JPH01235034A - 自動焦点制御方式 - Google Patents
自動焦点制御方式Info
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- JPH01235034A JPH01235034A JP5845588A JP5845588A JPH01235034A JP H01235034 A JPH01235034 A JP H01235034A JP 5845588 A JP5845588 A JP 5845588A JP 5845588 A JP5845588 A JP 5845588A JP H01235034 A JPH01235034 A JP H01235034A
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- light
- signal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
装置の自動焦点制御方式に係り、特に、自動焦点サーボ
系の引込みを行なう際、光デイスク記録媒体の反射率の
ばらつきにより引込みに失敗したり、記録媒体の表面で
の引込み動作を正常であると誤認識したすせず、安定に
引込みを行なうのに好適な光記録再生装置の自動焦点制
御方式に関する。
系の引込みを行なう際、光デイスク記録媒体の反射率の
ばらつきにより引込みに失敗したり、記録媒体の表面で
の引込み動作を正常であると誤認識したすせず、安定に
引込みを行なうのに好適な光記録再生装置の自動焦点制
御方式に関する。
[従来の技術]
従来の光ディスクの自動焦点制御方式においては1例え
ば特開昭62−76031号公報に示すような自動焦点
引込み方式が知られている。この方式では、先づサーボ
系を動作させる前に対物レンズを光ディスクに近づけて
行き、8字特性の焦点ずれ検出信号を得る。この焦点ず
れ検出信号は。
ば特開昭62−76031号公報に示すような自動焦点
引込み方式が知られている。この方式では、先づサーボ
系を動作させる前に対物レンズを光ディスクに近づけて
行き、8字特性の焦点ずれ検出信号を得る。この焦点ず
れ検出信号は。
レンズが光ディスクに近づくと、焦点近傍で急に正の方
向に大きくなり、次に線形領域に入って焦点すれかなく
なるとき零となり、それを過ぎると負の領域に入り負の
最大値を経て小さくなって行く、そこで、この焦点ずれ
信号が正の所定ピークレベルに達するのをレベル検出手
段により検出してから最初の零レベルに至るか零レベル
を僅かに負側に越した点に来た点を検出したとき、自動
焦点サーボ系の動作を開始することにより、サーボ動作
への引込みを早めるようにしている。しかし、この従来
方式では、引込み制御時に、引込み動作に必要なスライ
スレベル(上記所定レベル)の自動設定を行なうような
ことはなにも考慮されていない。
向に大きくなり、次に線形領域に入って焦点すれかなく
なるとき零となり、それを過ぎると負の領域に入り負の
最大値を経て小さくなって行く、そこで、この焦点ずれ
信号が正の所定ピークレベルに達するのをレベル検出手
段により検出してから最初の零レベルに至るか零レベル
を僅かに負側に越した点に来た点を検出したとき、自動
焦点サーボ系の動作を開始することにより、サーボ動作
への引込みを早めるようにしている。しかし、この従来
方式では、引込み制御時に、引込み動作に必要なスライ
スレベル(上記所定レベル)の自動設定を行なうような
ことはなにも考慮されていない。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来技術では、自動焦点サーボ系のサーボ動作への
引込制御時に、上記の焦点ずれ信号が正の所定レベルに
達するときの検出レベルは最初に設定した固定値であっ
て、この検出レベルを可変にすることについては、何も
考慮されていない。
引込制御時に、上記の焦点ずれ信号が正の所定レベルに
達するときの検出レベルは最初に設定した固定値であっ
て、この検出レベルを可変にすることについては、何も
考慮されていない。
このため、従来技術では、光デイスク記録媒体の種類、
