JPH01227006A - 部品装着検査装置 - Google Patents
部品装着検査装置Info
- Publication number
- JPH01227006A JPH01227006A JP5327488A JP5327488A JPH01227006A JP H01227006 A JPH01227006 A JP H01227006A JP 5327488 A JP5327488 A JP 5327488A JP 5327488 A JP5327488 A JP 5327488A JP H01227006 A JPH01227006 A JP H01227006A
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- substrate
- slit
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、主にプリント基板へのチップ部品の装着状
態を自動的に検査する部品装着検査装置に関するもので
ある。
態を自動的に検査する部品装着検査装置に関するもので
ある。
（ロ）従来の技術
従来のこの種の部品装着検査装置においては、第４図に
示すように、部品１を装着した基板２をＸ、Ｙ方向に移
動可能なｘ−Ｙテーブル３の上に載置し、そして、Ｘ軸
方向スリット光源４とＹ軸方向スリット光源５をそれぞ
れ基板２に対して角度αを有するように斜め上方に設置
して、基板２及び部品Ｉの上で直行するスリット光を、
基板２の垂直上方に設けたＲ像様６によって撮像し、撮
像した画像から部品１の装着状態を検出するようにして
いる。
示すように、部品１を装着した基板２をＸ、Ｙ方向に移
動可能なｘ−Ｙテーブル３の上に載置し、そして、Ｘ軸
方向スリット光源４とＹ軸方向スリット光源５をそれぞ
れ基板２に対して角度αを有するように斜め上方に設置
して、基板２及び部品Ｉの上で直行するスリット光を、
基板２の垂直上方に設けたＲ像様６によって撮像し、撮
像した画像から部品１の装着状態を検出するようにして
いる。
（ハ）発明が解決しようとする課題
ところでこのような従来の部品装着検査装置においては
、第５図に示すように、光源４から基板２に角度αを有
してスリット光ＳＬが入射され、部品ｌの垂直上方に設
けられた撮像機６によって撮像される。従って、そのス
リット光ＳＬが基板２及び部品ｌの表面で乱反射をすれ
ば、基板２の垂直上部に設置された撮像機６によって第
６図（ａ）に示すようなスリットパターンＳＰを有する
画像が得られる。しかしながら、部品１が鏡面状の表面
を有する場合には、スリット光ＳＬはその部品１０表面
で反射されて部品１上のスリットパターンＳＰが第６図
（ｂ）のようになるため、明瞭な画像か得られないとい
う問題点があった。
、第５図に示すように、光源４から基板２に角度αを有
してスリット光ＳＬが入射され、部品ｌの垂直上方に設
けられた撮像機６によって撮像される。従って、そのス
リット光ＳＬが基板２及び部品ｌの表面で乱反射をすれ
ば、基板２の垂直上部に設置された撮像機６によって第
６図（ａ）に示すようなスリットパターンＳＰを有する
画像が得られる。しかしながら、部品１が鏡面状の表面
を有する場合には、スリット光ＳＬはその部品１０表面
で反射されて部品１上のスリットパターンＳＰが第６図
（ｂ）のようになるため、明瞭な画像か得られないとい
う問題点があった。
この発明はこのような事情を考慮してなされたもので、
部品や基板が鏡面状の表面を有する場合でも、明瞭なス
リットパターンが撮像できる部品装着検査装置を提供す
るものである。
部品や基板が鏡面状の表面を有する場合でも、明瞭なス
リットパターンが撮像できる部品装着検査装置を提供す
るものである。
（ニ）課題を解決するための手段
この発明は、部品か装着された基板に上方からスリット
光を照射する光源部と、基板及び部品をＶ＆象する！＆
象部と、撮像部の画像から部品の装着状態を検出する検
出手段を備えた部品装着検査装置において、基板上で直
交するスリット光を基板の斜め上方から照射する２つの
光源と、基板に対する入射角に等しい角度で逆方向に反
射するスリット光の各光路に設けられた撮像部とを備え
たことを特徴とする部品装着検査装置である。
光を照射する光源部と、基板及び部品をＶ＆象する！＆
象部と、撮像部の画像から部品の装着状態を検出する検
出手段を備えた部品装着検査装置において、基板上で直
交するスリット光を基板の斜め上方から照射する２つの
光源と、基板に対する入射角に等しい角度で逆方向に反
射するスリット光の各光路に設けられた撮像部とを備え
たことを特徴とする部品装着検査装置である。
（ホ）作用
