JPS59220631A - 原子吸光分析装置 - Google Patents
原子吸光分析装置Info
- Publication number
- JPS59220631A JPS59220631A JP9655183A JP9655183A JPS59220631A JP S59220631 A JPS59220631 A JP S59220631A JP 9655183 A JP9655183 A JP 9655183A JP 9655183 A JP9655183 A JP 9655183A JP S59220631 A JPS59220631 A JP S59220631A
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- Japan
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- sample
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- sample atomization
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- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/3103—Atomic absorption analysis
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は火炎等によって試料を原子化する方式の原子吸
光分析装置における試料原子化部と分光光学系との相対
的位置関係を調節する装置に関する。
光分析装置における試料原子化部と分光光学系との相対
的位置関係を調節する装置に関する。
（ロ）従来技術
原子吸光分析は試料を火炎或は試別原子化部等を用い高
温で原子化し、原子化された試料雰囲気中を光を通して
、原子化された試料成分元素による特定波長の光の吸収
を測定するものであるが、試料が原子化されている空間
における試料成分元素の濃度分布は均一でなく、濃度分
布にも温度分布にもゆらぎがあるから吸収の測定には相
当のノイズが含壕れている。従って分析に当っては、な
るべく感度良好でかつＥｌ ／ Ｎ比が犬であるような
試料原子化部と分光光学系との位置関係を探して測定を
行う必要がある。即ち感度を上げるだめには試料原子化
部で試料成分の元素濃度がなるべく高くしかも光の通過
パスが長くなるように、試料原子化部に光を通すのがよ
く、ノイズを小さくするには試別原子化部において濃度
及び温度のゆらぎが小さく安定している領域を光が通る
ようにする。このような試料原子化部と分光光学系の位
置関係の調整は従来、オペレータが吸光度の測定値を記
録させながら、手動的に試料原子化部の位置を動かして
感度及びＳ ／ Ｎ比あ；測定上最も好ましいと思われ
る位置関係を探すと云う方法によっていた。しかしこの
ような手動的な位置調整は主観的要素が大きく、それだ
けにオペレータが神経を使うもので、相当の熟練を要し
、寸だ時間のか５るものであった。
温で原子化し、原子化された試料雰囲気中を光を通して
、原子化された試料成分元素による特定波長の光の吸収
を測定するものであるが、試料が原子化されている空間
における試料成分元素の濃度分布は均一でなく、濃度分
布にも温度分布にもゆらぎがあるから吸収の測定には相
当のノイズが含壕れている。従って分析に当っては、な
るべく感度良好でかつＥｌ ／ Ｎ比が犬であるような
試料原子化部と分光光学系との位置関係を探して測定を
行う必要がある。即ち感度を上げるだめには試料原子化
部で試料成分の元素濃度がなるべく高くしかも光の通過
パスが長くなるように、試料原子化部に光を通すのがよ
く、ノイズを小さくするには試別原子化部において濃度
及び温度のゆらぎが小さく安定している領域を光が通る
ようにする。このような試料原子化部と分光光学系の位
置関係の調整は従来、オペレータが吸光度の測定値を記
録させながら、手動的に試料原子化部の位置を動かして
感度及びＳ ／ Ｎ比あ；測定上最も好ましいと思われ
る位置関係を探すと云う方法によっていた。しかしこの
ような手動的な位置調整は主観的要素が大きく、それだ
けにオペレータが神経を使うもので、相当の熟練を要し
、寸だ時間のか５るものであった。
栓）目 的
（ニ）構 成
本発明原子吸光分析装置は、試料原子化部を移動させる
機構と、この機構を駆動すると共に、試料原子化部の位
置を検出し記憶する制御装置を有し、かつこの制御装置
に、試料原子化部を移動させながら試別原子化部の位置
のデータと光吸収のデータとノイズのデータとをサンプ
リングして記憶し、この記１意に基いて試別原子化部の
最適位置を判定し、試オ」原子化部をその位置に駆動す
る制御動作プログラムを設定したことを特徴とする。
機構と、この機構を駆動すると共に、試料原子化部の位
置を検出し記憶する制御装置を有し、かつこの制御装置
に、試料原子化部を移動させながら試別原子化部の位置
のデータと光吸収のデータとノイズのデータとをサンプ
リングして記憶し、この記１意に基いて試別原子化部の
最適位置を判定し、試オ」原子化部をその位置に駆動す
る制御動作プログラムを設定したことを特徴とする。
実施例
第１図は試別原子化部の移動機構の移動のベクトル成分
を示し、ＦＶｉ試料原子化用火炎であシ、この実施例で
は移動のベクトル成分は上下方向移動■と左右方向移動
Ｈと垂直軸廻りの回転−Ｔの三つであり、これらの移動
は夫々制御装置によって制御される。第２図は本発明の
実施例の全体構成を示すブロック図である。１は光源、
