JPH01244340A - フレーム原子吸光分析装置 - Google Patents
フレーム原子吸光分析装置Info
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- JPH01244340A JPH01244340A JP7269088A JP7269088A JPH01244340A JP H01244340 A JPH01244340 A JP H01244340A JP 7269088 A JP7269088 A JP 7269088A JP 7269088 A JP7269088 A JP 7269088A JP H01244340 A JPH01244340 A JP H01244340A
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- JP
- Japan
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- burner
- flow rate
- variable means
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は試料原子化にガス炎を用いる原子吸光分析装置
に関する。
に関する。
（従来の技術）
フレーム原子吸光分析法ではガス炎中に試料を導入して
試料を原子化し、その炎の中を定量しようとする元素の
輝線光を通して、その輝線光の吸光度を測定する。この
場合ガス炎の燃焼条件が分析感度および精度に関係する
ので燃焼条件の最適設定は重要な操作であるが、従来は
燃焼条件の設定は手動的に行っていた。この場合の条件
設定の目標は単に最高感度が得られると云う点に置かれ
ており、最適Ｓ／Ｎ値を得ると云う観点は重視されてい
なかった。見掛上最高感度が得られても、Ｓ／Ｎ比が低
ければ結局試料中の目的元素の濃度が低い場合の検出感
度定量精度が低下し、分析の再現性も低くなるので、本
来はＳ／Ｎ値を最高にするように燃焼条件を設定するの
が望ましいのであるが、手動操作による場合、操作が煩
雑なため実行が困難であった。
試料を原子化し、その炎の中を定量しようとする元素の
輝線光を通して、その輝線光の吸光度を測定する。この
場合ガス炎の燃焼条件が分析感度および精度に関係する
ので燃焼条件の最適設定は重要な操作であるが、従来は
燃焼条件の設定は手動的に行っていた。この場合の条件
設定の目標は単に最高感度が得られると云う点に置かれ
ており、最適Ｓ／Ｎ値を得ると云う観点は重視されてい
なかった。見掛上最高感度が得られても、Ｓ／Ｎ比が低
ければ結局試料中の目的元素の濃度が低い場合の検出感
度定量精度が低下し、分析の再現性も低くなるので、本
来はＳ／Ｎ値を最高にするように燃焼条件を設定するの
が望ましいのであるが、手動操作による場合、操作が煩
雑なため実行が困難であった。
（発明が解決しようとする課題）
本発明はフレーム原子吸光分析において、ガス炎の燃焼
条件を自動的に最適Ｓ／Ｎ値になるように設定できる装
置を提供しようとするものである。
条件を自動的に最適Ｓ／Ｎ値になるように設定できる装
置を提供しようとするものである。
（課題を解決するための手段）
試料原子化炎を形成するバーナに燃料ガスおよび助燃ガ
スを供給する各ガス供給路に自動流量可変手段と、吸光
度信号に対してその時間的平均値および時間的変動の幅
を求める手段とを備え、バーナに供給するガスの流量を
一組の値に設定して、ブランク試料および被測定元素含
有試料（濃度未知で可、例えば被測定試料〉をバーナに
供給し、ブランク試料に対する吸光度信号の時間的平均
Ｂおよび被測定元素含有試料に対する吸光度信号の時間
的平均Ｔおよび、同信号に対する時間的変動幅Ｎを検出
してＳ／Ｎ値を として算出する動作を上記バーナに供給するガス流量を
変えながら行い、上記Ｓ／Ｎが最大になるガス流量の組
合せを検出するようにした。
スを供給する各ガス供給路に自動流量可変手段と、吸光
度信号に対してその時間的平均値および時間的変動の幅
を求める手段とを備え、バーナに供給するガスの流量を
一組の値に設定して、ブランク試料および被測定元素含
有試料（濃度未知で可、例えば被測定試料〉をバーナに
供給し、ブランク試料に対する吸光度信号の時間的平均
