JPH01257190A - 気相結晶成長装置 - Google Patents

気相結晶成長装置

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JPH01257190A
JPH01257190A JP8218788A JP8218788A JPH01257190A JP H01257190 A JPH01257190 A JP H01257190A JP 8218788 A JP8218788 A JP 8218788A JP 8218788 A JP8218788 A JP 8218788A JP H01257190 A JPH01257190 A JP H01257190A
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JP
Japan
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susceptor
chamber
growth
growth chamber
substrate
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JP8218788A
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English (en)
Inventor
Mitsuru Shimazu
充 嶋津
Toshio Ueda
登志雄 上田
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体薄膜結晶を基板の上に気相成長させる
装置に関し、特に、有機金属気相成長法などを実施する
のに適した装置に関する。
(従来の技術) 従来、AfGaAs系の半導体薄膜結晶は、有機金属気
相成長法(OMVPE法)により成長させる。
この種の結晶成長では、空気中の水分や酸素が成長室に
混入すると、結晶の特性を低下させるという問題がある
ところから、真空排気手段を備えた予備室を用いること
により、水分や酸素を除去してから基板を成長室に移し
て気相結晶成長を行う装置が使用されている。
ノ 置の概念図である。第4図の装置は、縦型成長室1の下
方側壁にゲートバルブ3を介して予備室2を設けたもの
で、それぞれに排気手段を接続する。まず、ゲートバル
ブ3を閉じた状態で予備室2のサセプタ5に基板6を装
填し、予備室2を真空排気して残留水分と酸素等のガス
を除去した後、ゲートバルブ3を開け、サセプタ5を載
せた支持台4をロッド10により成長室lの支持軸9の
上方に移動し、支持軸9を上昇させてサセプタ5を成長
領域に移動するとともに、支持台4を予備室2に戻して
ゲートバルブ3を閉じる。その後、高周波加熱コイル1
2に通電して基板6を加熱し、上方より原料ガス11を
導入することにより基板6の上に結晶薄膜を成長させる
。所定の厚さの結晶薄膜を形成した後、原料ガス11を
停止し、成長室1の残留ガスを排気する。次いで、ゲー
トバルブ3を開け、支持台4を成長室1に移動するとと
もに、支持軸9を下降させてサセプタ5を支持台4上に
回収し、支持台4を予備室2に戻してからゲートバルブ
3を閉じる。そして、予備室2から、結晶薄膜を有する
基板6を取り出し、新たな基板6をサセプタ5に装填し
、予備室のT:r、空排気、成長室への移動、結晶成長
と上記の工程を繰り返す。
ゲ 第5図の装置は、縦型成長室1の上方にゲートバルブ3
を介して予備室2を設けたもので、該予備室2は真空排
気系と接続し、成長室1も別途排気可能とする。基板6
を装填したサセプタ5は、予備室2に収容され、真空排
気処理して残留水分や酸素を除去した後、ゲートバルブ
3を開はトランスファーロッド10によりサセプタ5を
成長室lの支持軸9に搭載する。トランスファーロッド
10を予備室2に引き−にげてから、ゲートバルブ3を
閉じ、高周波コイル12で基板6を所定温度に保ち、原
料ガス11を導入して基板6の−Hに薄膜結晶を成長さ
せる。
所定の膜厚に成長すると、原料ガス11の供給を止め、
成長室Iの残留ガスを排気、または、不活性ガスでパー
ジしてから、再びゲートバルブ3を開けて、トランスフ
ァーロッド10によりサセプタ5を予備室2に引き上げ
る。そして、ゲートバルブ3を閉じてから、予備室2の
蓋を開けて薄膜結晶を有する基板6を取り出し、新たな
基板6をサセプタ上に装填し、次いで予備室の真空排気
、成長室へのサセプタの移動、結晶成長等の操作手順を
繰り返して、複数の基板上に薄膜結晶を逐次成長させる
(発明が解決しようとする課題) このように従来の装置では、1つのサセプタを用いて予
備室における真空排気から、成長室における結晶成長ま
で順次操作を行うために、基板の交換や予備室の真空排
気を行うときには、成長室を休ませなければならず、装
