JPH01231293A - 薄膜el素子 - Google Patents
薄膜el素子Info
- Publication number
- JPH01231293A JPH01231293A JP63279277A JP27927788A JPH01231293A JP H01231293 A JPH01231293 A JP H01231293A JP 63279277 A JP63279277 A JP 63279277A JP 27927788 A JP27927788 A JP 27927788A JP H01231293 A JPH01231293 A JP H01231293A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- thin film
- insulating layer
- transparent
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Luminescent Compositions (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、スペースファクタに優れた平面デイスプレィ
用のマルチカラー及びフルカラーELパネルとして期待
される表示品質に優れた薄膜EL素子及びELデイスプ
レィに係り、特に発光層の高輝度化に好適な薄11QE
L素子及びELデイスプレィに関する。
用のマルチカラー及びフルカラーELパネルとして期待
される表示品質に優れた薄膜EL素子及びELデイスプ
レィに係り、特に発光層の高輝度化に好適な薄11QE
L素子及びELデイスプレィに関する。
更に、本発明は、薄膜EL素子の製造方法及び薄膜EL
素子製造方法を実施する装置に係り、特に発光層の高輝
度化に好適な薄膜EL素子の製造方法及び薄膜EL素子
製造方法を実施する装置に関する。
素子製造方法を実施する装置に係り、特に発光層の高輝
度化に好適な薄膜EL素子の製造方法及び薄膜EL素子
製造方法を実施する装置に関する。
一般に薄119EL素子の発光の機構は次のように説明
されている。透明電極と背面電極との間に交流電界(1
06V/cm程度)を印加することによつて絶縁層と発
光層との界面から電子が発光層の伝導帯に注入される。
されている。透明電極と背面電極との間に交流電界(1
06V/cm程度)を印加することによつて絶縁層と発
光層との界面から電子が発光層の伝導帯に注入される。
次にその電子が電界により加速されて十分なエネルギー
を得て発光センターを衝突励起することである。励起さ
れた発行センターが基底状態に戻る際にEL発光が起こ
る。
を得て発光センターを衝突励起することである。励起さ
れた発行センターが基底状態に戻る際にEL発光が起こ
る。
硫化亜鉛を母体材料とし、発光センターとしてMnを添
加した発光層の両面を絶縁層で挾持し、さらにその両側
を少なくとも一方が透明な1対の電極で挾んだいわゆる
二重絶縁膜構造の薄膜EL素子は、その高輝度・長寿命
特性を生かして軽量J型のELデイスプレィとして商品
化に至っている。ZnSにMnを添加した場合の発光は
黄橙色であるが、Tm、Sm、Tbなどの元素を添加す
ることで、その発光色が異なりそれぞれ青色、赤色、緑
色等が得られる。しかしZnSでは未だ輝度の高いこれ
ら三原色は得られていない。
加した発光層の両面を絶縁層で挾持し、さらにその両側
を少なくとも一方が透明な1対の電極で挾んだいわゆる
二重絶縁膜構造の薄膜EL素子は、その高輝度・長寿命
特性を生かして軽量J型のELデイスプレィとして商品
化に至っている。ZnSにMnを添加した場合の発光は
黄橙色であるが、Tm、Sm、Tbなどの元素を添加す
ることで、その発光色が異なりそれぞれ青色、赤色、緑
色等が得られる。しかしZnSでは未だ輝度の高いこれ
ら三原色は得られていない。
ELデイスプレィとしては、発光色の多色化が強く望ま
れており、上記の添加元素に適合する母体材料の研究が
なされている。SrSに微量のCeを添加すると青緑色
、CaSに微量のEuを添加すると赤色、ZnSに微量
のTbを添加すると緑色に発光するEL層が得られる。
れており、上記の添加元素に適合する母体材料の研究が
なされている。SrSに微量のCeを添加すると青緑色
、CaSに微量のEuを添加すると赤色、ZnSに微量
のTbを添加すると緑色に発光するEL層が得られる。
硫化カルシウム(CaS)をEL層の母体材料として使
用する場合、得られる発光層(薄膜)の結晶が(222
)面方向に配向するように形成すると高輝度で発光する
EL素子が得られる(特開昭61−224292)。
用する場合、得られる発光層(薄膜)の結晶が(222
)面方向に配向するように形成すると高輝度で発光する
EL素子が得られる(特開昭61−224292)。
硫化ストロンチウム(SrS)を発光層の母体とした場
合の結晶配向は、特に(111)面に強く配向するとい
う報告(S I D 85 、 Digest。
合の結晶配向は、特に(111)面に強く配向するとい
う報告(S I D 85 、 Digest。
219、p218〜221)がある。
従来のSrS膜は、良好な膜を蒸着するために、成膜速
度を5人/S程度と遅くして、成膜をおこなっていた。
度を5人/S程度と遅くして、成膜をおこなっていた。
′
しかし、上記従来の硫化ストロンチウム膜を用いた薄膜
による発光素子では、輝度が低いという問題があった。
による発光素子では、輝度が低いという問題があった。
この問題は、本発明者らの検討によると、発光層内部に
は成膜時に生ずる多くの結晶欠陥や格子歪み等が存在す
るため、散乱等により電子が効率よく加速されないこと
に起因して、発光輝度の低下が起こるものと考えられる
。
は成膜時に生ずる多くの結晶欠陥や格子歪み等が存在す
るため、散乱等により電子が効率よく加速されないこと
に起因して、発光輝度の低下が起こるものと考えられる
。
薄111EL素子において、その発光輝度を高めるには
発光層の結晶性、結晶面の配向性、あるいは発光層と絶
縁層との界面の問題等の物性を十分明らかにし、発光の
メカニズムを究明することが必要となってきている。し
