JPH01226211A - クロックパルス発生回路 - Google Patents
クロックパルス発生回路Info
- Publication number
- JPH01226211A JPH01226211A JP63051322A JP5132288A JPH01226211A JP H01226211 A JPH01226211 A JP H01226211A JP 63051322 A JP63051322 A JP 63051322A JP 5132288 A JP5132288 A JP 5132288A JP H01226211 A JPH01226211 A JP H01226211A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- clock pulse
- semiconductor
- level
- crystal oscillation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は例えば、電波や超音波などの伝搬時間の測定
に用いられるり[Iツクパルスを発生づるり[]ツクパ
ルス発生回路。
に用いられるり[Iツクパルスを発生づるり[]ツクパ
ルス発生回路。
特に省電力ならびに測定ゲートと非同期をな覆クロック
パルスの発生に関する。
パルスの発生に関する。
[従来の技術]
第3図は従来のクロックパルス発生回路の一例を示づ回
路図であり、 2は電波や超音波の伝搬時間に係わるゲート信号を発生
する測定ゲート発生回路、旦は水晶発揚回路、4は水晶
発振回路、aを形成フる第1平導体、7は水晶振動子、
8は水晶発揚回路旦の発振周波数に調整される共振回路
、10はAN[)、回路、11はクロックパルスを計数
Jるカウンタ、12は共振回路6を形成するトランス、
R2は抵抗器、C,Goはキャパシタである。
路図であり、 2は電波や超音波の伝搬時間に係わるゲート信号を発生
する測定ゲート発生回路、旦は水晶発揚回路、4は水晶
発振回路、aを形成フる第1平導体、7は水晶振動子、
8は水晶発揚回路旦の発振周波数に調整される共振回路
、10はAN[)、回路、11はクロックパルスを計数
Jるカウンタ、12は共振回路6を形成するトランス、
R2は抵抗器、C,Goはキャパシタである。
従来のりL1ツクパルス発生回路は上記のように構成さ
れ、 第1半力体4、水晶振動子7.1〜ランス12と1ドパ
シタCoよりなる共振回路8、キャパシタCに五り−」
ルピツツ形水晶発振回路旦を形成しで、常口4−・定周
波数且つ一定振幅のり1]ツクパルスか発生され、トラ
ンス12を介して出力される。測定グー ト発牛回路2
かうの測定ゲートと1:記クロックパルスはA N o
回路10に加えられ両者の論理積、即ち測定グー トに
て選択されたクロツクスバ°ルスはカウンタ11にて計
数され、伝搬時間が測定される。第1半導体4はカウン
タ11がタロツクパルスのh1数を(うわないときも常
l!J発振を継続し、クロックパルスは関連する論理素
子へ加えられて貢通電流の影響を受(プて消費電力か大
きくなる。
れ、 第1半力体4、水晶振動子7.1〜ランス12と1ドパ
シタCoよりなる共振回路8、キャパシタCに五り−」
ルピツツ形水晶発振回路旦を形成しで、常口4−・定周
波数且つ一定振幅のり1]ツクパルスか発生され、トラ
ンス12を介して出力される。測定グー ト発牛回路2
かうの測定ゲートと1:記クロックパルスはA N o
回路10に加えられ両者の論理積、即ち測定グー トに
て選択されたクロツクスバ°ルスはカウンタ11にて計
数され、伝搬時間が測定される。第1半導体4はカウン
タ11がタロツクパルスのh1数を(うわないときも常
l!J発振を継続し、クロックパルスは関連する論理素
子へ加えられて貢通電流の影響を受(プて消費電力か大
きくなる。
特にカウンター11の分解能を向上させるため、クロッ
クパルスの周波数を高くすると上記川縁は顕著に増大り
“る。
クパルスの周波数を高くすると上記川縁は顕著に増大り
“る。
第4図は従来のクロックパルス発−[回路の他の一例を
示す回路図、 2、す、4,7.8.10,11,12゜R2,C,C
oは上記従来回路と同一であり、1は電波や超音波放射
のタイミングを決める同期111号を出力する同期回路
、13は同期回路1により作動し第1半導体4を含む水
晶発振回路3への給電を制御りる開閉器く′ある。
示す回路図、 2、す、4,7.8.10,11,12゜R2,C,C
oは上記従来回路と同一であり、1は電波や超音波放射
のタイミングを決める同期111号を出力する同期回路
、13は同期回路1により作動し第1半導体4を含む水
晶発振回路3への給電を制御りる開閉器く′ある。
従来のクロックパルス発生回路は上記のように構成され
、第1半導体4を含む水晶発振回路旦への給電は同期回
路1よりの同期信号にて作動する開閉器′13を介して
行われるので、カウンタ′11の作動か体什している時