置全体の生産性を大幅に制約することになる。
そこで、本発明は、上記の問題点を解消し、結晶成長中
に予備室の基板交換と真空排気を行うことのできる気相
結晶成長装置を提供しようとするものである。
(課題を解決するための手段) 本発明は、(1)縦型成長室にゲートバルブを介して予
備室を接続し、両者にそれぞれ排気手段を設けた気相結
晶成長装置において、基板を装填する2以−Lのサセプ
タを載せ、水平移動する支持台を上記の予備室に設け、
該支持台から成長室にサセプタを移動する手段を設けた
ことを特徴とする気相結晶成長装置、(2)縦型成長室
の下方に1つのサセプタを収容可能な空間を残して、そ
の上方側壁に予備室を接続し、予備室に対向する位置に
支持台の先端を収容可能な側室を設け、一方、上記の支
持台の中央にはサセプタを通す開口を設け、左右のサセ
プタを載せる位置から上記の開口に至る、成長室の支持
軸を通す貫通口を設けたことを特徴とする上記(1)記
載の気相結晶成長装置、及び(3)縦型成長室の上部に
予備室を接続し、中央にサセプタを通す開口を設けた支
持台を用い、支持台から上記の開口及びゲートバルブを
通して成長室の支持軸上にサセプタを移動するトランス
ファーロッドを設けたことを特徴とする上記(1)記載
の気相結晶成長装置である。
(作用) り 第8図は、本発明の装置を用いて基板上に結晶成長を行
う手順を示した説明図である。予備室の2つのサセプタ
にそれぞれ基板を装填し、予備室内を真空排気すること
により残留水分や酸素を除去した後、成長室に該サセプ
タの1つを移動して支持軸に搭載し、基板を加熱すると
ともに原料ガスを導入して基板上に結晶成長を行う。結
晶成長終了後、成長室内の残留ガスを排気又はパージし
てから、サセプタを予備室の支持台に回収し、新たなサ
セプタを該支持台から成長室に移動して、再び結晶成長
を行う。支持台上の最後のサセプタを成長室に移動した
後に、予備室を大気に開放して結晶成長終了後の基板を
取り出し、新たな基板をサセプタ上に装填し、かつ、予
備室を真空排気して、サセプタ交換に備える。このよう
にして、成長室はサセプタ交換時を除いて、連続的に稼
働させることができ、スルーブツトを大幅に向上させる
ことができる。
これに対して、従来の装置では第2図にみるように、1
つのサセプタで総ての操作を行うために、基板交換及び
予備室の真空排気を行う間、成長室において結晶成長を
行うことはできない。
(実施例) 第1図及び第2図は、本発明の実施例である気相結晶成
長装置の概念図である。同図(a)は全体図であり、(
b)はサセプタ支持台の平面図である。
〕 第1図の装置は、第4図の改良であり、縦型成長室1の
下方側壁にゲートバルブ3を介して予備室2を接続した
ものである。予備室2に収容するサセプタ支持台4は、
中央にサセプタ5を通す開ロアを設け、その左右にサセ
プタ5を載せるようになっている。そのサセプタ5の位
置から上記開ロアに連ながる連通口8にサセプタ支持軸
9を貫通させた状態で移動可能とする。
サセプタ支持台4はロッド10によりゲートバルブ3を
通して成長室1に移動可能とする。支持台4の右側に載
せたサセプタ5を支持軸9に搭載するときに、支持台4
の先端を収容するための、側室13を設け、支持軸9に
搭載したサセプタ5を開ロアから支持台4の下方に下降
するときに、該サセプタ5を収容するための空間14を
確保する。なお、成長室lの成長領域の周囲に加熱用の
高周波コイル12を配置し、成長室1の上方より原料ガ
ス11を導入する。図には、2つのサセプタを載せる支
持台を示したが、支持台及び成長室側室を長くして3つ
以上のサセプタを載せて、サセプタへの基板交換及び予
備室の真空排気の回数を減らすこともできる。また、図
には、パンケーキ型のサセプタを示したが、バレル型な
どのサセプタを使用して、1つのサセプタに多数の基板
を装填して同時に結晶成長させることもできる。
次に、第1図の装置の操作手順を説明する。
まず、ゲートバルブ3を閉じた状態で予備室2のサセプ
タ5に基板6を装填する。なお、基板6を装填したサセ
プタ5を予備室2の支持台4に載せるようにしてもよい
。その後、予備室2を真空排気して残留水分や酸素を除
去する。その際、成長室lも排気することが好ましい。
支持軸9を下降へせ、ゲートバルブ3を開けてから、ロ
ッド10により支持台′4を成長室1内に移動し、結晶
成長工程に移すサセプタ5を支持軸9の上になるように
止める。それから、支持軸9を連通口8を貫通して上昇
させ、該サセプタ5を少し持ち上げ、支持台4を移動し
て、支持台の開ロアを支持軸9上のサセプタ5と一致さ
せ、サセプタ5を一旦支持台4の下の空間に下降させ、
支持台4を予備室2内に戻した後、ゲートバルブ3を閉
じる。それから、サセプタ5を成長領域まで上昇させ、
高周波コイル12で基板6を加熱し、上方より原料ガス
