JPH01246367A - 膜形成装置および膜形成方法 - Google Patents

膜形成装置および膜形成方法

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JPH01246367A
JPH01246367A JP7185788A JP7185788A JPH01246367A JP H01246367 A JPH01246367 A JP H01246367A JP 7185788 A JP7185788 A JP 7185788A JP 7185788 A JP7185788 A JP 7185788A JP H01246367 A JPH01246367 A JP H01246367A
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JP
Japan
Prior art keywords
substrate
magnetic field
plasma
film
plasma generation
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Pending
Application number
JP7185788A
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English (en)
Inventor
Riyouichi Hazuki
巴月 良一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、基板上に薄膜を形成する膜形成装置に係わり
、特に電子サイクロトロン共鳴によるプラズマを利用し
た膜形成装置に関する。
(従来の技術) 近年、半導体製造プロセスにおける薄膜形成方法の一つ
として、プラズマ気相成長法(プラズマCVD法)が広
く用いられている。さらに成長速度を大きくするために
、ECR(電子サイクロトロン共鳴)プラズマを使った
CVD法も開発されている。
第4図は、ECRプラズマを用いた従来のS形成装置を
示す概略構成図である。この装置では、マイクロ波電源
44によるマイクロ波励起によりプラズマ生成室41に
プラズマを発生させるが、同時にマグネットコイル50
による磁界を印加することによって、プラズマ生成室4
1内の電子サイクロトメン共鳴条件を満足する領域で高
密度プラズマを発生させる。例えば、2.45GHzの
マイ゛クロ波に対して、この電子サイクロトロン共鳴条
件を満足する磁束密度は875ガウスである。マグネッ
トコイル50による磁界は、基板46の方向にその強度
が減少する。所謂発散磁界となっており、このためプラ
ズマ生成室41に生じた高密度プラズマ中の電子が基板
方向に流れ出してくる。さらに、この電子に引張られて
プラズマ中のイオンも基板に向って進行する。そして、
膜堆積室42に導入された反応ガスと上記イオンとが反
応して基板46上に膜が形成されるものとなっている。
しかしながら、この種の装置にあっては次のような問題
があった。即ち、従来のECRプラズマを使った装置に
おいては、第4図にも示したように、プラズマ生成室4
1から流れ出してくる電子及びイオンの流束51に対し
て装置構成は対称となっている。このため、基板46上
に形成された素子は電子線により損傷を受け、その特性
が劣化するという問題があった。
(発明が解決しようとする課題) このように、従来のECRプラズマを使った膜形成装置
においては、基板にプラズマ中の電子線が照射されるた
め、基板上に形成された素子の特性が劣化するという問
題があった。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、その目的
は、電子線による損傷を与えることなく、ECRプラズ
マを利用して基板上に膜を形成することができ、素子特
性の劣化を防止し得る膜形成装置を提供することにある
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明は、マイクロ波励起によりプラズマが形成される
プラズマ生成室、このプラズマ生成室と連結され薄膜が
形成される基板が配置される膜堆積室、およびプラズマ
生成室に磁界を印加する磁界発生装置を備えた膜形成装
置において、磁力線が前記基板の表面に平行な磁界を前
記膜堆積室内に印加する磁界発生装置を設けたことを特
徴とする膜形成装置である。また1本発明は、マイクロ
波励起によりプラズマ生成室にプラズマを形成し。
このプラズマ生成室に磁界を印加して電子サイクロトロ
ン共鳴による高密度プラズマを発生させ、この高密度プ
ラズマをプラズマ生成室に印加した磁界の発散により、
薄膜が形成される基板が配置される膜堆積室に引き出し
て基板に薄膜を形成する薄膜形成方法において、前記基
板に、磁力線が基面の表面に平行な磁界を印加すること
を特徴とする薄膜形成方法である。
本発明の特徴は、膜堆積室内に新たに基板表面に平行に
なるような磁界を印加することにより、プラズマ中のイ
オンは基板に照射されるが、電子は照射されないように
したことにある。
本発明において、基板表面付近に磁界を印加する磁界発
生装置は電磁界でも良く、永久磁石でも良い。また、基
板に堆積させる薄膜は酸化シリコンや窒化シリコンやそ
の他の絶縁膜、或いは金属膜の場合にも、本発明は適用
できる。
(作 用) プラズマ生成室から電子とイオンが流れ出して来て基板
に向って進んでくる。そして、基板表面に平行に印加さ
れた磁界により、電子とイオンはローレンツの力を受け
るが1両者の質量の違いのため電子のみが容易にその軌
道が曲げられる。その結果、基板方向にはイオンのみが
向って行くことになる。それゆえ、基板には電子が照射
されず基板上に形成された素子の特性の劣化が抑制され
る。
(実施例) 以下、本発明の詳細を図示の実施例によって説明する。
第1図は本発明の実施例に係わる膜形成装置を示す概略
構成図である。膜形成装置は真空室1を備え、この真空
室1はプラズマ生成室2と膜堆積室3とからなっている
。プラズマ生成室2には。
プラズマ生成用ガスを導入するためのガス導入口4及び
マイクロ波電源5からのマイクロ波電力を印加するため
のマイクロ波導波管6が夫々接続されている。膜堆積室
3内には、基板7を載置するための基板ホルダー8が設
置されており、また反。
応ガスを導入するためのガス導入口9及び真空排気する
ためのガス排気口10が接続されている。
