JPH01249692A - 分子線エピタキシー装置 - Google Patents
分子線エピタキシー装置Info
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- JPH01249692A JPH01249692A JP63077798A JP7779888A JPH01249692A JP H01249692 A JPH01249692 A JP H01249692A JP 63077798 A JP63077798 A JP 63077798A JP 7779888 A JP7779888 A JP 7779888A JP H01249692 A JPH01249692 A JP H01249692A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【産業上の利用分!l!i′]
この発明は、分子綿エピク・1−シ一装置に関し、詳し
くは、装置の簡略化、および■族成長H才1の効率的使
用を達成したものに関する。 【従来の技術】 m −−v族化合物半導体の製造過程におい″C単結晶
基板上にl1l−V族元素をエピクー1−シャル成長さ
せる手法としで、分子線エビター1−シー法が?l r
lされ°(いる。これは、真空蒸ri法の一種であり、
ガリウノ、G+i、アルミュウノ、Δ1、インジウノ、
In、などo)n+族元素、および、ひ素As、すip
などのV族元素を成長月料として、IQ torrの
超高真空の中でこれらを原子または分子線の形で照射し
てG、lAsあるいは■nPなどの単結晶載板1−にG
a As 、At G、】八s、lnr’あるいはIn
G:i l’なとのTl1−V族化合物主導イ木4i
!j品をエピクー1ンヤル)戊1..さ−Uる力l去C
ある。このよう41′分子#+l!エピクー1−シー法
に、1、ろと、0)超高真空中ごの茄7□ごあるため、
残留カスからの不純物の混入がJI゛當に少7.(<−
基(1(表面をil’i’浄に保つことができる、■大
面Ji’iにわたり、均 ごかつ原子し・・・ル゛(平
坦なj模を4(する、二とかできる、■茶若速度を11
常に遅くすることかごさ、しかも正4′n]に制御でき
るため、厚j1りを数人というii’lj;i ”i’
−ルjのオーダて高精度に制御することかできる、■多
成分系の混晶膜も)゛に発源を噌や−JだGノ゛(容易
に1ijられる、■結晶成長、1N中に成Jj: IN
表jTij、あ?、いは分子線から成長条件についての
さ:1、ざまな11′饅μを11するごとかてき、そl
′1.を直4)に成]5.−制御にソイードハノクする
ことかできる、なとの利点をコニ5受することができる
。 後jホする本願発明のI!I! f44’を容易にする
ため、1:記のような分子11fエピター1−シー法を
行う分子線上ビター)−シ一装置の概要を第2図に示−
4概111:i J11!成図によって説明する。 超、1′、(空ポンプIにつなかろ成jこ?;・2の中
央にε、1、!、(扱ボルタ3か配置され、これは、〕
、(板トの結晶;氏上Qを一1毛)、5′L)ノとJ−
4タメニ1!、”回’j: −(: 3 Zr A、う
になっ−(いる。El、た、この占(板ボルダ3に保J
1されろ!、(板を所望の1M1度にy11温するため
のヒータがイ・1設されている。そして、成J1.1.
室2の一側には、−1−記基板ポルク(3に向υ″(開
[−」するルツボ4に各成長祠t′−1を充填してなる
蝮数個の蓄光d+、t t)・・・か配置される。ごの
蒸発源5 ・もまた、温度センリによる検出温風にコ、
(づいて制御されるヒータにより、所望の温度にy昌1
11.されろようになっζいる。なお各蒸発源5は、名
Y発源が互いに執)影響やンク染の影響を受iJんいよ
・うに、液体窒素シュラウF [iて囲71これどいる
。結晶成長の開始および(’r’ 1m II、各Jl
パンポ4の開1−1の前面に配置されたシャック7・を
開閉ずろことに3F′、り行われる。 たとえば、Ga As Ii’4;を晶j、L’ t&
、、l−にGa八へ IN〕を成長さ−けるにし、1
、Gaか充填された蒸発源およびAsか充1i(された
プに発源5を所定の温度に力11熱するとともに)、(
板ボルダ3の’/に!4度を適当な温度に設定しつ・′
、)、−1−記の各赤光/J!、’t 5のシャ、り7
を所定II冒;jl lj4状態とする。な衿、Δ1を
−titに蒸発さ一已るとG+ly:AI、−%Δ5I
F7が成長−づる。ごのときGaと八1の蒸発j、l
o)比を制J:Ill t’れば、A11l成Xが制御
できる。:I、た、成長層をr)形にするには、Sl、
Snなどを同It;、に裁発さ−1.p形に−jる乙こ
は、])(・、M I: i、(とをし胃発さ一已る必
要がある。
くは、装置の簡略化、および■族成長H才1の効率的使
用を達成したものに関する。 【従来の技術】 m −−v族化合物半導体の製造過程におい″C単結晶
