JPH01235282A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH01235282A JPH01235282A JP63062349A JP6234988A JPH01235282A JP H01235282 A JPH01235282 A JP H01235282A JP 63062349 A JP63062349 A JP 63062349A JP 6234988 A JP6234988 A JP 6234988A JP H01235282 A JPH01235282 A JP H01235282A
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Landscapes
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は半導体装置に関する。
例えば、FET (半導体スイッチ素子)と、フォトダ
イオード(発光素子)およびフォトトランジスタ(受°
光素子)からなるフォトカプラーを組み合わせて、フォ
トダイオードに加わる信号に応じてFETがオン・オフ
動作(スイッチング動作)するという装置がある。この
装置は、フォトダイオードとフォトトランジスタの間は
、電気信号でなく、光信号で伝達される。そのため、こ
の装置は、半導体スイッチ素子側を入力側と電気的に切
り離す必要がある場合、あるいは、半導体スイッチ素子
側と入力側の電圧レベルが違う場合等に利用されている
。
イオード(発光素子)およびフォトトランジスタ(受°
光素子)からなるフォトカプラーを組み合わせて、フォ
トダイオードに加わる信号に応じてFETがオン・オフ
動作(スイッチング動作)するという装置がある。この
装置は、フォトダイオードとフォトトランジスタの間は
、電気信号でなく、光信号で伝達される。そのため、こ
の装置は、半導体スイッチ素子側を入力側と電気的に切
り離す必要がある場合、あるいは、半導体スイッチ素子
側と入力側の電圧レベルが違う場合等に利用されている
。
このような装置は、通常、半導体スイッチ素子、発光素
子、受光素子をそれぞれ個別に作成して組み付け、各素
子間に電気配線を行うようにして製造されることが多い
。あるいは、第5図に示す半導体装置のように、フォト
カプラーと半導体スイッチ素子を個別に作成して両者を
組み付は各素子間に電気配線を行うようにして製造され
るものもある。
子、受光素子をそれぞれ個別に作成して組み付け、各素
子間に電気配線を行うようにして製造されることが多い
。あるいは、第5図に示す半導体装置のように、フォト
カプラーと半導体スイッチ素子を個別に作成して両者を
組み付は各素子間に電気配線を行うようにして製造され
るものもある。
後者の半導体装置50は、フォトカプラー52が、別途
作成されたFETを有する半導体基板51の上に組み付
けられており、フォトカプラー52の光電変換アレイ(
受光素子)53と、半導体基板51のFET間が半田付
け54により接続されている。フォトカプラー52は、
厚い透明絶縁基板55の表面に発光素子56が、裏面に
光電変換アレイ53が形成されているものである0発光
素子56の光は透明絶縁基板55を透過して受光素子5
3に入るようになっている。
作成されたFETを有する半導体基板51の上に組み付
けられており、フォトカプラー52の光電変換アレイ(
受光素子)53と、半導体基板51のFET間が半田付
け54により接続されている。フォトカプラー52は、
厚い透明絶縁基板55の表面に発光素子56が、裏面に
光電変換アレイ53が形成されているものである0発光
素子56の光は透明絶縁基板55を透過して受光素子5
3に入るようになっている。
(発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記のような構成の半導体装置は、いず
れも受光素子と半導体スイッチ素子の間の電気配線が必
要であるため手間がかかり、生産性が良くない。
れも受光素子と半導体スイッチ素子の間の電気配線が必
要であるため手間がかかり、生産性が良くない。
電子機器の小型化が推進されている昨今、この半導体装
置も小型化の要求が当然に強い。小型化のためには、各
素子それぞれを小型化することになる。そうなると、組