特性(反射率)のばらつきやレーザ光のばらつき、回路
のオフセットなどにより、前記の所定レベルを検出する
ことができなくて、引込みに失敗が生じることがあった
。又、逆に、正規の記録媒体の記録表面の反射光を検出
する前に、記録媒体の表面(ガラス面)の反射光を検出
してしまい、これを誤って焦点ずれ検出信号と認識し、
誤動作する等の問題があった。
特性(反射率)のばらつきやレーザ光のばらつき、回路
のオフセットなどにより、前記の所定レベルを検出する
ことができなくて、引込みに失敗が生じることがあった
。又、逆に、正規の記録媒体の記録表面の反射光を検出
する前に、記録媒体の表面(ガラス面)の反射光を検出
してしまい、これを誤って焦点ずれ検出信号と認識し、
誤動作する等の問題があった。
第3図は上記の記録媒体表面(ガラス表面)と記録面(
記録ピットの底面)による焦点ずれ検出信号の状態を示
し、横軸Xは光軸を表わし、縦軸に自動焦点検出信号(
焦点ずれ検出信号)を示す。
記録ピットの底面)による焦点ずれ検出信号の状態を示
し、横軸Xは光軸を表わし、縦軸に自動焦点検出信号(
焦点ずれ検出信号)を示す。
同図によって、上記の自動焦点引込み誤認識の問題を説
明する。今レンズを媒体表面の遠方(図の左方)から徐
々に媒体に近づけて行くと、レーザービームは始めにガ
ラス面(媒体表面)で焦点を結び、更に近づけて行くと
媒体の記録面(ピント底面)で焦点を結ぶ。始めのガラ
ス面での合焦点による比較的弱い反射ビームにより、3
1のような比較的小振幅の偽の焦点ずれ信号が取出され
、次の記録面での合焦点による比較的強い反射ビームに
より、3oのような比較的大振幅の真の焦点ずれ信号が
取出される。そこで、ノ1イクロス検出レベル(HIC
R3)32を、信号31よりも高く、信号3oと交差す
る大きさに設定しておけ(よ、正しい焦点ずれ信号30
のみを検出することカスできる。しかし、上記のように
、媒体の反射率などの特性のばらつきや、レーザ光のば
らつきなどのために、最初に設定したHICRSレベル
32を越えるレベルの偽信号31を発生するものがあり
、この場合、装置は記録媒体表面での引込み動作を。
明する。今レンズを媒体表面の遠方(図の左方)から徐
々に媒体に近づけて行くと、レーザービームは始めにガ
ラス面(媒体表面)で焦点を結び、更に近づけて行くと
媒体の記録面(ピント底面)で焦点を結ぶ。始めのガラ
ス面での合焦点による比較的弱い反射ビームにより、3
1のような比較的小振幅の偽の焦点ずれ信号が取出され
、次の記録面での合焦点による比較的強い反射ビームに
より、3oのような比較的大振幅の真の焦点ずれ信号が
取出される。そこで、ノ1イクロス検出レベル(HIC
R3)32を、信号31よりも高く、信号3oと交差す
る大きさに設定しておけ(よ、正しい焦点ずれ信号30
のみを検出することカスできる。しかし、上記のように
、媒体の反射率などの特性のばらつきや、レーザ光のば
らつきなどのために、最初に設定したHICRSレベル
32を越えるレベルの偽信号31を発生するものがあり
、この場合、装置は記録媒体表面での引込み動作を。
誤って正常な引込動作と認識をしてしまう。そうかとい
って、HICRSIC用を高くしておし)た場合には、
正規の焦点ずれ信号30が設定したHICRSIC用3
2にとどかず、サーボ系への引込みに失敗するという問
題があった。
って、HICRSIC用を高くしておし)た場合には、
正規の焦点ずれ信号30が設定したHICRSIC用3
2にとどかず、サーボ系への引込みに失敗するという問
題があった。
従って、本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解消
し、自動焦点サーボ引込みに際し、記録媒体の反射率の
ばらつき、用いるレーザ光や回路のばらつき等による引
込み失敗や、記録媒体の表面での誤った引込みを発生す
ることなく、安定しこ引込みを行なうことのできる光記
録再生装置の自動焦点制御装置を提供すること番こある
。
し、自動焦点サーボ引込みに際し、記録媒体の反射率の
ばらつき、用いるレーザ光や回路のばらつき等による引
込み失敗や、記録媒体の表面での誤った引込みを発生す
