JPH01246504A - 保護膜付き銅ミラー - Google Patents
保護膜付き銅ミラーInfo
- Publication number
- JPH01246504A JPH01246504A JP63073151A JP7315188A JPH01246504A JP H01246504 A JPH01246504 A JP H01246504A JP 63073151 A JP63073151 A JP 63073151A JP 7315188 A JP7315188 A JP 7315188A JP H01246504 A JPH01246504 A JP H01246504A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- copper
- protective film
- copper mirror
- mirror
- zinc selenide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、保護膜付き銅ミラーに関するものであり、特
には表面の傷つき及び酸化を防止する為セレン化亜鉛保
護膜を表面に被覆したことを特徴とする保護膜付き銅ミ
ラーに関する。本保護膜付き銅ミラーは、CO□レーザ
ー、半導体レーザーその他のレーザー加工機においてレ
ーザー光の反射、絞り等に好適に用いられる0本発明は
特に、近時注目を浴びている高純度(例えば6N等級)
鋼材を用いる銅ミラー用に最適である。
には表面の傷つき及び酸化を防止する為セレン化亜鉛保
護膜を表面に被覆したことを特徴とする保護膜付き銅ミ
ラーに関する。本保護膜付き銅ミラーは、CO□レーザ
ー、半導体レーザーその他のレーザー加工機においてレ
ーザー光の反射、絞り等に好適に用いられる0本発明は
特に、近時注目を浴びている高純度(例えば6N等級)
鋼材を用いる銅ミラー用に最適である。
1匪り亘1
光学装置においては、光ビームを目標とする方向に伝旙
するために反射鏡としてのミラーが用いられていること
は周知の通りである。例えば、代表例として、最近では
IKW以上の出力を持つ炭酸ガス(Co□)レーザー加
工機が開発され、熱処理、切断、溶接、精密加工等の分
野に広く使用されている。また、近時、短波長レーザー
への関心がとみに高まっており、レーザー光の単色性、
指向性、干渉性、エネルギー集中性1.及び輝度性とい
った固有の特徴を生かすべく多方面に応用が広まりつつ
ある。こうしたレーザー加工機には、レーザービームの
伝旙用外部反射鏡としてまた共振器用内部鏡としてミラ
ーが使用されている。こうしたレーザー加工機に代表さ
れる高出力光学装置においては、メンテナンスを容易に
して光学装置の連続運転を向上せしめるためには、耐久
性のあるミラーが不可欠である。
するために反射鏡としてのミラーが用いられていること
は周知の通りである。例えば、代表例として、最近では
IKW以上の出力を持つ炭酸ガス(Co□)レーザー加
工機が開発され、熱処理、切断、溶接、精密加工等の分
野に広く使用されている。また、近時、短波長レーザー
への関心がとみに高まっており、レーザー光の単色性、
指向性、干渉性、エネルギー集中性1.及び輝度性とい
った固有の特徴を生かすべく多方面に応用が広まりつつ
ある。こうしたレーザー加工機には、レーザービームの
伝旙用外部反射鏡としてまた共振器用内部鏡としてミラ
ーが使用されている。こうしたレーザー加工機に代表さ
れる高出力光学装置においては、メンテナンスを容易に
して光学装置の連続運転を向上せしめるためには、耐久
性のあるミラーが不可欠である。
レーザー用ミラーの素材の一つとして銅が広く用いられ
るようになっている。
るようになっている。
藍來弦斐
こうした銅ミラーは、理論反射率が高くしかも廉価であ
る等の長所がある反面、柔らかいため表面が傷つきやこ
と及び化学的に不安定で酸化され易いことといった欠点
を呈する。
る等の長所がある反面、柔らかいため表面が傷つきやこ
と及び化学的に不安定で酸化され易いことといった欠点
を呈する。
このような欠点を解決する為に、従来から銅ミラーの表
面にThF4等の誘電体保護膜を施すことが提唱されて
きた。しかし、ThF、は、放射性物質であり、我国を
含め国際的に国際規制物質として取扱に大きな制約を受
ける。更には、ThF4は高純度のものが入手しにくく
、吸収の多い保護膜しか生成しえない。
面にThF4等の誘電体保護膜を施すことが提唱されて
きた。しかし、ThF、は、放射性物質であり、我国を
