JPH01250778A - 光学検出装置 - Google Patents
光学検出装置Info
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- JPH01250778A JPH01250778A JP63076159A JP7615988A JPH01250778A JP H01250778 A JPH01250778 A JP H01250778A JP 63076159 A JP63076159 A JP 63076159A JP 7615988 A JP7615988 A JP 7615988A JP H01250778 A JPH01250778 A JP H01250778A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
本発明は光学検出装置に係り、例えば、光信号を利用し
て基準位置から測定点までの距離や角度などを測定する
測量装置に関する。
て基準位置から測定点までの距離や角度などを測定する
測量装置に関する。
「従来の゛技術」
従来の測量装置としては、第８図に示されるものが知ら
れている。この測量装置は測量機１にファインダを有し
、測定点に設けられたキュービックコーナープリズム２
へ向けて光信号を投光し、キュービックコーナープリズ
ム２からの光信号を受光し、光信号を投光したときの時
点から光信号がプリズム２で反射して戻って来るまでの
時間を求め、この時間をもとに基準位置から測定点まで
の距離を測定し、また、ファインダによって基準からの
角度を視認して角度を測定することができるようになっ
ている。
れている。この測量装置は測量機１にファインダを有し
、測定点に設けられたキュービックコーナープリズム２
へ向けて光信号を投光し、キュービックコーナープリズ
ム２からの光信号を受光し、光信号を投光したときの時
点から光信号がプリズム２で反射して戻って来るまでの
時間を求め、この時間をもとに基準位置から測定点まで
の距離を測定し、また、ファインダによって基準からの
角度を視認して角度を測定することができるようになっ
ている。
「発明が解決しようとする課題」
しかしながら、従来の測量機１では、測定点までの距離
や角度を測ろうとする場合には、測量機１に設けられた
ファインダを覗いて測定点に合わせなければならず、人
間の視覚によって測定点を確認する必要がある６そこで
、′Ｉｇ定点の位置をファインダで確認することなく行
なうために、測量機１から光ビームを連続的に放射する
と共に、測量機１を３６０°回転させ、測量機１を回転
させたときの光信号をもとに基準位置から測量点までの
距離や角度などを測定する方法が提案されている。とこ
ろが、この方法では、測量機１の近くに壁３などがある
ときには、壁３からの反射光とプリズム２からの反射光
との区別がつがず、測定点が判明しないから、距離や角
度を確定することができない。
や角度を測ろうとする場合には、測量機１に設けられた
ファインダを覗いて測定点に合わせなければならず、人
間の視覚によって測定点を確認する必要がある６そこで
、′Ｉｇ定点の位置をファインダで確認することなく行
なうために、測量機１から光ビームを連続的に放射する
と共に、測量機１を３６０°回転させ、測量機１を回転
させたときの光信号をもとに基準位置から測量点までの
距離や角度などを測定する方法が提案されている。とこ
ろが、この方法では、測量機１の近くに壁３などがある
ときには、壁３からの反射光とプリズム２からの反射光
との区別がつがず、測定点が判明しないから、距離や角
度を確定することができない。
本発明の主な目的は、基準位置から測定点までの距離や
角度等を自動測定することができる測量装置などとして
利用することができる光学検出装置を開発することにあ
る。
角度等を自動測定することができる測量装置などとして
利用することができる光学検出装置を開発することにあ
る。
「課題を解決するための手段」
上記目的を達成するために１本発明では、波長の異なる
複数の光を発光する発光手段を含み、各々の光を同一方
向へ投光する投光手段と、検出点に設けられ、投光手段
からの光のうち特定波長の光のみを反射させる反射手段
と、反射手段がらの反射光と反射手段によって反射され
ない」二記投光手段の光を分光する分光手段と、この分
光手段より得た光を電気変換、電気信号処理する回路手
段とより構成したことを特徴とする光学検出装置を提案
する。
複数の光を発光する発光手段を含み、各々の光を同一方