ることなく、安定しこ引込みを行なうことのできる光記
録再生装置の自動焦点制御装置を提供すること番こある
。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、本発明の光デイスク制御装置
の自動焦点制御装置番よ、光a己録媒体を出る光束の光
量を検出する光量検出手段と、前甚己光量検出手段によ
り検出された光量しこス’t ):;;してスライスレ
ベル(ハイクロスレベル)の設定イ直を自動的に変更す
るスライスレベル設定手段とを!Qcする。
の自動焦点制御装置番よ、光a己録媒体を出る光束の光
量を検出する光量検出手段と、前甚己光量検出手段によ
り検出された光量しこス’t ):;;してスライスレ
ベル(ハイクロスレベル)の設定イ直を自動的に変更す
るスライスレベル設定手段とを!Qcする。
ここで、前記スライスレベル()1イクロスレベル)は
、自動焦点動作の開始に先立ち、自動点7へ検出信号(
焦点ずれ信号)が所定値番こ達した力1どう力覧を検出
するための尺度となるレベルをl、15)、所定値に達
すれば引込み範囲に入ったものと′l’lJ定して。
、自動焦点動作の開始に先立ち、自動点7へ検出信号(
焦点ずれ信号)が所定値番こ達した力1どう力覧を検出
するための尺度となるレベルをl、15)、所定値に達
すれば引込み範囲に入ったものと′l’lJ定して。
その後に自動焦点制御動作が開始するようしこ構成され
る。
る。
好適な実施例において、前記光量検出手段(よ、自動焦
点検出信号(焦点ずれ信号)の検出手段と同じものであ
り、8字特性を示す前記自動弐収、解検出信号自体の正
のピーク振幅値(上記録媒体を83る光束の光量に比例
しているので、このピーク振幅値によって光量が検出さ
れる。
点検出信号(焦点ずれ信号)の検出手段と同じものであ
り、8字特性を示す前記自動弐収、解検出信号自体の正
のピーク振幅値(上記録媒体を83る光束の光量に比例
しているので、このピーク振幅値によって光量が検出さ
れる。
[作用コ
上記構成に基づく作用を説明する。
比較的反射率の低い記録媒体を用いる場合、引込み開始
を判断するための、8字特性を示す自動焦点検出信号(
焦点ずれ信号)の正のピーク振幅値は比較的小さい。こ
のとき、前記光量検出手段により検出される光量は低い
ので、前記スライスレベル設定手段によって、スライス
レベルは自動的に比較的低いレベルに設定される。それ
によって、反射率の低い媒体使用時にも、引込み範囲に
入ったことの検出に失敗することがない。
を判断するための、8字特性を示す自動焦点検出信号(
焦点ずれ信号)の正のピーク振幅値は比較的小さい。こ
のとき、前記光量検出手段により検出される光量は低い
ので、前記スライスレベル設定手段によって、スライス
レベルは自動的に比較的低いレベルに設定される。それ
によって、反射率の低い媒体使用時にも、引込み範囲に
入ったことの検出に失敗することがない。
他方、比較的反射率の高い記録媒体を用いる場合、自動
焦点検出信号の正のピーク振幅値は比較的大きくなるが
、このとき、光量検出手段で検出される光量が多くなる
ので、スライスレベルも自動的に上昇し、この場合にも
、引込みに入ったことの検出は確実に行なわれる。又、
反射率が高いために、f53図の31に示した偽の自動
焦点検出信号もやや大きなレベルで検出され・るが、上
記のようにスライスレベルも上昇しているため、この偽
の信号を正常な信号と誤認識することもない。
焦点検出信号の正のピーク振幅値は比較的大きくなるが
、このとき、光量検出手段で検出される光量が多くなる
ので、スライスレベルも自動的に上昇し、この場合にも
、引込みに入ったことの検出は確実に行なわれる。又、
反射率が高いために、f53図の31に示した偽の自動
焦点検出信号もやや大きなレベルで検出され・るが、上
記のようにスライスレベルも上昇しているため、この偽
の信号を正常な信号と誤認識することもない。
[実施例]
以下、本発明の一実施例を第1図のブロック図。
及び、第2図の波形図によって説明する。
光ディスク1は情報の記録膜面2及び表面の被覆ガラス
面2aを有し、スピンドルモータ3によって定速あるい