プラズマ生成室2の周囲には、磁界を印加するためのマ
グネットコイル11が設けられている。また、このマグ
ネットコイル11が発散磁界を形成するために、コイル
は図中の右の端近くでやや粗に巻かれている。さらに、
膜堆積室3の周囲には、基板7の表面に平行な磁界を印
加するためのマグネットコイル12が設けられている。
本実施例においては、マイクロ波電源5の周波数を2.
45GHzとし、プラズマ生成室の中心部付近での磁界
強度は電子サイクロトロン共鳴条件を満足する875ガ
ウスにし、また、基板7の表面付近でのマグネットコイ
ル12による磁界強度は50ガウスとした。
次に、上記実施例装置を用いて酸化シリコン膜を形成す
る方法及び素子特性の劣化の抑制効果について説明する
まず、プラズマ生成室2と膜堆積室3との内部をI X
l0−’Torrまで排気した後、ガス導入口4からプ
ラズマ生成用ガスとして例えば02ガスを20cc/m
inの流量で導入する。そして、プラズマ生成室2内に
磁界を印加すると共に、例えば300すのマイクロ波電
力を印加して酸素の高密度プラズマを発生させる。高密
度プラズマ中から電子及びイオンが発散磁界により引出
され基板7の方向に向って進んで行くが、マグネットコ
イル12による基板表面に平行な磁界のため、第2図に
示す如く電子の流束13は基板7上に到達せず、イオン
の流束14のみが基板7上に到達することになる。実際
、発散磁界により出てくる電子のエネルギーは20eV
程度であるため、50ガウスの磁界中ではローレンツ力
により半径約0.3cxnのらせん運動をすることにな
る。
膜堆積室3内には、ガス導入口9から反応ガスとして、
例えばSi)!4ガスを10cc/winの流量で導入
する。この時、膜堆積室3内の圧力は5X10−’To
rrとなっていた。プラズマ生成室2内のプラズマから
引出された酸素イオンと上記SiH,ガスとが反応して
、基板7上には900人/winの堆積速度で酸化シリ
コン膜が堆積した。
膜堆積中には、高密度プラズマ中から出る電子線は前述
したように基板7上には殆ど照射されないため、基板7
に形成された素子の照射損傷はなくなる。実際、第3図
に示す如きSi基板31上にゲート酸化膜32を介して
ゲート電極33を形成したMOSキャパシタに、実施例
装置で酸化シリコン膜34を堆積したところ、照射損傷
により生じる中性トラップの密度は5 X 10” c
m−”以下となり、第4図に示した従来装置による場合
の10分の1以下に抑えられた。
本実施例によれば、膜堆積室内に基板表面に平行な磁界
を印加することにより、基板にプラズマ中からの電子を
照射させることなく、基板上に膜形成することができる
。このため、基板に形成された素子の特性劣化を大幅に
抑制することができる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。例えば、基板表面付近に磁界を印加するためのマグ
ネットコイルの巻き方や、位置さらに磁界の強さは適宜
変更可能であり、また、永久磁石を用いてもよい。即ち
、プラズマ中からの電子が極力基板に到達し、ないよう
にすればよい。
また、堆積させる膜は酸化シリコンに限らず、窒化シリ
コンやその他の絶縁膜、或いは金属膜の堆積に対しても
本発明は有効であることはいうまでもない。さらに、基
板にバイアス電圧を印加する方法に対しても本発明は有
効である。その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、
種々変形して実施することができる。
〔発明の効果〕
以上詳述したように本発明によれば、ECRプラズマを
使った膜形成中において、基板は電子線の照射損傷を受
けなくなるので、基板に形成した素子の特性劣化を大幅
に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わる膜形成装置を示す概
略構図、第2図は上記装置の作用を説明するための模式
図、第3図は膜形成された基板を示す断面図、第4図は
従来装置を示す概略構成図である。 2・・・プラズマ生成室 3・・・膜堆積室4・・・ガ
ス導入口   5・・・マイクロ波電源7・・・基板 
      11・・・マグネットコイル12・・・マ
グネットコイル 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同  松山光之 @  1  因 第  2  図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)マイクロ波励起によりプラズマが形成されるプラ
    ズマ生成室、このプラズマ生成室と連結され薄膜が形成
    される基板が配置される膜堆積室、およびプラズマ生成
    室に磁界を印加する磁界発生装置を備えた膜形成装置に
    おいて、磁力線が前記基板の表面に平行な磁界を前記膜
    堆積室印加する磁界発生装置を設けたことを特徴といる
    膜形成装置
  2. (2)マイクロ波励起によりプラズマ生成室にプラズマ
    を形成し、このプラズマ生成室に磁界を印加して電子サ
    イクロトロン共鳴による高密度プラズマを発生させ、こ
    の高密度プラズマをプラズマ生成室に印加した磁界の発
    散により、薄膜が形成される基板が配置される膜堆積室
    に引き出して基板に薄膜を形成する薄膜形成方法におい
    て、前記基板に、磁力線が基面の表面に平行な磁界を印
    加することを特徴とする薄膜形成方法。
JP7185788A 1988-03-28 1988-03-28 膜形成装置および膜形成方法 Pending JPH01246367A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03229875A (ja) * 1990-02-05 1991-10-11 Fuji Electric Co Ltd 電子サイクロトロン共鳴プラズマcvd法による絶縁膜の形成方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03229875A (ja) * 1990-02-05 1991-10-11 Fuji Electric Co Ltd 電子サイクロトロン共鳴プラズマcvd法による絶縁膜の形成方法

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