かし、これらに関し現在のところ不明な点が多く十分な
発光輝度を有する薄膜EL素子を得るにはいたっていな
い。
発光層の結晶性、結晶面の配向性、あるいは発光層と絶
縁層との界面の問題等の物性を十分明らかにし、発光の
メカニズムを究明することが必要となってきている。し
かし、これらに関し現在のところ不明な点が多く十分な
発光輝度を有する薄膜EL素子を得るにはいたっていな
い。
本発明の目的は、発光輝度が高い薄膜EL素子及びEL
デイスプレを提供することを目的とする。
デイスプレを提供することを目的とする。
更に本発明の目的は、発光輝度が高い薄膜EL素子の製
造方法及び該薄膜EL素子製造方法を実施する装置を提
供することを目的とする。
造方法及び該薄膜EL素子製造方法を実施する装置を提
供することを目的とする。
この目的を達成するために本発明は、透明なる電気絶縁
体からなる基板と、該基板上に形成された第1の電極と
、該電極上に透明な第1の絶縁層を介して形成されたE
L層と、該EL層を閉囲する透明な第2の絶縁層と、該
第2の絶縁層上に形成された第2の電極と、前記E’L
層に電界を印加する手段とを有し、第1及び第2の電極
の少なくとも一方が透明である薄膜EL素子において、
前記EL層の母材が(200)面に強く配向している硫
化ストロンチウムであることを特徴とする薄膜EL素子
である。
体からなる基板と、該基板上に形成された第1の電極と
、該電極上に透明な第1の絶縁層を介して形成されたE
L層と、該EL層を閉囲する透明な第2の絶縁層と、該
第2の絶縁層上に形成された第2の電極と、前記E’L
層に電界を印加する手段とを有し、第1及び第2の電極
の少なくとも一方が透明である薄膜EL素子において、
前記EL層の母材が(200)面に強く配向している硫
化ストロンチウムであることを特徴とする薄膜EL素子
である。
更に、前記EL層の母材が(200)面に強く配向し、
かつ(200)面とX線回折強度比即ちI (200)
/I (100)で3以上の硫化ストロンチウムである
ことを特徴とする薄膜EL素子である。
かつ(200)面とX線回折強度比即ちI (200)
/I (100)で3以上の硫化ストロンチウムである
ことを特徴とする薄膜EL素子である。
一方、薄膜EL素子の製造方法には、透明基板上に第1
の電極を形成するステップと、該第1の電極上に第1の
絶縁層を形成するステップと、真空雰囲気内で前記EL
層母材の原料に電子ビームを当てて前記第1絶縁層の上
に30〜100Å/s成膜速度でEL層を蒸着するステ
ップと、該EL層の上に第2の絶縁層を形成するステッ
プと、該第2の絶縁層の上に第2の電極を形成するステ
ップと、該EL層に電界を印加する手段を設けるステッ
プとを含む。
の電極を形成するステップと、該第1の電極上に第1の
絶縁層を形成するステップと、真空雰囲気内で前記EL
層母材の原料に電子ビームを当てて前記第1絶縁層の上
に30〜100Å/s成膜速度でEL層を蒸着するステ
ップと、該EL層の上に第2の絶縁層を形成するステッ
プと、該第2の絶縁層の上に第2の電極を形成するステ
ップと、該EL層に電界を印加する手段を設けるステッ
プとを含む。
また、薄膜EL素子製造方法を実施する装置は透明基板
上に形成した第1の電極を第1の絶縁層で被覆し、真空
雰囲気内でEL層母材の原料に電子ビームを当てて該第
1絶縁層の上にEL層を蒸着し、該EL層を第2の絶縁
層で被覆し、該第2絶縁層の上に第2の電極を形成し、
該EL層に電界を印加する手段を設ける薄膜EL素子の
製造方法において、該基板と該EL層母材の原料との間
に加熱ヒータを設けることを特徴とする。
上に形成した第1の電極を第1の絶縁層で被覆し、真空
雰囲気内でEL層母材の原料に電子ビームを当てて該第
1絶縁層の上にEL層を蒸着し、該EL層を第2の絶縁
層で被覆し、該第2絶縁層の上に第2の電極を形成し、
該EL層に電界を印加する手段を設ける薄膜EL素子の
製造方法において、該基板と該EL層母材の原料との間
に加熱ヒータを設けることを特徴とする。
本発明のELデイスプレは、透明なる電気絶縁体からな
る基板と、該基板上に形成されたストライプ状の第1の
電極と該電極上に透明なる第1の絶縁層を介して形成さ
れたエレクトロルミネッセント(EL)層と該EL層上
に閉囲する透明なる第2の絶縁層と、該第2の絶縁層上
に形成されたストライプ状の第1の電極と直交するよう
な第2の電極と、前記EL層に電界を印加する手段とを
有し、第1及び第2の電極の少なくとも一方が透明であ
るELデイスプレにおいて、前記EL層の母材が(20
0)面に強く配向している硫化ストロンチウムであるこ
とを特徴とする。
る基板と、該基板上に形成されたストライプ状の第1の
電極と該電極上に透明なる第1の絶縁層を介して形成さ
れたエレクトロルミネッセント(EL)層と該EL層上
に閉囲する透明なる第2の絶縁層と、該第2の絶縁層上
に形成されたストライプ状の第1の電極と直交するよう
な第2の電極と、前記EL層に電界を印加する手段とを
有し、第1及び第2の電極の少なくとも一方が透明であ
るELデイスプレにおいて、前記EL層の母材が(20
0)面に強く配向している硫化ストロンチウムであるこ
とを特徴とする。
〔作用〕
SrSの結晶は、NaCQ型の結晶構造をとる。
上記本発明によれば、結晶の(200>面方向への成長
の傾向が、他の結晶の成長と比較して強い場合は、絶縁
層と発光層との界面から出た電子に対する散乱等の障害
の少ない構造となり、発光に関与する電子の走行に対す
る障害が小さくなるので、高い発光輝度が得られる。
の傾向が、他の結晶の成長と比較して強い場合は、絶縁
層と発光層との界面から出た電子に対する散乱等の障害
の少ない構造となり、発光に関与する電子の走行に対す
る障害が小さくなるので、高い発光輝度が得られる。
本発明において、好適には(200)面と(111)面
とのX線回折強度を3以上とすると十分な発光輝度が得
られる。
とのX線回折強度を3以上とすると十分な発光輝度が得
られる。
本発明の目的、効果、及び新規な特徴については、添付
図面を参照し、以下に述べる実施例の説明によってさら
に明らかにする。
図面を参照し、以下に述べる実施例の説明によってさら
に明らかにする。
