を介しＤ／Ａコンバー
タ１に設定した値と、Ａ／Ｄコンバータ２よりバスイン
タフェース６を介し計測した値との比較をすることで診
断が可能となる。 ｒ発明が解決しようとする課題］ しかしながら第６図の構成では診断用に付加した回路規
模が大きく高価でかつ実装スペースの増大を招くという
問題点がある。 また第７図の回路には次の問題点がある。 ■絶縁アンプ３が入力レンジや分解能によっては大へん
高価である。また精度も１２ｂｉｔ以上になると期待で
きない。 ■高速なものは実現しに（い。 ■診断時のアナログ出力を外部機器１１に与えない工夫
が必要である。 この他第６図、第７図の回路の共通の問題点として次の
ような点があげられる。即ち絶縁された入出力回路であ
るため、外部機器側との電位差の問題があり、回路の安
全上、内部で混触しないように配慮する必要が生じてく
る。従ってバス側からの切換信号で切離しや折返しを行
うと誤操作。 誤動作により、外部機器に誤出力を与えたり、内部で混
触する事故が発生する可能性がある。 そこで本発明の課題は、アナログ入出力デバイスと外部
機器とを接続する全てのコネクタの切離し状態を検出し
て閉路する接点を介し、外部機器方向への出力信号を外
部機器からの入力信号の代りに入力する入出力インタフ
ェース回路の折返し診断回路を提供することにより、前
記の問題点を解消することにある。
【課題を解決するための手段］
前記の課題を解決するために本発明の回路は、ｒコンピ
ュータ装置と外部機器（１１，１２など）とが電位絶縁
手段（絶縁素子５など）を介して信号を授受する入出力
インタフェース回路（アナログ入出力デバイス９など）
であって、 前記電位絶縁手段の前記外部機器側に前記外部機器と授
受する各出力信号および各入力信号の別にそれぞれコネ
クタ（Ｋ （Ｋ１．に２）など）を備えた入出力インタ
フェース回路における、前記外部機器へ前記出力信号を
与える前記コネクタ（Ｋｌなど、以下出力コネクタとい
う）への入力部から前記出力信号を、前記外部機器から
前記入力信号を受取る前記コネクタ（Ｋ２など、以下入
力コネクタという）の出力部へ前記入力信号として折返
す折返し診断回路において、前記の各コネクタの着脱に
応じて（コネクタ装着検出機構２０（２１，２２）など
に属する、接触片５０゜プラグ外装コンタクトＫＰＩ、
リセプタクル外装コネクタＫＲＩなどを介し）開閉
駆動される（リレーＸＩ、Ｘ２などの）接点であって、
全ての前記コネクタが切離されているときにのみ、前記
出力コネクタの入力部と前記コネクタの出力部とを接続
する接点（Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂなど）を備えたｊものとす
る。 【作 用】 本発明はコネクタ装着検出機構を介して入出力インタフ
ェース回路が外部機器と接続されているか否かを検出し
、外部機器が入力側、出力側共に接続されていなければ
、デバイス内部で出力側から入力側に折返す接点回路を
構成するものである。
ュータ装置と外部機器（１１，１２など）とが電位絶縁
手段（絶縁素子５など）を介して信号を授受する入出力
インタフェース回路（アナログ入出力デバイス９など）
であって、 前記電位絶縁手段の前記外部機器側に前記外部機器と授
受する各出力信号および各入力信号の別にそれぞれコネ
クタ（Ｋ （Ｋ１．に２）など）を備えた入出力インタ
フェース回路における、前記外部機器へ前記出力信号を
与える前記コネクタ（Ｋｌなど、以下出力コネクタとい
う）への入力部から前記出力信号を、前記外部機器から
前記入力信号を受取る前記コネクタ（Ｋ２など、以下入
力コネクタという）の出力部へ前記入力信号として折返
す折返し診断回路において、前記の各コネクタの着脱に
応じて（コネクタ装着検出機構２０（２１，２２）など
に属する、接触片５０゜プラグ外装コンタクトＫＰＩ、
リセプタクル外装コネクタＫＲＩなどを介し）開閉
駆動される（リレーＸＩ、Ｘ２などの）接点であって、
全ての前記コネクタが切離されているときにのみ、前記
出力コネクタの入力部と前記コネクタの出力部とを接続
する接点（Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂなど）を備えたｊものとす