基板上にl1l−V族元素をエピクー1−シャル成長さ
せる手法としで、分子線エビター1−シー法が?l r
lされ°(いる。これは、真空蒸ri法の一種であり、
ガリウノ、G+i、アルミュウノ、Δ1、インジウノ、
In、などo)n+族元素、および、ひ素As、すip
などのV族元素を成長月料として、IQ torrの
超高真空の中でこれらを原子または分子線の形で照射し
てG、lAsあるいは■nPなどの単結晶載板1−にG
a As 、At G、】八s、lnr’あるいはIn
G:i l’なとのTl1−V族化合物主導イ木4i
!j品をエピクー1ンヤル)戊1..さ−Uる力l去C
ある。このよう41′分子#+l!エピクー1−シー法
に、1、ろと、0)超高真空中ごの茄7□ごあるため、
残留カスからの不純物の混入がJI゛當に少7.(<−
基(1(表面をil’i’浄に保つことができる、■大
面Ji’iにわたり、均 ごかつ原子し・・・ル゛(平
坦なj模を4(する、二とかできる、■茶若速度を11
常に遅くすることかごさ、しかも正4′n]に制御でき
るため、厚j1りを数人というii’lj;i ”i’
−ルjのオーダて高精度に制御することかできる、■多
成分系の混晶膜も)゛に発源を噌や−JだGノ゛(容易
に1ijられる、■結晶成長、1N中に成Jj: IN
表jTij、あ?、いは分子線から成長条件についての
さ:1、ざまな11′饅μを11するごとかてき、そl
′1.を直4)に成]5.−制御にソイードハノクする
ことかできる、なとの利点をコニ5受することができる
。 後jホする本願発明のI!I! f44’を容易にする
ため、1:記のような分子11fエピター1−シー法を
行う分子線上ビター)−シ一装置の概要を第2図に示−
4概111:i J11!成図によって説明する。 超、1′、(空ポンプIにつなかろ成jこ?;・2の中
央にε、1、!、(扱ボルタ3か配置され、これは、〕
、(板トの結晶;氏上Qを一1毛)、5′L)ノとJ−
4タメニ1!、”回’j: −(: 3 Zr A、う
になっ−(いる。El、た、この占(板ボルダ3に保J
1されろ!、(板を所望の1M1度にy11温するため
のヒータがイ・1設されている。そして、成J1.1.
室2の一側には、−1−記基板ポルク(3に向υ″(開
[−」するルツボ4に各成長祠t′−1を充填してなる
蝮数個の蓄光d+、t t)・・・か配置される。ごの
蒸発源5 ・もまた、温度センリによる検出温風にコ、
(づいて制御されるヒータにより、所望の温度にy昌1
11.されろようになっζいる。なお各蒸発源5は、名
Y発源が互いに執)影響やンク染の影響を受iJんいよ
・うに、液体窒素シュラウF [iて囲71これどいる
。結晶成長の開始および(’r’ 1m II、各Jl
パンポ4の開1−1の前面に配置されたシャック7・を
開閉ずろことに3F′、り行われる。 たとえば、Ga As Ii’4;を晶j、L’ t&
、、l−にGa八へ IN〕を成長さ−けるにし、1
、Gaか充填された蒸発源およびAsか充1i(された
プに発源5を所定の温度に力11熱するとともに)、(
板ボルダ3の’/に!4度を適当な温度に設定しつ・′
、)、−1−記の各赤光/J!、’t 5のシャ、り7
を所定II冒;jl lj4状態とする。な衿、Δ1を
−titに蒸発さ一已るとG+ly:AI、−%Δ5I
F7が成長−づる。ごのときGaと八1の蒸発j、l
o)比を制J:Ill t’れば、A11l成Xが制御
できる。:I、た、成長層をr)形にするには、Sl、
Snなどを同It;、に裁発さ−1.p形に−jる乙こ
は、])(・、M I: i、(とをし胃発さ一已る必
要がある。
【発明か循″決し、1、・)とjる課題】従来のこの神
の分子−線エビター1シ一装置において番」、第2図に
も示されている。J、うに、あるいは、特開昭62−6
2512υ−公(ドお、1、Q・勃開昭61−−−53
7 ] 6号公+旧こ示されζいろ3Jうに、Ill族
元素とV族元素とにかかわらず、ず・\ての元素を成長
4,1石とAる蒸発源5・・・がノ1(机ボルク3から
ム5[ぼ等距離のイ装置に配置され、か・′−〕、4へ
−この蒸発源5につき、分子線を)ゲb蔽および開放す
るシャッタ7が設6ノられ゛(いる。このような41M
成に、]、イ)と、回転ツヤ、夕をず・\ての苅発源に
対して4N]設させる都合ト、最も消費量の多いしj/
、; A 、Hなどの■族元素のための茎発諒の大きさ
に限界かあり、+411ノj命が短くなり、ぞのれ11
果として装置の&fryti11転回間か短くな転回−
う問題かある。 とごろで、II族元素に夕、1する族元素の仁]箔係数
は、基板1−のIll族元兎の存在に、」、っ−(決定
されることが知られい−(る。たとえば、〔;J1ΔS
基板−1へ0)Asのイ・J’ ”s’i 4i数ε」
、Gaあるいは八1が存在すれば1てあり、存在しなり
ればOである。従来の装置において■族元素用の茶発源