には、水晶発振回路3の作動し休止して消費電力の低減
が削られるか、水晶発振回路品より出力されるり[」ツ
タパルスと同期回路1からの同期’I’jj jjとの
間には一定の位相関係が形成され、更に測定グーi〜も
同期信号とその位相が係わっているので、これら相qの
位相関係は一定となる。
、第1半導体4を含む水晶発振回路旦への給電は同期回
路1よりの同期信号にて作動する開閉器′13を介して
行われるので、カウンタ′11の作動か体什している時
には、水晶発振回路3の作動し休止して消費電力の低減
が削られるか、水晶発振回路品より出力されるり[」ツ
タパルスと同期回路1からの同期’I’jj jjとの
間には一定の位相関係が形成され、更に測定グーi〜も
同期信号とその位相が係わっているので、これら相qの
位相関係は一定となる。
従って複数の測定ゲートにてサンプリングされたりl’
lクロックパルス均1直よりh1測ブ′−タを得るどさ
、その分解能や測定精度の同上か計れない。
lクロックパルス均1直よりh1測ブ′−タを得るどさ
、その分解能や測定精度の同上か計れない。
[発明か解決しようとする課題]
上記のJ、うな従来のり[−1ツタパルス発41−回路
では、第1半導体4を用いた水晶発振回路品は常時発振
を?jいクロックパルスを出力するので、カウンタ11
が計数しないとさも論理素子ヘク【」ツクパルスが印加
されて消費電力が大きくなる。
では、第1半導体4を用いた水晶発振回路品は常時発振
を?jいクロックパルスを出力するので、カウンタ11
が計数しないとさも論理素子ヘク【」ツクパルスが印加
されて消費電力が大きくなる。
また同期信号に同期して水晶発振回路旦への給電を開閉
制御すると消費電力は逓減されるが、同期信gと測定ゲ
ートとクロックパルスとは相互に一定の位相関係となる
ので、測定グー1〜によるタロツクパルスのサンプリン
グ頻度を増してぞの平均値より計測データを求めても、
所定の分解能ヤ)測定精度が得られないという問題点が
あった。
制御すると消費電力は逓減されるが、同期信gと測定ゲ
ートとクロックパルスとは相互に一定の位相関係となる
ので、測定グー1〜によるタロツクパルスのサンプリン
グ頻度を増してぞの平均値より計測データを求めても、
所定の分解能ヤ)測定精度が得られないという問題点が
あった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、水晶発振回路品の出力信号レベルはカウンタの馴動
作作時は高レベルに調節され、h1数動作を行わないと
きは低レベルをなして常時発振動作が持続され、同期(
U号や測定ゲートとりL−1ツタパルスとの位相関係が
相互に非同期となり、分解能や測定精度の向上ならびに
消費電力の低減か計れるクロックパルス発生回路を得る
ことを目的とする [課題を解決づるための手段1 この発明に係るクロックパルス発生回路は、同期信号と
タイミングか係わる測定ゲートの時間間隔を測定するク
ロックパルスを常時発生する水晶発振回路と、同期信号
の(=J勢によりインピーダンスが変化して水晶発振回
路の出力信号レベルを調節づる制御回路とを設けたもの
である。
で、水晶発振回路品の出力信号レベルはカウンタの馴動
作作時は高レベルに調節され、h1数動作を行わないと
きは低レベルをなして常時発振動作が持続され、同期(
U号や測定ゲートとりL−1ツタパルスとの位相関係が
相互に非同期となり、分解能や測定精度の向上ならびに
消費電力の低減か計れるクロックパルス発生回路を得る
ことを目的とする [課題を解決づるための手段1 この発明に係るクロックパルス発生回路は、同期信号と
タイミングか係わる測定ゲートの時間間隔を測定するク
ロックパルスを常時発生する水晶発振回路と、同期信号
の(=J勢によりインピーダンスが変化して水晶発振回
路の出力信号レベルを調節づる制御回路とを設けたもの
である。
[作用1
この発明においては、水晶発振回路を形成する第1半導
体のベース回路のインピーダンスが同期回路の信号の付
勢により作動する制御回路により変化りるので、同期信
号により水晶発振回路の光(辰出力即ちクロックパルス
の信号レベルが調節される。
体のベース回路のインピーダンスが同期回路の信号の付
勢により作動する制御回路により変化りるので、同期信
号により水晶発振回路の光(辰出力即ちクロックパルス
の信号レベルが調節される。
従つ゛(り[コックパルスは力rクンタか旧教動作を行
うとき高レベルに、その他にJ3いては低レベルとなり
ことができ、常時発振させても消費電力が低減できる、 更に測定グー1〜とクロックパルスとの位相関係は相互
に非同期にできるので、クロックパルスの周波数を高く
して複数の測定ゲートによりサンプリングされ、たクロ
ックパルスの平均化処理を施ずことにより、分解能なら
びに測定精度が一層向上できる。
うとき高レベルに、その他にJ3いては低レベルとなり
ことができ、常時発振させても消費電力が低減できる、 更に測定グー1〜とクロックパルスとの位相関係は相互
