JPH01256046A - 光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法 - Google Patents
光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法Info
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- JPH01256046A JPH01256046A JP8370688A JP8370688A JPH01256046A JP H01256046 A JPH01256046 A JP H01256046A JP 8370688 A JP8370688 A JP 8370688A JP 8370688 A JP8370688 A JP 8370688A JP H01256046 A JPH01256046 A JP H01256046A
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- Japan
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- signal
- optical disk
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ディスクにおける同心や振れおよびその加
速度などを測定する光ディスク検査装置において、光デ
ィスクの案内溝にサーボをかけるサーボ機構の周波数特
性を測定するサーボ特性測定方法に関するものである。
速度などを測定する光ディスク検査装置において、光デ
ィスクの案内溝にサーボをかけるサーボ機構の周波数特
性を測定するサーボ特性測定方法に関するものである。
従来、この種の光ディスク検査装置においては、光ディ
スクの案内溝にトラッキングサーボおよびフォーカスサ
ーボをかけ、光ヘッド（対物レンズ）を光ディスクの動
きに追従させて、光ディスクの読取状態を維持するとと
もに、このときの対物レンズの動きを変位センサにより
検出して、光ディスクの偏心量および振れ量に対応した
出力信号を得ている。また、変位センサの出力信号をＡ
／Ｄ変換器を介して読み取り、データ処理を行なうこと
により、偏心加速度および振れ加速度を求めている。
スクの案内溝にトラッキングサーボおよびフォーカスサ
ーボをかけ、光ヘッド（対物レンズ）を光ディスクの動
きに追従させて、光ディスクの読取状態を維持するとと
もに、このときの対物レンズの動きを変位センサにより
検出して、光ディスクの偏心量および振れ量に対応した
出力信号を得ている。また、変位センサの出力信号をＡ
／Ｄ変換器を介して読み取り、データ処理を行なうこと
により、偏心加速度および振れ加速度を求めている。
ここで、光ヘッドにおけるサーボ機構の周波数特性（応
答性）は規格により定められている。すなわち、応答性
の異なる（応答性の良い）サーボａ構により対物レンズ
の動きを制御すると、通常のサーボ１ａ１１１！では追
従できないような微小な変位までも追従してしまい、光
ディスクの特性を過大に評価してしまうことがある。特
に、偏心加速度などを計算するときには、周波数特性の
高域部分が大きく影響してしまう。
答性）は規格により定められている。すなわち、応答性
の異なる（応答性の良い）サーボａ構により対物レンズ
の動きを制御すると、通常のサーボ１ａ１１１！では追
従できないような微小な変位までも追従してしまい、光
ディスクの特性を過大に評価してしまうことがある。特
に、偏心加速度などを計算するときには、周波数特性の
高域部分が大きく影響してしまう。
このため、光ディスク検査装置においては、サーボ機構
の特性を正確に測定する必要がある。
の特性を正確に測定する必要がある。
しかしながら、光ディスクの案内溝にサーボをかけた実
サーボ状態においては、光ディスクの種類により案内溝
の形状（例えば、幅）が変化すると、光ヘツド自体の特
性が等しくても、閉ループでの特性は大きく変化してし
まう、また、通常、このようなサーボ特性は、サーボア
ナライザを使用して測定されるが、実サーボ状態では、
光ディスクの振れなどが測定加振信号に影響して、測定
データが乱れ、正確な測定ができなくなってしまう。
サーボ状態においては、光ディスクの種類により案内溝