がII族元素用の蒸発源と同様に基板ホルダから所定距
離躍れた位置に配置され−Cいるのは、基板面・\の■
族元素のイ;j着の均一性を慮ったものであると考えら
れるが、これG、j、上記のようなV族元素の?−1着
係数を考えた場合妥当とはいいデI(い。■族元素の基
板への41.iYlは、llt族元素の(=J着によっ
て決定されるのであり、III族元素が基41M+に均
一に(=19ずれは、V族元素もそれにしたがっ゛(均
一にイス1着するからである。 また、liホの。l、うに■族元素は基板十にIll族
元素か存在するごとによってはしめてイ(1着すること
、お、l、び、装置運転中のV族元素の温度ε;I:
300゜0程度と他の苛発源の温度に比して低1M、で
あり、この温度制御に、Lろ薄光の開始および停止トが
比較的容易であること、なとから、従来の装置に4ンい
て■族元素の蒸発源にも設りられているシートツクは絶
対必須のものであるとはいえない。 この発明ε:l、−1−述の知見のもとで従来の分子線
エピタキシ一装置に、1′iJる問題を一ノドに解消し
、装置の簡略化および材料ツJ命の延長を同l、冒こ達
成するごとをその日r自とする。
の分子−線エビター1シ一装置において番」、第2図に
も示されている。J、うに、あるいは、特開昭62−6
2512υ−公(ドお、1、Q・勃開昭61−−−53
7 ] 6号公+旧こ示されζいろ3Jうに、Ill族
元素とV族元素とにかかわらず、ず・\ての元素を成長
4,1石とAる蒸発源5・・・がノ1(机ボルク3から
ム5[ぼ等距離のイ装置に配置され、か・′−〕、4へ
−この蒸発源5につき、分子線を)ゲb蔽および開放す
るシャッタ7が設6ノられ゛(いる。このような41M
成に、]、イ)と、回転ツヤ、夕をず・\ての苅発源に
対して4N]設させる都合ト、最も消費量の多いしj/
、; A 、Hなどの■族元素のための茎発諒の大きさ
に限界かあり、+411ノj命が短くなり、ぞのれ11
果として装置の&fryti11転回間か短くな転回−
う問題かある。 とごろで、II族元素に夕、1する族元素の仁]箔係数
は、基板1−のIll族元兎の存在に、」、っ−(決定
されることが知られい−(る。たとえば、〔;J1ΔS
基板−1へ0)Asのイ・J’ ”s’i 4i数ε」
、Gaあるいは八1が存在すれば1てあり、存在しなり
ればOである。従来の装置において■族元素用の茶発源
がII族元素用の蒸発源と同様に基板ホルダから所定距
離躍れた位置に配置され−Cいるのは、基板面・\の■
族元素のイ;j着の均一性を慮ったものであると考えら
れるが、これG、j、上記のようなV族元素の?−1着
係数を考えた場合妥当とはいいデI(い。■族元素の基
板への41.iYlは、llt族元素の(=J着によっ
て決定されるのであり、III族元素が基41M+に均
一に(=19ずれは、V族元素もそれにしたがっ゛(均
一にイス1着するからである。 また、liホの。l、うに■族元素は基板十にIll族
元素か存在するごとによってはしめてイ(1着すること
、お、l、び、装置運転中のV族元素の温度ε;I:
300゜0程度と他の苛発源の温度に比して低1M、で
あり、この温度制御に、Lろ薄光の開始および停止トが
比較的容易であること、なとから、従来の装置に4ンい
て■族元素の蒸発源にも設りられているシートツクは絶
対必須のものであるとはいえない。 この発明ε:l、−1−述の知見のもとで従来の分子線
エピタキシ一装置に、1′iJる問題を一ノドに解消し
、装置の簡略化および材料ツJ命の延長を同l、冒こ達
成するごとをその日r自とする。
従来の課題を解決するため、この発明’C3ll、次の
技術的手段を514シている。 ずなわら、本願の請求項1に記載した発明に1、超高真
空ポンプにつながる成長室と、この成JJ6室の内部に
配置した基板ホルダと、成Jコ室の一側におい−(軸線
が一上記基板ホルダを向< (1゛つに配置された複数
個の蒸発源とを倫える分子線エピク・1−シ一装置にお
いて、−1−記蒸発源のうり、■族元J、を成長)A料
とする蒸発源(以下、■族茎発i1j;iという。 )を他の蒸発1g(に比し゛(2□(板ボルダにi!L
接し2だイ装置に配置するとともに、このV族蓄光源以
夕+の各ブに発i14:(の開I」の遮蔽および開放を
行うシャッタを設りたごとを’IJl徴とする。 そして、本願の請求項2に記載した発明番、」、−1−
記請求x(i 2に記載した分子線エピクー1−シ一装
置において、■族仄発Δ≦(を、成長室におLJ2+基
板ホルダと正面対向ずろ位:?、’j’、に配置itす
るとともに、他の蒸発源を、はぼ、1−記■族蒸発源の
軸線を中心とする環状に配置したごとを4.1.徴とす
る。
技術的手段を514シている。 ずなわら、本願の請求項1に記載した発明に1、超高真
空ポンプにつながる成長室と、この成JJ6室の内部に
配置した基板ホルダと、成Jコ室の一側におい−(軸線
が一上記基板ホルダを向< (1゛つに配置された複数
