JPH0124637Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0124637Y2 JPH0124637Y2 JP1985111506U JP11150685U JPH0124637Y2 JP H0124637 Y2 JPH0124637 Y2 JP H0124637Y2 JP 1985111506 U JP1985111506 U JP 1985111506U JP 11150685 U JP11150685 U JP 11150685U JP H0124637 Y2 JPH0124637 Y2 JP H0124637Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- core wire
- main body
- ray
- rays
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本考案はＸ線検出器に関し、特にＸ線の吸収を
測定する場合に適するＸ線検出器に関する。
測定する場合に適するＸ線検出器に関する。
ロ 従来の技術
Ｘ線吸収端微細構造を調べるような場合、試料
入射前のＸ線強度Ioと試料透過後のＸ線強度Ｉを
測定する必要がある。このような場合従来は、一
個のＸ線検出器により、試料無しでIoを測定し、
次に試料を置いてＩを測定すると云う手順をとる
必要があるため、測定に長時間を要した。
入射前のＸ線強度Ioと試料透過後のＸ線強度Ｉを
測定する必要がある。このような場合従来は、一
個のＸ線検出器により、試料無しでIoを測定し、
次に試料を置いてＩを測定すると云う手順をとる
必要があるため、測定に長時間を要した。
ハ 考案が解決しようとする問題点
本考案はＸ線吸収の測定において、一回の測定
で試料に入射するＸ線強度Ioと試料透過Ｘ線強度
Ｉが同時に測定できるようにするため、Ｘ線透過
型のＸ線検出器を提供しようとするものである。
で試料に入射するＸ線強度Ioと試料透過Ｘ線強度
Ｉが同時に測定できるようにするため、Ｘ線透過
型のＸ線検出器を提供しようとするものである。
ニ 問題点解決のための手段
Ｘ線検出器を、直方体の長手方向に平行な対向
２側面が開放された枠形の芯線ホルダの両端面間
に芯線を張設してなる芯線カートリツジを、対向
２側面にＸ線透過フイルムで覆われた窓を有する
本体に交換自在に挿入した構造とし、Ｘ線が上記
窓を通して本体を通過できるようにした。
２側面が開放された枠形の芯線ホルダの両端面間
に芯線を張設してなる芯線カートリツジを、対向
２側面にＸ線透過フイルムで覆われた窓を有する
本体に交換自在に挿入した構造とし、Ｘ線が上記
窓を通して本体を通過できるようにした。
ホ 作用
上述したＸ線検出器を試料の前面に置き、試料
の後側に同様のＸ線検出器又は従来のＸ線検出器
を置いて、Ｘ線を試料に入射させると、Ｘ線は試
料前面のＸ線検出器を貫通透過できるから、上記
Ｘ線検出器で入射Ｘ線の強度Ioが測定された後試
料に入射し、試料透過Ｘ線は後側のＸ線検出器で
測定できるので、同時にIoとＩの測定が可能とな
る。
の後側に同様のＸ線検出器又は従来のＸ線検出器
を置いて、Ｘ線を試料に入射させると、Ｘ線は試
料前面のＸ線検出器を貫通透過できるから、上記
Ｘ線検出器で入射Ｘ線の強度Ioが測定された後試
料に入射し、試料透過Ｘ線は後側のＸ線検出器で
測定できるので、同時にIoとＩの測定が可能とな
る。
本考案Ｘ線検出器は芯線が枠型のホルダに張設
され、このホルダが本体に交換可能に挿入されて
構成されているので、芯線の交換が容易である。
され、このホルダが本体に交換可能に挿入されて
構成されているので、芯線の交換が容易である。
ヘ 実施例
図面は本考案の一実施例のガスフロー型比例計
数管を示す。この実施例は第１図に示すように、
芯線１がホルダ２に張設されたものがカートリツ
ジ式に検出器本体に交換可能に挿入される構成で
ある。第１図で２は方形の枠形ホルダで図矢印方
向には素通しであり、芯線１は両端を絶縁してホ
ルダ２に固定され、ホルダ両端に絶縁して突設し
た接続ピン３に接続されている。第２図は検出器
本体を示し、４が検出器本体で、第１図に示すホ
ルダ２が挿入される。図ではホルダ２は挿入途中
の状態が示されている。ホルダ２を左端まで押し
込むと左側のピン３が本体側の接触片５と接触す
る。この状態で蓋６を本体４にねじ止め固定する
と本体４内部は外部に対して気密に密閉される。
INはガス流入孔、EXガス流出孔である。７はＸ
線透過窓で本体側壁に穿設された透孔であり、Ｘ
線透過フイルムでカバーされている。
数管を示す。この実施例は第１図に示すように、
芯線１がホルダ２に張設されたものがカートリツ
ジ式に検出器本体に交換可能に挿入される構成で
ある。第１図で２は方形の枠形ホルダで図矢印方
向には素通しであり、芯線１は両端を絶縁してホ
ルダ２に固定され、ホルダ両端に絶縁して突設し
た接続ピン３に接続されている。第２図は検出器
本体を示し、４が検出器本体で、第１図に示すホ
ルダ２が挿入される。図ではホルダ２は挿入途中