含め国際的に国際規制物質として取扱に大きな制約を受
ける。更には、ThF4は高純度のものが入手しにくく
、吸収の多い保護膜しか生成しえない。
このように保護膜として適当な材料が見出されていない
という理由の為、銅ミラーは保護膜を付けないそのまま
の状態でやむをえず使用されてきたのが実情であった。
という理由の為、銅ミラーは保護膜を付けないそのまま
の状態でやむをえず使用されてきたのが実情であった。
口が7゛シようとする課題
しかし、前述したように、その表面の傷つき及び酸化等
により反射率が低下し、使用寿命が短い点が、レーザー
加工機の普及と共に看過しえない問題となってきた。特
に、性能向上の為に高純度(例えば6N以上の等級)鋼
材を用いる銅ミラー出現に伴なって、この問題は一層重
大となっている。
により反射率が低下し、使用寿命が短い点が、レーザー
加工機の普及と共に看過しえない問題となってきた。特
に、性能向上の為に高純度(例えば6N以上の等級)鋼
材を用いる銅ミラー出現に伴なって、この問題は一層重
大となっている。
本発明の目的は、こうした銅ミラー用に好適な保護膜を
見出すことにある。
見出すことにある。
l匪ユ旦1
銅の保護膜用材料としては、次の条件を満足する必要が
ある: ■)レーザー光、特に炭酸ガス(CO2)レーザーの波
長10.6μmで吸収が少ないこと、2)硬質であるこ
と、及び 3)空気中で安定なこと。
ある: ■)レーザー光、特に炭酸ガス(CO2)レーザーの波
長10.6μmで吸収が少ないこと、2)硬質であるこ
と、及び 3)空気中で安定なこと。
1)は、保護膜を付けることで銅本来の「反射率が高い
」と云う最大の長所が失われてはならないことを意味し
、2)及び3)は、保護膜として必要な物性である。そ
の他、次のような事項も考慮されねばならない: 4)銅ミラー基板との付着強度が高いこと、5)保護膜
の作製が容易であること、及び6)膜材料に毒性等の危
険のないこと。
」と云う最大の長所が失われてはならないことを意味し
、2)及び3)は、保護膜として必要な物性である。そ
の他、次のような事項も考慮されねばならない: 4)銅ミラー基板との付着強度が高いこと、5)保護膜
の作製が容易であること、及び6)膜材料に毒性等の危
険のないこと。
本発明者等は、検討を重ねた結果、セレン化亜鉛(Zn
Se)が最適であることを見出すに至った。この知見に
基すいて、本発明は、セレン化亜鉛保護膜を表面に被覆
したことを特徴とする保護膜付き銅ミラーを提供する。
Se)が最適であることを見出すに至った。この知見に
基すいて、本発明は、セレン化亜鉛保護膜を表面に被覆
したことを特徴とする保護膜付き銅ミラーを提供する。
1辺肢l
セレン化亜鉛は、InGaAIP系或いはInGaAs
P系半導体レーザーの端面保護膜として使用する提案は
ある。また、セレン化亜鉛は、透明光学部品の素材とし
ても使用されている。しかし、セレン化亜鉛を銅ミラー
用保護膜として実用化した例はなく、銅ミラーとの適合
性はこれまで知られていなかった。
P系半導体レーザーの端面保護膜として使用する提案は
ある。また、セレン化亜鉛は、透明光学部品の素材とし
ても使用されている。しかし、セレン化亜鉛を銅ミラー
用保護膜として実用化した例はなく、銅ミラーとの適合
性はこれまで知られていなかった。
1訓しγ区丼」U夏用
セレン化亜鉛は、上述した1)〜6)の諸条件を最適に
満たす材料である。即ち、■)に関しては、特にCO2
レーザ:光吸収が他の物質(例えばThF、)と比較し
て少なく、2)及び3)も充分に満足する。4)につい
ては、その形成条件を適正に選定することにより満足し
得る保護膜が生成しうることが判明した。次に、5)に
関しても、真空蒸着法が適用出来、作製は容易に実施出
来る。6)についても、例えばThF、と較べて危険性
は非常に少なく、取扱いも容易である。
満たす材料である。即ち、■)に関しては、特にCO2
レーザ:光吸収が他の物質(例えばThF、)と比較し
て少なく、2)及び3)も充分に満足する。4)につい
ては、その形成条件を適正に選定することにより満足し
得る保護膜が生成しうることが判明した。次に、5)に
関しても、真空蒸着法が適用出来、作製は容易に実施出
来る。6)についても、例えばThF、と較べて危険性
は非常に少なく、取扱いも容易である。
銅ミラーは、銅単結晶乃至多結晶を用いて、その表面を
超精密ダイヤモンド切削することにより作製される。こ
れは従来からの方法によれば良いので、説明は省略する
。
超精密ダイヤモンド切削することにより作製される。こ