み付けの際、受光素子・半導体スイッチ間の位置合わせ
・配線が益々難しく生産性は、−層、低くなる。
置も小型化の要求が当然に強い。小型化のためには、各
素子それぞれを小型化することになる。そうなると、組
み付けの際、受光素子・半導体スイッチ間の位置合わせ
・配線が益々難しく生産性は、−層、低くなる。
また、透明絶縁基板55の両面に発光素子56と受光素
子53を形成する場合は、−枚の基板の片面に素子を形
成してから、もう一方の素子を他の面に形成することに
なるため、先に形成された素子が後の素子を形成する際
に破損しないように特別に工夫する必要があり、この点
でも手間である。
子53を形成する場合は、−枚の基板の片面に素子を形
成してから、もう一方の素子を他の面に形成することに
なるため、先に形成された素子が後の素子を形成する際
に破損しないように特別に工夫する必要があり、この点
でも手間である。
この発明は、上記の事情に鑑み、生産性が高く、小型化
にも通した構成の半導体装置を提供することを課題とす
る。
にも通した構成の半導体装置を提供することを課題とす
る。
前記課題を解決するため、この発明にかかる半導体装置
では、受光素子が、半導体スイッチ素子を有する半導体
基板の表面に形成された絶縁膜の上に積層形成され、か
つ、発光素子が、同受光素子上に透明絶縁層を介して積
まれている。
では、受光素子が、半導体スイッチ素子を有する半導体
基板の表面に形成された絶縁膜の上に積層形成され、か
つ、発光素子が、同受光素子上に透明絶縁層を介して積
まれている。
受光素子は、半導体スイッチ素子を有する半導体基板の
上に形成された絶縁膜に積層形成されている。そのため
、受光素子の積層形成工程中に電気配線工程を組み入れ
ることができる。電気配線工程では、通常の半導体素子
の電極配線用のマイクロ加工技術による配線形成方法を
使用できる。
上に形成された絶縁膜に積層形成されている。そのため
、受光素子の積層形成工程中に電気配線工程を組み入れ
ることができる。電気配線工程では、通常の半導体素子
の電極配線用のマイクロ加工技術による配線形成方法を
使用できる。
したがって、半田付けによる電気配線の必要がなく、小
型化にも十分に対応できる。
型化にも十分に対応できる。
発光素子は受光素子の形成後に積まれている。
つまり、半導体基板の上に向け、受光素子、ついで発光
素子と積んでゆけばよいのである。従来のように絶縁基
板の表面に素子形成を行い、その後ひっくり返して裏面
に他方の素子を形成するという手間のかかる工程は必要
ない。
素子と積んでゆけばよいのである。従来のように絶縁基
板の表面に素子形成を行い、その後ひっくり返して裏面
に他方の素子を形成するという手間のかかる工程は必要
ない。
以下、この発明にかかる半導体装置を、その−例をあら
れす図面を参照しながら詳しく説明する第1図は、この
発明にかかる半導体装置の一実施例の構成をあられす。
れす図面を参照しながら詳しく説明する第1図は、この
発明にかかる半導体装置の一実施例の構成をあられす。
第2図は、この半導体装置の等価回路をあられす。
半導体装置は、半導体スイッチ素子である電界効果トラ
ンジスタT、(以下、rFETJと記す)、薄膜発光素
子(発光素子)Ll、および、光起電力素子アレイ (
受光素子)Lmを備えているFETは、並列に接続構成
された複数のFETユニットTUからなる。FETユニ
ットTUは、半導体基板1にソース領域2とドレイン領
域3を備え、両領域2.3の間にチャンネル領域4を備
えている。さらに、このFETユニットTUは、チャン
ネル領域4の上に絶縁膜5を介してポリシリコンからな
るゲート電極6を備えている。チャンネル領域4のある
P゛層とソース領域3であるN゛層は、いわゆる二重拡
散不純物領域である。
ンジスタT、(以下、rFETJと記す)、薄膜発光素
子(発光素子)Ll、および、光起電力素子アレイ (
受光素子)Lmを備えているFETは、並列に接続構成
された複数のFETユニットTUからなる。FETユニ
ットTUは、半導体基板1にソース領域2とドレイン領
域3を備え、両領域2.3の間にチャンネル領域4を備
えている。さらに、このFETユニットTUは、チャン
ネル領域4の上に絶縁膜5を介してポリシリコンからな
るゲート電極6を備えている。チャンネル領域4のある
P゛層とソース領域3であるN゛層は、いわゆる二重拡