Ｆは上述した試別原子化部の炎、２は分光器で３は測光
素子である。試料原子化部Ｆは左右方向移動機構Ｄｈ、
上下方向移動機構Ｄｖ、垂直軸廻りの回転機構Ｄｔによ
って移動せしめられ、これらの機構は制御装置Ｃによっ
て駆動される。測光素子３の出力はプリアンプ４を経て
吸光度変換器５に入力され吸光度の信号となる。吸光度
の信号は第３図に示すようにノイズを含んでいるので平
均化回路６でノイズ成分が除去されメモ＋）Ｍに記憶せ
しめられる。
を示し、ＦＶｉ試料原子化用火炎であシ、この実施例で
は移動のベクトル成分は上下方向移動■と左右方向移動
Ｈと垂直軸廻りの回転−Ｔの三つであり、これらの移動
は夫々制御装置によって制御される。第２図は本発明の
実施例の全体構成を示すブロック図である。１は光源、
Ｆは上述した試別原子化部の炎、２は分光器で３は測光
素子である。試料原子化部Ｆは左右方向移動機構Ｄｈ、
上下方向移動機構Ｄｖ、垂直軸廻りの回転機構Ｄｔによ
って移動せしめられ、これらの機構は制御装置Ｃによっ
て駆動される。測光素子３の出力はプリアンプ４を経て
吸光度変換器５に入力され吸光度の信号となる。吸光度
の信号は第３図に示すようにノイズを含んでいるので平
均化回路６でノイズ成分が除去されメモ＋）Ｍに記憶せ
しめられる。
吸光度信号は更にバイパスフィルタ７にも入力され、同
フィルタによって直流成分がカントされ、ノイズだけが
抽出され、実効値変換回路８で２乗平均が求められる。
フィルタによって直流成分がカントされ、ノイズだけが
抽出され、実効値変換回路８で２乗平均が求められる。
このデータはノイズに関するデータでメモリＭに記憶せ
しめられる。メモリＭには制御装置Ｃから試料原子化部
Ｆの位置のデータｈ、ｖ、ｔが送られて来て、これらも
記憶せしめられる。
しめられる。メモリＭには制御装置Ｃから試料原子化部
Ｆの位置のデータｈ、ｖ、ｔが送られて来て、これらも
記憶せしめられる。
第４図は制御装置Ｃの試料原子化部位置調整動作のフロ
ーチャー１・である。この動作は試料原子化部に試料を
導入し、試料原子化部を位置走査の始点に移動させ（イ
）、まず試別原子化部を垂直軸の廻りに回転させて吸光
度の値が最大となる方向を検出してその方向に試料原子
化部Ｆの向きをセットＬ（０，ハ、二）、次に左右移動
機構Ｄｈ、−Ｆ下移動機横移動機構駆動する（へ）。こ
の１駆動は左右方向に移動範囲の一端から他端まで駆動
し、上下方向の位置を一段下げて左右方向にもとの位置
に戻し、又−股下げると云う動作の繰返しでジグザグ移
動により位置走査を行うものである。この部位置のデー
タをサンプリング（ト）シ、同時に吸光度信号の平均値
即ち平均仕口Ｉｉ８＋５６の出力である吸光度データ及
び実効値回路８の出力であるノイズのデータもサンプリ
ング（テ）して、夫々メモリの対応アドレスに格納する
。この動作は（ホ）の判定動作がＹ１！８Ｓになる進行
われ、判定動作（ホ）がＹＥＳになっだらＤｈ、、Ｄｖ
を停止させ、メモリＭのデータを読出してＳ ／ Ｎ比
最大即ち回路６の出力と回路８の出力の比が最大となる
位置り、■のデータを索出しくヌ）、その位置における
吸光度のデータと吸光度最大の値とを比較しくノ也位置
り、ｖにおける吸光度が最大値の１ ／ Ｋ以上であれ
ば（判定オがＹＥＳ）、Ｄｈ、Ｄｖを駆動して試別原子
化部Ｆを上記り、 ｖの位置にセント（ワ）して動作
を終る。即ち吸光度が最大値の１７ Ｋ以上であれば最
大値よシもＳ ／ Ｎ比最高の方を選択するわけである
。判定オが１ｑ○のときは吸光度値が最大になる位置を
検出（力）して、その位置へ試料原子化部を駆動（−３
） ｌ。
ーチャー１・である。この動作は試料原子化部に試料を
導入し、試料原子化部を位置走査の始点に移動させ（イ
）、まず試別原子化部を垂直軸の廻りに回転させて吸光
度の値が最大となる方向を検出してその方向に試料原子
化部Ｆの向きをセットＬ（０，ハ、二）、次に左右移動
機構Ｄｈ、−Ｆ下移動機横移動機構駆動する（へ）。こ
の１駆動は左右方向に移動範囲の一端から他端まで駆動
し、上下方向の位置を一段下げて左右方向にもとの位置
に戻し、又−股下げると云う動作の繰返しでジグザグ移
動により位置走査を行うものである。この部位置のデー
タをサンプリング（ト）シ、同時に吸光度信号の平均値
即ち平均仕口Ｉｉ８＋５６の出力である吸光度データ及
び実効値回路８の出力であるノイズのデータもサンプリ
ング（テ）して、夫々メモリの対応アドレスに格納する
。この動作は（ホ）の判定動作がＹ１！８Ｓになる進行
われ、判定動作（ホ）がＹＥＳになっだらＤｈ、、Ｄｖ
を停止させ、メモリＭのデータを読出してＳ ／ Ｎ比
最大即ち回路６の出力と回路８の出力の比が最大となる
位置り、■のデータを索出しくヌ）、その位置における
吸光度のデータと吸光度最大の値とを比較しくノ也位置
り、ｖにおける吸光度が最大値の１ ／ Ｋ以上であれ
ば（判定オがＹＥＳ）、Ｄｈ、Ｄｖを駆動して試別原子
化部Ｆを上記り、 ｖの位置にセント（ワ）して動作
を終る。即ち吸光度が最大値の１７ Ｋ以上であれば最
大値よシもＳ ／ Ｎ比最高の方を選択するわけである
。判定オが１ｑ○のときは吸光度値が最大になる位置を
検出（力）して、その位置へ試料原子化部を駆動（−３
） ｌ。
て動作を終る。
上側では測定の好寸しい条件としてＳ ／ Ｎ比を重視
しているが、最も好ましい位置の判定の規準は他にも色
々考えられる。
しているが、最も好ましい位置の判定の規準は他にも色
々考えられる。
Claims (1)
- 試別原子化部を移動させる移動機構と、同機構を駆動す
ると共に試料原子化部の位置を検出し記憶させると共に