基板上で直交するスリット光を基板の斜め上方向から照
射するように２つの光源を備え、基板に対する入射角に
等しい角度で逆方向に反射するスリット光の光路に撮像
部をそれぞれ設けたので、スリット光が部品及び基板上
で鏡面反射した場合でも、スリット光は撮像部に十分に
入射するので、良質のスリットパターンを得ることがで
きる。
射するように２つの光源を備え、基板に対する入射角に
等しい角度で逆方向に反射するスリット光の光路に撮像
部をそれぞれ設けたので、スリット光が部品及び基板上
で鏡面反射した場合でも、スリット光は撮像部に十分に
入射するので、良質のスリットパターンを得ることがで
きる。
（へ）実施例
以下、図面に示す実施例に基づいて、この発明を詳述す
る。これによって、この発明が限定されるしのではない
。
る。これによって、この発明が限定されるしのではない
。
第１図はこの発明の構成を示す説明図であり、１１は基
板１２に装着された部品、１３は基板１２を載置してＸ
、Ｙ方向に自在に移動するＸ−Ｙテーブル、１４は基板
１２０面上にＸ軸方向のスリットラインを形成するため
にＸ−Ｙテーブル１３の斜め上方に角度αを有して設置
されたＸ軸方向スリット光源、１５はプリント基板１２
の面上にＹ軸方向のスリットラインを形成するためにＸ
−Ｙテーブル１２の斜め上方に角度αを有して設置され
たＹ軸方向スリット光源、１４ａ、１５ａはそれぞれ光
源１４．１５からのスリット光の入射方向と逆方向に角
度αで反射する反射光の光路に設けられたＩＴＶカメラ
、１６．１７はカメラ＋４ａ、１５ａからの撮像信号を
変換するＡ／Ｄ変換部、１８．１９はＡ／Ｄ変換部１６
．１７の出力から部品ｌの装着状態を検出する検出回路
、２０．２１はＸ−Ｙテーブル１３を駆動するＸ軸方向
駆動回路及びＹ軸方向駆動回路、２２はＸ−Ｙテーブル
１３の移動量を制御する制御回路である。
板１２に装着された部品、１３は基板１２を載置してＸ
、Ｙ方向に自在に移動するＸ−Ｙテーブル、１４は基板
１２０面上にＸ軸方向のスリットラインを形成するため
にＸ−Ｙテーブル１３の斜め上方に角度αを有して設置
されたＸ軸方向スリット光源、１５はプリント基板１２
の面上にＹ軸方向のスリットラインを形成するためにＸ
−Ｙテーブル１２の斜め上方に角度αを有して設置され
たＹ軸方向スリット光源、１４ａ、１５ａはそれぞれ光
源１４．１５からのスリット光の入射方向と逆方向に角
度αで反射する反射光の光路に設けられたＩＴＶカメラ
、１６．１７はカメラ＋４ａ、１５ａからの撮像信号を
変換するＡ／Ｄ変換部、１８．１９はＡ／Ｄ変換部１６
．１７の出力から部品ｌの装着状態を検出する検出回路
、２０．２１はＸ−Ｙテーブル１３を駆動するＸ軸方向
駆動回路及びＹ軸方向駆動回路、２２はＸ−Ｙテーブル
１３の移動量を制御する制御回路である。
このような構成において、制御回路２２からＸ軸方向駆
動回路２０及びＹ軸方向駆動回路２１が指令を受けてＸ
−Ｙテーブル１３が移動し、検査する部品１１の中心が
基板１２の面上に光源１４゜１５によって形成されたＸ
軸方向スリットラインとＹ軸方向スリットラインとの交
点に位置するように設定される。部品１１及び基板１２
が鏡面状の表面を有する場合には、第２図に示すように
光源１４．１５から部品ｌ【及び基板１２に対して角度
αで入射されるスリット光の反射光路中にカメラ＋４ａ
、１５ａが設置されているので、その反射光は力、メラ
１４ａ、１５ａによって第３図に示すように明瞭なスリ
ットパターンＳＰとして撮像される。また、部品１１及
び基板１２の表面が鏡面でない場合には、スリット光Ｓ
Ｌは各々の表面で乱反射するが、それによるスリットパ
ターンはカメラ１４ａ、１５ａによって従来通り明瞭に
撮像されろことは言うまでもない。
動回路２０及びＹ軸方向駆動回路２１が指令を受けてＸ
−Ｙテーブル１３が移動し、検査する部品１１の中心が
基板１２の面上に光源１４゜１５によって形成されたＸ
軸方向スリットラインとＹ軸方向スリットラインとの交
点に位置するように設定される。部品１１及び基板１２
が鏡面状の表面を有する場合には、第２図に示すように
光源１４．１５から部品ｌ【及び基板１２に対して角度
αで入射されるスリット光の反射光路中にカメラ＋４ａ
、１５ａが設置されているので、その反射光は力、メラ
１４ａ、１５ａによって第３図に示すように明瞭なスリ
ットパターンＳＰとして撮像される。また、部品１１及
び基板１２の表面が鏡面でない場合には、スリット光Ｓ
Ｌは各々の表面で乱反射するが、それによるスリットパ
ターンはカメラ１４ａ、１５ａによって従来通り明瞭に
撮像されろことは言うまでもない。
（ト）発明の効果