第1図は、本発明の第1実施例を示す薄膜EL発光素子
の縦断面構成図である。第1図において、ガラス基板1
上にIT○(Indic+m Tin 0xide 。
の縦断面構成図である。第1図において、ガラス基板1
上にIT○(Indic+m Tin 0xide 。
In20aと5nOzの混合物)を用いた透明電極を形
成し、その上に5iOzとTa2e6の二層からなる第
1絶縁層3を高周波スパッタリング法で約0.5μmの
厚さに形成した。ここで絶縁層材料としては、上記の他
にY20a、 A Q 203. Ti0z。
成し、その上に5iOzとTa2e6の二層からなる第
1絶縁層3を高周波スパッタリング法で約0.5μmの
厚さに形成した。ここで絶縁層材料としては、上記の他
にY20a、 A Q 203. Ti0z。
S r T i○a、Si3N4またはそれらの複合物
を用いて形成してもよい。第1絶縁層3の上に発光セン
ターとして塩化セリウム(CeCQa)を0.05〜0
、5 mo Q%好ましくは0,1moQ%添加した
SrSの粉末をプレス成形して得たペレットを蒸着原料
として、電子ビーム蒸着法により発光層4を形成した。
を用いて形成してもよい。第1絶縁層3の上に発光セン
ターとして塩化セリウム(CeCQa)を0.05〜0
、5 mo Q%好ましくは0,1moQ%添加した
SrSの粉末をプレス成形して得たペレットを蒸着原料
として、電子ビーム蒸着法により発光層4を形成した。
ここで発光層4の膜厚は、約0.5〜1.5μm好まし
くは約1μmとし、基板温度は500℃一定にして成膜
速度(原料に当たる電子ビームの出力を変えることで変
えることが可能)を変えて6種類の発光層4を作成した
。
くは約1μmとし、基板温度は500℃一定にして成膜
速度(原料に当たる電子ビームの出力を変えることで変
えることが可能)を変えて6種類の発光層4を作成した
。
発光層4の上には第1絶縁層3と同様の材料からなる第
2絶縁層5をスパッタ法で積層し、更にその上にAlか
らなる背面電極6を抵抗加熱蒸着法により形成した。こ
のEL素子は透明電極2と背面電極6との間に交流電圧
7を印加することによって駆動される。SrSを母体材
料として発光センターにCeを用いた場合は青緑色発光
を呈する。
2絶縁層5をスパッタ法で積層し、更にその上にAlか
らなる背面電極6を抵抗加熱蒸着法により形成した。こ
のEL素子は透明電極2と背面電極6との間に交流電圧
7を印加することによって駆動される。SrSを母体材
料として発光センターにCeを用いた場合は青緑色発光
を呈する。
第2図は、上記第1図に示すEL素子の発光輝度Bと発
光層(SrS:CeCQa)の結晶配向性との関係を示
す特性図である。第3図は、上記の方法で作成した発光
層(SrS:CeCQ3)のX線回折パターンの一例を
示す特性図である。横軸は回折角度(2θ)縦軸はX線
回折強度(I)&示す。X線回折パターンは、SrS発
光層の形成条件により異なり、主に(200)、(11
1)。
光層(SrS:CeCQa)の結晶配向性との関係を示
す特性図である。第3図は、上記の方法で作成した発光
層(SrS:CeCQ3)のX線回折パターンの一例を
示す特性図である。横軸は回折角度(2θ)縦軸はX線
回折強度(I)&示す。X線回折パターンは、SrS発
光層の形成条件により異なり、主に(200)、(11
1)。
(220)、(400)、(222)等の回折ピークが
表われる。ここに結晶の1つの隅点を原点として3次元
の座標系を考えた場合、x、y、z各軸に沿ってそれぞ
れ長さが1である3つの点を通る平面が(111)面で
あり、(200)面はX軸に沿って長さが1/2の点を
通りy軸とZliIIIに平行な面を示している。これ
らの回折ピークのうち比較的強く表われる(200)と
(111)のピーク強度をそれぞれI(200)、I(
111)とし、その相対強度比I(200)/I(11
1)を発光層の結晶配向性の指標とする。第2図よりI
(200)/I(111)が大きくなると発光輝度が著
しく増大していることがわかる。特に、その比が3以上
のところで顕著である。
表われる。ここに結晶の1つの隅点を原点として3次元
の座標系を考えた場合、x、y、z各軸に沿ってそれぞ
れ長さが1である3つの点を通る平面が(111)面で
あり、(200)面はX軸に沿って長さが1/2の点を
通りy軸とZliIIIに平行な面を示している。これ
らの回折ピークのうち比較的強く表われる(200)と
(111)のピーク強度をそれぞれI(200)、I(
111)とし、その相対強度比I(200)/I(11
1)を発光層の結晶配向性の指標とする。第2図よりI
(200)/I(111)が大きくなると発光輝度が著
しく増大していることがわかる。特に、その比が3以上
のところで顕著である。
ココテ、 (200)面と(111)面とをパラメータ
にした理由は、他の面では強度が小さいので数値のばら
つきが大きく、結晶の配向性を示すパラメータとして選
択に適しないためである。
にした理由は、他の面では強度が小さいので数値のばら
つきが大きく、結晶の配向性を示すパラメータとして選
択に適しないためである。
第4図は、SrSの粉末のX線回折の特性図でこの図か
ら明らかなように、(200)面は(111)面より約
3倍の強度に表われる。したがって、(200)面の強
度が(111)面の強度の3倍以上になることにより、
結晶が(200)面に強く配向しているといえる。
ら明らかなように、(200)面は(111)面より約
3倍の強度に表われる。したがって、(200)面の強
度が(111)面の強度の3倍以上になることにより、
結晶が(200)面に強く配向しているといえる。
成膜条件とSrS膜の配向性との関係を調べたところ、
成膜速度を上げると(200)面へ配向しやすくなるこ
とがわかった。第5図に、成膜速度VとX線回折強度I
の関係を示す。第5図から明らかなように成膜速度が3
0人/Sより小さくなると(200)面の回折強度が急
激に小さくなる。成膜速度が30人/Sから130人/
Sの範囲では(200)面の強度比は直線的に増加する
。
成膜速度を上げると(200)面へ配向しやすくなるこ
とがわかった。第5図に、成膜速度VとX線回折強度I
