JPH01239486A - 出力応答圧縮器 - Google Patents

出力応答圧縮器

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JPH01239486A
JPH01239486A JP63066500A JP6650088A JPH01239486A JP H01239486 A JPH01239486 A JP H01239486A JP 63066500 A JP63066500 A JP 63066500A JP 6650088 A JP6650088 A JP 6650088A JP H01239486 A JPH01239486 A JP H01239486A
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JP
Japan
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output
circuit
input
under test
circuit under
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JP63066500A
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English (en)
Inventor
Masaaki Yoshida
正昭 吉田
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は出力応答圧縮器、特に集積回路の論理機能試験
が容易となり、かつ極めて複雑な集積回路でも試験可能
となる様に集積回路自体に組み込まれた出力応答圧縮器
に関する。
〔従来の技術〕
高度に集積1ヒされ、かつ複雑化した集積回路の論理機
能テストを容易にする1つの方法は、テスI・すべき集
積回路内部にテストパターン発生器及びテスト出力評価
部等のテスト機構を組み込んでしまうことである。この
様にすることにより、集積回路内部に埋め込まれて外部
端子から直接アクセスできず、テスI・することが困難
であった部分の回路も、容易に論理機能テストを行なう
ことができる。
ところで、テスト機構を集積回路に組み込む場合、膨大
な出力応答を逐一期待値と比較することは不可能なので
、出力応答を圧縮し、圧縮した出力応答を期待値と比較
するという方法が採られる。
この出力応答圧縮器はテスI・出力評価部の重要な部分
を占める論理回路ブロックであるが、1979年に開催
された国際テスト会議(InternationalT
est Conference)の論文集37ページ〜
41ページに”BtllLT−IN LOGICBLO
CK 0BSERVATTON TECIINTQUE
S′°と題して報告された論文中に示された多入力符号
解析器が、よく用いられる。
この多入力符号解析器は、線型帰還シフトレジスタの各
段に入力を入れられる様にしたもので、4ビツトの多入
力符号解析器の例の概略プロ・ツク図を示す。
第2図は、被テスト回路(図示せず)からの出力がり。
、Di 、D2 、D3の4ビツトである場合を示して
おり、あるサイクルにおける被テスト回路の各出力り、
、D2.D3は排他的論理和回路(以下EXORゲート
と記す>26.27.28に入力され、フリップフロッ
プ21,22.23の各出力との排他的論理和演算後、
フリップフロップ22.23.24に入力される。また
被テスト回路の出力DoはEXORゲート25に入力さ
れ、フリップフロップ23と24との排他的論理和演算
後、フリップフロ・・lプ21に入力される。
そして、次のサイクルで被テスト回路の各出力り、、D
、、D2.D3も全く同様にしてフリップフロップ21
,22,23.24に各々入力され、以後同じ動作が繰
り返される。従って、被テスト回路からの出力が何パタ
ーンあっても、結果は4ビツトに圧縮されることになり
、期待値も4ビツトで良く、テストのために付加するハ
ードウェア量が少なくてすむ。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上述の出力応答圧縮器においては、被テ
スト回路からの出力り。、D、、D2゜D3全てを同時
に圧縮しているので、被テスト回路全体の良否の判定は
できても、もつと詳細な故障箇所に関する情報は全く得
られず、不良解析が出来ないという問題点を有する。
本発明の目的は、上記の従来技術の問題点を排除し、よ
り詳細な故障箇所に関する情報が得られる出力応答圧縮
器を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の出力応答圧縮器は、複数の出力線からの出力応
答を同時に圧縮する多入力線型帰還シフトレジスタ型の
出力応答圧縮器において、前記複数の出力線のうちの1
つの出力線からの出力応答を選択的に前記多入力線型帰
還シフトレジスタの初段に入力する第1の選択手段と、
前記複数の出力線から前記任意の1つを除いた残りの出
力線からの出力応答のそれぞれを前記多入力線型帰還シ
フトレジスタの初段以外の各段に入力するか否かをj■
択する第2の選択手段とを設けたことを特徴とする。
〔作用〕
本発明は、上記構成を採用することにより従来技術にお
ける問題点を解消している。すなわち、従来技術は全出
力同時圧縮しかできないので、被テスト回路全体の良否
判定しか出来ないが、本発明は、被テスト回路の各出力
を1つずつ圧縮することも可能にすることで、より詳細
な故障箇所に関する情報が得られる。
〔実施例〕
以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の典型的な一実施例を示す構成図であ
る9 本実施例は被テスト回路(図示省略)からの出力が4ビ
ツトで、これを圧縮する出力応答圧縮器の段数も同一で
ある場合を示しているが、本発明はこれに限定されるも
のではなく、出力応答圧縮器の段数が被テスト回路の出
力数よりも多くてもかまわないのは言うまでもない。
さて、第1図に示した出力応答圧縮器は、被テスト回路
からの出力り。、D、、D2.D3に対応する4つのフ
リップフロップ1.2,3.4と、各フリップフロップ
に対応する4つのEXORゲート5,6.7.8と、そ
の出力がそれぞれEXOR6,7,8の一方の入力とな
るANDゲート10.11.12と、マルチプレクサ1
3とから成り、制御信号C2を切り換えることにより、
2種類の出力応答圧縮器として動作する。
1つは被テス■・回路からの全出力Do〜D3を同時に
圧縮する従来と同様の出力応答圧縮器であり、もう1つ
は被テスト回路からの出力り。〜D3のうちの任意の1
つの出力のみを圧縮する出力応答圧縮器である。
制御信号C2を論理” 1 ”のレベルに設定すると、
ANDゲート10.11.12は被テスト回路からの出
力り、、D2.D、を出力し、EXORゲー)6,7.
