JPH01259533A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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JPH01259533A
JPH01259533A JP63088453A JP8845388A JPH01259533A JP H01259533 A JPH01259533 A JP H01259533A JP 63088453 A JP63088453 A JP 63088453A JP 8845388 A JP8845388 A JP 8845388A JP H01259533 A JPH01259533 A JP H01259533A
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lens
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eye lens
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    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70075Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、エキシマレーザ光等のような可干渉性のビー
ムを用いた半導体製造用露光装置等に使用される照明光
学装置に関するものである。
〔従来の技術〕
半導体製造用露光装置は光源からの露光光の短波長化に
よる高解像力化が行われている。現在量も有力な短波長
光源はエキシマレーザである。第2図は従来の水銀ラン
プを(光源としたときに最適に設計された)照明系にエ
キシマレーザ光源を入れた場合の光路を模式的に示した
図である。
レーザ光源からのビームLBは図中の左からオプチカル
・インテグレータとしてのフライアイレンズ1にほぼ平
行光束となって入射する。このフライアイレンズ1はレ
チクルRを一様に照明するため不可欠なものである。
さてフライアイレンズ1は、ここでは3つのエレメント
レンズ1a、1b、ICで構成され、各エレメントレン
ズの射出端側の空間a、b、cに2次光源(レーザ光の
集光スポット)が形成される。それら各点a、b、cか
ら拡散した光は、コンデンサーレンズ2で集められ、レ
チクルRを均一な照度分布で照明する。レチクル上のパ
ターンは投影レンズPLによりウェハWへ投影露光され
る。又、2次光[a、b、cは投影レンズPLの瞳面e
pに結像されている。
通常フライアイレンズを構成するエレメントレンズの個
数は10xlO=100個の2次元配列をしているが、
ここではわかり易くするため3個のレンズ1a、1b、
ICを1次元配列で代表して示した。
ところがこの照明系には以下のような問題点があった。
すなわち水銀ランプの場合と異なり、レーザ光をフライ
アイレンズ1に入射すると2次光fia、b、cは非常
に高輝度なスポットとなる。
従ってこの2次光源が光路中の光学部品(レンズ等)に
結像(集光)すると、光学部品の破壊が生じるという問
題である。又、レンズの表面等の極く弱い反射によって
でもレチクル近傍に2次光源が結像すると、それらの光
源像がレチクルで反射されウェハ上に再結像してしまい
、ゴーストが生じるという問題もあった。
しかしながら、このような問題は、本願出瀬人が開発し
た新たな手法によって簡単に解決できることが確認され
た。それは例えば特開昭58−147708号公報に開
示されているように、フライアイレンズを2組用いる方
法をさらに改良した方法である。この方法を第3図に示
す。図に示すように第1のフライアイレンズ3によって
できた2次光[a、b、cからの光を集光レンズ4で集
光して第2のフライアイレンズ5に入射させることによ
ってフライアイレンズ5の各エレメントレンズ5−L 
5−2.5−3の各射出端側に3次光源(スポット光)
a+ s b+ 、C+を作る。この3次光源は2次光
源より数が増えているので各点の強度は非常に弱くなっ
ている。
第3図において、第1のフライアイレンズ3のビームL
Bの入射側では、各エレメントレンズ(石英による四角
柱のロッド)3a、3b、3Cは球面に形成され、射出
端側は平面に形成されていて、2次光111Ja、bS
cを空間中に作るように定められている。集光レンズ4
は2次光源a、b。
Cの夫々からの発散光を有効に第2のフライアイレンズ
5に入射させるために、フライアイレンズ5の入射端か
らレンズ4の焦点(f)距離だけ離れた位置に配置され
るとともに、各2次光源a、b、cが集光レンズ4の内
部に位置しないように2次光源a、bScかられずかに
離して配置される。フライアイレンズ5の各エレメント
レンズ(石英による四角柱のロッド)5−1.5−2.