個の蒸発源とを倫える分子線エピク・1−シ一装置にお
いて、−1−記蒸発源のうり、■族元J、を成長)A料
とする蒸発源(以下、■族茎発i1j;iという。 )を他の蒸発1g(に比し゛(2□(板ボルダにi!L
接し2だイ装置に配置するとともに、このV族蓄光源以
夕+の各ブに発i14:(の開I」の遮蔽および開放を
行うシャッタを設りたごとを’IJl徴とする。 そして、本願の請求項2に記載した発明番、」、−1−
記請求x(i 2に記載した分子線エピクー1−シ一装
置において、■族仄発Δ≦(を、成長室におLJ2+基
板ホルダと正面対向ずろ位:?、’j’、に配置itす
るとともに、他の蒸発源を、はぼ、1−記■族蒸発源の
軸線を中心とする環状に配置したごとを4.1.徴とす
る。
【作用]
本願の発明においては、基本的に、軸”KtJ!が成長
イユ内部の基板、jクルダを向くように配j?l:され
る複数個の蒸発源の・)も、V族茎発源を他の蒸発汎1
に比してより基板ボルダに近接するように配置すると3
ともに、ごの■族衆発源のシャ、夕を廃止L7でいる。 V族元素番、11..11(板I−(ごIII族元素か
イ・l’2iシ“(Iffシめζ、これに(・1着する
から、■族元素の(−1着は、III族元素の茂発源に
、1、る成」この開始および停止にしたがう。、−札に
より、族24<発源のツヤツクを省I昭し7ても、Il
l族元本の奈発源からの分子線照fl・Iがそれらに(
=1設されるツヤツクによって制御されるかぎり、ノ1
11:(S、1−に/jlll171′A′ノ、I、1
体を成]Qさ−lる1−ご仝く不111;合はない。 ま人云さらに、二の発明’(1;l、\th5、プi(
発i++:jが他の蒸発源に比U7て〕、(44,’v
ボルダに、l!L1’i< (−zて配jj:’j’、
され“Cいるので、多くの剰余の分子綿か成f< ”ニ
ーにjll旧交9るごとか4f<、J、ダかはふiJる
。 【発明の効果] I−述のように本ト)jlの発明(L;l:、 V h
’>鳶”k発源のツヤツクを廃止しでいるから、J、(
木的に消費bjがilQも多いV族蒸発源を、シャッタ
の+、l、li成を考J、(δすることなく大型化して
その容量を増大さ−Lるごとができ、(Aλ″−1ノj
命の延長と、に置の連続運転11ノ団11の延Jミを図
ることかできる。そしζ、V族ノ丸発源を基(反ボルダ
に近1妄して、没しノ′ているごと力・ら、C4Flの
1、ダかはふLJ、ごのごとも祠1′1ノJ命の延]こ
C1二人き(富−1jする。また、■hムノi、′:発
i11;jのシャッタを省略したことから、装置ξの構
造を[:r1略化′4ろごとかてき、メインテナンスの
頻度および1夕障の発/LIJi瓜かともに低下づろ。 そして、本願の請求項2に記載し7に発明に、;iいて
++、とくに■族75発源を基板ホルダと正面対向する
中心に配置し、他の蒸発源をその周囲に環状に配置する
ことにlfるから、■族蒸発源の大きさを他の7′に発
源の配置が構成する原の中央にいっぽいに拡げることが
でき、成長室の一側内面を有効に利用することができる
。 【実施例の説明] 以下、本願発明の実施例を図面を参照して尺体的に説明
する。 本例の分子線コーピタ4=シ一装置は、縦形の成長室2
をもっているが、分子線エビクキシ一装置としての基本
的構成は第2図の従来例と同等である。 成長室2は、全体として縦形の円筒形をしており、天ノ
1板8にLTi通支1.++された支軸9にG3I、水
平状の!15板ボルダ3を下端にもつ回転ゲージ10の
ボス部11が可回転に支1、)されている。この回転ケ
ージ10は、ボス部11に固定されたギA・12に外部
モータ13の出力軸のピュオン14を噛合させろことに
より、回転制御される。支軸の先ORjには、基板ボル
ダ3の11Nr後に位置するヒータ10か設りられてお
り、これに、1、って基+反ボルグ3にイ呆持された基
板13を加<ノ(シうろ。なお、成IL ′f:・の側
壁内周に1、液体窒素シア。ソウ]15で囲:Vれて“
1.′す、脱ガス時での不純物を吸;i”i−L−て超
高真空をs−++: +、y 4るようにしである。な
お、成長’M2は、しI示U2ない超1[6真空ポンプ
につなげられ(いる。 成長室2の底部は、中央が最4)γ1”んだ略′Jりば
ち状をしており、この部にいくつか0ルア発源5.1゜
5b、5cmが、その軸Xrk zJ 、 b 、
cが1−記基扱ポルダ3の中心を向くようにして配置
されている。 本願発明においてはとくに、ヒ素Asなとの■族元素を
成長材料とする蒸発源5aを、上記基板ホルダ3に対し
てiL’、 iri目こ対向”jる。1、・)Qに、ず
わなら、本例−(厨1、この蒸発源53Iの軸線、」か
縦形用↑、りj形の成長室2の鉛直中心4jl!と 一
致するように配置するとともに、その他の蒸発i1+;
j5b、 5 Fを、1−記V族蒸発源5aの軸線、
」を中心とする円周十に配置する。第1図において6.