向へ投光する投光手段と、検出点に設けられ、投光手段
からの光のうち特定波長の光のみを反射させる反射手段
と、反射手段がらの反射光と反射手段によって反射され
ない」二記投光手段の光を分光する分光手段と、この分
光手段より得た光を電気変換、電気信号処理する回路手
段とより構成したことを特徴とする光学検出装置を提案
する。
また、波長の異なる複数の光に位相差をもたせてパルス
光として発光する発光手段を含み、各々のパルス光を同
一方向へ投光する投光手段と、検出点に設けられ、投光
手段からのパルス光のうち特定波長のパルス光のみを反
射させる反射手段と。
光として発光する発光手段を含み、各々のパルス光を同
一方向へ投光する投光手段と、検出点に設けられ、投光
手段からのパルス光のうち特定波長のパルス光のみを反
射させる反射手段と。
反射手段からの反射光と反射手段によって反射されない
上記投光手段の光を受けて電気信号に変換する受光手段
とを含み、受光手段の出力信号を検波し、特定波長のパ
ルス光の検波出力をもとに検出する回路手段とより構成
したことを特徴とする光学検出装置を提案する。
上記投光手段の光を受けて電気信号に変換する受光手段
とを含み、受光手段の出力信号を検波し、特定波長のパ
ルス光の検波出力をもとに検出する回路手段とより構成
したことを特徴とする光学検出装置を提案する。
さらに、発光手段の光の波長が７００ｎｍ〜１１０００
ｎの波長帯に含まれ、反射手段が、前記波長帯の光のう
ち予め定めた基準波長より短波長の光のみを透過し、基
準波長より長波長の光を遮光するフィルタを有する光学
検出装置を構成したものである。
ｎの波長帯に含まれ、反射手段が、前記波長帯の光のう
ち予め定めた基準波長より短波長の光のみを透過し、基
準波長より長波長の光を遮光するフィルタを有する光学
検出装置を構成したものである。
また、さらに１発光手段の光の波長が７００ｎｍ〜１１
０００ｎの波長帯に含まれ１反射手段が、前記波長帯の
光のうち予め定めた基準波長より長波長の光のみを透過
し、基準波長より短波長の光を遮光するフィルタを有す
る光学検出装置を構成したものである。
０００ｎの波長帯に含まれ１反射手段が、前記波長帯の
光のうち予め定めた基準波長より長波長の光のみを透過
し、基準波長より短波長の光を遮光するフィルタを有す
る光学検出装置を構成したものである。
「作 用」
発光手段から波長の異なる複数の光を発光すると、この
光が投光手段を介して同一方向へ投光される。
光が投光手段を介して同一方向へ投光される。
検出点に向けて投光されると、特定波長の光のみが反射
手段を介して分光手段に入射する。一方、投光手段から
の光が検出点以外に投光されたときには、波長の異なる
各々の光が検出点以外の反射物によって反射されて分光
手段に入射する。
手段を介して分光手段に入射する。一方、投光手段から
の光が検出点以外に投光されたときには、波長の異なる
各々の光が検出点以外の反射物によって反射されて分光
手段に入射する。
分光手段の光は電気変換され回路手段によって処理され
る。すなわち、特定波長の光が分光手段に入射したか否
かを判別して被検出物の検出を行なう。
る。すなわち、特定波長の光が分光手段に入射したか否
かを判別して被検出物の検出を行なう。
また、波長の異なる複数の光に位相差をもたせバシス光
として投光する場合には１反射手段からのパルス光と反
射手段以外で反射したパルス光とが受光手段に順次入射
し、各パルス光が電気信号に変換される。そして各電気
信号は検波され、特定波長のパルス光のみの検波出力に
もとずいて被検出物を検出する。
として投光する場合には１反射手段からのパルス光と反
射手段以外で反射したパルス光とが受光手段に順次入射
し、各パルス光が電気信号に変換される。そして各電気
信号は検波され、特定波長のパルス光のみの検波出力に
もとずいて被検出物を検出する。
「実施例」
以下、本発明を測量装置として実施した一例について図
面に沿って説明する。
面に沿って説明する。
第１図において、測量機１０は、発光手段としての発光
素子１１．１２、分光ミラー１３、投光レンズ１４、受
光レンズ１５、分光ミラー１６、ＰＩＮフォトダイオー
ド或いはアバランシュなどで構成される受光素子１７．
１８、角度測定のためのロータリーエンコーダ（図示省
略）などから構成されており、回転軸を中心として回転
可能になっている。
素子１１．１２、分光ミラー１３、投光レンズ１４、受
光レンズ１５、分光ミラー１６、ＰＩＮフォトダイオー