Ｂおよび被測定元素含有試料に対する吸光度信号の時間
的平均Ｔおよび、同信号に対する時間的変動幅Ｎを検出
してＳ／Ｎ値を として算出する動作を上記バーナに供給するガス流量を
変えながら行い、上記Ｓ／Ｎが最大になるガス流量の組
合せを検出するようにした。
更にバーナの位置自動可変手段を設は上記した動作を試
料原子化用炎を通過する光ビームの炎内での位置を変え
ながら繰返すようにした。
料原子化用炎を通過する光ビームの炎内での位置を変え
ながら繰返すようにした。
（作 用）
フレーム原子吸光分析では通常バーナに供給する燃料ガ
スの流量は一定にしておいて、助燃ガスの流量を変えて
最適条件を求めている。第２図で横軸は助燃ガス流量で
、縦軸は吸光度の時間的平均を示す。ブランク試料およ
び被測定試料の吸光度平均ＢおよびＴは助燃ガス流量を
変えると図のＢおよびＴのように変化する。従来はこの
図でＴ−Ｂが最大になる点Ｌｍに助燃ガス流量を設定し
ていた。この場合、Ｔ、Ｂは時間的平均であるから、実
際の吸光度信号はこのＴ、Ｂの上下に揺れており、その
揺れ幅即ちノイズの幅Ｎも助燃ガス流量によって変化し
ており、Ｌｍの所で、（Ｔ−Ｂ）／Ｎが最大とは限らな
い。しかし従来は測定を行う者が吸光度信号の表示によ
って揺れ幅を見ているので揺れ幅の評価は主観的であり
、数量的にＳ／Ｎ値を把握することは困難で、比較的短
時間でバーナの調節を終ろうと思うとＴ−Ｂが最大にな
ると思われる所に助燃ガス流量を設定する他なかった。
スの流量は一定にしておいて、助燃ガスの流量を変えて
最適条件を求めている。第２図で横軸は助燃ガス流量で
、縦軸は吸光度の時間的平均を示す。ブランク試料およ
び被測定試料の吸光度平均ＢおよびＴは助燃ガス流量を
変えると図のＢおよびＴのように変化する。従来はこの
図でＴ−Ｂが最大になる点Ｌｍに助燃ガス流量を設定し
ていた。この場合、Ｔ、Ｂは時間的平均であるから、実
際の吸光度信号はこのＴ、Ｂの上下に揺れており、その
揺れ幅即ちノイズの幅Ｎも助燃ガス流量によって変化し
ており、Ｌｍの所で、（Ｔ−Ｂ）／Ｎが最大とは限らな
い。しかし従来は測定を行う者が吸光度信号の表示によ
って揺れ幅を見ているので揺れ幅の評価は主観的であり
、数量的にＳ／Ｎ値を把握することは困難で、比較的短
時間でバーナの調節を終ろうと思うとＴ−Ｂが最大にな
ると思われる所に助燃ガス流量を設定する他なかった。
本発明によれば第２図に示すＴ、Ｂのデータの他にＴ
に対するノイズ幅Ｎが求まっているので、（Ｔ−Ｂ）／
Ｎが最大になる助燃ガス流量が自動的に求められる。
に対するノイズ幅Ｎが求まっているので、（Ｔ−Ｂ）／
Ｎが最大になる助燃ガス流量が自動的に求められる。
上の説明は助燃ガスの流量を変える場合についてのみ行
ったが、燃料ガスの流量を変える場合についても全く同
様であり、更に光ビームの試料原子化炎を通過する位置
も測定のＳ／Ｎ比向上向上係するが、上述動作をバーナ
位置を変えながら行うことによってバーナ位置も合わせ
て最適条件が自動的に設定されることになる。
ったが、燃料ガスの流量を変える場合についても全く同
様であり、更に光ビームの試料原子化炎を通過する位置
も測定のＳ／Ｎ比向上向上係するが、上述動作をバーナ
位置を変えながら行うことによってバーナ位置も合わせ
て最適条件が自動的に設定されることになる。
（実施例）
第１図に本発明の一実施例を示す。Ｈは光源のホローカ
ソードランプ、Ｆは試料原子化用の炎でＢは炎Ｆを形成
するバーナであり、Ｚはバーナの位置可変装置である。
ソードランプ、Ｆは試料原子化用の炎でＢは炎Ｆを形成
するバーナであり、Ｚはバーナの位置可変装置である。
位置可変装置は制御装置Ｃによって駆動され、バーナの
上下方向即ちＺ軸方向および、炎Ｆを通過する光ビーム
と直交水平方向およびＺ軸周りの回転の３種の位置につ
いて可変であるが、測定上重要なのはＺ方向位置と２軸
回りの回転位置であり、特にＺ軸方向の位置調節が重要
である。Ｎは試料霧化器、Ｓは試料容器で、試料霧化器
を通して燃料ガスがバーナＢに供給され、Ｖｆは燃料ガ
スの流量調節弁であり、Ｖａは助燃ガスの流量調節弁で
あって、これらの弁は制御装置Ｃにより駆動される。Ｍ
はモノクロメータで炎Ｆを通過した光源Ｈの光を分光し
、Ｄは光検出器でモノクロメータＭの出射光を受光する
。Ｌは光検出器りの出力を吸光度信号に変換する吸光度