11を導入することにより、結晶成長を行う。所定の膜
厚を形成した後、成長室lを排気し、若しくは、不活性
ガスでパージして残留ガスを除去する。
そして、サセプタ5を成長室下方空間14に下降してか
ら、ゲートバルブ3を開けて支持台4の開ロアを該サセ
プタ5の位置に一致するように支持台4を移動する。該
開r77を通してサセプタ5を支持台4の上に上昇させ
、再び支持台4をサセプタ回収位置にまで移動し、支持
軸9を下降して支持台4に該サセプタ5を載せる。
次いで、他方のサセプタ5を同様の手順で支持軸9に搭
載して結晶成長を行う。その間、予備室2のサセプタ5
から基板6を取り出し、新たな基板6を該サセプタ5に
装填し、予備室2を真空排気してサセプタ交換に備える
このように一方のサセプタの基板で結晶成長する間、他
方のサセプタは予備室で基板交換と真空排気することが
できるので、1同の結晶成のであり、縦型成長室1の上
部にゲートバルブ3を介して予備室2を配置し、それぞ
れ排気系と接続したものである。予備室2には、2つの
サセプタ5を載せる支持台4を収容し、該支持台4には
、同図(b)に示すように、中央にサセプタ5を通す開
ロアが設けである。ゲートバルブ3を閉じた状態で予備
室2のサセプタ5に基板6を装填しする。次いで、予備
室2を真空排気した後、ゲートバルブ3を開け、成長室
1に移動するサセプタ5をトランスファーロッド13の
下に位置するように、ロッド10を用いて支持台4を移
動する。トランスファーロッド13で該サセプタ5を少
し持ち上げてから、支持台4を再び移動して支持台の開
ロアを上記のサセプタ5の位置に合わせる。それから、
トランスファーロッド13を下降して、成長室1の支持
軸9の上に該サセプタ5を搭載する。その後、トランス
ファーロッドI3を予備室2に引き上げてから、ゲート
バルブ3を閉じる。該サセプタ5を装填する基板6は高
周波コイル12で加熱され、成長室lの上方から原料ガ
ス!■を導入することにより、結晶成長を行う。所定の
厚さの薄膜結晶が形成されると、原料ガスIIの導入を
止め、成長室1内の残留ガスを排気した後、ゲートバル
ブ3を開けてサセプタ5とともに、基板6を予備室2に
回収し、新たな基板6を装填するサセプタ5を上記の手
順で成長室1にセットする。この装置でも、第1図の場
合と同様に、支持台4上の一方のサセプタ5を成長室1
に移動した後、結晶成長を行う間に、別のサセプタ5は
予備室2で基板交換と予備室の真空排気を行い、次のサ
セプタ交換に備える。
(発明の効果) 本発明は、上記の構成を採用することにより、予備室内
に複数のサセプタを載せる支持台を設けて、真空排気処
理した状態の複数のサセプタを順次成長室に移動して連
続的に結晶成長を行うことができ、また、最後の結晶成
長の間に予備室の基板交換と真空排気を行い、次の結晶
成長に備えることができるので、大気中の不純物を成長
室に持ち込むことがなく、高純度の薄膜結晶を効率的に
形成することができ、スルーブツトの向上に大きく寄与
するものである。
【図面の簡単な説明】
第1rA及び第2図は本発明の実施例である気相結晶成
長装置の概念図であり、図(a)は全体企図である。 第3図       第4図 第5図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)縦型成長室にゲートバルブを介して予備室を接続
    し、両者にそれぞれ排気手段を設けた気相結晶成長装置
    において、基板を装填する2以上のサセプタを載せ、水
    平移動する支持台を上記の予備室に設け、該支持台から
    成長室にサセプタを移動する手段を設けたことを特徴と
    する気相結晶成長装置。
  2. (2)縦型成長室の下方に1つのサセプタを収容可能な
    空間を残して、その上方側壁に予備室を接続し、予備室
    に対向する位置に支持台の先端を収容可能な側室を設け
    、一方、上記の支持台の中央にはサセプタを通す開口を
    設け、左右のサセプタを載せる位置から上記の開口に至
    る、成長室の支持軸を通す貫通口を設けたことを特徴と
    する特許請求の範囲(1)記載の気相結晶成長装置。
  3. (3)縦型成長室の上部に予備室を接続し、中央にサセ
    プタを通す開口を設けた支持台を用い、支持台から上記
    の開口及びゲートバルブを通して成長室の支持軸上にサ
    セプタを移動するトランスファーロッドを設けたことを
    特徴とする特許請求の範囲(1)記載の気相結晶成長装
    置。
JP8218788A 1988-04-05 1988-04-05 気相結晶成長装置 Pending JPH01257190A (ja)

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