、試料原子化部を移動させながら吸光度のデータ及びノ
イズのデータをサンプリングして記憶させ、これらの記
憶に基いて試料原子化部の最適位置を判定し、その位置
に試料原子化部を移動さぜる動作プログラムを有する制
御装置を備えた原子吸光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9655183A JPS59220631A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 原子吸光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9655183A JPS59220631A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 原子吸光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59220631A true JPS59220631A (ja) | 1984-12-12 |
| JPH051413B2 JPH051413B2 (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=14168212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9655183A Granted JPS59220631A (ja) | 1983-05-30 | 1983-05-30 | 原子吸光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59220631A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63145948A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-18 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光分析装置 |
| JPH01244340A (ja) * | 1988-03-26 | 1989-09-28 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析装置 |
| JPH02176447A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-09 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| JPH04274736A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-30 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| CN103592243A (zh) * | 2013-11-15 | 2014-02-19 | 上海仪电分析仪器有限公司 | 原子化器位置自动校正装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5327583U (ja) * | 1976-08-17 | 1978-03-09 | ||
| JPS53114285U (ja) * | 1977-02-18 | 1978-09-11 | ||
| JPS57110449U (ja) * | 1980-12-25 | 1982-07-08 |
-
1983
- 1983-05-30 JP JP9655183A patent/JPS59220631A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5327583U (ja) * | 1976-08-17 | 1978-03-09 | ||
| JPS53114285U (ja) * | 1977-02-18 | 1978-09-11 | ||
| JPS57110449U (ja) * | 1980-12-25 | 1982-07-08 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63145948A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-18 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光分析装置 |
| JPH01244340A (ja) * | 1988-03-26 | 1989-09-28 | Shimadzu Corp | フレーム原子吸光分析装置 |
| JPH02176447A (ja) * | 1988-12-27 | 1990-07-09 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| JPH04274736A (ja) * | 1991-02-28 | 1992-09-30 | Shimadzu Corp | 原子吸光分光光度計 |
| CN103592243A (zh) * | 2013-11-15 | 2014-02-19 | 上海仪电分析仪器有限公司 | 原子化器位置自动校正装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH051413B2 (ja) | 1993-01-08 |
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