JPH01253673A - 波形測定装置 - Google Patents
波形測定装置Info
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- JPH01253673A JPH01253673A JP8209888A JP8209888A JPH01253673A JP H01253673 A JPH01253673 A JP H01253673A JP 8209888 A JP8209888 A JP 8209888A JP 8209888 A JP8209888 A JP 8209888A JP H01253673 A JPH01253673 A JP H01253673A
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 8
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 6
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 2
- LKJPSUCKSLORMF-UHFFFAOYSA-N Monolinuron Chemical compound CON(C)C(=O)NC1=CC=C(Cl)C=C1 LKJPSUCKSLORMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
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- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、高速信号波形を高精度で測定する装置に関す
る。
る。
従来、高速信号波形を測定するには高速オン１コスコー
プやサンプリングスコープで直接測定を行っていた。し
かしこの様な方法では充分な精度を望むことは難しい。
プやサンプリングスコープで直接測定を行っていた。し
かしこの様な方法では充分な精度を望むことは難しい。
そこで、ステップ信号が比較的簡単に充分、精度良く発
生できることを利用し、これを基準として測定系を含む
測定装置を補正し、これに芥って被測定信号を精度良く
測定する装置が考えられた。特願昭６２−１４０６１４
にこの方式が述べられている。
生できることを利用し、これを基準として測定系を含む
測定装置を補正し、これに芥って被測定信号を精度良く
測定する装置が考えられた。特願昭６２−１４０６１４
にこの方式が述べられている。
上記特願では波高レベルが平坦である基準パルス波をサ
ンプリングし、デジタル化して基準データを得、前記基
準データに基づきフーリエ変換し、また理想ステップ波
のフーリエ変換と前記基準データに基づいたフーリエ変
換とから測定系のセトリング特性を求めていた。具体的
には振幅のある値（例えば５０％）の点を時間基準とし
て、前記基準データに基づいたフーリエ変換と前記理想
ステップ、波のフーリエ変換とを正規化し所望の測定系
補正データを得ていた。
ンプリングし、デジタル化して基準データを得、前記基
準データに基づきフーリエ変換し、また理想ステップ波
のフーリエ変換と前記基準データに基づいたフーリエ変
換とから測定系のセトリング特性を求めていた。具体的
には振幅のある値（例えば５０％）の点を時間基準とし
て、前記基準データに基づいたフーリエ変換と前記理想
ステップ、波のフーリエ変換とを正規化し所望の測定系
補正データを得ていた。
この方法で基準パルス波と理想ステップ波のタイミング
合ねせを行うと、夫々の信号のデユーティ比が正確に５
０％となる訳ではないので高次の高調波成分か著しく低
下し補正データに誤差を生じる。矩形波の周波数成分は
第３図に示すようにＳｉｎ （Ｘ） ／ Ｘ上に現れる
ので、デユーティ比５０％の奇数次成分の場合以外では
周期的に振幅が低下することになる。また振幅の値を時
間基準の条件としているので、測定系の誤差を含んでし
まう。
合ねせを行うと、夫々の信号のデユーティ比が正確に５
０％となる訳ではないので高次の高調波成分か著しく低
下し補正データに誤差を生じる。矩形波の周波数成分は
第３図に示すようにＳｉｎ （Ｘ） ／ Ｘ上に現れる
ので、デユーティ比５０％の奇数次成分の場合以外では
周期的に振幅が低下することになる。また振幅の値を時
間基準の条件としているので、測定系の誤差を含んでし