5−3の入射端は曲率R,の球面に形成され、射出端は
曲率R1よりも小さな曲率R2の球面に形成されており
、3次光Ba+、b+、C+を空間中に作るように定め
られる。各3次光源a+、bl、c、の夫々から発散し
た光は、第2図に示したコンデンサーレンズ2を介して
レチクルR上で同時に重ね合わされ、均一な照度分布が
得られる。
ここで3次光aa+%b+、c+が作られる面eP゛は
、投影レンズPLの瞳epと共役な面であり、同時に2
次光il!a、b、cが作られる面とも共役である。
第4図は第2のフライアイレンズ5の射出面側の平面図
であり、フライアイレンズ5のエレメントレンズが、例
えば3X3(9個)でマトリックス状に配列された場合
を示す。ここで仮りに第1のプライアイレンズ3も、3
X3 (9個)のエレメントレンズで構成されているも
のとすると、フライアイレンズ5の1つのエレメントレ
ンズの射出端側には9個の3次光源が作られる。そして
1つの2次光源、例えばaは、フライアイレンズ5の9
個のエレメントレンズの各射出端面上の同一位置に3次
光源a、として作られる。従ってフライアイレンズ5の
射出側には合計9X9(81)個の3次光源(スポット
光)が整列することになる。この第3図に示した照度分
布均一化光学系そのものは本願発明の基礎となる技術で
あって、必ずしも公知ではない。
第3図では、1段目、2段目ともフライアイレンズのエ
レメントレンズの個数を3X3 (9個)にしたが、典
型的な例では10X1o (100)個程度にするとよ
い、従って2次光源の個数100に対して3次光源の数
はtooxtoo個にまで増え、3次光源の各スポット
の強度は1段のフライアイレンズの場合にくらべて1/
100程度に低減される。
その結果、破壊、ゴースト等の問題を全て解決すること
ができる。
尚、第3図において、プライアイレンズ5の入射端に近
接してレンズを配置して、光の拡散による損失を最少に
することも有効である。また瞳共役面ep° とコンデ
ンサーレンズ2の間で、3次光源a 1 s b + 
s Clに近接した位置に、同様に光の発散による損失
を押えるフィールドレンズを設けることも有効である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、第3図の構成のものでは、さらに新たな問題
点が生ずることが判明した。それはスペックルと呼ばれ
る干渉縞のような細かい照明ムラが発生することである
。第2図において、各2次光1ffla、b、cの夫々
から進んでレチクルR上で互いに重なり合う光同志は、
互いに干渉し合って干渉縞が発生する可能性がある。こ
れはフライアイレンズ1のエレメントレンズla、lb
、ICの配列方向のピッチとビームLBの可干渉性とに
よっておおよそ決まってくる。一般にエキシマレーザは
干渉性が悪く、ビーム径内である距離以上離れた光同志
は互いに干渉しないという特性がある。この距離は、フ
ライアイレンズ1のエレメントレンズla、lb、lc
の配列ピッチよりも短いので、結局、第2図中の2次光
源a、b、cの夫々からの光は互いに干渉しないことに
なる。
ところが、第3図に示したダブル・インチブレーク方式
では話が違ってくる。同様の考え方で、第3図中の2次
光1flla、b、cの夫々から進む光は互いに干渉し
ないが、2次光源aから進む光は、第2のプライアイレ
ンズ5によって、各エレメントレンズ5−1.5−2.
5−3の各々に3次光′aa+となって集光する。第3
図において、例えば第1、及び第2フライアイレンズ3
.5の各エレメントレンズ(ロッド)径が同一で、配列
ピッチの一方向に10個(IOXIO)が並ぶものとす
ると、2次光源aを作るエレメントレンズ3aを通るビ
ーム径は第2のフライアイレンズ5に達するとき、約1
0倍に拡大されることになる。このことは、先に述べた
干渉を起さない距離も約10倍に拡大されたことを意味
する。従って、フライアイレンズ5の各エレメントレン
ズのピッチに対して、その干渉しない距離の方が大きく
なるため、各エレメントレンズ5−1.5−2.5−3
等の射出部にできる3次光[a+同志は互いに干渉して
しまうことになる。現実的には、フライアイレンズ5の
うち、互いに隣り合ったエレメントレンズで作られる3
次光源at同志、3次光源b1同志、あるいは3次光源
c、同志が強い干渉を起こす。
その結果、レチクルR上にはフライアイレンズ5のエレ
メントレンズ5−1.5−2.5−3の配列方向に対応
した1次元又は2次元の干渉縞(スペックル)を生じ、
それはそのまま投影レンズPLを介してウェハW上に転
写されることになり、正確なパターン転写の妨げとなっ
た。
〔問題点を解決する為の手段〕
上記問題点を解決するために、本発明では第1段のオプ
チカル・インテグレータ(フライアイレンズ、単一のロ
ッド、又はオプチカル・ファイバー束)と第2段のオプ
チカル・インテグレータ(フライアイレンズ等)との間
に、第2段のオプチカル・インテグレータに入射する光
束を、少なくとも1方向(1次元)に振動させる搖動手
段(第1の走査ミラー等)を設けるようにした。
この搖動手段による光束の搖動角は、レチクルR(又は
ウェハW)上にできる干渉縞を1ピッチ分だけ移動させ
る程度で十分である。また可干渉性のビームがエキシマ
レーザ光のようにパルス発光するものでは、揺動角の変
化とパルス発光のタイミングとを同期させるのが効率的
である。また連続発振のレーザビームでは、ことさら同
期の必要性はないが、揺動角の変化率、すなわち被照明
体上にできる干渉縞の縞と直交する方向への移動速度を
ほぼ一定にすると均一化の精度が高まる。
本発明では、パルス発光、連続発光のビームのいずれか