に非同期にできるので、クロックパルスの周波数を高く
して複数の測定ゲートによりサンプリングされ、たクロ
ックパルスの平均化処理を施ずことにより、分解能なら
びに測定精度が一層向上できる。
[実施例]
この発明の一実施例を添イζ1図面を参照して訂細に説
明覆る。
明覆る。
第1図はこの発明の一実施例を示1回路図であり、
図において、1,2.旦、4,7,8,10゜11、R
2,C,Coは上記従来回路と同一であり、互は同期信
号のタイミングにて水晶発振回路品の出力信号レベルを
制御づる制御回路、6は同期信号のイ」勢により作動す
る第2半導体、9は水晶発娠回路旦の出力信号振幅を制
限するダイオード、R1は第1半導体4のベース回路に
設けられた抵抗器を示している。
2,C,Coは上記従来回路と同一であり、互は同期信
号のタイミングにて水晶発振回路品の出力信号レベルを
制御づる制御回路、6は同期信号のイ」勢により作動す
る第2半導体、9は水晶発娠回路旦の出力信号振幅を制
限するダイオード、R1は第1半導体4のベース回路に
設けられた抵抗器を示している。
第2図はこの発明の動作波形の−・例を示し、■は同期
回路1から出力される同期信号、■は胴側ゲート、■は
水晶発振回路旦出力のクロックパルス、■は測定グー
1〜により選択された閉動用クロックパルス、■はクロ
ックパルスの出力レベルを識別するしきい値を示してい
る。
回路1から出力される同期信号、■は胴側ゲート、■は
水晶発振回路旦出力のクロックパルス、■は測定グー
1〜により選択された閉動用クロックパルス、■はクロ
ックパルスの出力レベルを識別するしきい値を示してい
る。
上記のように構成されたクロックパルス発生回路は、同
期回路1から出力される同期(M ’tv■は測定グー
1ル発生回路2等に供給され、システム全体の動作のタ
イミングを制御すると同時に制御回路5を形成する第2
半導体6のベース回路に供給される。
期回路1から出力される同期(M ’tv■は測定グー
1ル発生回路2等に供給され、システム全体の動作のタ
イミングを制御すると同時に制御回路5を形成する第2
半導体6のベース回路に供給される。
第2半導体6の動作により水晶発娠回路旦のベース電流
が制御される。即ら同期信号■がトルベルの時は第2崖
聯体6のエミッタは1ルベルとなり、抵抗器R2を介し
て第1半導体4に大きいベース電流が流れるため、水晶
発振回路、剣の出力信号レベルは大ぎくなり、AND回
路10のしきい値■を超える振幅となる。
が制御される。即ら同期信号■がトルベルの時は第2崖
聯体6のエミッタは1ルベルとなり、抵抗器R2を介し
て第1半導体4に大きいベース電流が流れるため、水晶
発振回路、剣の出力信号レベルは大ぎくなり、AND回
路10のしきい値■を超える振幅となる。
一方同期信月■がトルベルの時は、第2半導体6はカッ
]〜オフ状態となり、第1半導体4のベース電流は抵抗
器R1,Rzの直列回路を介して供給されるためベース
電流は小さくなる。
]〜オフ状態となり、第1半導体4のベース電流は抵抗
器R1,Rzの直列回路を介して供給されるためベース
電流は小さくなる。
従つC1この時の水晶発振回路品の出力信号レベルがか
小さくなりAND回路10のしきい値■を超えないので
出力されない。然し第1半導体4による水晶発振回路旦
は常時発振作用が持続するようそのベース電流値が調整
されている。
小さくなりAND回路10のしきい値■を超えないので
出力されない。然し第1半導体4による水晶発振回路旦
は常時発振作用が持続するようそのベース電流値が調整
されている。
AND回路10は、同期信号■によって第2半導体6を
介して振幅変調された発振出力信号、即ちり1」ツクパ
ルス■と測定ゲート■との論理積によってカウンタ11
が計数1べぎ計数用クロックパルス■が形成される。測
定ゲート■は同期信号■がトルベルのタイミングに発生
するよう制御される、従って測定グー1〜■のゲート=
9− 巾を測定するためクロックパルスにて語数動作を行なう
時は、必ず水晶発振回路品は高レベルの発振状態にあり
、その時のクロックパルス■は論理回路のしきい値■を
超えているので測定ゲート■の語数動作は可能である。
介して振幅変調された発振出力信号、即ちり1」ツクパ
ルス■と測定ゲート■との論理積によってカウンタ11
が計数1べぎ計数用クロックパルス■が形成される。測
定ゲート■は同期信号■がトルベルのタイミングに発生
するよう制御される、従って測定グー1〜■のゲート=
9− 巾を測定するためクロックパルスにて語数動作を行なう
時は、必ず水晶発振回路品は高レベルの発振状態にあり
、その時のクロックパルス■は論理回路のしきい値■を
超えているので測定ゲート■の語数動作は可能である。
−−’lj、計数動作を行なわない時は、同期信号■は
[−レベルに保たれており、水晶発(辰回路旦は低レベ
ルの発振となり、論理回路のしぎい値■を超えない発振
出力のクロックパルス■となる。従って、この時は水晶
振動子7固有が消費づる消費電力も低減され、その信号