の関係を示す。第5図から明らかなように成膜速度が3
0人/Sより小さくなると(200)面の回折強度が急
激に小さくなる。成膜速度が30人/Sから130人/
Sの範囲では(200)面の強度比は直線的に増加する
。
一方、(111)面の強度比は減少をたどる。すなわち
、成膜速度を上げることで(200)面と(111)面
の相対強度比r (2o O)/ I(111)は増大
することになる。成膜速度を上げるには蒸着原料へ大き
な電子線の出力を与えて原料を高温にする必要がある。
、成膜速度を上げることで(200)面と(111)面
の相対強度比r (2o O)/ I(111)は増大
することになる。成膜速度を上げるには蒸着原料へ大き
な電子線の出力を与えて原料を高温にする必要がある。
したがって、成膜速度を高めるには、蒸発粒子をより高
温にすることが重要である。SrSを母体材料とする発
光層の場合は、(200)面を強く成長させることによ
り、電子の散乱等の障害の少ない構造となり、電子が効
率よく加速されるために高い発光輝度が得られる。
温にすることが重要である。SrSを母体材料とする発
光層の場合は、(200)面を強く成長させることによ
り、電子の散乱等の障害の少ない構造となり、電子が効
率よく加速されるために高い発光輝度が得られる。
さらに、成膜速度とSrS膜の配向性の関係を検討した
ところ、(200)への配向性は成膜速度の増加と共に
強くなるが、130人/S以上では蒸着層内の真空度の
低下により異常な蒸発が起るため良好な発光層形成がで
きなかった。なお、SrSを母体とする発光層の形成に
は、本実施例で用いた電子ビーム蒸着法の他にスパッタ
法。
ところ、(200)への配向性は成膜速度の増加と共に
強くなるが、130人/S以上では蒸着層内の真空度の
低下により異常な蒸発が起るため良好な発光層形成がで
きなかった。なお、SrSを母体とする発光層の形成に
は、本実施例で用いた電子ビーム蒸着法の他にスパッタ
法。
CVD法、MBE法、ALE法等を用イテもよく、また
発光センターとしてEu、Th、Sm、Pr。
発光センターとしてEu、Th、Sm、Pr。
Tm等およびそれらの硫化物、塩化物、弗化物等を用い
ることにより輝度の高い多色表示のEL素子が得られる
。また、本発明には、SrSのほかにCa S 、 B
a S 、 M g S等各種硫化物を用いることが
できる。
ることにより輝度の高い多色表示のEL素子が得られる
。また、本発明には、SrSのほかにCa S 、 B
a S 、 M g S等各種硫化物を用いることが
できる。
次に本発明の第2の実施例について説明する。。
前記実施例と同様にガラス基板上に1.T、O。
を用いた透明電極をストライプ状に形成し、その上に5
iOzとTa2e5の二層からなる第1絶縁層を形成し
た。この上に発光層を形成した。ここで発光層はSrS
:CeCQa(0,1moQ%)の原料を用い、基板
と原料との間に第6図に示す蒸発粒子加熱用ヒータ70
を設けて、更に成膜速度を変化させて形成した。
iOzとTa2e5の二層からなる第1絶縁層を形成し
た。この上に発光層を形成した。ここで発光層はSrS
:CeCQa(0,1moQ%)の原料を用い、基板
と原料との間に第6図に示す蒸発粒子加熱用ヒータ70
を設けて、更に成膜速度を変化させて形成した。
第6図は、本発明に係る薄膜EL素子の実施例2の製造
装置の一実施例を示す構成図である。第6図においてS
rS原料72には電子ビーム源76から発した電子ビー
ム73が照射され、蒸発したSrSはヒータ7oにより
加熱され、ガラス基板75上にSrS膜7膜上4る。な
お71は真空チャンバを示す。本実施例では、発光層の
膜厚は、すべて約1μmに統一した0発光層の上に第1
絶縁層と同様の方法で、第2絶縁層を形成し、更にその
上にAlからなる背面電極を形成した。
装置の一実施例を示す構成図である。第6図においてS
rS原料72には電子ビーム源76から発した電子ビー
ム73が照射され、蒸発したSrSはヒータ7oにより
加熱され、ガラス基板75上にSrS膜7膜上4る。な
お71は真空チャンバを示す。本実施例では、発光層の
膜厚は、すべて約1μmに統一した0発光層の上に第1
絶縁層と同様の方法で、第2絶縁層を形成し、更にその
上にAlからなる背面電極を形成した。
第7図は、実施例2により作製された薄膜EL素子の成
膜速度■と(200)面のX線回折強度Iの関係を示す
特性図である。Aはガラス基板と原料との間に蒸発粒子
を加熱するヒータを設けて成膜した場合で、Bは上記ヒ
ータを設けなかった場合の結果である。成膜速度を上げ
ることで(200)面に強く配向した発光層を作ること
ができるのが、ガラス基板と蒸発原料との間にヒータを
設けて蒸発粒子を加熱した場合はヒータを設けなかった
場合に比較して(200)面に非常に強く配向するよう
になる。これらのEL素子の輝度測定の結果、Aの素子
はBの素子に比べて輝度が高いことが明らかとなった。
膜速度■と(200)面のX線回折強度Iの関係を示す
特性図である。Aはガラス基板と原料との間に蒸発粒子
を加熱するヒータを設けて成膜した場合で、Bは上記ヒ
ータを設けなかった場合の結果である。成膜速度を上げ
ることで(200)面に強く配向した発光層を作ること
ができるのが、ガラス基板と蒸発原料との間にヒータを
設けて蒸発粒子を加熱した場合はヒータを設けなかった
場合に比較して(200)面に非常に強く配向するよう
になる。これらのEL素子の輝度測定の結果、Aの素子
はBの素子に比べて輝度が高いことが明らかとなった。
実施例3として第8図に示すような実施例1と同じ素子
構造のEL素子を作製した。ただし、第1及び第2絶縁
層としては高周波スパッタリング法によって形成したそ
れぞれ0.5μmの厚さのTQ20F)単層膜を用いた
。また、これらのTa205膜と発光層との間に電子ビ
ーム蒸着法による0、15μmの厚さのZnS膜を挿入
した。これは発光層と絶縁層との密着性を改善するため
である。
構造のEL素子を作製した。ただし、第1及び第2絶縁
層としては高周波スパッタリング法によって形成したそ
れぞれ0.5μmの厚さのTQ20F)単層膜を用いた
。また、これらのTa205膜と発光層との間に電子ビ