を用いて、ある一定時間(パルス発光の場合は複数パル
スを必要とする時間)の間、被照明体を均一な照度分布
で照明する必要のある装置であれば、光加工装置、アラ
イメント用の照明装置等に広く利用できるものである。
〔作 用〕
先に第3図を用いて説明した様にスペックル(干渉縞)
は第2フライアイレンズ5による3次光源同志の干渉に
よって生じている。そこでレチクルR(又はウェハW)
を照明する間、第2フライアイレンズ5に入射する光束
の波面を傾けて、フライアイレンズ5の隣り合ったエレ
メントレンズにできる3次光源al  (又はbl、c
l)同志に2mπ(m−1,2,3・・・・・・)の位
相差を与える。
言いかえると、隣り合ったエレメントレンズに入射する
光(波面)に2mπの位相差を与えること、すなわちm
λ(λはビームの波長)光路差を与える。スペックルは
フライアイレンズのエレメントレンズの間隔に対応した
周期的な構造をもっており、隣り合った3次光Ba+同
志からの光の位相差が変化すると、スペックルは移動し
、位相差が2π変化するたびに、スペックルはちょうど
1周期分移動し元と同じ状態になる。
すなわち物体を照明中に連続的、又は段階的に位相を2
πあるいは2mπ変化させると、一定時間の照明が終了
した時点でスペックルは平滑化されてしまうことになる
ところで実際には、エキシマレーザはパルスレーザであ
るので、位相の変化は連続的ではなく、とびとびとなる
、しかしパルスの数がある程度より多ければ連続的な変
化と同様な結果を得ることができる。このことを模式的
に描いたのが第5図である。第511m(a)は、濁期
的なスペックル(干渉縞)の強度分布を1次元に模式的
に描いたものである。となりあったフライアイレンズの
エレメントレンズに2π/4ずつ位相差を増しながら、
エキシマレーザ光の4パルスを被照明体に照射したとき
に生じる各パルス毎のスペックルの重なった様子を示し
たのが第5図(b)である。これを加算(積算)すると
第5図(c)の様にスペックルが平滑化されて消えてし
まう。厳密には、ある!定の強度分布にリップル成分が
重畳する。
このパルス数は多ければ多い程良いが通常は数10パル
スで十分な効果が得られる。
〔実施例〕
次に、本発明の第1の実施例を第1図を参照して説明す
る。第1図において、第3図で用いた部材と同一の機能
を存するものには同じ符号をつけである。
第1図で、エキシマレーザ光源10を出射したビームは
、紫外用反射ミラーM1、Mt 、M3、M4を介して
シリンドリカルレンズを含む光学系11に入射し、断面
形状が長方形のビームLB。
からほぼ正方形なビームLBに整形される。そのビーム
LBは紫外用反射ミラーM、で曲折されてビームエクス
パンダ15に入射し、所定のビーム径に拡大された後、
第3図で示した第1のフライアイレンズ3に入射する。
さて、ここでエキシマレーザ光源IOの構造と発振され
るレーザビームの特性との関係について、第6図、第7
図、第8図を参照して説明する。
エキシマレーザ光源は大別すると2つの種類に分けられ
る。1つは安定共振器型と呼ばれるもので、第6図に示
すように誘導放出を起させる放電管100の両端に2個
の共振器用ミラー102a、102bを配置して共振器
を構成している。この共振器用ミラー(10’2a、1
02b)の間を光が往復することにより、誘導放出され
た光の振幅が強められてレーザビームLB、が出射され
るが、この型のレーザ光源から出射されたレーザビーム
の特徴は空間的及び時間的コヒーレンスが低いことであ
る。時間的コヒーレンスが低いということは言いかえる
と、スペクトルの半値幅が広い(Δλ”0.4nm)と
いうことであり、かかる光源を集積回路製造用の露光装
置等に用いるには、投影レンズPLにおいて色消しく色
収差補正)が必要となり、この波長領域で実用的なレン
ズを作ることは困難である。
もう一つのタイプのレーザ光源は、インジエクションロ
ツタ型と呼ばれるものであり、第7図のように発振器と
増幅器に分かれている。発振器において共振器用ミラー
(102a、102b)が配置されている点は前述した
安定共振型と同様であるが、このタイプでは発振器内に
所定の領域の波長を選択するためのエタロン、回折格子
等の波長選択素子(106)が備えられているとともに
、放電管100の両端にレーザビームを所定の領域で遮
断するアパーチャ (104aS 104b)が配置さ
れており、発信されるレーザビームのスペクトルの半値
幅が狭く(Δλ”O,OO1ns)、即ち単色性が向上
している。さらに発振されたレーザビームはミラー(1
0B)で曲折されて増幅器に入射し、第2の放電管(1
10)の両端に凸状面と凹状面を向きあわせて配設され
た不安定共振器用ミラー(112a、112b)によっ
て増幅されて出射される。この型のレーザ光源から出射
されるレーザビームの特徴の一つは、発振器において単
色性が高められており時間的コヒーレンスが高く、投影
レンズPLにおいて色消しの必要がないということであ
る。
このため、単一の硝材(石英)のみでレンズを作ること
ができ、設計、製造とも容易であるという利点がある。
しかし、インジェクションロック型レーザ光源のもう一
つの特徴として、不安定共振器によって増幅されている
ために空間的コヒーレンスが極めて高いということがあ
り、かかるレーザ光源を用いると露光領域に強い干渉縞
が生じてしまう。
そこでそのような不都合を解決するために開発された新
しい型のレーザ光源として、第8図に示す様なものがあ
る。この型のレーザ光源は、前述した安定共振器型レー
ザ光源に例えばエタロン、プリズム、回折格子等の波長
幅狭帯化用の波長選択素子114を配設してあり、出射
されるレーザビームのスペクトルlu狭lΔλ停0. 