の形状（例えば、幅）が変化すると、光ヘツド自体の特
性が等しくても、閉ループでの特性は大きく変化してし
まう、また、通常、このようなサーボ特性は、サーボア
ナライザを使用して測定されるが、実サーボ状態では、
光ディスクの振れなどが測定加振信号に影響して、測定
データが乱れ、正確な測定ができなくなってしまう。
本発明は、上記のような従来方法の欠点をなくし、光デ
ィスクの振れなどに影響されることなく、実サーボ状態
での閉ループ特性を容易に測定することのできるサーボ
特性測定方法を提供することを目的としたものである。
ィスクの振れなどに影響されることなく、実サーボ状態
での閉ループ特性を容易に測定することのできるサーボ
特性測定方法を提供することを目的としたものである。
本発明の光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法は、
対物レンズの変位量を測定する変位センサを有する光デ
ィスク検査装置において、測定加振信号として任意の周
波数の正弦波信号を発生する正弦波信号発生手段と、こ
の測定加振信号をサーボエラー信号に加算する信号加算
手段とを付加するとともに、 （イ） 光ディスクにサーボをかけた実サーボ状態にお
いて、サーボエラー信号に前記測定加振信号を加算して
、所定のトラック区間における前記変位センサの出力信
号を測定する第１の測定工程と、 （ロ） この第１の測定工程と同じトラック区間を実サ
ーボ状態で走査して、測定加振信号を加算しないときの
変位センサ出力を測定する第２の測定工程と、 （ハ） 前記第１の測定工程により得られた出力信号か
ら前記第２の測定工程により得られた出力信号を減算し
て、そのときの測定加振信号の周波数におけるサーボＲ
横の伝達関数を演算する演算工程とを有し、 前記測定加振信号の周波数を順次変化させながら、前記
（イ）〜（ハ）の工程を繰り返し、その光ディスクに対
するサーボ特性を測定するようにしたものである。
対物レンズの変位量を測定する変位センサを有する光デ
ィスク検査装置において、測定加振信号として任意の周
波数の正弦波信号を発生する正弦波信号発生手段と、こ
の測定加振信号をサーボエラー信号に加算する信号加算
手段とを付加するとともに、 （イ） 光ディスクにサーボをかけた実サーボ状態にお
いて、サーボエラー信号に前記測定加振信号を加算して
、所定のトラック区間における前記変位センサの出力信
号を測定する第１の測定工程と、 （ロ） この第１の測定工程と同じトラック区間を実サ
ーボ状態で走査して、測定加振信号を加算しないときの
変位センサ出力を測定する第２の測定工程と、 （ハ） 前記第１の測定工程により得られた出力信号か
ら前記第２の測定工程により得られた出力信号を減算し
て、そのときの測定加振信号の周波数におけるサーボＲ
横の伝達関数を演算する演算工程とを有し、 前記測定加振信号の周波数を順次変化させながら、前記
（イ）〜（ハ）の工程を繰り返し、その光ディスクに対
するサーボ特性を測定するようにしたものである。
このように、測定加振信号を加算したときとそうでない
ときとの変位センサの出力信号を測定し、これらの信号
の差をとるようにすると、変位センサ出力から光ディス
クにおける振れなどの影響を除去することができ、実サ
ーボ状態でのサーボ特性を測定することができる。また
、検査装置が持っている変位センサを利用することがで
きるので、サーボアナライザなどを使用することなく、
実サーボ状態でのサーボ特性を容易に測定することがで
きる。
ときとの変位センサの出力信号を測定し、これらの信号
の差をとるようにすると、変位センサ出力から光ディス
クにおける振れなどの影響を除去することができ、実サ
ーボ状態でのサーボ特性を測定することができる。また
、検査装置が持っている変位センサを利用することがで
きるので、サーボアナライザなどを使用することなく、
実サーボ状態でのサーボ特性を容易に測定することがで
きる。
以下、図面を使用して、本発明の光ディスク検査装置の
サーボ特性測定方法を説明する。
サーボ特性測定方法を説明する。
図は本発明の光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法
の一実施例を示す構成図である０図において、１は検査
しようとする種類の光ディスク、２は光ディスク１を一
定速度で回転させるスピンドルモータ、２１はスピンド
