JPS62167449A - X線測定装置 - Google Patents

X線測定装置

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Publication number
JPS62167449A
JPS62167449A JP60291757A JP29175785A JPS62167449A JP S62167449 A JPS62167449 A JP S62167449A JP 60291757 A JP60291757 A JP 60291757A JP 29175785 A JP29175785 A JP 29175785A JP S62167449 A JPS62167449 A JP S62167449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
sample
intensity
rays
counter
Prior art date
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Pending
Application number
JP60291757A
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English (en)
Inventor
Noriaki Nakanishi
中西 典顕
Hiroshi Enami
江南 寛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPS62167449A publication Critical patent/JPS62167449A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 イ 産業上の利用分野 本発明はX線吸収端微細構造を調へる場合等に適したX
線測定装置に関する。
口 従来の技術 X線吸収端微細構造の測定は試料GこよるX線の吸収を
測定するので、試料に入射する前のX線強度Ioと試料
を透過したX線の強度Iを測定する必要があるが、従来
は試料(二人対する前のX ’13強料なしでX線強度
を測定してIOとし、次に試料を置いて試料透過X線の
強度を測定していた。このため測定には長時間を要した
ハ 発明が解決しようとする問題点 本発明は、試料入射前のX線強度Ioと試料透過X線の
強度を同時に測ることができるX線測定装置を提供しよ
うとするものである。
二 問題点解決のための手段 X線検出用計数管の前後両側面に夫々X線透過窓を設け
てX線が貫通透過できるようQこし、このようなX線検
出器を試料の前面に配置し、試料の後側を二もX線検出
器を配置した。
ホ 作用 計数管の前後両側面にX線透過窓を設けてX線が透過で
きるようにしjこので、このような検出器をX線の進路
上に配置すれは同時※こ同れのX線検出器でもX線強度
が測定でき、従って試料入射前のX線強度IOと試料透
過後のX線強度■が同時に計られる。
へ 実旌例 票1図は本発明の一実施例を示す。1〜4はX線検出用
計数管で、5が試料であり、6は計数管1〜4を保持し
ている検出装置本体であり、図外のX線分光器から出射
する単色X線が左方の窓8から入射するようになってい
る。計数管1〜4は全部同じ型の計数管である。これら
の計数管において、9は管壁であり、7は芯線である。
管壁9には何れも前後両側面夫々X線透過窓10.10
’が設けてあり、これらの窓がX線の進路上に一直線Q
こ並べられている。試料5は計数管1と2とのX線強度
Ioを測定する計数管であり、計数管2゜3.4の三個
は試料透過X線の強度■を測定するもので、三個の計数
管の夫々の計数値を合計したものが透過X線強度Iであ
る。試料の後方に同型の3個の計数管2. 3. 4を
並へて配置するのは、計数管は一回計数動作を行うと、
その後一定時間は次のX線光子が飛込ルでも応答できな
い不感時間があり、この時間を短か(するには管内ガス
圧を低(印加電圧を高くする必要があるが、このように
すると同じX線強度に対して計数率が低くなるので、こ
の実施例では試料透過X線の強度を測定するのに三個の
計数管を用いて、それらの出力を合算することにより、
X線強度の広い範囲で感度良く測定ができるようにして
いるのである〇ト 効果 本発明によれば、X線の吸収を測定するに当って、試料
入射前のX線強度と試料透過後のX線の強度とが同時に
測定できるので、X線吸収の測定所要時間が大幅に短・
縮できる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例装置の平面図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)前後両側面にX線透過窓を設けた計数管を試料の
    前側に配置すると共に、試料の後側にX線検出手段を配
    置し、上記計数管を透過したX線が試料を透過して上記
    X線検出手段に入射するようにしたことを特徴とするX
    線測定装置。
JP60291757A 1985-12-23 1985-12-23 X線測定装置 Pending JPS62167449A (ja)

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JP60291757A JPS62167449A (ja) 1985-12-23 1985-12-23 X線測定装置

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JPS62167449A true JPS62167449A (ja) 1987-07-23

Family

ID=17773024

Family Applications (1)

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JP60291757A Pending JPS62167449A (ja) 1985-12-23 1985-12-23 X線測定装置

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JP (1) JPS62167449A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008241313A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Fujitsu Ltd X線吸収分析用検出器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008241313A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Fujitsu Ltd X線吸収分析用検出器

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