OO3nm)している。かかるレーザ光源から出射され
るレーザビームの特徴は、波長選択素子114を設けた
ことによって時間的コヒーレンスが向上しており、かつ
インジェクションロッキング型に比べて空間的コヒーレ
ンスが低いことである。
以上、3つのレーザ光源を述べたが、本実施例で用いる
レーザ光1110は、波長選択素子、即ち時間的コヒー
レンスを高める手段を備えた第8図の安定共振型レーザ
光源とし、投影レンズPLの色収差補正を不要としてい
る。
また、空間的コヒーレンスはインジェクシッンロック型
に比べて低(なっているため、かかるレーザ光源から出
射されたビームにより生じるスペックルのコントラスト
は非常に低いものとなっている。
しかしながら、エキシマレーザ光源から出射されるビー
ムの断面形状は一般的に樅横比が1=2〜1:5の矩形
をなしており、空間的コヒーレンスは等方向ではなく、
特にビーム断面の長手方向より短手方向において高(な
っている。このため、スペックルはビーム断面の短手方
向に発生しやす(、第1図に示したレーザ光源10から
出射されるビームによって生じるスペックルパターンは
、コントラストの低い一次元の干渉パターンとなってお
り、この干渉縞のピッチ及び配列方向は先にも述べた通
り、強度分布均一化手段として照明系に配設されるフラ
イアイレンズ等のレンズエレメントの間隔及び配列方向
に対応している。
再び第1図の説明に戻り、ビームエクスパングー15を
射出したほぼ正方形断面の平行ビームは第1図のフライ
アイレンズ3、レンズ4を介して走査ミラー17に入射
する0本実施例のレーザ光源10は、第8図に示したよ
うに、内部に波長選択素子を備えた安定共振器型のKr
Fエキシマレーザ光を発振するものとしたので、ビーム
断面の短手方向に間して空間的コヒーレンスが高く、走
査ミラー17によるビームの振動は、その短手方向に合
わせて一次元に行なわれるものとする。
従って本実施例において走査ミラー17は、シリンドリ
カルレンズを含む光学系11により整形される前のビー
ムL B oの断面の長手方向、即ち縦方向に振動中心
軸が一致するように配置され、ガルバノ、ピエゾあるい
はねじれ振動子等の振動源(偏向源)19に接続されて
いる。
ここで、ビームが振動される方向は常にビームの短手方
向と完全に一致させておく必要はなく、ビームの長手方
向と交差する方向のうち適宜選択された一方向であれば
よい。即ち、走査ミラー17の振動中心軸の方向は固定
的に設定されたものではなく、除去しようとするスペッ
クルパターンの状態によって、ビームLB、の長手方向
と振動中心軸を相対的に45度程度までの間で適宜傾け
ることが好ましい。
また、この実施例においてはビームを所定回数振動させ
る構成をとっているが、本実施例において除去しようと
しているスペックル(干渉縞)はコントラストがもとも
と低いので、必ずしもビームを規則的に往復するように
振動させる必要はない、即ち、1スキヤンの間にウェハ
W上に形成されたレジスト層(図示せず)の感度との兼
合いで設定される適正露光量を得るだけのパルスを打ち
終るような場合には、走査ミラー17を一方向に所定!