この発明によれば、検査されろ部品やその部品が設置さ
れる基板か鏡面状の表面を有していても、スリット光の
反射光を効率良く受光して良質のラインパターンを撮像
することができ、高精度の部品装着状態の検査が可能と
なる。
れる基板か鏡面状の表面を有していても、スリット光の
反射光を効率良く受光して良質のラインパターンを撮像
することができ、高精度の部品装着状態の検査が可能と
なる。
第１図はこの発明の一実施例の構成を示す構成説明図、
第２図は第１図の作用を示す説明図、第３図は第１図に
示す実施例によって得られる画像例を示す説明図、第４
図は従来例の第１図対応図、第５図は従来例の第２図対
応図、第６図（ａ） （ｂ）は従来例の第３図対応図で
ある。 １１・・・・・・部品、１２・・・・・・基板、１３・
・・・・・Ｘ−Ｙテーブル、 １４．１５・・・・・・光源、 １４ａ、１５ａ・・・・・・カメラ。 第 ２ｉ５１ 第 ３Ｗｉ 第４ 図 算 ５ 陶 第 ６ 図 （ａ） （ｂ）
第２図は第１図の作用を示す説明図、第３図は第１図に
示す実施例によって得られる画像例を示す説明図、第４
図は従来例の第１図対応図、第５図は従来例の第２図対
応図、第６図（ａ） （ｂ）は従来例の第３図対応図で
ある。 １１・・・・・・部品、１２・・・・・・基板、１３・
・・・・・Ｘ−Ｙテーブル、 １４．１５・・・・・・光源、 １４ａ、１５ａ・・・・・・カメラ。 第 ２ｉ５１ 第 ３Ｗｉ 第４ 図 算 ５ 陶 第 ６ 図 （ａ） （ｂ）
Claims (1)
- １、部品が装着された基板に上方からスリット光を照射
する光源部と、基板及び部品を撮像する撮像部と、撮像
部の画像から部品の装着状態を検出する検出手段を備え
た部品装着検査装置において、基板上で直交するスリッ
ト光を基板の斜め上方から照射する２つの光源と、基板
に対する入射角に等しい角度で逆方向に反射するスリッ
ト光の各光路に設けられた撮像部とを備えたことを特徴
とする部品装着検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5327488A JPH01227006A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 部品装着検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5327488A JPH01227006A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 部品装着検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01227006A true JPH01227006A (ja) | 1989-09-11 |
Family
ID=12938158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5327488A Pending JPH01227006A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | 部品装着検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01227006A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0643509U (ja) * | 1992-11-13 | 1994-06-10 | 信越エンジニアリング株式会社 | 光切断式顕微鏡 |
| KR100363218B1 (ko) * | 2000-06-22 | 2002-11-30 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 광학측정시스템 |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP5327488A patent/JPH01227006A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0643509U (ja) * | 1992-11-13 | 1994-06-10 | 信越エンジニアリング株式会社 | 光切断式顕微鏡 |
| KR100363218B1 (ko) * | 2000-06-22 | 2002-11-30 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 광학측정시스템 |
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