散不純物領域である。
したがって、FETは、高耐電圧、高速動作に通したD
−MO3構造である。また、ドレイン電極9は、半導体
基板1裏面側にあり、したがって、FETは縦型構造で
もある。7はソース電極であり、8はガードリング領域
である。
−MO3構造である。また、ドレイン電極9は、半導体
基板1裏面側にあり、したがって、FETは縦型構造で
もある。7はソース電極であり、8はガードリング領域
である。
光起電力素子アレイL、はFETを有する半導体基板1
の表面に形成された絶縁膜11の上に積層形成されてい
る。この光起電力素子アレイL2は、複数個の光起電力
素子(太陽電池)12が直列に接続されている。個々の
光起電力素子12は、電極13.14と両電極間のアモ
ルファスシリコンからなる2層15.1r516、N屓
17とで構成すれたPiN型アモルファスシリコンフォ
トダイオードである。各層15〜17は、導電性薄膜(
Ni−Cr等)からなる電極13の上に順に積層形成さ
れたものである。電ff114は、Into8等のよう
な透明導電性薄膜であり、光信号が透過できるようにな
っている。各光起電力素子12は、電極14が隣接する
素子の電極13に接触するように形成されることにより
直列に接続された状態になっている。
の表面に形成された絶縁膜11の上に積層形成されてい
る。この光起電力素子アレイL2は、複数個の光起電力
素子(太陽電池)12が直列に接続されている。個々の
光起電力素子12は、電極13.14と両電極間のアモ
ルファスシリコンからなる2層15.1r516、N屓
17とで構成すれたPiN型アモルファスシリコンフォ
トダイオードである。各層15〜17は、導電性薄膜(
Ni−Cr等)からなる電極13の上に順に積層形成さ
れたものである。電ff114は、Into8等のよう
な透明導電性薄膜であり、光信号が透過できるようにな
っている。各光起電力素子12は、電極14が隣接する
素子の電極13に接触するように形成されることにより
直列に接続された状態になっている。
光起電力素子アレイL2とFETの間の電気的接続は以
下のようになっている。光起電力素子アレイし、の一方
の末端である左端の電4413の延長部13′は、導電
層7′を介してゲート電橋5に接続され、他方の末端で
ある右端の電極14は、延長部13“を介してソース電
極7に接続されている。つまり、電極13形成の際に絶
縁膜11に窓を明け、受光素子と半導体スイッチ素子の
間の導通接続がとれるように延長部13′、13″を形
成しておくのである。
下のようになっている。光起電力素子アレイし、の一方
の末端である左端の電4413の延長部13′は、導電
層7′を介してゲート電橋5に接続され、他方の末端で
ある右端の電極14は、延長部13“を介してソース電
極7に接続されている。つまり、電極13形成の際に絶
縁膜11に窓を明け、受光素子と半導体スイッチ素子の
間の導通接続がとれるように延長部13′、13″を形
成しておくのである。
薄膜発光素子L1は、光起電力素子アレイL2の表面に
形成された透明絶縁膜(絶縁層)20の上に積層形成さ
れている。透明絶縁膜20は、例えば、5ins膜等で
形成されている。この薄膜発光素子L1は、透明導電性
薄膜からなる透明電極21、電極25と、透明電極21
上に順に積層されたアモルファスシリコンカーバイドか
らなるP屓22、il’ii23、N層24とで構成さ
れている。
形成された透明絶縁膜(絶縁層)20の上に積層形成さ
れている。透明絶縁膜20は、例えば、5ins膜等で
形成されている。この薄膜発光素子L1は、透明導電性
薄膜からなる透明電極21、電極25と、透明電極21
上に順に積層されたアモルファスシリコンカーバイドか
らなるP屓22、il’ii23、N層24とで構成さ
れている。
26は保護用の絶縁膜である9発光素子り、の光は、透
明電極21透明絶縁膜20、および、透明電極14を透
過して光起電力素子12内に入り起電力を発生させる。
明電極21透明絶縁膜20、および、透明電極14を透
過して光起電力素子12内に入り起電力を発生させる。
続いて、第2図を参照しながら、この半導体装置のスイ
ッチング動作を説明する。
ッチング動作を説明する。
入力端子31.31に信号が印加されると、薄膜発光素
子L+が発光し、この光を受は光起電力素子アレイL8