揺動させただけでスペックルを消失できることも想定さ
れる。なお、ビームの振動は、レーザビームLB、の発
振に同期させておこなうことが好ましく、本実施例にお
いては、例えば1スキヤンで50パルス程度となるよう
に条件設定すると良い。
次に、走査ミラー17によって短手方向に振られたビー
ムは、レンズ21を通って、第2のフライ・アイレンズ
5に入射し、第3図で示したように多数の3次光源(ス
ポット光)として集光した後、発散し、集光レンズ25
によって再度集光され、紫外用反射ミラー27で曲折さ
れてメイン・コンデンサーレンズ2に入る。メイン・コ
ンデンサーレンズ2によって適度に集光された多数の3
次光源の夫々からの光は、レチクルR上ですべて重畳さ
れ、−様な照度分布となってレチクルRを照射する。こ
れにより該レチクルR上の回路バクーンが、例えば石英
からなる投影レンズPLによってウェハW上に投影露光
される。
ここで、投影レンズPLは片側(ウェハ側)又は両側テ
レセンドリンクであり、第2のフライ・アイレンズ5の
出射面側にできる3次光源像は、集光レンズ25、メイ
ン・コンデンサーレンズ2等によって瞳epとほぼ共役
となっている。即ち、瞳epには3次光源の点光源(ビ
ームの収束点)がフライ・アイレンズ3と5の夫々のレ
ンズエレメント数の積だけ形成されることになる。
また、レーザ光源10で発振されたビームLB。の長方
形断面の長手方向は、本実施例ではフライアイレンズ3
.5の各エレメントレンズの一方の配列方向(第1図で
光軸AXを2軸とするとY軸方向)に−敗するように定
められている。さらに2つのフライアイレンズ3.5の
各エレメントレンズの配列も、互いにX方向とY方向と
で一致しているものとするが、必ずしもその必要はなく
、第1図に示したフライアイレンズ3とフライアイレン
ズ5とを図の状態から光軸AXを中心に相対的に回転さ
せておいてもよい。
次に本実施例の作用、動作について述べる。
本実施例のレーザ光源10の場合、ビームLB。の空間
的コヒーレンスが元々低いため、先に第3図によって説
明したように、第1のフライアイレンズ3で作られる2
次光源a、bSc同志が互いに干渉しないようにエレメ
ントレンズ3a13b、3cの間隔を設定しつつ実用的
な寸法及び個数でフライアイレンズを製造することがで
きる。
ところが、第2のフライアイレンズ5では、3次光源a
+  (又はb+、、CI)同志が互いに干渉しないよ
うにエレメントレンズ5−1.5−2.5−3の寸法を
定めると、特にビームLB、の断面の短手方向と一致し
た配列方向に間しては、極端な場合第1のフライアイレ
ンズ3の外形寸法の10倍程度の大きさになってしまう
。このようなことは装置構成上、極めて不都合なことで
あり、そのため、3次光if!Xa、(又はb+ 、C
I )同志による干渉はさけられない。そこで第1図に
示した走査ミラー17を補動させて、フライアイレンズ
5の隣り合ったエレメントレンズで作られる3次光源a
t  (又はb+ −CI )同志に2mπの間で位相
差を与え、第5図のように干渉縞の平滑化を行なう、尚
、2次光源a、bSc同志に干渉性がないとすると、フ
ライアイレンズ5の1つのエレメントレンズ内に作られ
る3次光源at、b+、c、同志にも干渉性がない。
ここで、3次光源による干渉の様子を考えてみると、例
えば第9図に示すように、フライアイレンズ5の各エレ
メントレンズ5a、5b、5c、5d、5e、5f、5
g、5hがX、Y方向に規則的に配列され、レーザ光源
10からのレーザビームLB、の断面の長手方向がY方
向と一致している場合、Y方向に間してはビームLB、
の空間的コヒーレンスが元々低いために、Y方向に配列
されたエレメントレンズ、例えば5a、5d、5gの夫
々にできる2次光源aからの3次光aAa、AdSAg
は互いに干渉しないような条件が成り立つ。ところが、
X方向に間しては、比較的に空間的コヒーレンスが高い
ために、例えばX方向に並んだエレメントレンズ5c、
5d、5e。
5fの夫々に2次光源aからの光で作られた3次光BA
c、Ad、Ae、Afは互いに干渉してしまう。
この3次光源Ac、Ad、Ae、Afによる干渉も、系
の条件によって変化し、例えば隣り合った2つのエレメ
ントレンズ5c、5dの3次光源Ac、Adのみが互い
に干渉し、3次光[Acに対して2つ以上離れたエレメ
ントレンズ5e25rの3次光源Ae、Afの夫々の間
では全く干渉が起らない場合、あるいは3次光源Ac、
Ad、Aeの3つだけが互いに干渉する場合、さらには
X方向のエレメントレンズの同一位置にできる3次光f
iAc、Ad、Ae、Afの全てが互いに干渉する場合
等がある。第10図は、隣り合った2つのエレメントレ
ンズ内の同一位置にできる3次光源のみ(例えばAcと
Ad、AdとAe、AeとAf)が互いに干渉したとき
に、レチクルR(又はウェハW)上に生じる干渉縞の強
度分布Fr1を示し、理論的には正弦波になる。
従ってこのような場合は、互いに干渉し合う3次光源の
位相差がπ(あるはに−0,1,2,3・・・・・・と