は可変速にて制御回転させられる。
面2aを有し、スピンドルモータ3によって定速あるい
は可変速にて制御回転させられる。
光ディスク1への情報の記録及び光ディスク1からの情
報の再生を行なうため、半導体レーザ8から発せられた
光束5は、光学的を通過した後、絞り込みレンズ4によ
って記録面2に焦点が結ばされ、光点による記録面の物
理的変形あるいは物理的変化によって情報が記録される
。また、この記録面からの反射光を光検出器9によって
検出することにより、記録情報の再生を行う。なお、6
は光学ヘッド装置、7はガルバノミラ−,7aはハーフ
ミラ−である。記録面上に照射されるレーザ光の光点と
しては、直径1μm以下という微細な寸法が要求される
ので、記録面の上下方向の変動によっても、常に一定範
囲の光点が得られるように制御するための自動焦点制御
が必要である。この自動焦点制御系は光検出器9.増幅
器10.スイッチ11、焦点制御回路15、加算回路1
6、パワーアンプ17、絞り込みレンズ4の即動用のア
クチュエータ4aを含んでいる。記録面2からの反射光
5は、光学系(ミラー7a)により発光光束から分離さ
れ、光点検出器9によって検出される。検出器9からは
、記録再生面と絞り込まれた光点位置の焦点との距離に
相当する焦点ずれ信号(自動焦点検出信号)が出力され
る。この焦点ずれ信号により、このずれが最小となるよ
うに増幅回路1o、切替スイッチ11、焦点制御回路1
5゜加算回路16.パワーアンプ17を通してアクチュ
エータ4aに所要の電流を流して、絞り込み光学系(レ
ンズ)4を駆動することによって、記録面2の動きに追
従させるようにする。以上が自動焦点制御系である。一
方光点位置決め系は、検出器9、位置決め制御回路21
、ガルバノミラ−9を含み、記録媒体1上のトラックに
光点を追従させるため、検出器9のトラックずれ量検出
信号を制御回路21に印加し、この制御回路21によっ
てミラー7を制御するように構成する。記録、再生及び
前記各制御系のための光源は半導体レーザ8の発光によ
って得られ1発光の制御はレーザ制御暉動回路22によ
って行われる。また増幅器10の出力は検出信号のレベ
ル検出をするコンパレータ19を通り、またレベル検出
回路23を通って、プロセッサ14に接続される。これ
らの情報(コンパレータ19出力と検出回路23出力)
に基いて、プロセッサ14から切替スィッチ11ヘスイ
ツチ切換信号が出力される。
報の再生を行なうため、半導体レーザ8から発せられた
光束5は、光学的を通過した後、絞り込みレンズ4によ
って記録面2に焦点が結ばされ、光点による記録面の物
理的変形あるいは物理的変化によって情報が記録される
。また、この記録面からの反射光を光検出器9によって
検出することにより、記録情報の再生を行う。なお、6
は光学ヘッド装置、7はガルバノミラ−,7aはハーフ
ミラ−である。記録面上に照射されるレーザ光の光点と
しては、直径1μm以下という微細な寸法が要求される
ので、記録面の上下方向の変動によっても、常に一定範
囲の光点が得られるように制御するための自動焦点制御
が必要である。この自動焦点制御系は光検出器9.増幅
器10.スイッチ11、焦点制御回路15、加算回路1
6、パワーアンプ17、絞り込みレンズ4の即動用のア
クチュエータ4aを含んでいる。記録面2からの反射光
5は、光学系(ミラー7a)により発光光束から分離さ
れ、光点検出器9によって検出される。検出器9からは
、記録再生面と絞り込まれた光点位置の焦点との距離に
相当する焦点ずれ信号(自動焦点検出信号)が出力され
る。この焦点ずれ信号により、このずれが最小となるよ
うに増幅回路1o、切替スイッチ11、焦点制御回路1
5゜加算回路16.パワーアンプ17を通してアクチュ
エータ4aに所要の電流を流して、絞り込み光学系(レ
ンズ)4を駆動することによって、記録面2の動きに追
従させるようにする。以上が自動焦点制御系である。一
方光点位置決め系は、検出器9、位置決め制御回路21
、ガルバノミラ−9を含み、記録媒体1上のトラックに
光点を追従させるため、検出器9のトラックずれ量検出
信号を制御回路21に印加し、この制御回路21によっ