ド或いはアバランシュなどで構成される受光素子１７．
１８、角度測定のためのロータリーエンコーダ（図示省
略）などから構成されており、回転軸を中心として回転
可能になっている。
そして、甜定点側には光学フィルタ１９を備えたキュー
ビックコーナープリズム２０が配置されている。
ビックコーナープリズム２０が配置されている。
発光素子１１，１２は赤外ＬＥＤで構成されており、発
光素子１１は波長８５０ｎｍのパルス光を出力し、発光
素子１２は波長９５０ｎｍのパルス光を、発光素子１１
からのパルス光と同一 位相で発光するようになってお
り、これら各パルス光が分光ミラー１３側へ投光される
。分光ミラー１３は、第２図に示すように１発光素子１
２からのパルス光のみを透過し、発光素子１１からの光
信号を反射し、各パルス光を同一方向へ投光するように
なっている。各パルス光は投光レンズ１４によってビー
ム光に集光され、光学フィルタ１９側へ伝送される。す
なわち、分光ミラー１３、投光レンズ１４は投光手段と
して構成されている。
光素子１１は波長８５０ｎｍのパルス光を出力し、発光
素子１２は波長９５０ｎｍのパルス光を、発光素子１１
からのパルス光と同一 位相で発光するようになってお
り、これら各パルス光が分光ミラー１３側へ投光される
。分光ミラー１３は、第２図に示すように１発光素子１
２からのパルス光のみを透過し、発光素子１１からの光
信号を反射し、各パルス光を同一方向へ投光するように
なっている。各パルス光は投光レンズ１４によってビー
ム光に集光され、光学フィルタ１９側へ伝送される。す
なわち、分光ミラー１３、投光レンズ１４は投光手段と
して構成されている。
光学フィルタ１９は、第３図に示すように、発光素子１
１からのパルス光を遮断し１発光素子１２からの光のみ
を透過するように構成されている。
１からのパルス光を遮断し１発光素子１２からの光のみ
を透過するように構成されている。
光学フィルタ１９を透過したパルス光はプリズム２ｏで
反射され、入射方向と逆方向へ反射され。
反射され、入射方向と逆方向へ反射され。
光学フィルタ１９を介して測量機１０個へ伝送される。
すなわち、光学フィルタ１９とキュービックコーナープ
リズム２０によって反射手段が構成されている。そして
光学フィルタ１９を透過したパルス光は測量機１０の受
光レンズ１５を介して分光ミラー１６へ入射される。
リズム２０によって反射手段が構成されている。そして
光学フィルタ１９を透過したパルス光は測量機１０の受
光レンズ１５を介して分光ミラー１６へ入射される。
分光ミラー１６は１分光ミラー１３と同様、第２図に示
すような特性を有し、発光素子１２からのパルス光のみ
を透過し、透過したパルス光を受光素子１７側へ伝送し
１発光素子１１からのパルス光がプリズム２０以外の反
射物で反射して分光ミラー１６へ入射したときには、こ
のパルス光を発光素子１８側へ反射させるように構成さ
れている。
すような特性を有し、発光素子１２からのパルス光のみ
を透過し、透過したパルス光を受光素子１７側へ伝送し
１発光素子１１からのパルス光がプリズム２０以外の反
射物で反射して分光ミラー１６へ入射したときには、こ
のパルス光を発光素子１８側へ反射させるように構成さ
れている。
すなわち１分光ミラー１６が分光手段を構成している。
受光素子１７．１８は各々のパルス光を電気信号に変換
するもので、第４図に示す如く、各々インピーダンス素
子２１．２２に接続され、また、各受光素子１７．１８
の出力信号はプリアンプ２３．２４で増幅してレベル調
整した後、増幅された出力信号が演算増幅器２５へ入力
されるようになっている。演算増幅器２５の出力は端子
２６を介して演算器に供給される。
するもので、第４図に示す如く、各々インピーダンス素
子２１．２２に接続され、また、各受光素子１７．１８
の出力信号はプリアンプ２３．２４で増幅してレベル調
整した後、増幅された出力信号が演算増幅器２５へ入力
されるようになっている。演算増幅器２５の出力は端子
２６を介して演算器に供給される。
以上の構成において、測量機１０を回転させながら発光
素子１１．１２から各々パルス光を発光し、各パルス光
が測定点以外に投光されたときには、第５図の時間Ｔ工
で示したように、各発光素子１１．１２からのパルス光
が各受光素子１７．１８によって受光されるため、演算
増幅器２５が同レベルの出力信号を入力し、端子２６か
らは出力されない。このため、このときには端子２６に
接続される演算器の作動は停止される。