1、図の煩賄化を′AUりるため、■族a5QAGl
5 a ヲliン−(7+’J4:z反3Lfj!ll
ニ(H’+置する二つの蓄光源tl 1.’) 、5c
のめを示しであるが、実際C真、1、大小5〜7個の蒸
発源が、各軸4:l!か)1(板ボルタ3の中心を向く
ようにして環状に設しjられている。 さて、上記各蒸発源5 a 、 5 b 、 5
c・・・は、成長室2の底pa+’に1−5:;iを固
定され)こイj底円筒状の容器内に、各成長材オ′、1
が充1色されたルツボ4・・をそれぞれ装置Qi’(L
−(+t7i成される。そして、本願発明Cは、−1
−記■族蒸発源5,1を他の蒸発illより基板ボルダ
3に近づジノ°(配置するのであるが、本例でIIごれ
を、各容器に装置1「1されるルツボ4の輔力向長さを
所定のように設定することで対しa、しζいる。 ずなわら、第1図に人、1″1、ζいろ、)、うに、■
放入発源53」のルツボ4(,1、直径および長さが他
の蒸発源より大きく、とくにルツボ4 (7) 、、、
l一端は、成長室2の底壁からさらC,、:基板ボルダ
3に向りで突出さ−lられ”(いろ。なお、各ルツボ4
・は、ごれか収容される各容器のM部に配置した図に
表れないヒータによって所望のIJA度に加え))され
ろようになっ″(いる。また、各ルツボ4を囲む上記容
器には、液体窒素)Lラウ16・・が一体構成されて打
り、各蒸発源5a、5b、5c・・・か互いに熱影古や
汚染の彫金を受iJないようにしである。 成長室2を超高真空1大態とし、占I、板13お3J、
び各蒸発源5 a、 5 b、 5 c・−・を所
定の/l!!r度”−(5y ’/!!させると、仄発
源5 a、 51)、 5 に・・の成1((A利
が原子あるいは分子線の形で基板表部にあたり、基板十
に結晶が成長するのであるが、この成長の開始および停
止し1、本願発明ごG31、■族ブに発源5・1以外の
蒸発&I5b、5t−・・の開I]をシ中、り7で開閉
することにより行われろ。 シャッタ7は、上記V族プに発源以外の環状配置された
各ノ?発源51)、5(:・・にjバ接ずろ成に室の内
壁において外部からそれぞれ回11・i)可能にλり大
麦1、)された輔7.】の31i過:1.;に、閉位置
において1−記聞に1を渭いうるシャック板7bを固定
し2′(+、、、+7成される。 本例において(,1、上記軸7.」の輔Xr)< pを
、当該シャッタ7が開閉j゛るブI(発jJ+j 5
b、 5ζ、・の軸N)i)匠 Cに対し、蒸発源の
開11からノ□(扱ボルダ3:1:。 ての間におい゛C交;(するよ・)にiQ’iJノ、(
桑1]:すると、] 2 その蒸発源5b、5c・・・側に大きく傾りている。 そ・)シて、この、1、・)6.二軸線βを11.l’
i illた軸7aに対し、閉(j冨市1においで蒸発
源5の開1]を平行に覆いうるように円形のシ、1−ツ
タ板71)を固定するのである。したかっ゛(、輔7,
1に対するンヤノタ板7bの取イ=Jジノ角度は、蒸発
源51)、5Cの軸線1)。 Cと輔7aの軸線pの交差角を直角から差し引いた角度
となる。このようにすると、軸7aを中心とするシャツ
タ板7 t、+の回転1luL跡におい゛(、シャツタ
板7bが第1図に実線で示ず閉位置にあるときが最も茂
発源5J5cないし成J、4室2の内壁に近接し、イれ
以外の回動位置のず・\てにおいて、ンヤソタ板7bが
Y発源の開L1ないし成1(室2の内壁から離れること
となる。 な才?、木イ列にオンいC+Jさらに、シャッタ7のΦ
山7.1を二二分i’l′ll +’ili成とすると
ともに、ごの輔7aを通ず士−タブうゲット16の筒部
をもフランジ17a、+7bどうしの接続によって連結
し・)る分i’ii l’l’j成とし、上記軸7aの
モータ側の第一部分721′とシャツタ板側の第二部分
7 、 TIとを上記フランク17a、I7bを分1i
i11 した状態で成IJ室の外部におい′ζ接続あろ
いG11分1111 L、うる、L)にU7゛(ある。 従来装置にJ、りる凹Φjシ、t・ツタ゛(υ、■、4
11−の回転軸を成長室内に貫通導入し、ご・うして成
1辷室内にλり人された軸の先O:1.jにシャ、り(
jiを取(−1(Jる構造が−・船釣であっノこため、
ソートツタ板のつ51桑n、’、 h、’lにおいては
成JQ室内にヒユーボートから]を入れ、ねし止め作業
等の煩雑なイ1業をする必要があったが、本例で(11
、−1−記の、1、)に軸7.]の接続を実質的に成長
室の外部で行なえるようにU7kから、シャンク板7の
取合1りがJ1常に簡j1′1か一つ友全となる。 第1図から明らかな、j、゛)に、本願発明((,1、
V族74発源5.」のツヤツクを省略したから、シャッ
タの77、i成につい−(”’; 1.51jすること
)C<、それだりこのV族XIS発諒5aの容)l(を
増Jすることが(き、成長+、I !Jlの寿命を延長
することができる。また、■族〕に発#、J iJを他
の蒸発源に比・\て、1、リノ、V +1jボルダ3に
近づりて配置し7ているから、l、ダな分子線が成1【
室内に放11り這ることか’l; < 、効・セカ月Z
(なる。また、ブ、曇11例では、■族基発源5aのま
わりに他の茎発?ll:iを環状に間道1するという4