まう。
さらにこの方法では基準パルス波を測定した基準データ
と理想ステップ波の夫々のフーリエ変換を比較し測定系
の誤差を得ているが、実際の基準パルスには、ある程度
の立上り・立下り時間およびリンギング等のゆらぎが含
まれている。そのため、高速域になればなる程、基準パ
ルスと理想ステップ波のずれ番才大きくなり精度が悪化
してしまう。
と理想ステップ波の夫々のフーリエ変換を比較し測定系
の誤差を得ているが、実際の基準パルスには、ある程度
の立上り・立下り時間およびリンギング等のゆらぎが含
まれている。そのため、高速域になればなる程、基準パ
ルスと理想ステップ波のずれ番才大きくなり精度が悪化
してしまう。
本発明は、高速信号波形の高精度測定を行なう装置を提
供することを目的としている。
供することを目的としている。
［発明の概要］
本発明の一実施か１によれば、基準となる信号を発生す
るための高速パルス発生装置と、被測定信号と、入力し
たアナログ信号の所定のレベルをデジタル変換して出力
する高速測定系と、前記被測定信号と前記高速パルス発
生装置の出力とを選択的に前記高速測定系の入力に接続
する第１スイッチと、前記高速パルス発生装置の電流、
温度などのパラメータを抽出するパラメータ抽出装置と
、前記高速パルス発生装置の既知の回路パラメータと、
前記回路パラメータと前記パラメータ抽出装置との情報
を基に前記高速パルス発生装置の信号をシミュレートす
る回路シミュレータと、デジタル信号処理を行なう第１
デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）、第２ＤＳＰと、前記
高速ＩＩＩ定系の出力に前記第１ＤＳＰ、第２ＤＳＰの
それぞれの入力を選択的に接続する第２スイッチと、前
記高速パルス発生装置の出力を前記高速測定系によって
測定したデータと前記回路シミュレータの出力とから前
記第１ＤＳＰにより算出された特性データを記憶し、そ
の出力を前記第２ＤＳＰに送る特性データ記憶装置と、
から成り前記第２Ｄ、ＳＰは前記被測定信号を前記高速
測定系によって測定したデータと前記特性データ記憶装
置からのデータとを基に前記高速測定系の誤差を補正し
、高精度の高速測定出力を発生する測定装置が提供され
る。
るための高速パルス発生装置と、被測定信号と、入力し
たアナログ信号の所定のレベルをデジタル変換して出力
する高速測定系と、前記被測定信号と前記高速パルス発
生装置の出力とを選択的に前記高速測定系の入力に接続
する第１スイッチと、前記高速パルス発生装置の電流、
温度などのパラメータを抽出するパラメータ抽出装置と
、前記高速パルス発生装置の既知の回路パラメータと、
前記回路パラメータと前記パラメータ抽出装置との情報
を基に前記高速パルス発生装置の信号をシミュレートす
る回路シミュレータと、デジタル信号処理を行なう第１
デジタル信号処理装置（ＤＳＰ）、第２ＤＳＰと、前記
高速ＩＩＩ定系の出力に前記第１ＤＳＰ、第２ＤＳＰの
それぞれの入力を選択的に接続する第２スイッチと、前
記高速パルス発生装置の出力を前記高速測定系によって
測定したデータと前記回路シミュレータの出力とから前
記第１ＤＳＰにより算出された特性データを記憶し、そ
の出力を前記第２ＤＳＰに送る特性データ記憶装置と、
から成り前記第２Ｄ、ＳＰは前記被測定信号を前記高速
測定系によって測定したデータと前記特性データ記憶装
置からのデータとを基に前記高速測定系の誤差を補正し
、高精度の高速測定出力を発生する測定装置が提供され
る。
第１図に本発明の１実施例を示す。同図においＸ戸め１
（ て、スイッチ２は高速パルス発生装置７側に接続され、
スイッチ４はＤＳＰＢ側に接続されている。
（ て、スイッチ２は高速パルス発生装置７側に接続され、
スイッチ４はＤＳＰＢ側に接続されている。
この状態において、高速パルス発生装置７の信号はスイ
ッチ２を介して高速測定系３ （アナログ入力、デジタ
ル出力）で測定される。この測定データは、スイッチ４
を介してＤＳＰｌｌに送られる。
ッチ２を介して高速測定系３ （アナログ入力、デジタ
ル出力）で測定される。この測定データは、スイッチ４
を介してＤＳＰｌｌに送られる。
また高速パル入発生装置７の電流、温度などのパラメー
タは、パラメータ抽出装置】０によって取り出され回路
シミュレータ】２に送られる。回路シミュレータ１２で
は、既知である高速パルス発生装置体装置７の信号をシ