れは従来からの方法によれば良いので、説明は省略する
。
本発明の保護膜付き銅ミラーは、セレン化亜鉛を銅ミラ
ー基板に例えば真空蒸着することにより容易に生成しつ
る。但し、スパッタリングその他の方法の使用も妨げな
い。
ー基板に例えば真空蒸着することにより容易に生成しつ
る。但し、スパッタリングその他の方法の使用も妨げな
い。
第1図は、本発明銅ミラー製造のための蒸着装置例を示
す。第1図において、真空度10−5torr以下のチ
ャンバー1内に銅ミラー基板2を複数個支持するドーム
3が蒸着源(Zn5e) 5と対峙して匠かれている。
す。第1図において、真空度10−5torr以下のチ
ャンバー1内に銅ミラー基板2を複数個支持するドーム
3が蒸着源(Zn5e) 5と対峙して匠かれている。
ドーム3の背後にはヒータ4が設置されている。
蒸着法については、酸化を防止する為に、真空度は10
−5torr以下とされ、蒸着源5の加熱方法としては
EB(電子ビーム)加熱方式でも抵抗加熱方式でも良い
。蒸着源としてはZn5eのバルク或いは粉末を用いる
ことができる。
−5torr以下とされ、蒸着源5の加熱方法としては
EB(電子ビーム)加熱方式でも抵抗加熱方式でも良い
。蒸着源としてはZn5eのバルク或いは粉末を用いる
ことができる。
保護膜の膜厚は、薄すぎると保護膜としての機能を果た
さず、他方厚すぎると吸収が多くなることから一般に1
000〜10000人とされる。
さず、他方厚すぎると吸収が多くなることから一般に1
000〜10000人とされる。
銅ミラー基板は、膜厚を均一にする為に、ホルダーに取
り付け、ホルダーごと回転させることが好ましい。基板
は、付着強度を上げる為に例えば50〜150’Cに加
熱するのが良い。但し、温度を上げすぎると銅とZn5
eが反応し、反射率が低下するので注意を要する。
り付け、ホルダーごと回転させることが好ましい。基板
は、付着強度を上げる為に例えば50〜150’Cに加
熱するのが良い。但し、温度を上げすぎると銅とZn5
eが反応し、反射率が低下するので注意を要する。
このようにして銅ミラーに蒸着したZn5e保護膜は、
銅本来の反射率を下げることなく傷付き及び酸化を防ぐ
という目的を果たす。従って、本発明銅ミラーは、レー
ザー加工機において好適に用いられる。
銅本来の反射率を下げることなく傷付き及び酸化を防ぐ
という目的を果たす。従って、本発明銅ミラーは、レー
ザー加工機において好適に用いられる。
夫里」じC」傾校眉
第1図に示したような蒸着装置を用い、以下の条件で通
常的な銅ミラーにZn5e保護膜を蒸着した。
常的な銅ミラーにZn5e保護膜を蒸着した。
・銅ミラー基板 無酸素銅多結晶、1.51nchφ6
mmt ・蒸着方法 EB加熱 ・真空度 2 X 10−’torr・基板温度
80℃ ・蒸着膜厚 2000人 ・蒸着速度 15人/5ec ZnSe保護膜を蒸着した銅ミラーと、保護膜なしの銅
ミラーの特性の比較を表1に示す。また第2図には、相
対反射率の赤外分光特性のチャートを示す。尚、相対反
射率とは、蒸着前の銅ミラーの反射率を100.0%と
し、赤外分光光度計で測定したものである。
mmt ・蒸着方法 EB加熱 ・真空度 2 X 10−’torr・基板温度
80℃ ・蒸着膜厚 2000人 ・蒸着速度 15人/5ec ZnSe保護膜を蒸着した銅ミラーと、保護膜なしの銅
ミラーの特性の比較を表1に示す。また第2図には、相
対反射率の赤外分光特性のチャートを示す。尚、相対反
射率とは、蒸着前の銅ミラーの反射率を100.0%と
し、赤外分光光度計で測定したものである。
以上の条件で銅ミラーに蒸着したZn5e保護膜は、表
1に示したように、銅本来の反射率を下げることなく傷
付き及び酸化を防ぐという所期の目的を果たした。
1に示したように、銅本来の反射率を下げることなく傷
付き及び酸化を防ぐという所期の目的を果たした。
すなわち、反射率については、短波長側では若干の低下
が見られるものの、問題とするCO2レーザーの発振波
長10.6μでは銅ミラー本来の反射率と殆ど同じ値を
示した。
が見られるものの、問題とするCO2レーザーの発振波
長10.6μでは銅ミラー本来の反射率と殆ど同じ値を
示した。
また、硬さに関しては、マイクロビッカースで測定した
ところ、Zn5e保護膜付き銅ミラーの硬度は保護膜の
無い銅ミラーの値を上回った。
ところ、Zn5e保護膜付き銅ミラーの硬度は保護膜の
無い銅ミラーの値を上回った。
ベンコツトによる拭き取り試験では、保護膜の無い銅ミ
ラーの場合には容易に表面に傷が付いたが、保護膜付き