を受ける論理回路’bbきい値■を超えないため、貴通
電流は流れなくなるのでクロックパルス発生回路の省電
力が討れる。
[−レベルに保たれており、水晶発(辰回路旦は低レベ
ルの発振となり、論理回路のしぎい値■を超えない発振
出力のクロックパルス■となる。従って、この時は水晶
振動子7固有が消費づる消費電力も低減され、その信号
を受ける論理回路’bbきい値■を超えないため、貴通
電流は流れなくなるのでクロックパルス発生回路の省電
力が討れる。
同期回路1どの位相関係は、クロックパルス■は水晶振
動子7固有の周波数ならびに位相で常時発振を持続して
いるため、ランダムとなり複数回にわたって測定ゲート
■の時間に対応するh1数用クロックパルス■を計数覆
ることによリ、測定データの分解能ならびに粘度の向上
か期待できる。
動子7固有の周波数ならびに位相で常時発振を持続して
いるため、ランダムとなり複数回にわたって測定ゲート
■の時間に対応するh1数用クロックパルス■を計数覆
ることによリ、測定データの分解能ならびに粘度の向上
か期待できる。
さらにり−ニ+ツクパルス■の周波数を高くずと、大幅
な消費電力の増加を招くことなく分解能ならびに精度は
−・層内上する。
な消費電力の増加を招くことなく分解能ならびに精度は
−・層内上する。
この発明は電波や超音波を用いてての伝搬時間に係わる
測定ゲート■の測定、即ち対象物までの距離測定、対象
物の厚さなどの(J法測定、対象物の移動速度の測定な
どへ利用てぎる。
測定ゲート■の測定、即ち対象物までの距離測定、対象
物の厚さなどの(J法測定、対象物の移動速度の測定な
どへ利用てぎる。
水晶発振回路旦に代わり、一定周波数の信号を発生リ−
る仙の発振回路を用いても同等の作用を行うことができ
る。
る仙の発振回路を用いても同等の作用を行うことができ
る。
[発明の効果]
この発明は以上−説明したとcf′3す、り[1ツクパ
ルスを発生リ−ろ水晶発振回路と、水晶発振回路の出力
信号レベルを調節する制御回路を設ける簡単な回路によ
り、 水晶発振回路を形成りる第1半導体のバイアス電流は第
2半導体を介し−C加えられる同期イへ号により制御さ
れるので、水晶発振回路の出力信号レベルが調節される
3、従ってカウンタがクロックパルスを計数りるときは
高レベル信号を、その他のときは低レベル信号を出力す
るのC゛クロックパルス発牛回路の省電力を削ることか
でさ″る。
ルスを発生リ−ろ水晶発振回路と、水晶発振回路の出力
信号レベルを調節する制御回路を設ける簡単な回路によ
り、 水晶発振回路を形成りる第1半導体のバイアス電流は第
2半導体を介し−C加えられる同期イへ号により制御さ
れるので、水晶発振回路の出力信号レベルが調節される
3、従ってカウンタがクロックパルスを計数りるときは
高レベル信号を、その他のときは低レベル信号を出力す
るのC゛クロックパルス発牛回路の省電力を削ることか
でさ″る。
また水晶発振回路は常時連続して発掘作用か行われ、ク
ロックパルスと同期信号や測定ゲートとは相Hの位相関
係が非同期になるので、複数の測定グー トにより4ノ
ンシリングされたり1]ツタパルスの平均化11pを行
うことにより、測定データの分解能や精度か一層向−1
きれ、クロックパルスの周波数を高くすると分解能や精
度は更に一層向上できるという効果かある。
ロックパルスと同期信号や測定ゲートとは相Hの位相関
係が非同期になるので、複数の測定グー トにより4ノ
ンシリングされたり1]ツタパルスの平均化11pを行
うことにより、測定データの分解能や精度か一層向−1
きれ、クロックパルスの周波数を高くすると分解能や精
度は更に一層向上できるという効果かある。
第1図はこの発明の一実施例を示す回路図、冴)2図は
この発明の動作波形の一例、第3図は従来のクロックパ
ルス発生回路の一例を示覆回路図、第4図は従来のり「
1ツクパルス発牛回路の他の一例を示づ回路図である。 図において、1は同期回路、2は測定ゲート発生回路、
旦は水晶発振回路、4は第1半導体、5は制御回路、6
は第2半導体、7は水晶振動子、8は共振回路、9はダ
イオード、10はAND回路、11はカウンタ、R1,
R2,R3は抵抗器、C,Coはキャパシタでおる。 なR3、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 特許出願人 株式会社 東 京 R4器rf)l L
fl−鳳 さθ @ ■ ■
この発明の動作波形の一例、第3図は従来のクロックパ
ルス発生回路の一例を示覆回路図、第4図は従来のり「
1ツクパルス発牛回路の他の一例を示づ回路図である。 図において、1は同期回路、2は測定ゲート発生回路、
旦は水晶発振回路、4は第1半導体、5は制御回路、6
は第2半導体、7は水晶振動子、8は共振回路、9はダ
イオード、10はAND回路、11はカウンタ、R1,
R2,R3は抵抗器、C,Coはキャパシタでおる。 なR3、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 特許出願人 株式会社 東 京 R4器rf)l L