変換器で、ＡＤは吸光度変換器りの出力をＡ／Ｄ変換す
る。制御装置はＡ／Ｄ変換器ＡＤの出力を取込み所定の
演算を行う。ＲＡＭは上記演算を行うためのデータメモ
リである。
上下方向即ちＺ軸方向および、炎Ｆを通過する光ビーム
と直交水平方向およびＺ軸周りの回転の３種の位置につ
いて可変であるが、測定上重要なのはＺ方向位置と２軸
回りの回転位置であり、特にＺ軸方向の位置調節が重要
である。Ｎは試料霧化器、Ｓは試料容器で、試料霧化器
を通して燃料ガスがバーナＢに供給され、Ｖｆは燃料ガ
スの流量調節弁であり、Ｖａは助燃ガスの流量調節弁で
あって、これらの弁は制御装置Ｃにより駆動される。Ｍ
はモノクロメータで炎Ｆを通過した光源Ｈの光を分光し
、Ｄは光検出器でモノクロメータＭの出射光を受光する
。Ｌは光検出器りの出力を吸光度信号に変換する吸光度
変換器で、ＡＤは吸光度変換器りの出力をＡ／Ｄ変換す
る。制御装置はＡ／Ｄ変換器ＡＤの出力を取込み所定の
演算を行う。ＲＡＭは上記演算を行うためのデータメモ
リである。
第３図は制御装置Ｃの動作のフローチャートである。こ
の実施例ではバーナ位置は水平方向およびＺ軸回りの回
転位置は予め設定してあって、高さ方向の位置２のみを
調節し、また燃料ガスの流量も予め設定されていて助燃
ガスの流量のみ調節するようになっている。まずブラン
ク試料をバーナに継続的に供給しながら（イ）、・バー
ナ高さＺを実用範囲の最低位置Ｚｏにセット（ロ）し、
バルブＶａの開度をこれも実用範囲の最小にセット（ハ
）し、吸光度平均Ｂを測定ＲＡＭに格納（ニ）し、バル
ブｖａの開度が実用範囲の最大Ｖａｍか否かチエツク（
ホ）してＮＯの場合、現在のバルブＶａの開度Ｖａを−
ステップＶだけ増加（へ）し、動作は（ニ）のステップ
に戻る。（ホ）のステップがＹＥＳのときは次の（ト）
のステップで、バーナ高さが実用範囲の最高か否かチエ
ツクし、Ｎｏの場合現在のバーナ高さよリーステップ分
Ｚ高くして（チ）、動作は（ハ）のステップに戻る。（
ト）のステップがＹＥＳになったら、定量しようとする
元素を含んだ試料（被測定試料で可、濃度は未知でよい
）を導入（す）し、再びバーす位置をＺｏに戻しくヌ）
、バルブＶａをＶａＯに戻しくル）、吸光度平均Ｔおよ
び吸光度の変動幅Ｎを測定してＲＡＭに格納（オ）シ、
以下ブランク試料の場合と同様にして（ワ）（力）（ヨ
） （夕）のステップを経て、（ヨ）のステップがＹＥ
Ｓになったら、必要なデータは全て採取できたことにな
るので、（し）のステップで、バーナの各高さ位置毎に
、助燃ガスバルブ開度を変えを算して、（ソ）のステッ
プで上記Ｓ／Ｈの値から最大値を索出して、そのＳ／Ｎ
値を与えるバーナ高さおよびバルブＶａの開度にバーナ
ＢおよびバルブＶａを設定して動作を終わる。
の実施例ではバーナ位置は水平方向およびＺ軸回りの回
転位置は予め設定してあって、高さ方向の位置２のみを
調節し、また燃料ガスの流量も予め設定されていて助燃
ガスの流量のみ調節するようになっている。まずブラン
ク試料をバーナに継続的に供給しながら（イ）、・バー
ナ高さＺを実用範囲の最低位置Ｚｏにセット（ロ）し、
バルブＶａの開度をこれも実用範囲の最小にセット（ハ
）し、吸光度平均Ｂを測定ＲＡＭに格納（ニ）し、バル
ブｖａの開度が実用範囲の最大Ｖａｍか否かチエツク（
ホ）してＮＯの場合、現在のバルブＶａの開度Ｖａを−
ステップＶだけ増加（へ）し、動作は（ニ）のステップ
に戻る。（ホ）のステップがＹＥＳのときは次の（ト）
のステップで、バーナ高さが実用範囲の最高か否かチエ
ツクし、Ｎｏの場合現在のバーナ高さよリーステップ分
Ｚ高くして（チ）、動作は（ハ）のステップに戻る。（
ト）のステップがＹＥＳになったら、定量しようとする
元素を含んだ試料（被測定試料で可、濃度は未知でよい
）を導入（す）し、再びバーす位置をＺｏに戻しくヌ）
、バルブＶａをＶａＯに戻しくル）、吸光度平均Ｔおよ
び吸光度の変動幅Ｎを測定してＲＡＭに格納（オ）シ、
以下ブランク試料の場合と同様にして（ワ）（力）（ヨ
） （夕）のステップを経て、（ヨ）のステップがＹＥ
Ｓになったら、必要なデータは全て採取できたことにな
るので、（し）のステップで、バーナの各高さ位置毎に
、助燃ガスバルブ開度を変えを算して、（ソ）のステッ
プで上記Ｓ／Ｈの値から最大値を索出して、そのＳ／Ｎ