ーム蒸着法による0、15μmの厚さのZnS膜を挿入
した。これは発光層と絶縁層との密着性を改善するため
である。
発光層の作製方法を以下に述べる。
SrS粉末にそれぞれ0.1moQ%の(:、 e C
Q 3及びPrC(13粉末を添加し、十分混合した後
、圧粉成型して蒸着原料のペレットとした。次いで、こ
のペレツ1にHy、 S ガス中で900°C,1時
間の熱処理を加え、原料の脱水、還元をした。このペレ
ットを用い、成膜速度を15人/Sとした素子及び60
人/Sとした素子の2種類を作製した。
Q 3及びPrC(13粉末を添加し、十分混合した後
、圧粉成型して蒸着原料のペレットとした。次いで、こ
のペレツ1にHy、 S ガス中で900°C,1時
間の熱処理を加え、原料の脱水、還元をした。このペレ
ットを用い、成膜速度を15人/Sとした素子及び60
人/Sとした素子の2種類を作製した。
この発光層作製時には、チャンバ内にSを添加し、S分
圧を1〜2XlO−2Paとし、基板温度450℃とし
た。蒸着雰囲気中にSを添加した理由は、発光層中のS
欠乏を補うためである。
圧を1〜2XlO−2Paとし、基板温度450℃とし
た。蒸着雰囲気中にSを添加した理由は、発光層中のS
欠乏を補うためである。
このようにして作製した2種類の素子の特性測定結果を
表1に示す。
表1に示す。
表 I EL素子の発光特性
X線回折の結果、成膜速度を15人/Sとした場合には
■(2QQ)/I(111)が1.8 と小さく (2
00)配向性は示さないことがわかった。
■(2QQ)/I(111)が1.8 と小さく (2
00)配向性は示さないことがわかった。
この場合、作製したEL素子の輝度は250vにて80
cd/m”に過ぎなかった。これに対し、成膜速度を6
0人/Sとした場合には工(200)/I(111)が
19と大きいことがわかった。この時のX線回折パター
ンを第9図に示す。(111)に対しく200)の強度
が著しく大きいことが明らかである。I(200)/I
(111)が非常に大きい理由はS分圧下で蒸着したた
めではないかと考えられる。この場合、60人/SのN
α2EL素子の輝度は2,500cd/m2の場合より
30倍も大きいことがわかった。
cd/m”に過ぎなかった。これに対し、成膜速度を6
0人/Sとした場合には工(200)/I(111)が
19と大きいことがわかった。この時のX線回折パター
ンを第9図に示す。(111)に対しく200)の強度
が著しく大きいことが明らかである。I(200)/I
(111)が非常に大きい理由はS分圧下で蒸着したた
めではないかと考えられる。この場合、60人/SのN
α2EL素子の輝度は2,500cd/m2の場合より
30倍も大きいことがわかった。
なお、5rSI]材にPrとCoを同時に添加した発光
層(SrS:Pr、Ceと表記)のEL発先は白色を示
した。そこで、3原色フィルタをこのNα2 E L素
子の上に設置することにより、3原色発光(赤、緑、青
)できることを確認した。このことから、SrS:Pr
、Ce発光層とフィルタとを組み合わせることにより、
マルチカラーELを実現できることがわかる。
層(SrS:Pr、Ceと表記)のEL発先は白色を示
した。そこで、3原色フィルタをこのNα2 E L素
子の上に設置することにより、3原色発光(赤、緑、青
)できることを確認した。このことから、SrS:Pr
、Ce発光層とフィルタとを組み合わせることにより、
マルチカラーELを実現できることがわかる。
実施例4として、ガラス基板上に3本/mmの間隔でI
TOのストライプパターンを形成し、この」二にT a
2.06膜を高周波スパッタリング法により0.4μ
m の厚さに形成した。この上にZnS層を0.15μ
mの厚さに電子ビーム蒸着法によって形成した。次に、
SrS:Pr、Ce発光層を電子ビーム蒸着法により、
S分圧1゜5X10−2Paの下で成膜速度を60人/
Sとして、1.5μmの厚さに形成した。その間の基板
温度は500 ’Cとした。次いで、同一チャンバ内で
引き続いて基板温度を200℃としてZ n S 4を
0.15μmの厚さに形成した。さらに、高周波スパッ
タリング法により、T a 206を0.3μm、S
i 02 を0.1μmの厚さに続けて形成した。
TOのストライプパターンを形成し、この」二にT a
2.06膜を高周波スパッタリング法により0.4μ
m の厚さに形成した。この上にZnS層を0.15μ
mの厚さに電子ビーム蒸着法によって形成した。次に、
SrS:Pr、Ce発光層を電子ビーム蒸着法により、
S分圧1゜5X10−2Paの下で成膜速度を60人/
Sとして、1.5μmの厚さに形成した。その間の基板
温度は500 ’Cとした。次いで、同一チャンバ内で
引き続いて基板温度を200℃としてZ n S 4を
0.15μmの厚さに形成した。さらに、高周波スパッ
タリング法により、T a 206を0.3μm、S
i 02 を0.1μmの厚さに続けて形成した。
次に、高周波スパッタリング法によりITOII!Jを
0.25 μmの厚さに形成した。次いでこのITO膜
を3本/m111の間隔に、フォトリソグラフィー及び
イオンミリングの両方法を用いて、ガラス基板上のIT
○パターンと直角方向にパターニングした。このEL素
子は両電棲共透明であるため、両側から発光を取り出せ
る。ここでは、ガラス基板の下側に黒色板を設置し、コ
ントラストの向上を図った。また、最後に形成したIT
○パターン上にほぼ密着させて3原色のフィルタパター
ン(電極間隔に合うようなストライプ状パターン)を設
置した。この構造の断面の一部を第8図に模式的に示し
た。このELデバイスにより、赤、緑。
0.25 μmの厚さに形成した。次いでこのITO膜
を3本/m111の間隔に、フォトリソグラフィー及び
イオンミリングの両方法を用いて、ガラス基板上のIT
○パターンと直角方向にパターニングした。このEL素
子は両電棲共透明であるため、両側から発光を取り出せ
る。ここでは、ガラス基板の下側に黒色板を設置し、コ
ントラストの向上を図った。また、最後に形成したIT
○パターン上にほぼ密着させて3原色のフィルタパター
ン(電極間隔に合うようなストライプ状パターン)を設