fl−鳳 さθ @ ■ ■
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 同期信号と同期して発生する測定ゲートの時間間隔をク
ロックパルスを用いて測定するクロックパルス発生回路
において、 クロックパルスを常時発生する水晶発振回路と、上記同
期信号の付勢によりインピーダンスが変化して上記水晶
発振回路の出力信号レベルを調節する制御回路を備える
と共に上記同期信号と上記クロックパルスが非同期とな
ることを特徴とするクロックパルス発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63051322A JP2795646B2 (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | クロックパルス発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63051322A JP2795646B2 (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | クロックパルス発生回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01226211A true JPH01226211A (ja) | 1989-09-08 |
| JP2795646B2 JP2795646B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=12883678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63051322A Expired - Lifetime JP2795646B2 (ja) | 1988-03-04 | 1988-03-04 | クロックパルス発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2795646B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0387176A (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-11 | Kao Corp | アルカリプルラナーゼ、これを産生する微生物及びアルカリプルラナーゼの製造法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132864A (en) * | 1976-04-30 | 1977-11-07 | Tokyo Keiki Kk | Method of and apparatus for measuring thickness with ultrasonic |
| JPS61225904A (ja) * | 1985-03-30 | 1986-10-07 | Toshiba Corp | 発振停止機能付き発振回路 |
| JPS62298204A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | Cmosゲ−トアレイ |
-
1988
- 1988-03-04 JP JP63051322A patent/JP2795646B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132864A (en) * | 1976-04-30 | 1977-11-07 | Tokyo Keiki Kk | Method of and apparatus for measuring thickness with ultrasonic |
| JPS61225904A (ja) * | 1985-03-30 | 1986-10-07 | Toshiba Corp | 発振停止機能付き発振回路 |
| JPS62298204A (ja) * | 1986-06-17 | 1987-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | Cmosゲ−トアレイ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0387176A (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-11 | Kao Corp | アルカリプルラナーゼ、これを産生する微生物及びアルカリプルラナーゼの製造法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2795646B2 (ja) | 1998-09-10 |
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