素子１１．１２から各々パルス光を発光し、各パルス光
が測定点以外に投光されたときには、第５図の時間Ｔ工
で示したように、各発光素子１１．１２からのパルス光
が各受光素子１７．１８によって受光されるため、演算
増幅器２５が同レベルの出力信号を入力し、端子２６か
らは出力されない。このため、このときには端子２６に
接続される演算器の作動は停止される。
一方、測量機１０からのパルス光が測定点に向けて投光
されたときは、時間Ｔ２で示すように、発光素子１２か
らのパルス光のみが受光素子１７で受光され、この受光
素子１７の電気変換にもとすく出力信号が演算増幅器２
５に入力し、これにより、端子２６の出力信号から、基
準位置から測定点までの距離または角度を演算すれば、
正確な測定を自動的に行なうことができる。
されたときは、時間Ｔ２で示すように、発光素子１２か
らのパルス光のみが受光素子１７で受光され、この受光
素子１７の電気変換にもとすく出力信号が演算増幅器２
５に入力し、これにより、端子２６の出力信号から、基
準位置から測定点までの距離または角度を演算すれば、
正確な測定を自動的に行なうことができる。
なお、演算器の具体的構成は省略しであるが。
この演算器としては、マイクロコンピュータを用いるこ
とも可能である。
とも可能である。
また、測定点にキュービックコーナープリズム２０を用
いることによって測定点以外の物または場所か起の反射
光に比べて強いパルスを受光素子１７．１８へ伝送する
ことができる。（第５図の点線参照） また、発光素子１１．１２から出力される波長の異なっ
たパルス光として、互いに位相の１８０ｍずれたパルス
光を出力させれば、受光側には受光レンズ１５、受光素
子１７を設けることによって。
いることによって測定点以外の物または場所か起の反射
光に比べて強いパルスを受光素子１７．１８へ伝送する
ことができる。（第５図の点線参照） また、発光素子１１．１２から出力される波長の異なっ
たパルス光として、互いに位相の１８０ｍずれたパルス
光を出力させれば、受光側には受光レンズ１５、受光素
子１７を設けることによって。
基準位置から測定点までの距離や角度を測定することが
できる。この場合には、第６図に示すように、プリアン
プ２３の出力にＦＭ検波器２７を設け、ＦＭ検波器２７
の出力を端子２６を介して演算器へ出力するようにする
。
できる。この場合には、第６図に示すように、プリアン
プ２３の出力にＦＭ検波器２７を設け、ＦＭ検波器２７
の出力を端子２６を介して演算器へ出力するようにする
。
本実施例においては、第７図（ａ）、（ｂ）に示すよう
に１発光素子１１．１２から各々位相が１８０°ずれた
パルス光を出力し、測定機１０からの光が測定点以外の
ところに向けて投光されたときには、（ｃ）の時間Ｔ８
で示すように、各発光素子１１．１２からのパルス光が
交互に受光素子１７によって受光され、この信号が電気
信号に変換される。そして、この電気信号の検波出力が
ＦＭ検波器２７から出力される。このときには、測定機
ＩＯからの光が各々測定点以外のところに投光されたと
して、演算器の作動は停止されている。
に１発光素子１１．１２から各々位相が１８０°ずれた
パルス光を出力し、測定機１０からの光が測定点以外の
ところに向けて投光されたときには、（ｃ）の時間Ｔ８
で示すように、各発光素子１１．１２からのパルス光が
交互に受光素子１７によって受光され、この信号が電気
信号に変換される。そして、この電気信号の検波出力が
ＦＭ検波器２７から出力される。このときには、測定機
ＩＯからの光が各々測定点以外のところに投光されたと
して、演算器の作動は停止されている。
一方、第７図（Ｑ）の時間Ｔ２で示すように、発光素子
１２からのパルス光にもとすいた検波出力が発生したと
きには、測定機１０からの光が測定点に向けて投光され
たとして、ＦＭ検波器２７の検波出力をもとに、演算器
において基準位置から測定点までの距離や角度を演算す
る。
１２からのパルス光にもとすいた検波出力が発生したと
きには、測定機１０からの光が測定点に向けて投光され
たとして、ＦＭ検波器２７の検波出力をもとに、演算器
において基準位置から測定点までの距離や角度を演算す
る。
このように、上記各実施例においては、測定機１０によ
り測定点付近を細かくスキャンニングするか、測定機１
０を３６０’回転させれば、人間の視覚に頼らなくとも
測定点を検出することができ。
り測定点付近を細かくスキャンニングするか、測定機１
０を３６０’回転させれば、人間の視覚に頼らなくとも