てミラー7を制御するように構成する。記録、再生及び
前記各制御系のための光源は半導体レーザ8の発光によ
って得られ1発光の制御はレーザ制御暉動回路22によ
って行われる。また増幅器10の出力は検出信号のレベ
ル検出をするコンパレータ19を通り、またレベル検出
回路23を通って、プロセッサ14に接続される。これ
らの情報(コンパレータ19出力と検出回路23出力)
に基いて、プロセッサ14から切替スィッチ11ヘスイ
ツチ切換信号が出力される。
前記自動焦点制御系において、まず、制御開始時のサー
ボ引込み動作について説明する。18はレンズ駆動回路
で、引き込みを行なわせる期間出力を発生し、絞り込み
レンズを上下駆動させるためのもので、この引き込み動
作中は、焦点制御回路15は動作しない。又逆に、焦点
制御回路14の動作中は、駆動回路18は動作しない。
ボ引込み動作について説明する。18はレンズ駆動回路
で、引き込みを行なわせる期間出力を発生し、絞り込み
レンズを上下駆動させるためのもので、この引き込み動
作中は、焦点制御回路15は動作しない。又逆に、焦点
制御回路14の動作中は、駆動回路18は動作しない。
従って、加算回路16は、切換回路のように動作する。
しンズ叩動回路18が働いていなく焦点が大きくずれて
いるときは、焦点ずれ信号である増幅器10の出力信号
3oの振幅は零であり、また焦点が合ったときも該信号
30の振幅は零である。そのため自動焦点を行うにはレ
ンズを媒体に近づけていき、自動焦点検出信号(上記信
号30)の二つのレベルを検出したことによって引込み
動作を行うことになる。一つのレベルは最大信号振幅よ
りも少し低いあるレベル(以後ハイクロス’ HICR
5“レベルと呼ぶ)に設定され、もう一つのレベルは零
値付近に設定され、自動焦点系を閉じる(始動する)タ
イミングで使用される(以後ロークロス’ LOWCR
5’レベルと呼ぶ)。この際、信号振幅値のレベルは媒
体反射率、ヘッドディテクタ、レーザパワー、回路系の
バラツキによって異なる。媒体記録面で自動焦点系がオ
ンしたときの信号振幅の最小値と媒体表面で自動焦点系
がオンしたときの信号振幅の最大値との間にHICRS
IC用を設定しなければならない。第2図に第1の装置
の動作説明のためのタイミング図を各部の波形図で示す
。第2図でv、、v2はHICRSIC用、v8はLO
W叶Sレベル、30は自動焦点検出信号(焦点ずれ検出
信号)、31はサンプリング信号、32はサンプルホル
ト信号、33は自動焦点制御起動信号である。プロセッ
サ14によりレンズ開動回路18を動作させ、自動焦点
制御の為の絞り込み光学系4を起動して光点を記録膜に
近づけていくと、増幅器10で増幅された自動焦点検出
信号30は、焦点位置付近では第2図(d)の如く変化
する。
いるときは、焦点ずれ信号である増幅器10の出力信号
3oの振幅は零であり、また焦点が合ったときも該信号
30の振幅は零である。そのため自動焦点を行うにはレ
ンズを媒体に近づけていき、自動焦点検出信号(上記信
号30)の二つのレベルを検出したことによって引込み
動作を行うことになる。一つのレベルは最大信号振幅よ
りも少し低いあるレベル(以後ハイクロス’ HICR
5“レベルと呼ぶ)に設定され、もう一つのレベルは零
値付近に設定され、自動焦点系を閉じる(始動する)タ
イミングで使用される(以後ロークロス’ LOWCR
5’レベルと呼ぶ)。この際、信号振幅値のレベルは媒
体反射率、ヘッドディテクタ、レーザパワー、回路系の
バラツキによって異なる。媒体記録面で自動焦点系がオ
ンしたときの信号振幅の最小値と媒体表面で自動焦点系
がオンしたときの信号振幅の最大値との間にHICRS
IC用を設定しなければならない。第2図に第1の装置
の動作説明のためのタイミング図を各部の波形図で示す
。第2図でv、、v2はHICRSIC用、v8はLO
W叶Sレベル、30は自動焦点検出信号(焦点ずれ検出
信号)、31はサンプリング信号、32はサンプルホル
ト信号、33は自動焦点制御起動信号である。プロセッ
サ14によりレンズ開動回路18を動作させ、自動焦点
制御の為の絞り込み光学系4を起動して光点を記録膜に
近づけていくと、増幅器10で増幅された自動焦点検出