ミュレートし１）ＳＦ３に送出する。ＤＳＰ８はこれら
２つのデータを茎に高速測定系３の特性データを算出し
特性データ記憶装置９に蓄積させる。次に、スイッチ２
とスイッチ４を切り換え、被測定信号】を高速測定系３
で測定する。これにより得られたデータはスイッチ４を
介してＤＳＰ５に送出する。ＤＳＰ５では前述で得られ
た特性データを基に高速測定系３の誤差を補正し高精度
な高速測定出力を出力する。
タは、パラメータ抽出装置】０によって取り出され回路
シミュレータ】２に送られる。回路シミュレータ１２で
は、既知である高速パルス発生装置体装置７の信号をシ
ミュレートし１）ＳＦ３に送出する。ＤＳＰ８はこれら
２つのデータを茎に高速測定系３の特性データを算出し
特性データ記憶装置９に蓄積させる。次に、スイッチ２
とスイッチ４を切り換え、被測定信号】を高速測定系３
で測定する。これにより得られたデータはスイッチ４を
介してＤＳＰ５に送出する。ＤＳＰ５では前述で得られ
た特性データを基に高速測定系３の誤差を補正し高精度
な高速測定出力を出力する。
上記操作のうち特性データを得るまでの一連の信号の様
子を第２図に示す。同図において、高速パルス発生装置
７の出カベ＠は高速測定系３で測定され、高速渭１定系
３の出力■のように立上り、立下りの乱れた信号として
観測される。ただし、これらの信号は繰り返し信号を用
い必ず信号の前縁と後縁が連続となるようにする。
子を第２図に示す。同図において、高速パルス発生装置
７の出カベ＠は高速測定系３で測定され、高速渭１定系
３の出力■のように立上り、立下りの乱れた信号として
観測される。ただし、これらの信号は繰り返し信号を用
い必ず信号の前縁と後縁が連続となるようにする。
比からパルスの位置情報を抽出する。同時に２次高調波
成分からデユーティ比を算出する。すなわちデユーティ
比５０％の場合、偶数次成分はＳｉｎ （Ｘ）／Ｘ＝０
となるのでン肖失するが、５０％からずれていると完全
には消失しない点に着目し、Ｘ＝２πイ」近の５ｉｎ（
Ｘ）／Ｘの逆関数あるいはニュートン法などによって２
次高調波の位相を求めると、５ｉｎ（Ｘ） ／ Ｘはパ
ルス幅を変数とする周期関数なのでデユーティ比を求め
ることができる。位置情幸Ｕとデユーティ比情報を元に
して高速測定系出力■を規格化する。具体的には位置補
正は出力■の前縁・後縁のデータを移動さセ、デユーテ
ィ比補正は出力■の立上り、立下りの過渡現象が充分に
収束した部分を補間し伸縮する。
成分からデユーティ比を算出する。すなわちデユーティ
比５０％の場合、偶数次成分はＳｉｎ （Ｘ）／Ｘ＝０
となるのでン肖失するが、５０％からずれていると完全
には消失しない点に着目し、Ｘ＝２πイ」近の５ｉｎ（
Ｘ）／Ｘの逆関数あるいはニュートン法などによって２
次高調波の位相を求めると、５ｉｎ（Ｘ） ／ Ｘはパ
ルス幅を変数とする周期関数なのでデユーティ比を求め
ることができる。位置情幸Ｕとデユーティ比情報を元に
して高速測定系出力■を規格化する。具体的には位置補
正は出力■の前縁・後縁のデータを移動さセ、デユーテ
ィ比補正は出力■の立上り、立下りの過渡現象が充分に
収束した部分を補間し伸縮する。
以上の処理で得られた規格化測定出力を再びＦＦＴを行
なうと偶数次成分がなく、奇数次成分を高次まで得るこ
とができる。比較を行うシミュレータ出力についても正
確に位置合わせやデユーティ比が５０％とはならない場
合には上記と同様な処理を施しＦＦＴを行ない奇数次成
分を高次まで得る。規格化された測定出力とシミュレー
タ出力からＦＦＴを行なって得た奇数次成分を比較し、
高速測定系３の特性データを得る。偶数次成分は全て規
格化の誤差であり特性データには使わない。
なうと偶数次成分がなく、奇数次成分を高次まで得るこ
とができる。比較を行うシミュレータ出力についても正
確に位置合わせやデユーティ比が５０％とはならない場
合には上記と同様な処理を施しＦＦＴを行ない奇数次成
分を高次まで得る。規格化された測定出力とシミュレー
タ出力からＦＦＴを行なって得た奇数次成分を比較し、
高速測定系３の特性データを得る。偶数次成分は全て規
格化の誤差であり特性データには使わない。
また、上記ＦＦＴは複素数で旧算し特性データも複素数
として得ると、直交変換により利得と位相を基本波から
の相対値として得られる。基本波周波数は充分に低く正
確である。よって特性データによって高次までの利得と
位相の絶対値を得られる。