は、その両端に電圧が誘起される。そうなると、FET
のゲートに電圧が加わってFETの導通状態が反転し、
出力端子32.32間の開閉状態が反転する。
子L+が発光し、この光を受は光起電力素子アレイL8
は、その両端に電圧が誘起される。そうなると、FET
のゲートに電圧が加わってFETの導通状態が反転し、
出力端子32.32間の開閉状態が反転する。
入力端子31.31の信号が消滅すると、薄膜発光素子
り、は消光する。そのため、光起電力素子L8の両端に
は電圧もなくなるため、FETの導通状態が再び反転し
、出力端子32.32間の開閉状態は元に復帰する。
り、は消光する。そのため、光起電力素子L8の両端に
は電圧もなくなるため、FETの導通状態が再び反転し
、出力端子32.32間の開閉状態は元に復帰する。
続いて、他の実施例について説明する。
第3図および第4図は、それぞれ、この発明にかかる他
の実施例をあられしており、透明絶縁層より下の構成(
光起電力素子アレイL8およびFETを有する半導体基
板l)は先の実施例と同じである。
の実施例をあられしており、透明絶縁層より下の構成(
光起電力素子アレイL8およびFETを有する半導体基
板l)は先の実施例と同じである。
第3図に示す半導体装置は、透明絶縁層が透明性のある
シリコン樹脂等の熱硬化性樹脂を塗布することに形成さ
れた絶縁層35であり、薄膜発光素子り、はこの絶縁層
35の上に積層形成されている。
シリコン樹脂等の熱硬化性樹脂を塗布することに形成さ
れた絶縁層35であり、薄膜発光素子り、はこの絶縁層
35の上に積層形成されている。
第4図に示す半導体装置は、透明絶縁層が透明ガラス等
の透明絶縁基板36からなり、薄膜発光素子L1は、こ
の絶縁基板36の上に積層形成されている。絶縁基板3
6を使う場合、優れた絶縁性が確保できる。
の透明絶縁基板36からなり、薄膜発光素子L1は、こ
の絶縁基板36の上に積層形成されている。絶縁基板3
6を使う場合、優れた絶縁性が確保できる。
透明絶縁層と発光素子は、予め透明絶縁層の上に発光素
子を形成しておいて、透明絶縁層と発光素子が一体化さ
れたものを受光素子の上に積むようにしてもよい。
子を形成しておいて、透明絶縁層と発光素子が一体化さ
れたものを受光素子の上に積むようにしてもよい。
この発明は上記実施例に限らない。受光素子がアモルフ
ァスシリコンフォトダイオードでなく、レーザ熔融化結
晶法によるシリコン単結晶の薄膜からなるもの等でもよ
い。発光素子もアモルファスシリコンカーバイドLED
でなく、EL薄膜からなるもの等でもよい。半導体スイ
ッチ素子が、トランジスタでなく、サイリスタ等であっ
てもよい。
ァスシリコンフォトダイオードでなく、レーザ熔融化結
晶法によるシリコン単結晶の薄膜からなるもの等でもよ
い。発光素子もアモルファスシリコンカーバイドLED
でなく、EL薄膜からなるもの等でもよい。半導体スイ
ッチ素子が、トランジスタでなく、サイリスタ等であっ
てもよい。
半導体装置の回路も、例えば、半導体スイッチ素子や受
光素子が複数あるような回路であってもよい。半導体ス
イッチ素子が複数ある場合、主スィッチ素子だけが半導
体基板に形成され、副スイツチ素子は、受光素子と同じ
ように半導体基板の表面に積層形成されている構成であ
ってもよい。
光素子が複数あるような回路であってもよい。半導体ス
イッチ素子が複数ある場合、主スィッチ素子だけが半導
体基板に形成され、副スイツチ素子は、受光素子と同じ
ように半導体基板の表面に積層形成されている構成であ
ってもよい。
この発明は、上に述べたように、受光素子の積層形成工
程中に電気配線工程を組み入れ、通常の半導体素子の電
極配線用のマイクロ加工技術による配線形成方法を使用
することができるため、小型化に十分対応でき、しかも
、半田付けによる電気配線の必要がなく生産性が向上す
る。
程中に電気配線工程を組み入れ、通常の半導体素子の電
極配線用のマイクロ加工技術による配線形成方法を使用
することができるため、小型化に十分対応でき、しかも
、半田付けによる電気配線の必要がなく生産性が向上す
る。
さらに、半導体基板の上に向けて受光素子ついで発光素
子と積んでゆけばよく、従来のように絶縁基板の表面に
素子形成を行い、その後ひっくり返して裏面に他方の素
子を形成するという手間のかかる工程が必要ないので、