1へ成をとっているため、成長室2の内壁を有効に利用
し、装置庁一体を」」ンパクトCごまとめることができ
る。 なお、図示例の、4うに縦形の成長室をも・−)装置に
おいて■族藤発i1+;i 5 aを成長室の底部中央
Qこ配置すると、シ1(板同転部等からの塵が直下の■
族蕨発汎(にン客下しCごれをンク召とするという!腎
、念があるが、実際−1x、■放入発源は低温で機能す
るため、たとえ他の元素が入り込んでもほとんと問題む
、1ないのごある。 もらろん、この発明の範囲し、1上iホの実施例に限定
されることシ31ない。たとえば、シ、トノタのJ、−
1体的(I11成等、装置の細部は種々設旧変更iiJ
能である。 ン1:た、実施例(,1、縦形の成長室をもっているが
、成長室を47<、形に構成し7ても差支え41′い。 4、図1f11の節ii’H7,<説明第1図は本願発
明の一実施例を示す縦断面図、第2図は従来例を示す概
略構成図である。 2 成長室、3 ・基板ボルダ、5HI V族元素を成
J’L+A料とする蒸発源、5b、5(・・・(その他
の)蒸発源、7・・シャッタ、
イユ内部の基板、jクルダを向くように配j?l:され
る複数個の蒸発源の・)も、V族茎発源を他の蒸発汎1
に比してより基板ボルダに近接するように配置すると3
ともに、ごの■族衆発源のシャ、夕を廃止L7でいる。 V族元素番、11..11(板I−(ごIII族元素か
イ・l’2iシ“(Iffシめζ、これに(・1着する
から、■族元素の(−1着は、III族元素の茂発源に
、1、る成」この開始および停止にしたがう。、−札に
より、族24<発源のツヤツクを省I昭し7ても、Il
l族元本の奈発源からの分子線照fl・Iがそれらに(
=1設されるツヤツクによって制御されるかぎり、ノ1
11:(S、1−に/jlll171′A′ノ、I、1
体を成]Qさ−lる1−ご仝く不111;合はない。 ま人云さらに、二の発明’(1;l、\th5、プi(
発i++:jが他の蒸発源に比U7て〕、(44,’v
ボルダに、l!L1’i< (−zて配jj:’j’、
され“Cいるので、多くの剰余の分子綿か成f< ”ニ
ーにjll旧交9るごとか4f<、J、ダかはふiJる
。 【発明の効果] I−述のように本ト)jlの発明(L;l:、 V h
’>鳶”k発源のツヤツクを廃止しでいるから、J、(
木的に消費bjがilQも多いV族蒸発源を、シャッタ
の+、l、li成を考J、(δすることなく大型化して
その容量を増大さ−Lるごとができ、(Aλ″−1ノj
命の延長と、に置の連続運転11ノ団11の延Jミを図
ることかできる。そしζ、V族ノ丸発源を基(反ボルダ
に近1妄して、没しノ′ているごと力・ら、C4Flの
1、ダかはふLJ、ごのごとも祠1′1ノJ命の延]こ
C1二人き(富−1jする。また、■hムノi、′:発
i11;jのシャッタを省略したことから、装置ξの構
造を[:r1略化′4ろごとかてき、メインテナンスの
頻度および1夕障の発/LIJi瓜かともに低下づろ。 そして、本願の請求項2に記載し7に発明に、;iいて
++、とくに■族75発源を基板ホルダと正面対向する
中心に配置し、他の蒸発源をその周囲に環状に配置する
ことにlfるから、■族蒸発源の大きさを他の7′に発
源の配置が構成する原の中央にいっぽいに拡げることが
でき、成長室の一側内面を有効に利用することができる
。 【実施例の説明] 以下、本願発明の実施例を図面を参照して尺体的に説明
する。 本例の分子線コーピタ4=シ一装置は、縦形の成長室2
をもっているが、分子線エビクキシ一装置としての基本
的構成は第2図の従来例と同等である。 成長室2は、全体として縦形の円筒形をしており、天ノ
1板8にLTi通支1.++された支軸9にG3I、水
平状の!15板ボルダ3を下端にもつ回転ゲージ10の
ボス部11が可回転に支1、)されている。この回転ケ
ージ10は、ボス部11に固定されたギA・12に外部
モータ13の出力軸のピュオン14を噛合させろことに
より、回転制御される。支軸の先ORjには、基板ボル
ダ3の11Nr後に位置するヒータ10か設りられてお
り、これに、1、って基+反ボルグ3にイ呆持された基
板13を加<ノ(シうろ。なお、成IL ′f:・の側
壁内周に1、液体窒素シア。ソウ]15で囲:Vれて“
1.′す、脱ガス時での不純物を吸;i”i−L−て超
高真空をs−++: +、y 4るようにしである。な
お、成長’M2は、しI示U2ない超1[6真空ポンプ
につなげられ(いる。 成長室2の底部は、中央が最4)γ1”んだ略′Jりば
ち状をしており、この部にいくつか0ルア発源5.1゜
5b、5cmが、その軸Xrk zJ 、 b 、
cが1−記基扱ポルダ3の中心を向くようにして配置
されている。 本願発明においてはとくに、ヒ素Asなとの■族元素を
成長材料とする蒸発源5aを、上記基板ホルダ3に対し
てiL’、 iri目こ対向”jる。1、・)Qに、ず
わなら、本例−(厨1、この蒸発源53Iの軸線、」か
縦形用↑、りj形の成長室2の鉛直中心4jl!と 一
致するように配置するとともに、その他の蒸発i1+;
j5b、 5 Fを、1−記V族蒸発源5aの軸線、
」を中心とする円周十に配置する。第1図において6.