測定点を検出することができ。
目標位置から測定点までの距離、角度を自動的に測定す
ることができる。
ることができる。
以上、一実施例について説明したが、本発明は走行ロボ
ットの目標検出装置などとして用いる光学検出装置とし
て実施することも可能である。
ットの目標検出装置などとして用いる光学検出装置とし
て実施することも可能である。
また１分光ミラー１３．１６．光学フィルタ１９として
、予め定めた基準波長より長波長のパルス光、すなわち
９５０ｎｍのパルス光を透過するものについて述べたが
、基準波長より短波長の光を透過し、基準波長より長波
長の光を反射させるもので構成することも可能である。
、予め定めた基準波長より長波長のパルス光、すなわち
９５０ｎｍのパルス光を透過するものについて述べたが
、基準波長より短波長の光を透過し、基準波長より長波
長の光を反射させるもので構成することも可能である。
なお、キュービックコーナープリズム２０は光の入射光
と反射光とが同一方向となるプリズムであり、図面では
２次元的に示したが、実際には３次元的な構成となって
いる。また、このプリズム２０には光学フィルタ１９と
同等の機能を持たせ、光学フィルタ１９を省略するよう
にしてもよい。
と反射光とが同一方向となるプリズムであり、図面では
２次元的に示したが、実際には３次元的な構成となって
いる。また、このプリズム２０には光学フィルタ１９と
同等の機能を持たせ、光学フィルタ１９を省略するよう
にしてもよい。
「発明の効果」
以上説明したように、本発明によれば、波長の異なる複
数の光を検出点及びそれ以外のところに投光し、これら
の反射光をもとに被検出物を検出するため、検出精度の
高い自動化された光学検出装置となる。
数の光を検出点及びそれ以外のところに投光し、これら
の反射光をもとに被検出物を検出するため、検出精度の
高い自動化された光学検出装置となる。
また、波長の異なる複数の光を同一方向に投光する手段
及び光学手段は各々独立した光学手段を用いてもよい。
及び光学手段は各々独立した光学手段を用いてもよい。
第１図は本発明を測量装置として実施した一例を示す簡
略構成図、第２図は波長に対する透過率と反射率との関
係を示す分光ミラーの特性図、第３図は波長と透過率と
の関係を示す光学フィルタの特性図、第４図は上記測量
装置に設けた受光部の構成図、第５図は第４図に示す受
光部の動作を説明するための波形図、第６図は本発明の
他の実施例に使用する受光部の構成図、第７図は第６図
に示す受光部を説明するための波形図、第８図は従来の
測量装置を示す簡略構成図である。 １０・・・・測定機 １１．１２・・・・発光素子 １３．１６・・・・分光ミラー １４・・・・投光レンズ １５・・・・受光レンズ １７．１８・・・・受光素子 １９・・・・光学フィルタ ２０・・・・キュービックコーナープリズム２３．２４
・・・・プリアンプ ２５・・・・演算増幅器 ２７・・・・ＦＭ検波器 第７図 □晴ｒ♂ 第８図 第４図 第５図 晴間 第６図
略構成図、第２図は波長に対する透過率と反射率との関
係を示す分光ミラーの特性図、第３図は波長と透過率と
の関係を示す光学フィルタの特性図、第４図は上記測量
装置に設けた受光部の構成図、第５図は第４図に示す受
光部の動作を説明するための波形図、第６図は本発明の
他の実施例に使用する受光部の構成図、第７図は第６図
に示す受光部を説明するための波形図、第８図は従来の
測量装置を示す簡略構成図である。 １０・・・・測定機 １１．１２・・・・発光素子 １３．１６・・・・分光ミラー １４・・・・投光レンズ １５・・・・受光レンズ １７．１８・・・・受光素子 １９・・・・光学フィルタ ２０・・・・キュービックコーナープリズム２３．２４
・・・・プリアンプ ２５・・・・演算増幅器 ２７・・・・ＦＭ検波器 第７図 □晴ｒ♂ 第８図 第４図 第５図 晴間 第６図
Claims (4)
- （１）波長の異なる複数の光を発光する発光手段を含み
、各々の光を同一方向へ投光する投光手段と、検出点に
設けられ、投光手段からの光のうち特定波長の光のみを
反射させる反射手段と、反射手段からの反射光と反射手
段によって反射されない上記投光手段の光を分光する分
光手段と、この分光手段より得た光を電気変換、電気信
号処理する回路手段とより構成したことを特徴とする光
学検出装置。 - （２）波長の異なる複数の光に位相差をもたせてパルス
光として発光する発光手段を含み、各々のパルス光を同
一方向へ投光する投光手段と、検出点に設けられ、投光
