JPH01260804A - 硬質磁性薄膜 - Google Patents
硬質磁性薄膜Info
- Publication number
- JPH01260804A JPH01260804A JP8936688A JP8936688A JPH01260804A JP H01260804 A JPH01260804 A JP H01260804A JP 8936688 A JP8936688 A JP 8936688A JP 8936688 A JP8936688 A JP 8936688A JP H01260804 A JPH01260804 A JP H01260804A
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- JP
- Japan
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- film
- thin film
- magnetic thin
- hard magnetic
- coercive force
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、各種磁気記録媒体に用いて好適な磁気的に硬
質すなわち高保磁力を有する硬質磁性薄膜に係わる。
質すなわち高保磁力を有する硬質磁性薄膜に係わる。
[発明の概要]
本発明は、MIIX Gay Inz (但し、X 、
! 、Zはそれぞれ原子%)なる組成で、 !≦I≦2y 0.5≦Z≦50 x +y +z =lOO 或いはそのGaの一部を、Al, B、 Ag、 C
u、 Au、 Sn。
! 、Zはそれぞれ原子%)なる組成で、 !≦I≦2y 0.5≦Z≦50 x +y +z =lOO 或いはそのGaの一部を、Al, B、 Ag、 C
u、 Au、 Sn。
C,Si、 Geの一種以上で置換した高保磁力の硬質
磁性薄膜であって、例えば磁気記録媒体に適用して高密
度記録化を図る。
磁性薄膜であって、例えば磁気記録媒体に適用して高密
度記録化を図る。
[従来の技術]
従来の磁気記録媒体にはγ−Fe20+ 、 Cr0t
。
。
Coγ−Fe203 、或いはいわゆる金属蒸着膜等が
用いられているが、いずれもその保磁力Hcは、2KO
eより低いものである。
用いられているが、いずれもその保磁力Hcは、2KO
eより低いものである。
[発明が解決しようとする課題]
ところが、磁気記録媒体において、より高密度記録化が
要求されていて、これに伴ってより高い保磁力Haを有
する硬質磁性薄膜の開発が要求されている。
要求されていて、これに伴ってより高い保磁力Haを有
する硬質磁性薄膜の開発が要求されている。
そしてこり高保磁力を有する硬質磁性薄膜の開発研究も
すでに多くなされているところである。
すでに多くなされているところである。
例えば結晶磁気異方性を利用した磁性薄膜として、Mn
Ga系の磁性膜の考察がなされているところであるが、
この場合、その成膜に当っての例えばスパッタリング後
に高温のアニール、すなわち熱処理を必要とするもので
あり、これによって磁性膜の坦持体、すなわち基体とし
ては耐熱性の低い廉価なPET (ポリエチレンテレフ
タレート)ヲ用いることができないという課題がある。
Ga系の磁性膜の考察がなされているところであるが、
この場合、その成膜に当っての例えばスパッタリング後
に高温のアニール、すなわち熱処理を必要とするもので
あり、これによって磁性膜の坦持体、すなわち基体とし
ては耐熱性の低い廉価なPET (ポリエチレンテレフ
タレート)ヲ用いることができないという課題がある。
本発明は、このような課題の解決をはかり、高い保磁力
を有し、しかもその成膜に当って高温下での形成、或い
は熱処理を必要としない硬質磁性薄膜を提供する。
を有し、しかもその成膜に当って高温下での形成、或い
は熱処理を必要としない硬質磁性薄膜を提供する。
すなわち、本発明においては、結晶磁気異方性を利用し
た硬質磁性薄膜に係わるものであるが、成膜時の高温加
熱、熱処理を回避できて、PETフィルムのような耐熱
性の低い廉価な坦持体、すなわち基体の使用を可能にす
る。
た硬質磁性薄膜に係わるものであるが、成膜時の高温加
熱、熱処理を回避できて、PETフィルムのような耐熱
性の低い廉価な坦持体、すなわち基体の使用を可能にす
る。