して、2にπ+π)だけずれるように走査ミラー17の
角度を変えて、レーザ光源10から2パルスを発振すれ
ば、2パルス目による干渉縞の強度分布Frxは丁度1
/2ピツチだけずれることになり、これらを重ね合わせ
たものは数学上はフラットな強度分布Frsになる。し
かしながら一般には、X方向に並んだいくつかの3次光
源が相互に干渉し合うため、第5図(a)に示したよう
な複雑な強度分布になる。ところが、X方向に並んだn
個の3次光源同志(例えばAc、Ad。
Ae、又はAd、Ae、Af等)が互いに干渉し合う場
合でも、数学的な解析によれば、n個の3次光源の夫々
が2π/nずつ位相差を変えるように、すなわちレチク
ルR上の干渉縞が、1 / nピッチずつ、ピッチ方向
に移動するように走査ミラー17の角度変化に同期して
nパルスのビームを照射すると、重ね合わされた強度分
布をフラットにできることがわかっている。従ってフラ
イアイレンズ5のX方向のエレメントレンズの数をnと
すると、例えば走査ミラー17が半周期振動(干渉縞の
1ピツチの移動に相当)する間に同一強度でnパルスを
照射すれば、ウェハW上の露光領域に生じた干渉縞によ
る露光むらは消せることになる。
ただし、この場合は、走査ミラー17の角度変化と各パ
ルス光毎の発振トリガーのタイミングとを極めて正確に
保つ必要がある。
また別の考え方として、走査ミラー17が半周期振動す
る間に、nパルスよりも十分大きなパルス数で露光を行
なうこともできる。先にも述べたようにフライアイレン
ズ5のX方向のエレメントレンズの数を10とすると、
n−10であるので、走査ミラー17の半周期の振動の
間に約50パルス(往復では100パルス)程度を発振
させるものである。この場合は、走査ミラー17の角度
変化と各パルス光毎の発振トリガーとをそれ程正確に保
つ必要がなく、装置化の点で有利である。また、実験に
よって、干渉縞の平滑化のために走査ミラーの半周期中
に必要な最小パルス数Nm1nを求めておき、あるシッ
ットの露光に必要な総パルス数がm−Nm1n  (m
−1,2,3・・・・・・)になるように各パルス光の
光量を調整しておけば、適正露光量の制御も容易に実現
できることになる。
以上、本実施例では、走査ミラー17をビームLBeの
断面の短手方向(長手方向と直交する方向)に合わせて
1次元のみ振動させたが、これはフライアイレンズ5に
よって作られた3次光源のX方向(ビームLBoの短手
方向)の配列のみによって1次元の干渉縞が発生するか
らであって、もし、ビームLB、の断面の長手方向(Y
方向)に沿って並んだ3次光源同志によっても干渉が起
る場合は、全く同様の考え方で走査ミラー17を2次元
に線動させればよい。この場合、3次光源の夫々は、瞳
ep上でラスター走査と同様に微小量だけ同時に位置変
化する。また1枚の走査ミラー17を2次元振動させる
代りに、X方向用とY方向用に2枚の走査ミラーを設け
てビームの振動方向を分担させてもよい。
また、本実施例では、レーザ光−rAloから射出する
ビームLB6の断面の長手方向と、各フライアイレンズ
3.5のエレメントレンズの一方の配列方向(Y方向)
とを−敗させたが、これは任意の関係でよく、必須の条
件ではない、しかしながら、その関係がどのようなもの
であっても、走査ミラー17の振動によるビームの少な
くとも一方の振動方向は、元々のビームL B oの断
面の長手方向と交差する方向になる。
次に本発明の第2の実施例を第11図を参照して説明す
る。第11図は、照度分布均一化手段のみを示し、他の
構成は第1図のものと同様である。
また第1図で示した部材と同一のものには同じ符号を付
けである。本実施例では、第1のフライアイレンズ3の
前にも、ビームを振動させるための走査ミラー16、及
びその振動源18を設けた点が第1の実施例と異なる。
本実施例においても、レーザ光源10は内部に波長選択
素子を有する安定共振器エキシマレーザ(KrF)光源
とし、発振されたビームLB、の断面は長方形であり、
長手方向の空間的コヒーレンスはダブル・インテグレー
タによっても干渉縞が生じない程度に低く、短手方向の
空間的コヒーレンスはかなり高いものとして説明する。
第1の実施例では、空間中の面SPtに第1のフライア
イレンズ3で作られた多数の2次光源像(スボント光)
同志は、互いに干渉しないとしたが、条件によっては干
渉することがある。この場合、先に第4図で説明したよ
うに、第2のフライアイレンズ5の各エレメントレンズ
5−L 5−2.5−3の同一位置にできる3次光i1
!a、(又はb+ 、C+ )同志は当然互いに干渉す
るが、さらに、1つのエレメントレンズ内にできる3次
光ga+%b1%cI同志も互いに干渉することになる
ここで第11図(第3図でも同様)からも明らかなよう
に、2次光源像ができる面S P tと3次光源像がで
きる面SP、とは互いに共役である。
しかも、第2のフライアイレンズ5の1つのエレメント
レンズは、第1のフライアイレンズ3の射出側にできた
全ての2次光源像を再結像することになるので、比較的
大きな倍率がかかっている。