ルモータ２の回転角を検出するエンコーダである。エン
コーダ２１は、例えば、回転角に比例した１０２４（パ
ルス／回転〕のパルス信号ＰＡと、基準位置（ゼロ位置
）を示す１回転に１つのパルス信号Ｐｚを発生する。
の一実施例を示す構成図である０図において、１は検査
しようとする種類の光ディスク、２は光ディスク１を一
定速度で回転させるスピンドルモータ、２１はスピンド
ルモータ２の回転角を検出するエンコーダである。エン
コーダ２１は、例えば、回転角に比例した１０２４（パ
ルス／回転〕のパルス信号ＰＡと、基準位置（ゼロ位置
）を示す１回転に１つのパルス信号Ｐｚを発生する。
３は光ディスク１の記録面にレーザ光を照射する光ヘッ
ドであ、る。光ヘッド３において、３１は対物レンズ、
３２はサーボ回路の働きに応じて対物レンズ３１をフォ
ーカス方向およびトラッキング方向に変位させるレンズ
アクチュエータ、３３は光ディスク１からの反射光を利
用してサーボエラー信号Ｓｅを発生するサーボディテク
タ、３４は対物レンズ３１の変位を検出する変位センサ
である。光ヘッド３は送り機構（図示せず）により光デ
ィスク１の半径方向に移動される。
ドであ、る。光ヘッド３において、３１は対物レンズ、
３２はサーボ回路の働きに応じて対物レンズ３１をフォ
ーカス方向およびトラッキング方向に変位させるレンズ
アクチュエータ、３３は光ディスク１からの反射光を利
用してサーボエラー信号Ｓｅを発生するサーボディテク
タ、３４は対物レンズ３１の変位を検出する変位センサ
である。光ヘッド３は送り機構（図示せず）により光デ
ィスク１の半径方向に移動される。
４はサーボエラー信号Ｓｅに応じてレンズアクチュエー
タ３２を駆動するサーボアンプ、５はアナログ・ディジ
タル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略記する）、６は各
種のデータ処理や検査装置全体の動作を制御する計算機
である。Ａ／Ｄ変換器５はパルス信号ＰＡおよびＰｚに
同期させて、変位センサ３４の出力信号ＳｍをＡ／Ｄ変
換し、その出力は計’Ｊｉ、Ｒ６に取り込まれる。
タ３２を駆動するサーボアンプ、５はアナログ・ディジ
タル変換器（以下、Ａ／Ｄ変換器と略記する）、６は各
種のデータ処理や検査装置全体の動作を制御する計算機
である。Ａ／Ｄ変換器５はパルス信号ＰＡおよびＰｚに
同期させて、変位センサ３４の出力信号ＳｍをＡ／Ｄ変
換し、その出力は計’Ｊｉ、Ｒ６に取り込まれる。
７は計算ｆｉ６からの指令により、測定加振信号Ｓａと
して指定された周波数の正弦波信号を発生する正弦波信
号発生手段、８は測定加振信号Ｓａをサーボエラー信号
Ｓｅに加算する信号加算手段である。正弦波信号発生手
段７において、７１はパルス信号ＰＡをクロックとし、
パルス信号Ｐ２に同期させて、指定された周波数を発生
する分周カウンタ方式の発振器、７２はこの周波数信号
に同期した正弦波信号（Ｓａ）を発生する正弦波発振器
である。
して指定された周波数の正弦波信号を発生する正弦波信
号発生手段、８は測定加振信号Ｓａをサーボエラー信号
Ｓｅに加算する信号加算手段である。正弦波信号発生手
段７において、７１はパルス信号ＰＡをクロックとし、
パルス信号Ｐ２に同期させて、指定された周波数を発生
する分周カウンタ方式の発振器、７２はこの周波数信号
に同期した正弦波信号（Ｓａ）を発生する正弦波発振器
である。
このように構成された光ディスク検査装置においては、
正弦波信号発生手段７および信号加算手段８が新たに付
加されたものである。
正弦波信号発生手段７および信号加算手段８が新たに付
加されたものである。
以下、このような構成において検査装置のサーボ特性を
測定する手順を説明する。
測定する手順を説明する。
まず、光ディスク１を回転させるとともに、案内溝にサ
ーボをかけ、検査装置を実サーボ状態とする。
ーボをかけ、検査装置を実サーボ状態とする。
ここで、サーボエラー信号Ｓｅに測定加振信号Ｓａを加
算して、所定のトラック区間における変位センサ３４の
出力信号Ｓｍを測定する。これを第１の測定工程とする
。
算して、所定のトラック区間における変位センサ３４の
出力信号Ｓｍを測定する。これを第１の測定工程とする
。
次に、測定加振信号Ｓａを加算しない状態として、この
第１の測定工程と同じトラック区間を走査し、実サーボ
状態における変位センサ出力Ｓｍを測定する。これを第