値を与えるバーナ高さおよびバルブＶａの開度にバーナ
ＢおよびバルブＶａを設定して動作を終わる。
上述動作において吸光度信号の平均ＴおよびＢを求める
動作は次のように行われる。吸光度信号は一定時間間隔
でサンプリングされ、Ａ／Ｄ変換されて制御装置Ｃに取
りまれる。このＡ／Ｄ変換されたデータをＸｉ （ｉ＝
１．２＋・・・ｎ）とすると、制御装置Ｃは各サンプリ
ング毎に を計算する。Ｘの値はｉが小さい間は毎回変化するが、
その変化は次第に小さくなって行くので、ｎ−１回目の
Ｘとｎ回目のＸとの差が所定値より小さくなったｎ回目
の所で測定を終わる。吸光度の変動幅Ｎの求め方は種々
あるが、最′も単純なものは上述したＸｉを次々にＲＡ
Ｍに格納しておき、他方上述した平均Ｘ＝（Σ Ｘ ｉ
） ／ ｉを求めて、０回サンプリングの所で測定を
終わったら、求められた平均ＸとＲＡＭに格納しである
データＸｉとの差の１Ｘｉ−ＸＩの最大値を求めてこれ
をＮとする。より適正な方法としてはＲＡＭを以ってＮ
とする。
動作は次のように行われる。吸光度信号は一定時間間隔
でサンプリングされ、Ａ／Ｄ変換されて制御装置Ｃに取
りまれる。このＡ／Ｄ変換されたデータをＸｉ （ｉ＝
１．２＋・・・ｎ）とすると、制御装置Ｃは各サンプリ
ング毎に を計算する。Ｘの値はｉが小さい間は毎回変化するが、
その変化は次第に小さくなって行くので、ｎ−１回目の
Ｘとｎ回目のＸとの差が所定値より小さくなったｎ回目
の所で測定を終わる。吸光度の変動幅Ｎの求め方は種々
あるが、最′も単純なものは上述したＸｉを次々にＲＡ
Ｍに格納しておき、他方上述した平均Ｘ＝（Σ Ｘ ｉ
） ／ ｉを求めて、０回サンプリングの所で測定を
終わったら、求められた平均ＸとＲＡＭに格納しである
データＸｉとの差の１Ｘｉ−ＸＩの最大値を求めてこれ
をＮとする。より適正な方法としてはＲＡＭを以ってＮ
とする。
バーナに供給するガス流量を変えると吸光度信号が安定
する迄に若干の時間がか＼る。従って第３図のフローチ
ャートで（ニ）および（オ）のステップの前に夫々時間
待ちのステップを入れる方がよい。このときの待ち時間
は予めタイマによって固定的に設定しておいてもよいが
、これでは余分に時間をかけることになりがちであるか
ら、自動的に待ち時間設定がなされるようにするのが望
ましい。このためには、バルブ開度の設定を終わった後
、吸光度信号をサンプリングしながら例えば１０サンプ
リングデータの移動平均を求め、最新の移動平均値とそ
の一つ前のサンプリング時の移動平均値との差が設定値
以下になった所で、第３図（ニ）、（オ）のステップを
開始するようにすればよい。
する迄に若干の時間がか＼る。従って第３図のフローチ
ャートで（ニ）および（オ）のステップの前に夫々時間
待ちのステップを入れる方がよい。このときの待ち時間
は予めタイマによって固定的に設定しておいてもよいが
、これでは余分に時間をかけることになりがちであるか
ら、自動的に待ち時間設定がなされるようにするのが望
ましい。このためには、バルブ開度の設定を終わった後
、吸光度信号をサンプリングしながら例えば１０サンプ
リングデータの移動平均を求め、最新の移動平均値とそ
の一つ前のサンプリング時の移動平均値との差が設定値
以下になった所で、第３図（ニ）、（オ）のステップを
開始するようにすればよい。
（発明の効果）
人間が目視によって測定出力の変動幅即ちノイズの大き
さを認識するのは困難で主観が入るものであるから、バ
ーナの燃焼条件の手動設定は最大感度に設定することに
なっていたが、本発明によれば自動的にＳ／Ｎ値最大の
条件に設定されるので、オペレータの負担が軽減され、
調整時間も短縮されて、しかも測定の感度精度の向上が
得られる。またフレーム原子吸光分析では光ビームの炎
を通過する位置も感度に影響するが、上述したバーナの
燃焼条件設定の動作にバーナ位置の調整も加えればＳ／
Ｎ比最大の条件を探索するプログラムがそのま＼使えて
、バーナ位置およびバーナの燃焼条件の両方が最適に調
整されてＳ／Ｎ値の向上、オペレータの負担軽減、調整
時間の短縮等の効果が一層高められる。
さを認識するのは困難で主観が入るものであるから、バ
ーナの燃焼条件の手動設定は最大感度に設定することに
なっていたが、本発明によれば自動的にＳ／Ｎ値最大の