として得ると、直交変換により利得と位相を基本波から
の相対値として得られる。基本波周波数は充分に低く正
確である。よって特性データによって高次までの利得と
位相の絶対値を得られる。
次にスイッチ２とスイッチ４を切り換え被測定信号１を
測定し特性データと共にＤＳＰ５により補正を行ない高
精度な高速測定出力を求める。この場合の補正は周波数
軸上で乗算し時間軸上に変換しても良いし、予め特性デ
ータを時間軸上に変換しておきコンボリューションによ
って所望の出力を求めても良い。
測定し特性データと共にＤＳＰ５により補正を行ない高
精度な高速測定出力を求める。この場合の補正は周波数
軸上で乗算し時間軸上に変換しても良いし、予め特性デ
ータを時間軸上に変換しておきコンボリューションによ
って所望の出力を求めても良い。
上記実施例において、デユーティ比を５０％とはせずに
、そのまま規格化せずに振幅の低下する次数を求め、特
性データから削除しても良い。また、特性データの分解
能をある程度細かく取り、各データ間は直線近似により
求めることで被測定信号入力の測定条件を変えても再度
特性データをとり直さなくても良くできる。
、そのまま規格化せずに振幅の低下する次数を求め、特
性データから削除しても良い。また、特性データの分解
能をある程度細かく取り、各データ間は直線近似により
求めることで被測定信号入力の測定条件を変えても再度
特性データをとり直さなくても良くできる。
また、第１図の参照番号５．８．９．１２のデータ処理
部分をコンピューターのソフトウェアにより行いシステ
ムを簡略化できる。また、デユーティ比を２次高調波か
ら得すに他の成分から求めて良い。
部分をコンピューターのソフトウェアにより行いシステ
ムを簡略化できる。また、デユーティ比を２次高調波か
ら得すに他の成分から求めて良い。
以」二の説明から明らかなように、本発明によれば高速
測定系の誤差をほぼ完全に除去し高精度な測定ができる
、セトリング特性のようなステップ状の波形のみならず
、あらゆる波形の高精度な高速測定が実現できる等の多
大な効果を有するものである。
測定系の誤差をほぼ完全に除去し高精度な測定ができる
、セトリング特性のようなステップ状の波形のみならず
、あらゆる波形の高精度な高速測定が実現できる等の多
大な効果を有するものである。
第１図は本発明の一実施例を示す図、第２図は第１図に
示す装置の動作を説明するための図、第３図は５ｉｎ（
Ｘ）／Ｘを表わす図である。 ２．４：スイフチ ３：高速／ｌｔり足糸５．８
：ＤＳＰ ７；高速パルス発生装置９：特性
データ記憶装置 １０；パラメータ抽出装置１）；回路
パラメータ １２：回路シミュレーク出願人 横河
・ヒユーレット・バノカ一ド株式会社代理人 弁理士
長谷用 次男 ■ １審昌東ぺ１し又発曳層腎 ｂカ （流形） （ｉ；１）邑プ５ト≧タリ゛］ン腓−系ぬ力 （す”−
り） 第 ２ 図
示す装置の動作を説明するための図、第３図は５ｉｎ（
Ｘ）／Ｘを表わす図である。 ２．４：スイフチ ３：高速／ｌｔり足糸５．８
：ＤＳＰ ７；高速パルス発生装置９：特性
データ記憶装置 １０；パラメータ抽出装置１）；回路
パラメータ １２：回路シミュレーク出願人 横河
・ヒユーレット・バノカ一ド株式会社代理人 弁理士
長谷用 次男 ■ １審昌東ぺ１し又発曳層腎 ｂカ （流形） （ｉ；１）邑プ５ト≧タリ゛］ン腓−系ぬ力 （す”−
り） 第 ２ 図
Claims (1)
- （１）基準となる信号を発生する基準信号発生装置と、 測定の対象となる被測定信号と、 入力したアナログ信号の所定のレベルをデジタル変換し
て出力する高速測定装置と、 前記被測定信号と前記基準信号発生装置の出力とを選択
的に前記高速測定装置の入力に接続する第１スイッチと
、 前記基準信号発生装置の電流、温度などのパラメータを
抽出するパラメータ抽出装置と、前記基準信号発生装置
の既知の回路パラメータと、 前記回路パラメータと前記パラメータ抽出装置との情報
を基に前記基準信号発生装置の信号をシミュレートする
回路シミュレータと、 デジタル信号処理を行なう第１デジタル信号処理装置、
第２デジタル信号処理装置 と、 前記高速測定装置の出力に前記第１デジタル信号処理装
置、第２デジタル信号処理装置のそれぞれの入力を選択
的に接続する第２スイッチと、 前記基準信号発生装置の出力を前記高速測定装置によっ
て測定したデータと前記回路シミュレータの出力とから