[課題を解決するための手段]
本発明は組成式Mnx Gay Inz (但し、x、
!、2はそれぞれ原子%)で示され、 y≦!≦2y 0.5≦2≦50 x +y +z =100 なる関係を満足する硬質磁性薄膜を形成する。
!、2はそれぞれ原子%)で示され、 y≦!≦2y 0.5≦2≦50 x +y +z =100 なる関係を満足する硬質磁性薄膜を形成する。
また本発明においては、上述の硬質磁性薄膜において、
その組成式中のGaの一部を、Al, B、 Ag。
その組成式中のGaの一部を、Al, B、 Ag。
Cu、 Au、 Sn、 C,Si、 Ge 伝≠−の
うちの少なくとも1種以上で置換する。
うちの少なくとも1種以上で置換する。
[作用]
本発明による硬質磁性膜は1面方向及びこれと直交する
垂直方向の双方に対して高い保磁力Hcと、すぐれた角
型を示した。また、その成膜は、スパッタ、蒸着等によ
って形成でき、Inの添加によって低温での結晶化、す
なわち結晶磁気異方性を呈せしめ得るものであり、成膜
時に基体を特別加熱する必要はなく、またその後の熱処
理も特別には必要としない、したがってPETフィルム
等の耐熱性の低い基体上への成膜が可能となる。
垂直方向の双方に対して高い保磁力Hcと、すぐれた角
型を示した。また、その成膜は、スパッタ、蒸着等によ
って形成でき、Inの添加によって低温での結晶化、す
なわち結晶磁気異方性を呈せしめ得るものであり、成膜
時に基体を特別加熱する必要はなく、またその後の熱処
理も特別には必要としない、したがってPETフィルム
等の耐熱性の低い基体上への成膜が可能となる。
[実施例]
実施例l
MnGaln合金の3インチ型鋳造ターゲットを用いて
スライドガラス板の上にスパッタを行って磁性薄膜を形
成した。このスパッタはマグネトロン型スパッタ装置を
用い、アルゴンガスと投入電力とをそれぞれ30mTo
rrと80W(以下この条件を条件Iとする) 、 1
0mTorrと100 W (以下この条件を条件II
とする)及びlomTorrと200 W (以下この
条件をIとする)の条件下で、充分冷却されたスライド
ガラス板に約 IIL■の厚さに成膜した。
スライドガラス板の上にスパッタを行って磁性薄膜を形
成した。このスパッタはマグネトロン型スパッタ装置を
用い、アルゴンガスと投入電力とをそれぞれ30mTo
rrと80W(以下この条件を条件Iとする) 、 1
0mTorrと100 W (以下この条件を条件II
とする)及びlomTorrと200 W (以下この
条件をIとする)の条件下で、充分冷却されたスライド
ガラス板に約 IIL■の厚さに成膜した。
上述した実施例1の方法によるも、そのターゲットの組
成を、口を50〜75M子%、 Inを 1〜25WL
子%、残部Gaとし、スパッタ条件を上述の条件I〜■
として磁化の有無をみた。この磁化の測定は。
成を、口を50〜75M子%、 Inを 1〜25WL
子%、残部Gaとし、スパッタ条件を上述の条件I〜■
として磁化の有無をみた。この磁化の測定は。
各磁性薄膜を一定の大きさに切り、VSM (振動資料
型磁化特性測定装置)によって測定した。磁場は膜面に
平行な方向と垂直な方向とし、−15KOeから+15
KOe変化させて磁化ループを描かせた。
型磁化特性測定装置)によって測定した。磁場は膜面に
平行な方向と垂直な方向とし、−15KOeから+15
KOe変化させて磁化ループを描かせた。
第1図にその一部の試料のターゲットの組成と、スパッ
タ条件と、スパッタによって得た膜の組成と磁化の有無
(磁化がある場合はO印、ない場合は×印)を示す、そ
して、 i2r!!Jに各試料のターゲットの組成をプ
ロットして示し、図中、上述のスパッタ条件下、II及
びIIでそれぞれ高保磁力を示−した範囲をそれぞれ実
線a、破線す及び鎖線Cで囲んで示す。
タ条件と、スパッタによって得た膜の組成と磁化の有無
(磁化がある場合はO印、ない場合は×印)を示す、そ
して、 i2r!!Jに各試料のターゲットの組成をプ
ロットして示し、図中、上述のスパッタ条件下、II及
びIIでそれぞれ高保磁力を示−した範囲をそれぞれ実
線a、破線す及び鎖線Cで囲んで示す。
また、 Hc>2 KOeが得られた磁性薄膜での組成
範囲は、第3図中実線eで囲んだ範囲となり1組成式M
nx Gay Inzにおいて、y≦x≦2yで、0.