条件に設定されるので、オペレータの負担が軽減され、
調整時間も短縮されて、しかも測定の感度精度の向上が
得られる。またフレーム原子吸光分析では光ビームの炎
を通過する位置も感度に影響するが、上述したバーナの
燃焼条件設定の動作にバーナ位置の調整も加えればＳ／
Ｎ比最大の条件を探索するプログラムがそのま＼使えて
、バーナ位置およびバーナの燃焼条件の両方が最適に調
整されてＳ／Ｎ値の向上、オペレータの負担軽減、調整
時間の短縮等の効果が一層高められる。
第１図は本発明の一実施例装置のブロック図、第２図は
上記実施例の動作の一例のフローチャート、第３図は従
来例および本発明の詳細な説明するグラフである。 Ｈ・・・光源、Ｂ・・・バーナ、Ｍ・・・モノクロメー
タ、Ｄ・・・光検出器、Ｌ・・・吸光度変換装置、ＡＤ
・・・Ａ／Ｄ変換器、Ｚ・・・バーナの位置可変装置、
Ｎ・・・試料霧化器、ｖｆ・・・燃料ガス調節バルブ、
Ｖａ・・・助燃ガス調節バルブ、Ｃ・・・制御装置。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第２図
上記実施例の動作の一例のフローチャート、第３図は従
来例および本発明の詳細な説明するグラフである。 Ｈ・・・光源、Ｂ・・・バーナ、Ｍ・・・モノクロメー
タ、Ｄ・・・光検出器、Ｌ・・・吸光度変換装置、ＡＤ
・・・Ａ／Ｄ変換器、Ｚ・・・バーナの位置可変装置、
Ｎ・・・試料霧化器、ｖｆ・・・燃料ガス調節バルブ、
Ｖａ・・・助燃ガス調節バルブ、Ｃ・・・制御装置。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第２図
Claims (2)
- （１）バーナに供給する燃料ガスおよび助燃ガスの両方
或は一方の流量を調節する自動流量可変手段と、吸光度
信号の時間的平均および時間的変動の変動幅を検出する
手段と、バーナにブランク試料を導入しつゝ、上記自動
流量可変手段を駆動して、バーナに供給する燃料ガスお
よび助燃ガスの比率が変わる毎に吸光度信号の平均Ｂを
求め、次にバーナに定量しようとする元素を含有した燃
料を導入しつゝ上記自動流量可変手段を駆動して、バー
ナに供給する燃料ガスおよび助燃ガスの比率が変わる毎
に吸光度信号の平均Ｔおよび吸光度信号の時間的変動の
変動幅Ｎを検出して上記自動流量可変手段の同じ位置に
対する上記ＢとＴとＮとにより、 Ｓ／Ｎ＝（Ｔ−Ｂ）／Ｎ を算出して、上記Ｓ／Ｎが最大になる自動流量可変手段
の位置を索出し、その位置を最適位置とする制御手段と
を備えたフレーム原子吸光分析装置。 - （２）特許請求の範囲第１項記載の発明に加えて、バー
ナの位置自動可変手段を設け、上記バーナの一つの位置
において、バーナにブランク試料を導入しつゝ、上記自
動流量可変手段を駆動して、バーナに供給する燃料ガス
および助燃ガスの比率が変わる毎に吸光度信号の平均Ｂ
を求め、次にバーナに定量しようとする元素を含有した
試料を導入しつゝ上記自動流量可変手段を駆動して、バ
ーナに供給する燃料ガスおよび助燃ガスの比率が変わる
毎に吸光度信号の平均Ｔおよび吸光度信号の時間的変動
の変動幅Ｎを検出する動作をバーナの位置を変えながら
繰返し、上記バーナの位置および上記自動流量可変手段
の同じ位置に対する上記ＢとＴとＮとにより、 Ｓ／Ｎ＝（Ｔ−Ｂ）／Ｎ を算出して、上記Ｓ／Ｎが最大になるバーナ位置および
自動流量可変手段の位置を索出し、その位置を最適位置
とする制御手段を備えたフレーム原子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63072690A JPH07119689B2 (ja) | 1988-03-26 | 1988-03-26 | フレーム原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63072690A JPH07119689B2 (ja) | 1988-03-26 | 1988-03-26 | フレーム原子吸光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01244340A true JPH01244340A (ja) | 1989-09-28 |
| JPH07119689B2 JPH07119689B2 (ja) | 1995-12-20 |