２の測定工程とする。
第１の測定工程と同じトラック区間を走査し、実サーボ
状態における変位センサ出力Ｓｍを測定する。これを第
２の測定工程とする。
ここで、第１の測定工程により得られた出力信号から第
２の測定工程により得られた出力信号を減算すると、光
ディスク１の振れなどに影響されず、測定加振信号Ｓａ
にのみ対応した変位センサ３４の出力信号Ｓｍを得るこ
とができ、そのときの測定加振信号Ｓａの周波数におけ
る閉ループ伝達関数を求めることができる。このような
演算工程は計算機６により行なわれる。
２の測定工程により得られた出力信号を減算すると、光
ディスク１の振れなどに影響されず、測定加振信号Ｓａ
にのみ対応した変位センサ３４の出力信号Ｓｍを得るこ
とができ、そのときの測定加振信号Ｓａの周波数におけ
る閉ループ伝達関数を求めることができる。このような
演算工程は計算機６により行なわれる。
したがって、測定加振信号Ｓａの周波数をパラメータと
して、第１．第２の測定工程および演算工程を順次繰り
返せば、光ディスク１の種類に応じて変化した実サーボ
状態でのサーボ特性を測定することができる。
して、第１．第２の測定工程および演算工程を順次繰り
返せば、光ディスク１の種類に応じて変化した実サーボ
状態でのサーボ特性を測定することができる。
なお、上記の説明においては、正弦波信号発生手段７の
構成として、分周カウンタ方式の発振器７１および正弦
波発振器７２を例示したが、正弦波信号発生手段７の構
成はこれに限られるものではない０例えば、１０２４ワ
ードのＲＯＭに発生させたい周波数の数値データを格納
しておき、パルス信号Ｐｚでアドレスリセットを、パル
ス信号ＰＡでアドレスインクリメントを行ない、その出
力をＤ／Ａ変換器でアナログ信号に変え、ローパスフィ
ルタを介して出力するようにしても良い。
構成として、分周カウンタ方式の発振器７１および正弦
波発振器７２を例示したが、正弦波信号発生手段７の構
成はこれに限られるものではない０例えば、１０２４ワ
ードのＲＯＭに発生させたい周波数の数値データを格納
しておき、パルス信号Ｐｚでアドレスリセットを、パル
ス信号ＰＡでアドレスインクリメントを行ない、その出
力をＤ／Ａ変換器でアナログ信号に変え、ローパスフィ
ルタを介して出力するようにしても良い。
また、サーボ特性を測定する手順において、第１の測定
工程と第２の測定工程とは、逆の順序でも差し支えない
。
工程と第２の測定工程とは、逆の順序でも差し支えない
。
以上説明したように、本発明の光ディスク検査装置のサ
ーボ特性測定方法では、対物レンズの変位量を測定する
変位センサを有する光ディスク検査装置において、測定
加振信号として任意の周波数の正弦波信号を発生する正
弦波信号発生手段と、この測定加振信号をサーボエラー
信号に加算する信号加算手段とを付加するとともに、 （イ） 光ディスクにサーボをかけた実サーボ状態にお
いて、サーボエラー信号に前記測定加振信号を加算して
、所定のトラック区間における前記変位センサの出力信
号を測定する第１の測定工程と、 （ロ） この第１の測定工程と同じトラック区間を実サ
ーボ状態で走査して、測定加振信号を加算しないときの
変位センサ出力を測定する第２の測定工程と、 （ハ） 前記第１の測定工程により得られた出力信号か
ら前記第２の測定工程仲より得られた出力信号を減算し
て、そのときの測定加振信号の周波数におけるサーボ機
構の伝達関数を演算する演算工程とを有し、 前記測定加振信号の周波数を順次変化させながら、前記
（イ）〜（ハ）の工程を繰り返し、その光ディスクに対
するサーボ特性を測定するようにしているので、変位セ
ンサ出力から光ディスクにおける振れなどの影響を除去
することができ、光ディスクの振れなどに影響されるこ
となく、実サーボ状態での閉ループ特性を容易に測定す
ることのできるサーボ特性測定方法を提供することがで
きる。
ーボ特性測定方法では、対物レンズの変位量を測定する
変位センサを有する光ディスク検査装置において、測定
加振信号として任意の周波数の正弦波信号を発生する正
弦波信号発生手段と、この測定加振信号をサーボエラー
信号に加算する信号加算手段とを付加するとともに、 （イ） 光ディスクにサーボをかけた実サーボ状態にお
いて、サーボエラー信号に前記測定加振信号を加算して
、所定のトラック区間における前記変位センサの出力信