8にそれぞれ入力する。従ってフリップフロップ2,3
.4には前段のフリップフロップ1,2.3と被テスト
回路からの出力り、、D2.D3とのそれぞれ排他的論
理和か入力されることになる。
そして、この時制御信号C1を、マルチプレクサ13が
被テスト回路からの出力り。、Dl。
D2.D、のうち出力り。を出力する様に設定すると、
EXORゲート5には被テスト回路からの出力Doが入
力され、フリップフロップ1には、フリップフロップ3
,4と、この出力Doの排他的論理和か入力されること
になる。即ち、この場合には前述の従来例と同様に、被
テスト回路からの出力り。〜D3を全て同時に圧縮する
出力応答圧縮器が実現される。
次に制御信号C2を論理“0パのレベルに設定すると、
ANDゲー1−10.11.12は被テスト回路からの
出力り、、D2.D3にかかわらず論理“0′°を出力
するので、フリップフロップ2.3.4は前段のフリッ
プフロップ1,2.3の値がシフトされるだけとなる。
そしてこの時制御信号C1は被テスト回路からの出力D
o、D、。
D2.D3のうちのいずれか1つを選択する様にマルチ
プレクサ13を制御するので、マルチプレクサ13によ
り選択的に出力された被テスト回路からの出力のみが、
出力応答圧縮器に入力されることになる。即ち、この場
合には、被テスト回路からの出力り。〜D3のうちの任
意の1つを圧縮する出力応答圧縮器が実現される。
この様に、1つの出力応答圧縮器に2つのモードをもた
せることにより、従来例で得られる故障に関する情報よ
り多くの情報が得られる。即ち、最初に被テスト回路の
出力り。〜D、を全て同時に圧縮するモードで動作させ
、被テスト回路のGo、/ N OG Oテストを行な
う。そして、不良と判定された被テスト回路にのみ、1
つの出力だけを選択的に圧縮するモードを適用し、被テ
スト回路の出力を順次本発明による出力応答圧縮器に入
力し、テストすることにより、どの出力が不正出力を出
したのかを容易に検出することができるからである。
1つの出力のみを圧縮できるモードでは入カバターンの
何パターン目で故障が検出されたかを検出することもで
き、従来例にくらべて、被テスト回路の故障箇所に関す
る情報が格段に増加することになる。しかも極めてわず
かな論理ゲートの追加で実現できる5 〔発明の効果〕 本発明によれば、以上述べた様な構成を採用することに
より、従来例にくらべより詳細な故障情報が得られるよ
うになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成図であり、第2図
は従来例を示す構成図である。 Do、D、、D2.D3・・・被テスト回路からの出力
、1.2.3,4,21.22.23.24・・・フリ
・ツブフロップ、5,6,7,8,9.25゜26.2
7.28.29・・・排他的論理和回路、10.11,
12.・・・ANDゲート、13・・・マルチプレクサ
、CI、C2・・・制御信号。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 複数の出力線からの出力応答を同時に圧縮する多入力線
    型帰還シフトレジスタ型の出力応答圧縮器において、 前記複数の出力線のうちの1つの出力線からの出力応答
    を選択的に前記多入力線型帰還シフトレジスタの初段に
    入力する第1の選択手段と、前記複数の出力線から前記
    任意の1つを除いた残りの出力線からの出力応答のそれ
    ぞれを前記多入力線型帰還シフトレジスタの初段以外の
    各段に入力するか否かを選択する第2の選択手段とを設
    けたことを特徴とする多入力線型帰還シフトレジスタ型
    の出力応答圧縮器。
JP63066500A 1988-03-18 1988-03-18 出力応答圧縮器 Pending JPH01239486A (ja)

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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7093175B2 (en) 1999-11-23 2006-08-15 Janusz Rajski Decompressor/PRPG for applying pseudo-random and deterministic test patterns
US7111209B2 (en) 1999-11-23 2006-09-19 Janusz Rajski Test pattern compression for an integrated circuit test environment
US7260591B2 (en) 1999-11-23 2007-08-21 Janusz Rajski Method for synthesizing linear finite state machines
US7263641B2 (en) 1999-11-23 2007-08-28 Janusz Rajski Phase shifter with reduced linear dependency
US7302624B2 (en) 2003-02-13 2007-11-27 Janusz Rajski Adaptive fault diagnosis of compressed test responses
US7370254B2 (en) 2003-02-13 2008-05-06 Janusz Rajski Compressing test responses using a compactor
US7437640B2 (en) 2003-02-13 2008-10-14 Janusz Rajski Fault diagnosis of compressed test responses having one or more unknown states
US7478296B2 (en) 1999-11-23 2009-01-13 Janusz Rajski Continuous application and decompression of test patterns to a circuit-under-test
US7493540B1 (en) 1999-11-23 2009-02-17 Jansuz Rajski Continuous application and decompression of test patterns to a circuit-under-test
US7500163B2 (en) 1999-11-23 2009-03-03 Janusz Rajski Method and apparatus for selectively compacting test responses
US7509550B2 (en) 2003-02-13 2009-03-24 Janusz Rajski Fault diagnosis of compressed test responses
US7818644B2 (en) 2006-02-17 2010-10-19 Janusz Rajski Multi-stage test response compactors
US9134370B2 (en) 1999-11-23 2015-09-15 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses
US9664739B2 (en) 1999-11-23 2017-05-30 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9134370B2 (en) 1999-11-23 2015-09-15 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses
US7111209B2 (en) 1999-11-23 2006-09-19 Janusz Rajski Test pattern compression for an integrated circuit test environment
US7260591B2 (en) 1999-11-23 2007-08-21 Janusz Rajski Method for synthesizing linear finite state machines
US7263641B2 (en) 1999-11-23 2007-08-28 Janusz Rajski Phase shifter with reduced linear dependency
US10234506B2 (en) 1999-11-23 2019-03-19 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses
US9664739B2 (en) 1999-11-23 2017-05-30 Mentor Graphics Corporation Continuous application and decompression of test patterns and selective compaction of test responses
US7523372B2 (en) 1999-11-23 2009-04-21 Janusz Rajski Phase shifter with reduced linear dependency
US7478296B2 (en) 1999-11-23 2009-01-13 Janusz Rajski Continuous application and decompression of test patterns to a circuit-under-test
US7493540B1 (en) 1999-11-23 2009-02-17 Jansuz Rajski Continuous application and decompression of test patterns to a circuit-under-test
US7500163B2 (en) 1999-11-23 2009-03-03 Janusz Rajski Method and apparatus for selectively compacting test responses
US7506232B2 (en) 1999-11-23 2009-03-17 Janusz Rajski Decompressor/PRPG for applying pseudo-random and deterministic test patterns
US7509546B2 (en) 1999-11-23 2009-03-24 Janusz Rajski Test pattern compression for an integrated circuit test environment
US7093175B2 (en) 1999-11-23 2006-08-15 Janusz Rajski Decompressor/PRPG for applying pseudo-random and deterministic test patterns
US7509550B2 (en) 2003-02-13 2009-03-24 Janusz Rajski Fault diagnosis of compressed test responses
US7743302B2 (en) 2003-02-13 2010-06-22 Janusz Rajski Compressing test responses using a compactor
US7890827B2 (en) 2003-02-13 2011-02-15 Mentor Graphics Corporation Compressing test responses using a compactor
US7437640B2 (en) 2003-02-13 2008-10-14 Janusz Rajski Fault diagnosis of compressed test responses having one or more unknown states
US7370254B2 (en) 2003-02-13 2008-05-06 Janusz Rajski Compressing test responses using a compactor
US7302624B2 (en) 2003-02-13 2007-11-27 Janusz Rajski Adaptive fault diagnosis of compressed test responses
US7818644B2 (en) 2006-02-17 2010-10-19 Janusz Rajski Multi-stage test response compactors
US7913137B2 (en) 2006-02-17 2011-03-22 Mentor Graphics Corporation On-chip comparison and response collection tools and techniques
US8418007B2 (en) 2006-02-17 2013-04-09 Mentor Graphics Corporation On-chip comparison and response collection tools and techniques
US8914694B2 (en) 2006-02-17 2014-12-16 Mentor Graphics Corporation On-chip comparison and response collection tools and techniques
US9250287B2 (en) 2006-02-17 2016-02-02 Mentor Graphics Corporation On-chip comparison and response collection tools and techniques
US9778316B2 (en) 2006-02-17 2017-10-03 Mentor Graphics Corporation Multi-stage test response compactors
US10120024B2 (en) 2006-02-17 2018-11-06 Mentor Graphics Corporation Multi-stage test response compactors

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