手段からのパルス光のうち特定波長のパルス光のみを反
射させる反射手段と、反射手段からの反射光と反射手段
によって反射されない上記投光手段の光を受けて電気信
号に変換する受光手段とを含み、受光手段の出力信号を
検波し、特定波長のパルス光の検波出力をもとに検出す
る回路手段とより構成したことを特徴とする光学検出装
置。 - （３）発光手段の光の波長が７００ｎｍ〜１０００ｎｍ
の波長帯に含まれ、反射手段が、前記波長帯の光のうち
予め定めた基準波長より短波長の光のみを透過し、基準
波長より長波長の光を遮光するフィルタを有する請求項
（１）または（２）記載の光学検出装置。 - （４）発光手段の光の波長が７００ｎｍ〜１０００ｎｍ
の波長帯に含まれ、反射手段が、前記波長帯の光のうち
予め定めた基準波長より長波長の光のみを透過し、基準
波長より短波長の光を遮光するフィルタを有する請求項
（１）または（２）記載の光学検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63076159A JPH01250778A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 光学検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63076159A JPH01250778A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 光学検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01250778A true JPH01250778A (ja) | 1989-10-05 |
| JPH0551864B2 JPH0551864B2 (ja) | 1993-08-03 |
Family
ID=13597274
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63076159A Granted JPH01250778A (ja) | 1988-03-31 | 1988-03-31 | 光学検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01250778A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03206912A (ja) * | 1990-01-09 | 1991-09-10 | Taisei Corp | 光パルスを用いた方位検出方法と検出装置 |
| JP2001117019A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-04-27 | Leica Geosystems Ag | タキメータ望遠鏡 |
| JP2011191106A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Sokkia Topcon Co Ltd | 光波距離計 |
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-
1988
- 1988-03-31 JP JP63076159A patent/JPH01250778A/ja active Granted
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| JPH03206912A (ja) * | 1990-01-09 | 1991-09-10 | Taisei Corp | 光パルスを用いた方位検出方法と検出装置 |
| JP2001117019A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-04-27 | Leica Geosystems Ag | タキメータ望遠鏡 |
| JP2011191106A (ja) * | 2010-03-12 | 2011-09-29 | Sokkia Topcon Co Ltd | 光波距離計 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0551864B2 (ja) | 1993-08-03 |
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