置した。この構造の断面の一部を第8図に模式的に示し
た。このELデバイスにより、赤、緑。
青のフィルタパターンに対応したm 極の0N−OFF
により中間色の黄、緑、紫及び白、黒の8色で文字表示
できることを確認した。
により中間色の黄、緑、紫及び白、黒の8色で文字表示
できることを確認した。
ELデイスプレィの構造及び動作原理について説明する
。ELデイスプレィはELパネル、駆動回路及びデイス
プレィコントロール部の3つの部分から構成されている
。これらの中でELパネルの一般的な構造を模式的に第
10図に示す。この図はパネルの一部の断面を示すもの
で各部の厚さ、幅は任意である。ガラス基板1上に透明
電極ITO(Indi’um Tin 0xide)
2がストライプ状に配設されている。この上に第1絶縁
層39発光層(つまりEL層)4.第2絶縁層5が積層
されている。。
。ELデイスプレィはELパネル、駆動回路及びデイス
プレィコントロール部の3つの部分から構成されている
。これらの中でELパネルの一般的な構造を模式的に第
10図に示す。この図はパネルの一部の断面を示すもの
で各部の厚さ、幅は任意である。ガラス基板1上に透明
電極ITO(Indi’um Tin 0xide)
2がストライプ状に配設されている。この上に第1絶縁
層39発光層(つまりEL層)4.第2絶縁層5が積層
されている。。
第2?8緑層5上にはAl電極6がストライプ状に、I
TOのストライプと直交するように配設されている。こ
の図では省略しているが、この上にさらに封止構造が形
成されており、ELパネルの積層部(特にEL層)を大
気中の水分から保護する。
TOのストライプと直交するように配設されている。こ
の図では省略しているが、この上にさらに封止構造が形
成されており、ELパネルの積層部(特にEL層)を大
気中の水分から保護する。
TTO電極とAl電極との交差部が一つの画素に相当し
、以下に述べる方法により所望の画素を選択して電圧パ
ルスを印加することで、文字9図形等の表示ができる。
、以下に述べる方法により所望の画素を選択して電圧パ
ルスを印加することで、文字9図形等の表示ができる。
ここで、一画素(EL素子)に着目するとその輝度−電
圧特性は特異な非直線性を示す。すなわち、印加電圧を
上昇させてゆくと、絶縁層、発光層の静電容量等で決ま
る特定の電圧(しきい値電圧)Vihを越えると急激に
輝度が上昇する。今、選択したい画素を(i、j)で表
わすと(it jはITOまたはAlが構成する一連の
電極群のそれぞれi番目、j番目の電極を示す)、j電
極(走査電極)にVihより少し低い電圧パルス(Vt
h−Vt)を印加し、j電極(データ電極)にVz(>
Vt)の電圧パルスを印加すると画素(11j)では印
加電圧がVchを越えるのでこの画素を発光させること
ができる。
圧特性は特異な非直線性を示す。すなわち、印加電圧を
上昇させてゆくと、絶縁層、発光層の静電容量等で決ま
る特定の電圧(しきい値電圧)Vihを越えると急激に
輝度が上昇する。今、選択したい画素を(i、j)で表
わすと(it jはITOまたはAlが構成する一連の
電極群のそれぞれi番目、j番目の電極を示す)、j電
極(走査電極)にVihより少し低い電圧パルス(Vt
h−Vt)を印加し、j電極(データ電極)にVz(>
Vt)の電圧パルスを印加すると画素(11j)では印
加電圧がVchを越えるのでこの画素を発光させること
ができる。
画像入力信号を受けてデイスプレィコントロール部では
、ELパネルにパターンを表示する駆動タイミングパル
スを発生し、駆動回路においてこのパルス信号を高電圧
出力に変換し、走査側、データ側それぞれへ高電圧パル
スを供給しパネルを駆動する。データ側駆動回路では線
順次駆動が行なわれる。
、ELパネルにパターンを表示する駆動タイミングパル
スを発生し、駆動回路においてこのパルス信号を高電圧
出力に変換し、走査側、データ側それぞれへ高電圧パル
スを供給しパネルを駆動する。データ側駆動回路では線
順次駆動が行なわれる。
ELデイスプレィの用途は、情報端末機器の画像表示で
あり、フラット形で占有面積が小さいことから、液晶デ
イスプレィと同様、ラップ1−ツブ形パーソナルコンピ
ュータ、ワードプロセッサ及びワークステーショ゛ン等
の表示部に用いられる。
あり、フラット形で占有面積が小さいことから、液晶デ
イスプレィと同様、ラップ1−ツブ形パーソナルコンピ
ュータ、ワードプロセッサ及びワークステーショ゛ン等
の表示部に用いられる。
なお、フルカラー表示が達成されれば、パーソナルTV
、壁かけTVへの適用も期待される。
、壁かけTVへの適用も期待される。
以上説明したように本発明にかかる薄膜EL素子の発光
層である硫化ストロンチウムの(20’O)面方向への
成長が他の結晶面への成長と比較して大きいことにより
、発光に関与する電子の走行に対する障害が小さくなる
ため、高い発光輝度を有する薄膜EL発光素子及びEL
デイスプレを得ることができる。
層である硫化ストロンチウムの(20’O)面方向への
成長が他の結晶面への成長と比較して大きいことにより
、発光に関与する電子の走行に対する障害が小さくなる
ため、高い発光輝度を有する薄膜EL発光素子及びEL
デイスプレを得ることができる。
更に、本発明によれば高い発光輝度を有する薄膜EL発
光素子を製造することができ、この薄膜EL発光素子製
造方法を実施する装置を得ることができる。
光素子を製造することができ、この薄膜EL発光素子製
造方法を実施する装置を得ることができる。
第1図は本発明の一実施例にかかる薄膜EL素子の拡大
縦断面構成図、第2図は、第1図に示すEL素子の発光
輝度と発光層の結晶配向性との関係を示すグラフ、第3
図は1発光層のX線回折パターンの一例を示す特性図、
第4図はSrS粉末のX線回折の特性図、第5図はSr
Sの成膜速度とX線回折速度との関係を示すグラフ、第
6図は、本発明に係る薄膜EL素子の製造装置の縦断面
構成図、第7図は、第6図の装置により作製された薄膜
EL素子の成膜速度と(200)面のX線回折強度との
関係を示すグラフで、第8図は本発明の実施例4にかか
る薄膜EL素子の拡大縦断面構成図、第9図は実施例3