典型的な例として、フライアイレンズ3.5の各エレメ
ントレンズの径寸法が等しく、かつ配列方向の数がとも
に10個であるとすると、倍率は10倍になる。
従って、第1実施例のように、第9図で示した3次光源
Ac、Ad、Ae、Af同志の干渉によるスペックルパ
ターンを平滑化するのに必要な走査ミラー17の最小の
角度変化範囲だけでは、2次光源同志による干渉の影響
が残ってしまうことになる。
そこで走査ミラー17の角度変化範囲を、典型的な例と
して約10倍以上にすることが考えられる。しかしなが
ら、走査ミラー17を大きく振ることは、フライアイレ
ンズ5に入射する光束の一部がけられる可能性を大きく
するため、あまり好ましいことではない、仮りに、走査
ミラー17の大きな振れ角の始めと終りとでフライアイ
レンズ5に入射する光束の一部がけられると、それはそ
のままウェハWへの適正露光量に対する誤差あるいはス
ルーブツトの低下となり、極めて不都合なことになる。
そこで本実施例では、走査ミラー16によって第1のフ
ライアイレンズ3に入射するビームを振動させて、2次
光源同志の位相差を2mπの間で変化させつつ複数のパ
ルス光を照射するようにした。もちろん、走査ミラー1
7によるビームの振動も、第1実施例と同様に同時に行
なわれる。
2次光源同志による干渉によってレチクルR(又はウェ
ハW)上にできる干渉縞の様子は、先に第10図を用い
て説明したのと全く同じであるが、第1と第2のフライ
アイレンズ間で、例えば、10倍の倍率があるため、レ
チクルR上の干渉縞のピッチは、3次光?a a +同
志の干渉で作られる干渉縞のピッチよりも約10倍大き
くなる。従って、例えば第1のフライアイレンズ3の隣
り合ったエレメントレンズの2次光源のみが互いに干渉
するような場合は、第12図に示すようにピッチの長い
正弦波状の強度分布Proと、ピッチの短い強度分布F
r4が重畳した干渉縞が現われる。
この第12図のような干渉縞の場合、走査ミラー16は
互いに干渉する2つの2次光源にπの位相差を与えるよ
うに、少なくとも2つの角度位置に振ればよい。すなわ
ち走査ミラー16がある角度位置のときに、走査ミラー
17を半周期(又は1周期程度)だけ振動させつつ、数
十パルスの発光を行ない、次に走査ミラー16を所定量
だけ角度変化(位相差πを与える)させた状態で、同様
に走査ミラー17を半周期(又は1周期程度)だけ振動
させつつ、数十パルスの発光を行なえばよい。
もちろん、ビームLB、の空間的コヒーレンスが高くな
れば、2次光源a、b、cの3つ以上が互いに干渉し合
うことになるため、それに応じて走査ミラー16の角度
変化の割合は細かくなる。
このため、走査ミラー16の角度を一定量だけ変化させ
ては、走査ミラー17を半周期(又は1周期)だけ振る
ことを繰り返すことになる。
ところで、例えば走査ミラー17の半周期のうちに50
パルス程度の発光を行なうものとすると、走査ミラー1
6の角度変化の回数は最低で約10回(フライアイレン
ズ3のエレメントレンズの干渉方向の数)必要になるこ
ともあり、ウェハ上の1つの領域(1シ欝ツト)を露光
するのに最低でも50X10−500パルスが必要にな
る。このことは適正露光量を考慮して、1パルスあたり
の光量を第1の実施例にくらべて115〜1/10程度
に絞って露光することを意味する。エキシマレーザ光源
の一般的な繰り返し発光周波数は100〜200セ程度
であるため、1シヨツトの露光時間は2.5〜5秒にも
及び、スループットの大幅な低下が起り得る。そこで先
にも説明したように、走査ミラー17の角度変化と各パ
ルス毎の発振トリガーのタイミングとをなるべく正確に
同期させ、走査ミラー17の半周期中に照射するパルス
数を極力小さくするとともに、走査ミラー16の角度変
化もなるべく正確に行なうようにする。こうすれば第1
図の実施例とくらべて大幅なスループットの低下は生じ
ない。
以上、本実施例によれば、空間的コヒーレンスの高いレ
ーザ光源、例えば第7図に示したインジェクションロッ
ク型レーザを用いたとしても良好にスペックルパターン
を平滑化できる。もちろん、走査ミラー16.17をと
もに2次元に振動させる構成にしておけば、2次元の干
渉縞又はランダムなスペックルを良好に平滑化できる。
尚、本実施例においては、振動源18.19及びレーザ
光源10のトリガー回路は、適宜の制御手段によって同
時に周期制御される。
次に本発明の第3の実施例を第13図により説明する。
第13図は1段目のオプチカル・インテグレータに石英
による四角柱のロッド30を用いた場合の照度分布均一
化手段の例を示す。レーザ光a10からのビームL B
 oは適宜の光学系を用いてa光ビームLB’ に変換
される。集光ビームLB’ は集光点(スポット)SP
oかられずかに発散した位置でロッド30の入射端に入
いる。
ビームLB” はロッド30の内部で多重反射を操り返
し、ロッド30の他端から発散した光となってレンズ4
に入射する。レンズ4を通った光束は走査ミラー17で
反射され、空間中の面SP2に多数の2次光源となって
集光し、そこから再び発散してレンズ21に入射し、各