る。 【作 用】 本発明はコネクタ装着検出機構を介して入出力インタフ
ェース回路が外部機器と接続されているか否かを検出し
、外部機器が入力側、出力側共に接続されていなければ
、デバイス内部で出力側から入力側に折返す接点回路を
構成するものである。
以下第１図ないし第５図に基づいて本発明の詳細な説明
する。第１図は本発明の一実施例としての回路図で第７
図に対応するものである。第２図は本発明のもう一つの
実施例としての回路図で、入力、出力の関係が１：ｎま
たはｎ：ｎの場合の回路図である。 また第３図、第４図、第５図は第１図、第２図における
コネクタ装着検出機構の説明図である。 第１図は本発明のアナログ入出力デバイス９の基本的な
構成例で、アナログ出力用のＤ／Ａコンバータ１の出力
端子は、外部機器１１との接続コネクタＫ（Ｋｌ）と後
述のコネクタ装着検出機構２０（２１）に属するリレー
Ｘ（ＸＩ）のｂ接点Ｘｌｂとに接続されている。またア
ナログ入力用のＡ／Ｄコンバータ２の入力端子は、外部
機器１２との接続コネクタＫ（Ｋ２）と同じく後述のコ
ネクタ装着検出機構２０ （２２）に属するリレーＸ（
Ｘ２）のｂ接点Ｘ２ｂとに接続されている。そしてこの
各リレー接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂのもう一方の端子は互い
に予め接続されている。リレー接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂは
それぞれ外部機器との接続コネクタＫｌ、に２が装着さ
れていない場合はメータするようになっている。このリ
レー接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂはそれぞれ第３図ないし第５
図で詳述するコネクタ装着検出機構２０（２１，２２）
によってメーク／ブレークされる。このリレー接点Ｘｌ
ｂ、 Ｘ２ｂはコネクタＫｌ、に２装着の場合、ブレー
クするようにしてあり、このときアナロ入力、出力回路
間は完全に切離される。またコネクタ装着検出機構２１
．２２からはバス側に対し折返し状態か否かのステータ
ス信号ＳＴＳを送出するようにする。 以上の構成によりアナログ入出力部共に外部機器１１．
１２が接続されていない場合には、Ｄ／Ａコンバータ１
の出力をＡ／Ｄコンバータ２を介して測定することによ
りこのアナログ入出力デバイス９を診断することができ
る。 次に第３図、第４図、第５図によりコネクタ装着検出機
構２０について説明する。第３図、第４図のコネクタに
はいわゆるＢＮＣコネクタを使用した例を示している。 第３図はコネクタ装着前のりセプタクルＫＲ。 プラグＫＰおよびリセプタクルの下側に配置された接触
片５０の状態を示す。この状態では接触片５０はどこに
も接触していない。第４図はコネクタ装着後のりセプタ
クルＫＲ，プラグＫＰおよび接触片５０の状態を示す。 このようにコネクタＫが装着された状態では接触片５０
はプラグＫＰと接触している。 ここで第５図を用い、コネクタＫ（Ｋｌ）の装着による
コネクタ装着機構２０（２１）内のりレーＸ１の動作を
説明する。リレーＸ１のコイルの一方の端子はリレー駆
動電源ｖＸに接続されている。またリレーＸ１のコイル
の他方の端子は接触片５０の端子５０ａと接続されてい
る。またリセプタクルＫＲの外装コンタクトＫＲＩ は
外装コンタクト端子ＫＲ１ａと接続されており、この外
装コンタクト端子ＫＲ１ａはアナロググランドＡＣ（Ａ
ＧＩ）に接続さている。ここでプラグＫＰを装着すると
接触片５０がプラグＫＰの外装コンタクトＫＰＩと接触
し、これがリセプタクルＫＲの外装コンタクトＫＲＩと
接触することによりリレーＸ１が駆動される。 これによりリレーＸ１の接点Ｘｌｂがブレークする。 またコネクタ装着検出機構２０ （２２）においてもリ
レーＸ２はリレーＸ１と同様なコネクタＫ （Ｋ２）の
着脱を検出する回路によって駆動され、その接点Ｘ２ｂ
もコネクタに２の着、脱に応じてそれぞれ開、閉される
。 このようにしてコネクタＫｌ、に２のうち少なくとも一
方のコネクタＫが装着さている状態では、接点Ｘｌｂ、
Ｘ２ｂの何れかがブレーク状態にあり、内部折返し回