にかかる発光層のX線回折の特性図、第10図はELデ
イスプレの概略構成図である。 1・・・基板、2・・・第1電極、3・・・第1絶縁層
、4・・・EL層、5・・・第2絶縁層、6・・・第2
電極。 、・丁\
縦断面構成図、第2図は、第1図に示すEL素子の発光
輝度と発光層の結晶配向性との関係を示すグラフ、第3
図は1発光層のX線回折パターンの一例を示す特性図、
第4図はSrS粉末のX線回折の特性図、第5図はSr
Sの成膜速度とX線回折速度との関係を示すグラフ、第
6図は、本発明に係る薄膜EL素子の製造装置の縦断面
構成図、第7図は、第6図の装置により作製された薄膜
EL素子の成膜速度と(200)面のX線回折強度との
関係を示すグラフで、第8図は本発明の実施例4にかか
る薄膜EL素子の拡大縦断面構成図、第9図は実施例3
にかかる発光層のX線回折の特性図、第10図はELデ
イスプレの概略構成図である。 1・・・基板、2・・・第1電極、3・・・第1絶縁層
、4・・・EL層、5・・・第2絶縁層、6・・・第2
電極。 、・丁\
Claims (20)
- 1. 透明なる電気絶縁体からなる基板と、該基板上に
形成された第1の電極と、該電極上に透明なる第1の絶
縁層を介して形成されたエレクトロルミネツセント(E
L)層と、該EL層上を閉囲する透明なる第2の絶縁層
と、該第2の絶縁層上に形成された第2の電極と、前記
EL層に電界を印加する手段とを有し、第1及び第2の
電極の少なくとも一方が透明である薄膜EL素子におい
て、前記EL層の母材が(200)面に強く配向してい
る硫化ストロンチウムであることを特徴とする薄膜EL
素子。 - 2.前記EL層の膜厚が0.5〜1.5μmである請求
項1記載の薄膜EL素子。 - 3. 前記透明なる電極がITO(Indium Ti
nOxide)である請求項1記載の薄膜EL素子。 - 4. 前記不透明なる電極がAlである請求項1記載の
薄膜EL素子。 - 5. 前記絶縁層がSiO_2とTa_2O_5とから
なる請求項1記載の薄膜EL素子。 - 6. 前記絶縁層がSiO_2,Ta_2O_5,Y_
2O_3,Al_2O_3,TiO_2,SrTiO_
3,Si_3N_4及びこれらの複合物の何れかである
請求項1記載の薄膜EL素子。 - 7. 前記EL層の母材が発光センターを0.05〜0
.5mol%含む請求項1記載の薄膜EL素子。 - 8. 前記EL層の母材に含まれる発光センターがCe
,Eu,Tb,Sm,Pr,Tm及びこれらの硫化物,
塩化物,弗化物からなるグループの中の少なくとも1種
である請求項7記載の薄膜EL素子。 - 9. 透明なる電気絶縁体からなる基板と、該基板上に
形成された第1の電極と、該電極上に透明なる第1の絶
縁層を介して形成されたエレクトロルミネツトセント(
EL)層と、該EL層上を閉囲する透明なる第2の絶縁
層と、該第2の絶縁層上に形成された第2の電極と、前
記EL層に電界を印加する手段とを有し、第1及び第2
の電極の少なくとも一方が透明である薄膜EL素子にお
いて、前記EL層の母材が(200)面に強く配向し、
かつ(200)面と(111)面とのX線回折強度比即
ちI(200)/I(100)で3以上の硫化ストロン
チウムであることを特徴とする薄膜EL素子。 - 10. 前記EL層の膜厚が0.5〜1.5μmである
請求項9記載の薄膜EL素子。 - 11. 前記透明なる電極がITO(Indium T
inOxide)である請求項9記載の薄膜EL素子。 - 12. 前記透明なる電極がAlである請求項9記載の
薄膜EL素子。 - 13. 前記絶縁層がSiO_2とTa_2O_5とか
らなる請求項9記載の薄膜EL素子。 - 14. 前記絶縁層がY_2O_3,Al_2O_3,
TiO_2,SrTiO_3,Si_3N_4及びこれ
らの複合物の何れかである請求項9記載の薄膜EL素子
。 - 15. 前記EL層の母材が発光センターを0.05〜
0.5mol含む請求項9記載の薄膜EL素子。 - 16. 前記EL層の母材に含まれる発光センターがC
e,Eu,Tb,Sm,Pr,Tm及びこれらの硫化物
,塩化物,弗化物からなるグループの中の少なくとも1
種である請求項15記載の薄膜EL素子。 - 17. 透明基板上に第1の電極を形成するステツプと
、該第1の電極上に第1の絶縁層を形成するステツプと
、真空雰囲気内で前記EL層母材の原料に電子ビームを
当てて前記第1絶縁層の上に30〜100Å/s成膜速
度でEL層を 蒸着するステツプと、該EL層の上に第2の絶縁層を形
成するステツプと、該第2の絶縁層の上に第2の電極を
形成するステツプと、該EL層に電界を印加する手段を
設けるステツプとを含む薄膜EL素子の製造方法。 - 18. 前記EL層を蒸着するステツプは、前記基板と
前記EL層母材の原料との中間にヒータを設けて該原料
の蒸発粒子を加熱するようにした請求項17記載の薄膜
EL素子の製造方法。 - 19. 透明基板上に形成した第1の電極を第1の絶縁
層で被覆し、真空雰囲気内でEL層母材の原料に電子ビ
ームを当てて該第1絶縁層の上にEL層を蒸着し、該E
L層を第2の絶縁層で被覆し、該第2絶縁層の上に第2
の電極を形成し、該EL層に電界を印加する手段を設け
る薄膜EL素子の製造方法において、該基板と該EL層
母材の原料との間に加熱ヒータを設けることを特徴とす
る薄膜EL素子製造方法を実施する装置。 - 20. 透明なる電気絶縁体からなる基板と、該基板上
に形成されたストライプ状の第1の電極と該電極上に透
明なる第1の絶縁層を介して形成されたエレクトロルミ
ネツセント(EL)層と該EL層上を閉囲する透明なる
第2の絶縁層と、該第2の絶縁層上に形成されたストラ
イプ状の第1の電極と直交するような第2の電極と、前
記EL層に電界を印加する手段とを有し、第1及び第2
の電極の少なくとも一方が透明であるELデイスプレに
おいて、前記EL層の母材が(200)面に強く配向し
ている硫化ストロンチウムであることを特徴とするEL
デイスプレ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63279277A JPH0693386B2 (ja) | 1987-11-09 | 1988-11-07 | 薄膜el素子 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28284387 | 1987-11-09 | ||