ミラーでは傷が付かなかった。
ラーの場合には容易に表面に傷が付いたが、保護膜付き
ミラーでは傷が付かなかった。
環境試験(温度23℃、湿度99%以上、1日放置)で
も、保護膜の無い銅ミラーの場合は反射率の低下が見ら
れたが保護膜付きミラーは反射率に変化はなかった。
も、保護膜の無い銅ミラーの場合は反射率の低下が見ら
れたが保護膜付きミラーは反射率に変化はなかった。
付着強度に関しては、ビニールテープを使ったビーリン
グテストを行なった結果、Zn5e蒸着膜は、銅ミラー
基板から剥離しなかった。
グテストを行なった結果、Zn5e蒸着膜は、銅ミラー
基板から剥離しなかった。
l豆少力J
以上説明したように、銅ミラーをZn5e保護膜を蒸着
することのより、銅ミラーが、その固有の、傷付きやす
い、酸化しやすいという問題点がなくなり、反射率が高
い、比較的安価であるという本来の長所を生かしつつ、
従来使用が難しかった外部ミラー等にも用いることがで
きるようになった。本ミラーは、レーザー装置の一層の
普及に貢献する。
することのより、銅ミラーが、その固有の、傷付きやす
い、酸化しやすいという問題点がなくなり、反射率が高
い、比較的安価であるという本来の長所を生かしつつ、
従来使用が難しかった外部ミラー等にも用いることがで
きるようになった。本ミラーは、レーザー装置の一層の
普及に貢献する。
第1図は、銅ミラーに基板Zn5e(ffliJ!膜を
蒸着する為の真空蒸着装置例の概略図である。 第2図は、Zn5e保護膜付き銅ミラーの相対反射率の
赤外分光特性を示すグラフである。 1、 チャンバー 2・ 銅ミラー基板 3: ドーム 4・ ヒーター 5、 蒸着源(ZnSe) 寸 苛裟d尊珪〆
蒸着する為の真空蒸着装置例の概略図である。 第2図は、Zn5e保護膜付き銅ミラーの相対反射率の
赤外分光特性を示すグラフである。 1、 チャンバー 2・ 銅ミラー基板 3: ドーム 4・ ヒーター 5、 蒸着源(ZnSe) 寸 苛裟d尊珪〆
Claims (1)
- 1)セレン化亜鉛保護膜を表面に被覆したことを特徴と
する保護膜付き銅ミラー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63073151A JPH01246504A (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 保護膜付き銅ミラー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63073151A JPH01246504A (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 保護膜付き銅ミラー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01246504A true JPH01246504A (ja) | 1989-10-02 |
Family
ID=13509895
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63073151A Pending JPH01246504A (ja) | 1988-03-29 | 1988-03-29 | 保護膜付き銅ミラー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01246504A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5219691A (en) * | 1989-09-25 | 1993-06-15 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor and process for producing the same |
-
1988
- 1988-03-29 JP JP63073151A patent/JPH01246504A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5219691A (en) * | 1989-09-25 | 1993-06-15 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor and process for producing the same |
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