路は切離されている。コネクタＫｌ、に２が両方とも装
着されてない場合には、接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂは共にメ
ークして内部折返し回路は接続形成されており、またス
テータス信号ＳＴＳにより折返し状態がわかる。 以上により安全かつ安価な部品により、折返し診断回路
が構成できる。 次に第２図は出力点数がｌ：ｎの場合の折返し診断回路
の実施例であり、バスインタフェース６からの出力信号
がＤ／Ａコンバータ１ （１−１゜〜＋ １ ｎ
）およびコネクタＫ （Ｋｌ（Ｋｌ −１゜〜、Ｋｌ
−ｎ））を介して外部機器１１に出力されるものである
。 この回路は基本的には第１図と同じ考え方であるが、コ
ネクタ装着検出機構２０（２Ｈ２１−１、〜。 ２ｌ−ｎ））はそれぞれのアナログ出力コネクタに１（
Ｋｌ −１，〜、 Ｋｌ−ｎ）についており、リレーＸ
（ＸＨＸＩ −１，〜、ＸＩ −ｎ））がこの各コネ
クタ装着検出機構２１−１．〜．２１−Ｈの別に設けら
れている。そして全てのコネクタに１が未装着の場合に
アンド回路２３を介して接点Ｘｌｂがメイクする構成と
なっている。 またどのアナログ出力を折返すかを選択するためのマル
チプレクサ４２を介して各アナログ出力回路を接点Ｘｌ
ｂに接続している。その他の構成は第１図での説明と全
く同じである。 このような構成はアナログ入力がｎ点ある場合でも同様
で、アナログ入力側にマルチプレクサをつけて構成する
ことができる。従って本発明はｎ：ｎの構成でも適用で
きる。
する。第１図は本発明の一実施例としての回路図で第７
図に対応するものである。第２図は本発明のもう一つの
実施例としての回路図で、入力、出力の関係が１：ｎま
たはｎ：ｎの場合の回路図である。 また第３図、第４図、第５図は第１図、第２図における
コネクタ装着検出機構の説明図である。 第１図は本発明のアナログ入出力デバイス９の基本的な
構成例で、アナログ出力用のＤ／Ａコンバータ１の出力
端子は、外部機器１１との接続コネクタＫ（Ｋｌ）と後
述のコネクタ装着検出機構２０（２１）に属するリレー
Ｘ（ＸＩ）のｂ接点Ｘｌｂとに接続されている。またア
ナログ入力用のＡ／Ｄコンバータ２の入力端子は、外部
機器１２との接続コネクタＫ（Ｋ２）と同じく後述のコ
ネクタ装着検出機構２０ （２２）に属するリレーＸ（
Ｘ２）のｂ接点Ｘ２ｂとに接続されている。そしてこの
各リレー接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂのもう一方の端子は互い
に予め接続されている。リレー接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂは
それぞれ外部機器との接続コネクタＫｌ、に２が装着さ
れていない場合はメータするようになっている。このリ
レー接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂはそれぞれ第３図ないし第５
図で詳述するコネクタ装着検出機構２０（２１，２２）
によってメーク／ブレークされる。このリレー接点Ｘｌ
ｂ、 Ｘ２ｂはコネクタＫｌ、に２装着の場合、ブレー
クするようにしてあり、このときアナロ入力、出力回路
間は完全に切離される。またコネクタ装着検出機構２１
．２２からはバス側に対し折返し状態か否かのステータ
ス信号ＳＴＳを送出するようにする。 以上の構成によりアナログ入出力部共に外部機器１１．
１２が接続されていない場合には、Ｄ／Ａコンバータ１
の出力をＡ／Ｄコンバータ２を介して測定することによ
りこのアナログ入出力デバイス９を診断することができ
る。 次に第３図、第４図、第５図によりコネクタ装着検出機
構２０について説明する。第３図、第４図のコネクタに
はいわゆるＢＮＣコネクタを使用した例を示している。 第３図はコネクタ装着前のりセプタクルＫＲ。 プラグＫＰおよびリセプタクルの下側に配置された接触
片５０の状態を示す。この状態では接触片５０はどこに
も接触していない。第４図はコネクタ装着後のりセプタ
クルＫＲ，プラグＫＰおよび接触片５０の状態を示す。 このようにコネクタＫが装着された状態では接触片５０