の状態が示されている。ホルダ２を左端まで押し
込むと左側のピン３が本体側の接触片５と接触す
る。この状態で蓋６を本体４にねじ止め固定する
と本体４内部は外部に対して気密に密閉される。
INはガス流入孔、EXガス流出孔である。７はＸ
線透過窓で本体側壁に穿設された透孔であり、Ｘ
線透過フイルムでカバーされている。
検出器本体４のＸ線透過窓７は第３図に示され
るように本体４の前後両側面に設けられており、
ホルダ２はその素通しの方向を、この前後の窓７
を連ねる方向に合わせて挿入されるので、Ｘ線は
図矢印Ｘのように検出器を透過することができ
る。
るように本体４の前後両側面に設けられており、
ホルダ２はその素通しの方向を、この前後の窓７
を連ねる方向に合わせて挿入されるので、Ｘ線は
図矢印Ｘのように検出器を透過することができ
る。
第４図は本考案Ｘ線検出器の一用例を示す。Ｓ
は試料で、Ｄ１，Ｄ２がＸ線検出器であり、矢印
ＸはＸ線を示す。Ｄ１は試料Ｓの前側に配置さ
れ、本考案に係る検出器が用いられる。Ｄ２は試
料の後側に配置され、Ｄ１と同型のものでもよ
く、従来型のものでもよい。上述したようにＸ線
は検出器Ｄ１を透過できるので、Ｄ１を透過した
Ｘ線が試料に入射し、Ｄ１によつて試料透過前の
Ｘ線強度Ioが測定され、Ｄ２よつて試料Ｓが吸収
を受けたＸ線強度Ｉが測定される。かくしてIoと
Ｉとが同時に測定される。
は試料で、Ｄ１，Ｄ２がＸ線検出器であり、矢印
ＸはＸ線を示す。Ｄ１は試料Ｓの前側に配置さ
れ、本考案に係る検出器が用いられる。Ｄ２は試
料の後側に配置され、Ｄ１と同型のものでもよ
く、従来型のものでもよい。上述したようにＸ線
は検出器Ｄ１を透過できるので、Ｄ１を透過した
Ｘ線が試料に入射し、Ｄ１によつて試料透過前の
Ｘ線強度Ioが測定され、Ｄ２よつて試料Ｓが吸収
を受けたＸ線強度Ｉが測定される。かくしてIoと
Ｉとが同時に測定される。
ト 効果
本考案はＸ線透過窓を検出器本体の前後両側面
に設けたもので、Ｘ線が透過でき、試料等に入射
する前のＸ線を検出測定することができる。
に設けたもので、Ｘ線が透過でき、試料等に入射
する前のＸ線を検出測定することができる。
またＸ線検出器の芯線が断線しても、芯線ホル
ダを本体から抜出すことにより簡単に芯線の交換
ができる。
ダを本体から抜出すことにより簡単に芯線の交換
ができる。
図面は本考案の一実施例を示し、第１図は芯線
ホルダの斜視図、第２図は検出器本体の縦断側面
図、第３図は同じく横断面図、第４図は本考案Ｘ
線検出器の用法の一例の平面図である。
ホルダの斜視図、第２図は検出器本体の縦断側面
図、第３図は同じく横断面図、第４図は本考案Ｘ
線検出器の用法の一例の平面図である。
Claims (1)
- 直方体の長手方向に平行な対向２側面が開放さ
れた枠形の芯線ホルダの両端面間に芯線を張設し
てなる芯線カートリツジを、対向２側面にＸ線透
過フイルムで覆われた窓を有する本体に交換自在
に挿入し、Ｘ線が上記窓を通して本体を通過でき
るようにしたＸ線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985111506U JPH0124637Y2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985111506U JPH0124637Y2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6220365U JPS6220365U (ja) | 1987-02-06 |
| JPH0124637Y2 true JPH0124637Y2 (ja) | 1989-07-25 |
Family
ID=30991489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985111506U Expired JPH0124637Y2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0124637Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5012128B2 (ja) * | 2007-03-26 | 2012-08-29 | 富士通株式会社 | Ｘ線吸収分析用検出器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5339270U (ja) * | 1976-09-09 | 1978-04-05 |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP1985111506U patent/JPH0124637Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6220365U (ja) | 1987-02-06 |
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