信号30は、焦点位置付近では第2図(d)の如く変化
する。
すなわち光点が記録膜面2に接近すると検出信号はまず
正のピーク値を示し、焦点の合った位置で零となり1次
に負のピークを示す。自動焦点検出信号30をサンプリ
ング・ホルト回路12に入力し、ここでプロセッサ14
から出力される第2図(b)のサンプリング信号(サン
プリング間隔数10μs程度)31でサンプリング及び
ホールドして第2図(c)のホールド信号32を得、該
ホールド信号32はA/D変換器13に通されディジタ
ル化されてプロセッサ14に入力される。プロセッサ1
4内でサンプリングごとに逐次前後のサンプル値を比較
してより大きな値を記憶するようにし、第2図(a)の
ように引込み動作を数回行わせる。
正のピーク値を示し、焦点の合った位置で零となり1次
に負のピークを示す。自動焦点検出信号30をサンプリ
ング・ホルト回路12に入力し、ここでプロセッサ14
から出力される第2図(b)のサンプリング信号(サン
プリング間隔数10μs程度)31でサンプリング及び
ホールドして第2図(c)のホールド信号32を得、該
ホールド信号32はA/D変換器13に通されディジタ
ル化されてプロセッサ14に入力される。プロセッサ1
4内でサンプリングごとに逐次前後のサンプル値を比較
してより大きな値を記憶するようにし、第2図(a)の
ように引込み動作を数回行わせる。
この初期引込み動作によってプロセッサ内で記憶してい
る値から最適+11cRsレベルを算出し、この最適H
ICRSIC用は、プロセッサ14からD/A変換器2
0を通しコンパレータ19に入力される。例えば第2図
(a)で示されるように、記録媒体面2の反射率が低く
検出信号3oのピークレベルが低い場合は、HICRS
IC用も比較的低い値V1が最適値として算出されるが
、記録媒体面2の反射率が高く検出信号30のピークレ
ベルが高い場合は、比較的高HICRSIC用v2が最
高値として算出される。こうして、V□値に初期値を設
定していたレベルを媒体の反射率の変更に対応してv2
値に自動的に変更できるようになる。実際には、この最
適HICRSIC用は、数回の引込動作で決定される。
る値から最適+11cRsレベルを算出し、この最適H
ICRSIC用は、プロセッサ14からD/A変換器2
0を通しコンパレータ19に入力される。例えば第2図
(a)で示されるように、記録媒体面2の反射率が低く
検出信号3oのピークレベルが低い場合は、HICRS
IC用も比較的低い値V1が最適値として算出されるが
、記録媒体面2の反射率が高く検出信号30のピークレ
ベルが高い場合は、比較的高HICRSIC用v2が最
高値として算出される。こうして、V□値に初期値を設
定していたレベルを媒体の反射率の変更に対応してv2
値に自動的に変更できるようになる。実際には、この最
適HICRSIC用は、数回の引込動作で決定される。
HICRSIC用の最適値が決定されたあと引込み動作
を行いコンパレータ19で自動焦点検出信号30のレベ
ルが最適+11cRsレベルv2になった時点を検出す
ると、コンパレータ19はこのことをプロセッサ14に
知らせる(第2図(d)の30a)。一方、レベル検出
器23は、信号30の零クロスより僅かに負レベルのL
OWCRSレベルVRを検出して、この検出したことを
プロセッサ17!に知らせる。そこで、プロセッサ14
は、コンパレータ19から、信号30が最適HICRS
IC用に達したことの報告を受けてから、最初にLOW
CRSレベル■8に達した時点で、自動焦点制御起動信
号(切換信号)33を発生し、この信号によりスイッチ
11を閉じる。
を行いコンパレータ19で自動焦点検出信号30のレベ
ルが最適+11cRsレベルv2になった時点を検出す
ると、コンパレータ19はこのことをプロセッサ14に
知らせる(第2図(d)の30a)。一方、レベル検出
器23は、信号30の零クロスより僅かに負レベルのL
OWCRSレベルVRを検出して、この検出したことを
プロセッサ17!に知らせる。そこで、プロセッサ14
は、コンパレータ19から、信号30が最適HICRS
IC用に達したことの報告を受けてから、最初にLOW