1、図の煩賄化を′AUりるため、■族a5QAGl
5 a ヲliン−(7+’J4:z反3Lfj!ll
ニ(H’+置する二つの蓄光源tl 1.’) 、5c
のめを示しであるが、実際C真、1、大小5〜7個の蒸
発源が、各軸4:l!か)1(板ボルタ3の中心を向く
ようにして環状に設しjられている。 さて、上記各蒸発源5 a 、 5 b 、 5
c・・・は、成長室2の底pa+’に1−5:;iを固
定され)こイj底円筒状の容器内に、各成長材オ′、1
が充1色されたルツボ4・・をそれぞれ装置Qi’(L
−(+t7i成される。そして、本願発明Cは、−1
−記■族蒸発源5,1を他の蒸発illより基板ボルダ
3に近づジノ°(配置するのであるが、本例でIIごれ
を、各容器に装置1「1されるルツボ4の輔力向長さを
所定のように設定することで対しa、しζいる。 ずなわら、第1図に人、1″1、ζいろ、)、うに、■
放入発源53」のルツボ4(,1、直径および長さが他
の蒸発源より大きく、とくにルツボ4 (7) 、、、
l一端は、成長室2の底壁からさらC,、:基板ボルダ
3に向りで突出さ−lられ”(いろ。なお、各ルツボ4
・は、ごれか収容される各容器のM部に配置した図に
表れないヒータによって所望のIJA度に加え))され
ろようになっ″(いる。また、各ルツボ4を囲む上記容
器には、液体窒素)Lラウ16・・が一体構成されて打
り、各蒸発源5a、5b、5c・・・か互いに熱影古や
汚染の彫金を受iJないようにしである。 成長室2を超高真空1大態とし、占I、板13お3J、
び各蒸発源5 a、 5 b、 5 c・−・を所
定の/l!!r度”−(5y ’/!!させると、仄発
源5 a、 51)、 5 に・・の成1((A利
が原子あるいは分子線の形で基板表部にあたり、基板十
に結晶が成長するのであるが、この成長の開始および停
止し1、本願発明ごG31、■族ブに発源5・1以外の
蒸発&I5b、5t−・・の開I]をシ中、り7で開閉
することにより行われろ。 シャッタ7は、上記V族プに発源以外の環状配置された
各ノ?発源51)、5(:・・にjバ接ずろ成に室の内
壁において外部からそれぞれ回11・i)可能にλり大
麦1、)された輔7.】の31i過:1.;に、閉位置
において1−記聞に1を渭いうるシャック板7bを固定
し2′(+、、、+7成される。 本例において(,1、上記軸7.」の輔Xr)< pを
、当該シャッタ7が開閉j゛るブI(発jJ+j 5
b、 5ζ、・の軸N)i)匠 Cに対し、蒸発源の
開11からノ□(扱ボルダ3:1:。 ての間におい゛C交;(するよ・)にiQ’iJノ、(
桑1]:すると、] 2 その蒸発源5b、5c・・・側に大きく傾りている。 そ・)シて、この、1、・)6.二軸線βを11.l’
i illた軸7aに対し、閉(j冨市1においで蒸発
源5の開1]を平行に覆いうるように円形のシ、1−ツ
タ板71)を固定するのである。したかっ゛(、輔7,
1に対するンヤノタ板7bの取イ=Jジノ角度は、蒸発
源51)、5Cの軸線1)。 Cと輔7aの軸線pの交差角を直角から差し引いた角度
となる。このようにすると、軸7aを中心とするシャツ
タ板7 t、+の回転1luL跡におい゛(、シャツタ
板7bが第1図に実線で示ず閉位置にあるときが最も茂
発源5J5cないし成J、4室2の内壁に近接し、イれ
以外の回動位置のず・\てにおいて、ンヤソタ板7bが
Y発源の開L1ないし成1(室2の内壁から離れること
となる。 な才?、木イ列にオンいC+Jさらに、シャッタ7のΦ
山7.1を二二分i’l′ll +’ili成とすると
ともに、ごの輔7aを通ず士−タブうゲット16の筒部
をもフランジ17a、+7bどうしの接続によって連結
し・)る分i’ii l’l’j成とし、上記軸7aの
モータ側の第一部分721′とシャツタ板側の第二部分
7 、 TIとを上記フランク17a、I7bを分1i
i11 した状態で成IJ室の外部におい′ζ接続あろ
いG11分1111 L、うる、L)にU7゛(ある。 従来装置にJ、りる凹Φjシ、t・ツタ゛(υ、■、4
11−の回転軸を成長室内に貫通導入し、ご・うして成
1辷室内にλり人された軸の先O:1.jにシャ、り(
jiを取(−1(Jる構造が−・船釣であっノこため、
ソートツタ板のつ51桑n、’、 h、’lにおいては
成JQ室内にヒユーボートから]を入れ、ねし止め作業
等の煩雑なイ1業をする必要があったが、本例で(11
、−1−記の、1、)に軸7.]の接続を実質的に成長
室の外部で行なえるようにU7kから、シャンク板7の
取合1りがJ1常に簡j1′1か一つ友全となる。 第1図から明らかな、j、゛)に、本願発明((,1、
V族74発源5.」のツヤツクを省略したから、シャッ
タの77、i成につい−(”’; 1.51jすること
)C<、それだりこのV族XIS発諒5aの容)l(を
増Jすることが(き、成長+、I !Jlの寿命を延長
することができる。また、■族〕に発#、J iJを他
の蒸発源に比・\て、1、リノ、V +1jボルダ3に
近づりて配置し7ているから、l、ダな分子線が成1【
室内に放11り這ることか’l; < 、効・セカ月Z
(なる。また、ブ、曇11例では、■族基発源5aのま
わりに他の茎発?ll:iを環状に間道1するという4
1へ成をとっているため、成長室2の内壁を有効に利用
し、装置庁一体を」」ンパクトCごまとめることができ
る。 なお、図示例の、4うに縦形の成長室をも・−)装置に
おいて■族藤発i1+;i 5 aを成長室の底部中央
Qこ配置すると、シ1(板同転部等からの塵が直下の■
族蕨発汎(にン客下しCごれをンク召とするという!腎
、念があるが、実際−1x、■放入発源は低温で機能す
るため、たとえ他の元素が入り込んでもほとんと問題む
、1ないのごある。 もらろん、この発明の範囲し、1上iホの実施例に限定
されることシ31ない。たとえば、シ、トノタのJ、−
1体的(I11成等、装置の細部は種々設旧変更iiJ
能である。 ン1:た、実施例(,1、縦形の成長室をもっているが
、成長室を47<、形に構成し7ても差支え41′い。 4、図1f11の節ii’H7,<説明第1図は本願発
明の一実施例を示す縦断面図、第2図は従来例を示す概
略構成図である。 2 成長室、3 ・基板ボルダ、5HI V族元素を成
J’L+A料とする蒸発源、5b、5(・・・(その他
の)蒸発源、7・・シャッタ、
Claims (2)
- (1)超高真空ポンプにつながる成長室と、この成長室
の内部に配置した基板ホルダと、成長室の一側において
軸線が上記基板ホルダを向くように配置された複数個の