Family
ID=13496614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63072690A Expired - Lifetime JPH07119689B2 (ja) | 1988-03-26 | 1988-03-26 | フレーム原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07119689B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04274736A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-30 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| JP2001083082A (ja) * | 1999-09-17 | 2001-03-30 | Hitachi Ltd | 原子吸光測定方法 |
| JPWO2019012580A1 (ja) * | 2017-07-10 | 2020-03-19 | 株式会社島津製作所 | フレーム式原子吸光分光光度計 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51128590A (en) * | 1975-05-01 | 1976-11-09 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Data processing system for analizer |
| JPS58124931A (ja) * | 1982-01-19 | 1983-07-25 | エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン | 原子吸光分光光度計およびそれを用いる分析方法 |
| JPS59220631A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-12 | Shimadzu Corp | 原子吸光分析装置 |
-
1988
- 1988-03-26 JP JP63072690A patent/JPH07119689B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51128590A (en) * | 1975-05-01 | 1976-11-09 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Data processing system for analizer |
| JPS58124931A (ja) * | 1982-01-19 | 1983-07-25 | エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン | 原子吸光分光光度計およびそれを用いる分析方法 |
| JPS59220631A (ja) * | 1983-05-30 | 1984-12-12 | Shimadzu Corp | 原子吸光分析装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JPH04274736A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-30 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| JP2001083082A (ja) * | 1999-09-17 | 2001-03-30 | Hitachi Ltd | 原子吸光測定方法 |
| JPWO2019012580A1 (ja) * | 2017-07-10 | 2020-03-19 | 株式会社島津製作所 | フレーム式原子吸光分光光度計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07119689B2 (ja) | 1995-12-20 |
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