この点でも、生産性が向上する。生産性の向上に伴いコ
ストダウンも図れる。
子と積んでゆけばよく、従来のように絶縁基板の表面に
素子形成を行い、その後ひっくり返して裏面に他方の素
子を形成するという手間のかかる工程が必要ないので、
この点でも、生産性が向上する。生産性の向上に伴いコ
ストダウンも図れる。
第1図は、この発明にかかる半導体装置の一例をあられ
す要部断面図、第2図は、この半導体装置の等価回路図
、第3図および第4図は、それぞれ、他の実施例を模式
的にあられす外観斜視図、第5図は、従来の半導体装置
を模式的にあられす外観斜視図である。 1・・・半導体基板 11・・・絶縁膜 20.3
5.36・・・透明絶縁層 L、・・・薄膜発光素子
(発光素子) Lx・・・光起電力素子アレイ (受
光素子) T1・・・半導体スイッチ素子代理人 弁
理士 松 本 武 彦 第3図 [1 第4図 、LI 第5図 手続補正書(自発 1]#6315)1 ’7 El謬
す要部断面図、第2図は、この半導体装置の等価回路図
、第3図および第4図は、それぞれ、他の実施例を模式
的にあられす外観斜視図、第5図は、従来の半導体装置
を模式的にあられす外観斜視図である。 1・・・半導体基板 11・・・絶縁膜 20.3
5.36・・・透明絶縁層 L、・・・薄膜発光素子
(発光素子) Lx・・・光起電力素子アレイ (受
光素子) T1・・・半導体スイッチ素子代理人 弁
理士 松 本 武 彦 第3図 [1 第4図 、LI 第5図 手続補正書(自発 1]#6315)1 ’7 El謬
Claims (1)
- 1 発光素子と受光素子を備えるとともに、半導体スイ
ッチ素子を備え、発光素子の光が受光素子に入射するよ
うになっていて、この受光素子により半導体スイッチ素
子が制御されるようになっている半導体装置において、
前記受光素子が、前記半導体スイッチ素子を有する半導
体基板の表面に形成された絶縁膜の上に積層形成され、
かつ、前記発光素子が、同受光素子上に透明絶縁層を介
して積まれていることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63062349A JPH01235282A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63062349A JPH01235282A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01235282A true JPH01235282A (ja) | 1989-09-20 |
Family
ID=13197557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63062349A Pending JPH01235282A (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01235282A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0216778A (ja) * | 1988-07-04 | 1990-01-19 | Sharp Corp | 光結合型半導体リレー装置 |
| US6025610A (en) * | 1997-01-23 | 2000-02-15 | Nec Corporation | Solid relay and method of producing the same |
-
1988
- 1988-03-15 JP JP63062349A patent/JPH01235282A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0216778A (ja) * | 1988-07-04 | 1990-01-19 | Sharp Corp | 光結合型半導体リレー装置 |
| US6025610A (en) * | 1997-01-23 | 2000-02-15 | Nec Corporation | Solid relay and method of producing the same |
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