2次光源からの光はそれぞれほぼ平行光束(互いにわず
かに角度が異なる)となって第2のオプチカル・インテ
グレータとしてのフライアイレンズ5に入射する。
この実施例では、ビームLB’ のロッド30内部での
多重反射により、1つの集光点SP0が見かけ上、多数
存在するように、面SP、に再結像される。
以上、本発明の各実施例を説明したが、オプチカル・イ
ンテグレータとしては、1段目を細いオプチカル・ファ
イバーを束ねたバンドルにし、2段目をフライアイレン
ズにした組み合わせでもよい、またフライアイレンズの
エレメントレンズはハニカム形状(正六角形)にして、
一体の石英材を加工したものにしてもよい。
また、本発明は、第1図のような縮小投影型露光装置だ
けでな(、均一な照度分布で照明を行なわなければなら
ない装置全般に、そのまま応用できるものである。
さらに、本発明の各実施例では1段目と2段目のオプチ
カル・インテグレータの間で走査ミラーを線動させるも
のとしたが、2段目のオプチカル・インテグレータの後
にも走査ミラーを設けて所定の周期で振動させてもよい
〔発明の効果〕
以上、本発明によれば、オプチカル・インテグレータを
2段にして、被照明体上での照度分布を均一にするとと
もに、オプチカル・インテグレータを用いることによっ
て生じるスペ・フタルパターン(干渉縞)を良好に平滑
化することができるので、レーザ光のように可干渉性の
あるビームを用いても、ゴースト、スペックル等のない
−様な照明光を得ることができ、微細パターンの露光、
光加工(光CVD等)、アライメント観察等が極めて高
い精度で達成される。
特に投影型露光装置に応用した場合は、投影光学系の瞳
に形成されるビームスポット像(3次光源)の数を、オ
プチカル・インテグレータの2段化によって極めて多く
することができるため、投影光学系内部の特定のレンズ
素子に極端に大きなエネルギーが集中することがなく、
投影光学系の破損が防止されるという効果もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例による照明光学装置を投
影型露光装置に適用した場合の構成を示す斜視図、第2
図は従来の装置におけるフライアイレンズと投影露光系
の関係を示す図、第3図は本発明の基礎となるダブル・
フライアイレンズの構成を説明する図、第4図は第3図
の構成によって得られる光源像(スポット光)の配列を
示す平面図、第5図(a)、(b)、(c)はそれぞれ
被照明体に1パルスの照明光で生ずる干渉縞の強度分布
、多数パルスの照明光で平滑化するときの干渉縞の位置
移動、及び平滑後の強度分布を表わす図、第6図、第7
図、第8図はそれぞれレーザ光源の代表的な構造を示す
図、第9図は2段目のフライアイレンズの射出端にでき
る3次光源(スポット光)の配列を示す平面図、第1O
図は干渉縞の平滑化の様子を説明する図、第11図は本
発明の第2の実施例による照明光学装置の構成を示す図
、第12図は可干渉性の強いビームをダブル・フライア
イレンズに入射したときに被照明体上に生じる干渉縞の
強度分布の一例を示す図、第13図は本発明の第3の実
施例による照明光学装置の構成を示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1.3.5・・・フライアイレンズ、 2・・・コンデンサーレンズ、10・・・レーザ光源、
16.17・・・走査ミラー、30・・・ロッド、R・
・・レチクル、PL・・・投影レンズ、W・・・ウェハ
、LB、・・・発振ビーム。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)可干渉性のビームを発生する光源と、該ビームを
    入射して、被照明体に均一な照度分布の光を照射する照
    度分布均一化手段とを備えた装置において、 前記照度分布均一化手段は、前記光源からのビームを入
    射する第1オプチカル・インテグレータと、該第1オプ
    チカル・インテグレータから射出した光を入射する第2
    オプチカル・インテグレータとを有し、前記第1オプチ
    カル・インテグレータと第2オプチカル・インテグレー
    タとの間に、該第2オプチカル・インテグレータに入射
    する光を少なくとも一次元に搖動させる第1の搖動手段
    を設けたことを特徴とする照明光学装置。
  2. (2)前記照度分布均一化手段は、前記第1オプチカル
    ・インテグレータに入射するビームを少なくとも一次元
    に搖動させる第2の搖動手段を含むことを特徴とする請
    求項第1項記載の装置。
  3. (3)前記光源は、前記ビームの断面内で所定の第1方
    向に間して空間的コヒーレンスの高いパルスレーザ光を
    発振するレーザ光源であり、前記第1の搖動手段の一次
    元の搖動方向を、前記第1方向と直交する方向に対して
    交差させたことを特徴とする請求項第1項記載の装置。
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