| JP62-282843 | 1987-11-09 | ||
| JP63279277A JPH0693386B2 (ja) | 1987-11-09 | 1988-11-07 | 薄膜el素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01231293A true JPH01231293A (ja) | 1989-09-14 |
| JPH0693386B2 JPH0693386B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=26553249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63279277A Expired - Lifetime JPH0693386B2 (ja) | 1987-11-09 | 1988-11-07 | 薄膜el素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0693386B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006077864A1 (ja) * | 2005-01-19 | 2006-07-27 | T. Chatani & Co., Ltd. | 発光体の製造方法、発光体、及び発光装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6118904A (ja) * | 1984-07-06 | 1986-01-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバ束用コネクタ |
-
1988
- 1988-11-07 JP JP63279277A patent/JPH0693386B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6118904A (ja) * | 1984-07-06 | 1986-01-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバ束用コネクタ |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006077864A1 (ja) * | 2005-01-19 | 2006-07-27 | T. Chatani & Co., Ltd. | 発光体の製造方法、発光体、及び発光装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0693386B2 (ja) | 1994-11-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6043602A (en) | Alternating current thin film electroluminescent device having blue light emitting alkaline earth phosphor | |
| JPH02230690A (ja) | 薄膜el素子 | |
| US20050012104A1 (en) | Luminescent device, display device, and display device control method | |
| US6072198A (en) | Electroluminescent alkaline-earth sulfide phosphor thin films with multiple coactivator dopants | |
| US4967251A (en) | Thin film electroluminescent device containing gadolinium and rare earth elements | |
| JPS6346117B2 (ja) | ||
| US5099172A (en) | Thin film electroluminescent device | |
| JPH01231293A (ja) | 薄膜el素子 | |
| JP3574829B2 (ja) | 無機エレクトロルミネッセンス材料およびそれを用いた無機エレクトロルミネッセンス素子ならびに画像表示装置 | |
| US5182491A (en) | Thin film electroluminescent device | |
| JPS63299092A (ja) | 薄膜エレクトロルミネッセントパネル | |
| JPH01315988A (ja) | フルカラー表示型薄膜エレクトロルミネツセンス素子 | |
| JPH088064A (ja) | エレクトロルミネッセンス素子 および 多色発光エレクトロルミネッセンス素子 | |
| JP2529296B2 (ja) | カラ―elディスプレイ装置 | |
| JP2532506B2 (ja) | カラ―elディスプレイ装置 | |
| JPH01241793A (ja) | 薄膜el素子 | |
| JPS5829880A (ja) | 電場発光素子 | |
| JPH0298092A (ja) | 白色薄膜エレクトロルミネッセント素子 | |
| JPH01200593A (ja) | エレクトロルミネセンス表示素子の製造方法 | |
| JP4125108B2 (ja) | 薄膜エレクトロルミネッセント素子 | |
| JPS61158691A (ja) | 薄膜el素子 | |
| JPS6298597A (ja) | 薄膜el素子 | |
| JPH03187190A (ja) | 薄膜el素子およびその製造法 | |
| JPH0294289A (ja) | 薄膜型エレクトロルミネツセンス素子の製造法 | |
| JPH01146288A (ja) | 多色薄膜エレクトロルミネッセント素子 |