はプラグＫＰと接触している。 ここで第５図を用い、コネクタＫ（Ｋｌ）の装着による
コネクタ装着機構２０（２１）内のりレーＸ１の動作を
説明する。リレーＸ１のコイルの一方の端子はリレー駆
動電源ｖＸに接続されている。またリレーＸ１のコイル
の他方の端子は接触片５０の端子５０ａと接続されてい
る。またリセプタクルＫＲの外装コンタクトＫＲＩ は
外装コンタクト端子ＫＲ１ａと接続されており、この外
装コンタクト端子ＫＲ１ａはアナロググランドＡＣ（Ａ
ＧＩ）に接続さている。ここでプラグＫＰを装着すると
接触片５０がプラグＫＰの外装コンタクトＫＰＩと接触
し、これがリセプタクルＫＲの外装コンタクトＫＲＩと
接触することによりリレーＸ１が駆動される。 これによりリレーＸ１の接点Ｘｌｂがブレークする。 またコネクタ装着検出機構２０ （２２）においてもリ
レーＸ２はリレーＸ１と同様なコネクタＫ （Ｋ２）の
着脱を検出する回路によって駆動され、その接点Ｘ２ｂ
もコネクタに２の着、脱に応じてそれぞれ開、閉される
。 このようにしてコネクタＫｌ、に２のうち少なくとも一
方のコネクタＫが装着さている状態では、接点Ｘｌｂ、
Ｘ２ｂの何れかがブレーク状態にあり、内部折返し回
路は切離されている。コネクタＫｌ、に２が両方とも装
着されてない場合には、接点Ｘｌｂ、 Ｘ２ｂは共にメ
ークして内部折返し回路は接続形成されており、またス
テータス信号ＳＴＳにより折返し状態がわかる。 以上により安全かつ安価な部品により、折返し診断回路
が構成できる。 次に第２図は出力点数がｌ：ｎの場合の折返し診断回路
の実施例であり、バスインタフェース６からの出力信号
がＤ／Ａコンバータ１ （１−１゜〜＋ １ ｎ
）およびコネクタＫ （Ｋｌ（Ｋｌ −１゜〜、Ｋｌ
−ｎ））を介して外部機器１１に出力されるものである
。 この回路は基本的には第１図と同じ考え方であるが、コ
ネクタ装着検出機構２０（２Ｈ２１−１、〜。 ２ｌ−ｎ））はそれぞれのアナログ出力コネクタに１（
Ｋｌ −１，〜、 Ｋｌ−ｎ）についており、リレーＸ
（ＸＨＸＩ −１，〜、ＸＩ −ｎ））がこの各コネ
クタ装着検出機構２１−１．〜．２１−Ｈの別に設けら
れている。そして全てのコネクタに１が未装着の場合に
アンド回路２３を介して接点Ｘｌｂがメイクする構成と
なっている。 またどのアナログ出力を折返すかを選択するためのマル
チプレクサ４２を介して各アナログ出力回路を接点Ｘｌ
ｂに接続している。その他の構成は第１図での説明と全
く同じである。 このような構成はアナログ入力がｎ点ある場合でも同様
で、アナログ入力側にマルチプレクサをつけて構成する
ことができる。従って本発明はｎ：ｎの構成でも適用で
きる。
本発明によればコンピュータ装置の外部機器との入出力
インタフェース回路における、外部機器との人、出力コ
ネクタの全ての切離し状態を検出してメータするリレー
接点を介し、折返しを行うこととしたので、外部機器が
接続さたまま診断を行うことが避けられることから安全
である。 また回路構成が高価な部品を必要とせずリレー等だけで
折返しているので、安価な、かつ精度。 信号速度に対して無障害の折返し診断回路を提供できる
。
インタフェース回路における、外部機器との人、出力コ
ネクタの全ての切離し状態を検出してメータするリレー
接点を介し、折返しを行うこととしたので、外部機器が
接続さたまま診断を行うことが避けられることから安全
である。 また回路構成が高価な部品を必要とせずリレー等だけで
折返しているので、安価な、かつ精度。 信号速度に対して無障害の折返し診断回路を提供できる
。
第１図および第２図はそれぞれ本発明の異なる実施例と
しての構成回路図、第３図、第４図は第１図におけるコ
ネクタの構成についての説明図、第５図は第１図におけ
るコネクタ装着検出機構の細部回路図、第６図は従来の
診断回路図、第７図は第１図に対応する従来の診断回路
図である。 １ （１−１，〜、Ｉ ｎ）： Ｄ／Ａ：２ンバー
タ、２：Ａ／Ｄコンバータ、５：絶縁素子、６：バスイ
ンタフェース、９：アナログ入出力デバイス、１１．１
２ ７外部機器、２０（２１，２２）、 ２１（２１−
１、〜。 ２ｌ−ｎ）：コネクタ装着検出機構、Ｋ （ＫＬＫ２）
。
しての構成回路図、第３図、第４図は第１図におけるコ