前記第１デジタル信号処理装置により算出された特性デ
ータを記憶し、その出力を前記第２デジタル信号処理装
置に送る特性データ記憶装置と、 から成り、前記第２デジタル信号処理装置は前記被測定
信号を前記高速測定装置によって測定したデータと前記
特性データ記憶装置からのデータとを基に前記高速測定
装置の誤差を補正し、高精度の高速測定出力を発生する
ことを特徴とする波形測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8209888A JP2698598B2 (ja) | 1988-04-01 | 1988-04-01 | 波形測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8209888A JP2698598B2 (ja) | 1988-04-01 | 1988-04-01 | 波形測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01253673A true JPH01253673A (ja) | 1989-10-09 |
| JP2698598B2 JP2698598B2 (ja) | 1998-01-19 |
Family
ID=13764941
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8209888A Expired - Lifetime JP2698598B2 (ja) | 1988-04-01 | 1988-04-01 | 波形測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2698598B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007306555A (ja) * | 2006-05-01 | 2007-11-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | デジタル信号のデューティ・サイクルを補正するための方法および装置 |
| CN102955080A (zh) * | 2011-08-16 | 2013-03-06 | 重庆融海超声医学工程研究中心有限公司 | 用于测量电学参数的便携式测量仪及其测量方法 |
| CN103293420A (zh) * | 2013-06-06 | 2013-09-11 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种多参数数字信号处理硬件电路及多参数处理方法 |
-
1988
- 1988-04-01 JP JP8209888A patent/JP2698598B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007306555A (ja) * | 2006-05-01 | 2007-11-22 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | デジタル信号のデューティ・サイクルを補正するための方法および装置 |
| CN102955080A (zh) * | 2011-08-16 | 2013-03-06 | 重庆融海超声医学工程研究中心有限公司 | 用于测量电学参数的便携式测量仪及其测量方法 |
| CN103293420A (zh) * | 2013-06-06 | 2013-09-11 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种多参数数字信号处理硬件电路及多参数处理方法 |
| CN103293420B (zh) * | 2013-06-06 | 2016-01-20 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种多参数数字信号处理硬件电路及多参数处理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2698598B2 (ja) | 1998-01-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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