CRSレベル■8に達した時点で、自動焦点制御起動信
号(切換信号)33を発生し、この信号によりスイッチ
11を閉じる。
すなわち、制御系を閉じるタイミングとして、焦点が膜
面を通過する直後のL OWCRSレベル■&を切る点
を検出し、AFON信号33のタイミングを得てプロセ
ッサ14から切替回路11に制御系を閉じることを指示
し、引込み動作が完了する。
面を通過する直後のL OWCRSレベル■&を切る点
を検出し、AFON信号33のタイミングを得てプロセ
ッサ14から切替回路11に制御系を閉じることを指示
し、引込み動作が完了する。
このようにして、自動焦点検出信号30がどのような振
幅レベルでも、この振幅レベルに応じてHICRSIC
用を切替えて、引込み動作を行うことができるようにな
るため、媒体表面で自動焦点系がオンするような誤動作
がなく、また、反射率のばらつきが数10%に及ぶ多種
の媒体に対して即動可能となる。
幅レベルでも、この振幅レベルに応じてHICRSIC
用を切替えて、引込み動作を行うことができるようにな
るため、媒体表面で自動焦点系がオンするような誤動作
がなく、また、反射率のばらつきが数10%に及ぶ多種
の媒体に対して即動可能となる。
[発明の効果]
以上詳しく速入たように、本発明の光デイスク装置の自
動焦点制御方式によれば、自動焦点制御の開始の直前に
、使用する光デイスク媒体の反射光を検出して得られる
自動焦点検出信号のピーク振幅値を検出する手段と、こ
のピーク振幅値に応じて、引込み動作に必要なスライス
レベル(最適のHrCRSレベル)を対応するレベルに
自動的に設定する手段とを備えたので、記録媒体の表面
での偽の自動焦点検出信号による誤った引込み動作の認
識が起ることなく、また、記録媒体の反射率など特性の
ばらつきや、使用するレーザ光、回路特性のばらつきに
よって引込み動作が失敗するおそれもなく、常に、使用
される媒体及機器の特性に応じた最適のスライスレベル
が自動設定され。
動焦点制御方式によれば、自動焦点制御の開始の直前に
、使用する光デイスク媒体の反射光を検出して得られる
自動焦点検出信号のピーク振幅値を検出する手段と、こ
のピーク振幅値に応じて、引込み動作に必要なスライス
レベル(最適のHrCRSレベル)を対応するレベルに
自動的に設定する手段とを備えたので、記録媒体の表面
での偽の自動焦点検出信号による誤った引込み動作の認
識が起ることなく、また、記録媒体の反射率など特性の
ばらつきや、使用するレーザ光、回路特性のばらつきに
よって引込み動作が失敗するおそれもなく、常に、使用
される媒体及機器の特性に応じた最適のスライスレベル
が自動設定され。
安定に引込動作が行なわれる等、優れた効果を奏する。
第1図は本発明の一実施例のブロック構成図、第2図は
第1図の各部の波形図、第3図は従来の自動焦点制御方
式の引込み動作を説明するための波形図である。 1・・・・・・光ディスク、2・・・・・記録膜面、
2a・・・・・・媒体表面、3・・・・・・スピンドル
モータ、4・・・・・・絞り込みレンズ、 4a・・・
・・・アクチュエータ、5・・・・・・光ビーム、6・
・・・・・光ヘツド装置、7・・・・・・ガルバノミラ
−、7a・・・・・・ハーフミラ−18・・・・レーザ
源、9・・・・・・光検出器、10・・・・・・増幅器
、11・・・・・スイッチ、12・・・・・・サンプル
・ホルト回路、13・・・・A/D変換器、14・・・
・・・プロセッサ、15・・・・・焦点制御回路、16
・・・・・・加算器、17・・・・・・パワーアンプ、
18・・・・・・レンズ駆動回路、19・・・・・・コ
ンパレータ、20・・・・・・D/A変換器、21・・
・・・・トランクず九補正制御回路、22・・・・・・
レーザ制御開動回第1図 第2図
第1図の各部の波形図、第3図は従来の自動焦点制御方
式の引込み動作を説明するための波形図である。 1・・・・・・光ディスク、2・・・・・記録膜面、
2a・・・・・・媒体表面、3・・・・・・スピンドル
モータ、4・・・・・・絞り込みレンズ、 4a・・・
・・・アクチュエータ、5・・・・・・光ビーム、6・
・・・・・光ヘツド装置、7・・・・・・ガルバノミラ