ネクタの構成についての説明図、第５図は第１図におけ
るコネクタ装着検出機構の細部回路図、第６図は従来の
診断回路図、第７図は第１図に対応する従来の診断回路
図である。 １ （１−１，〜、Ｉ ｎ）： Ｄ／Ａ：２ンバー
タ、２：Ａ／Ｄコンバータ、５：絶縁素子、６：バスイ
ンタフェース、９：アナログ入出力デバイス、１１．１
２ ７外部機器、２０（２１，２２）、 ２１（２１−
１、〜。 ２ｌ−ｎ）：コネクタ装着検出機構、Ｋ （ＫＬＫ２）
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）コンピュータ装置と外部機器とが電位絶縁手段を介
して信号を授受する入出力インタフェース回路であって
、 前記電位絶縁手段の前記外部機器側に前記外部機器と授
受する各出力信号および各入力信号の別にそれぞれコネ
クタを備えた入出力インタフェース回路における、 前記外部機器へ前記出力信号を与える前記コネクタ（以
下出力コネクタという）への入力部から前記出力信号を
、前記外部機器から前記入力信号を受け取る前記コネク
タ（以下入力コネクタという）の出力部へ前記入力信号
として折返す折返し診断回路において、 前記の各コネクタの着脱に応じて開閉駆動される接点で
あって、全ての前記コネクタが切離されているときにの
み、前記出力コネクタの入力部と前記入力コネクタの出
力部とを接続する接点、を備えたことを特徴とする入出
力インタフェース回路の折返し診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63051881A JPH01226022A (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | 入出力インタフェース回路の折返し診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63051881A JPH01226022A (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | 入出力インタフェース回路の折返し診断回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01226022A true JPH01226022A (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=12899223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63051881A Pending JPH01226022A (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | 入出力インタフェース回路の折返し診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01226022A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04273510A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-29 | Nec Corp | 汎用インタフェース制御装置 |
| JP2015118715A (ja) * | 2015-02-18 | 2015-06-25 | 株式会社東芝 | 診断付き出力装置 |
-
1988
- 1988-03-04 JP JP63051881A patent/JPH01226022A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04273510A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-29 | Nec Corp | 汎用インタフェース制御装置 |
| JP2015118715A (ja) * | 2015-02-18 | 2015-06-25 | 株式会社東芝 | 診断付き出力装置 |
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