蒸発源とを備える分子線エピタキシ一装置において、 上記蒸発源のうち、V族元素を成長材料と する蒸発源を他の蒸発源に比して基板ホルダに近接した
位置に配置するどともに、このV族元素を成長材料とす
る蒸発源以外の各蒸発源の開口の遮蔽および開放を行う
シャッタを設けたことを特徴とする、分子線エピタキシ
ー装置。 - (2)上記請求項2に記載した分子線エピタキシー装置
において、上記V族元素を成長材料とする蒸発源を、成
長室における基板ホルダと正面対向する位置に配置する
とともに、他の蒸発源を、ほぼ、上記V族元素を成長材
料とする蒸発源の軸線を中心とする環状に配置したこと
を特徴とする、分子線エピタキシー装置。
Priority Applications (11)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63077798A JPH01249692A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 分子線エピタキシー装置 |
| EP92117113A EP0529687B1 (en) | 1988-03-30 | 1989-03-23 | Molecular beam epitaxy apparatus |
| DE68926577T DE68926577T2 (de) | 1988-03-30 | 1989-03-23 | Einrichtung zur Molekularstrahlepitaxie |
| EP89105248A EP0335267B1 (en) | 1988-03-30 | 1989-03-23 | Molecular beam epitaxy apparatus |
| DE68916457T DE68916457T2 (de) | 1988-03-30 | 1989-03-23 | Einrichtung zur Molekularstrahlepitaxie. |
| TW080105276A TW202485B (ja) | 1988-03-30 | 1989-03-24 | |
| US07/329,313 US4944246A (en) | 1988-03-30 | 1989-03-27 | Molecular beam epitaxy apparatus |
| CA000594977A CA1333038C (en) | 1988-03-30 | 1989-03-29 | Molecular beam epitaxy apparatus |
| KR1019890004152A KR930010750B1 (ko) | 1988-03-30 | 1989-03-30 | 분자선 에피택시 장치 |
| CA000616594A CA1333039C (en) | 1988-03-30 | 1993-03-30 | Molecular beam epitaxy apparatus |
| KR1019930013044A KR930010751B1 (ko) | 1988-03-30 | 1993-07-09 | 분자선 에피택시 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63077798A JPH01249692A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 分子線エピタキシー装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01249692A true JPH01249692A (ja) | 1989-10-04 |
| JPH0516399B2 JPH0516399B2 (ja) | 1993-03-04 |
Family
ID=13644020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63077798A Granted JPH01249692A (ja) | 1988-03-30 | 1988-03-30 | 分子線エピタキシー装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01249692A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2323209A (en) * | 1997-03-13 | 1998-09-16 | Sharp Kk | Molecular beam epitaxy apparatus and method |
| CN116288286A (zh) * | 2020-07-08 | 2023-06-23 | 应用材料公司 | 基板处理模块及移动工件的方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111304623B (zh) * | 2020-02-24 | 2021-01-19 | 西安交通大学 | 一种超高真空进样与样品处理两用系统及处理方法 |
-
1988
- 1988-03-30 JP JP63077798A patent/JPH01249692A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2323209A (en) * | 1997-03-13 | 1998-09-16 | Sharp Kk | Molecular beam epitaxy apparatus and method |
| US6146458A (en) * | 1997-03-13 | 2000-11-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Molecular beam epitaxy method |
| CN116288286A (zh) * | 2020-07-08 | 2023-06-23 | 应用材料公司 | 基板处理模块及移动工件的方法 |
| US12506020B2 (en) | 2020-07-08 | 2025-12-23 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing module and method of moving a workpiece |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0516399B2 (ja) | 1993-03-04 |
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