号を測定する第１の測定工程と、 （ロ） この第１の測定工程と同じトラック区間を実サ
ーボ状態で走査して、測定加振信号を加算しないときの
変位センサ出力を測定する第２の測定工程と、 （ハ） 前記第１の測定工程により得られた出力信号か
ら前記第２の測定工程仲より得られた出力信号を減算し
て、そのときの測定加振信号の周波数におけるサーボ機
構の伝達関数を演算する演算工程とを有し、 前記測定加振信号の周波数を順次変化させながら、前記
（イ）〜（ハ）の工程を繰り返し、その光ディスクに対
するサーボ特性を測定するようにしているので、変位セ
ンサ出力から光ディスクにおける振れなどの影響を除去
することができ、光ディスクの振れなどに影響されるこ
となく、実サーボ状態での閉ループ特性を容易に測定す
ることのできるサーボ特性測定方法を提供することがで
きる。
図は本発明の光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法
の一実施例を示す構成図である。 １・・・・・・光ディスク、２・・・・・・スピンドル
モータ、２１・・・・・・エンコーダ、３・・・・・・
光ヘッド、４・・・・・・サーボアンプ、５・・・・・
・Ａ／Ｄ変換器、６・・・・・・計算機、７・・・・・
・正弦波信号発生手段、８・・・・・・信号加算手段。
の一実施例を示す構成図である。 １・・・・・・光ディスク、２・・・・・・スピンドル
モータ、２１・・・・・・エンコーダ、３・・・・・・
光ヘッド、４・・・・・・サーボアンプ、５・・・・・
・Ａ／Ｄ変換器、６・・・・・・計算機、７・・・・・
・正弦波信号発生手段、８・・・・・・信号加算手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 対物レンズの変位量を測定する変位センサを有する光デ
ィスク検査装置において、測定加振信号として任意の周
波数の正弦波信号を発生する正弦波信号発生手段と、こ
の測定加振信号をサーボエラー信号に加算する信号加算
手段とを付加するとともに、 （イ）光ディスクにサーボをかけた実サーボ状態におい
て、サーボエラー信号に前記測定加振信号を加算して、
所定のトラック区間における前記変位センサの出力信号
を測定する第１の測定工程と、 （ロ）この第１の測定工程と同じトラック区間を実サー
ボ状態で走査して、測定加振信号を加算しないときの変
位センサ出力を測定する第２の測定工程と、 （ハ）前記第１の測定工程により得られた出力信号から
前記第２の測定工程により得られた出力信号を減算して
、そのときの測定加振信号の周波数におけるサーボ機構
の伝達関数を演算する演算工程とを有し、 前記測定加振信号の周波数を順次変化させながら、前記
（イ）〜（ハ）の工程を繰り返し、その光ディスクに対
するサーボ特性を測定することを特徴とする光ディスク
検査装置のサーボ特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8370688A JPH01256046A (ja) | 1988-04-05 | 1988-04-05 | 光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8370688A JPH01256046A (ja) | 1988-04-05 | 1988-04-05 | 光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01256046A true JPH01256046A (ja) | 1989-10-12 |
Family
ID=13809938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8370688A Pending JPH01256046A (ja) | 1988-04-05 | 1988-04-05 | 光ディスク検査装置のサーボ特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01256046A (ja) |
-
1988
- 1988-04-05 JP JP8370688A patent/JPH01256046A/ja active Pending
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