−、7a・・・・・・ハーフミラ−18・・・・レーザ
源、9・・・・・・光検出器、10・・・・・・増幅器
、11・・・・・スイッチ、12・・・・・・サンプル
・ホルト回路、13・・・・A/D変換器、14・・・
・・・プロセッサ、15・・・・・焦点制御回路、16
・・・・・・加算器、17・・・・・・パワーアンプ、
18・・・・・・レンズ駆動回路、19・・・・・・コ
ンパレータ、20・・・・・・D/A変換器、21・・
・・・・トランクず九補正制御回路、22・・・・・・
レーザ制御開動回第1図 第2図
Claims (1)
- 1、光束を発生するための光源と、前記光源から発光さ
れた光束の焦点を記録媒体上に結ばせるための絞り込み
光学系と、前記記録媒体の光軸方向の動きに追従して記
録面上に前記光束の焦点を結ばせるように前記光学系を
制御する制御手段と、自動焦点制御動作を開始するに先
立ち、前記記録媒体を出る光束から焦点ずれに応じた自
動焦点検出信号を作成する手段と、前記自動焦点検出信
号が所定のスライスレベルに達したときに引込み範囲に
入つたものと判定し、その後に自動焦点制御動作を開始
させる判定及び動作開始手段とを具備する光学記録再生
装置の自動焦点制御方式において、前記記録媒体を出る
光束の光量を検出する光量検出手段と、前記光量検出手
段により検出された光量に対応して前記スライスレベル
の設定値を自動的に変更するスライスレベル設定手段と
を備えたことを特徴とする光記録再生装置の自動焦点制
御方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5845588A JPH01235034A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 自動焦点制御方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5845588A JPH01235034A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 自動焦点制御方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01235034A true JPH01235034A (ja) | 1989-09-20 |
Family
ID=13084896
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5845588A Pending JPH01235034A (ja) | 1988-03-14 | 1988-03-14 | 自動焦点制御方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01235034A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100531347B1 (ko) * | 1998-09-17 | 2006-01-27 | 엘지전자 주식회사 | 광픽업용 자동 초점 검출 장치 |
| JP2008034018A (ja) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Hioki Ee Corp | 光ピックアップのフォーカス制御装置 |
-
1988
- 1988-03-14 JP JP5845588A patent/JPH01235034A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100531347B1 (ko) * | 1998-09-17 | 2006-01-27 | 엘지전자 주식회사 | 광픽업용 자동 초점 검출 장치 |
| JP2008034018A (ja) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Hioki Ee Corp | 光ピックアップのフォーカス制御装置 |
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