5≦2≦50である。
範囲は、第3図中実線eで囲んだ範囲となり1組成式M
nx Gay Inzにおいて、y≦x≦2yで、0.
5≦2≦50である。
第4図は”51.9 Ga43.21”4.9 (第1
図中試料No、3)の磁束B−磁界Hの磁化曲線で、同
図中実線曲線(1)は、磁性薄膜の膜面に対して垂直方
向の磁化曲線、破線曲線(2)は膜面に沿う方向の磁化
曲線で、いずれの方向についてもすぐれた磁気特性、す
なわち高い磁化、角型比を示し、垂直方向の保磁力Hc
は3.2 kOeで、膜面方向の保磁力Hcは、 3.
5 kOeで、残留磁束密度はいずれも2.3 kGで
あった。
図中試料No、3)の磁束B−磁界Hの磁化曲線で、同
図中実線曲線(1)は、磁性薄膜の膜面に対して垂直方
向の磁化曲線、破線曲線(2)は膜面に沿う方向の磁化
曲線で、いずれの方向についてもすぐれた磁気特性、す
なわち高い磁化、角型比を示し、垂直方向の保磁力Hc
は3.2 kOeで、膜面方向の保磁力Hcは、 3.
5 kOeで、残留磁束密度はいずれも2.3 kGで
あった。
また、本発明による磁性画WJ、(第1図中試料No、
3)と、磁化の小さい薄膜(第1図中試料No、 1)
の各構造を小角X線回折でみた回折パターンを第5図A
及びBに示す、これによれば、試料N001のものは、
Inの回折線以外にはピークがみられず、Inの結晶化
のみが生じているのに比し、試料N003の本発明のも
は、In以外にもMnGaの結晶構造の回折ピークがみ
られ、MnGaが結晶化していることがわかる。つまり
、この試料N003の高保磁力の原因はMnGaの結晶
化にあるものと思われる、そして、この結晶化をInが
促進していると考えられる。そして、この場合MnGa
の(100)面と、大きいピークではないがInの(1
01)面が同一角度にあることが特徴的である。
3)と、磁化の小さい薄膜(第1図中試料No、 1)
の各構造を小角X線回折でみた回折パターンを第5図A
及びBに示す、これによれば、試料N001のものは、
Inの回折線以外にはピークがみられず、Inの結晶化
のみが生じているのに比し、試料N003の本発明のも
は、In以外にもMnGaの結晶構造の回折ピークがみ
られ、MnGaが結晶化していることがわかる。つまり
、この試料N003の高保磁力の原因はMnGaの結晶
化にあるものと思われる、そして、この結晶化をInが
促進していると考えられる。そして、この場合MnGa
の(100)面と、大きいピークではないがInの(1
01)面が同一角度にあることが特徴的である。
実施例2
実施例1と同様の方法で、膜組成MnxGay Inz
(!≦X≦27,0.5≦2≦50 、 x+y+z
= 100)において、Gaを50原子%Alで置換し
た。この場合保磁力は上記組成においてGaを他の元素
で置換したものと同程度であった。
(!≦X≦27,0.5≦2≦50 、 x+y+z
= 100)において、Gaを50原子%Alで置換し
た。この場合保磁力は上記組成においてGaを他の元素
で置換したものと同程度であった。
実施例3゜
実施例1と同様の方法で、膜組成MnxGay 111
!2(y≦!≦27.0.5≦2≦50 、 x+y+
zlIIOo)において、Gaを30原子%Agで置換
した。この場合においても高い保磁力が得られた。
!2(y≦!≦27.0.5≦2≦50 、 x+y+
zlIIOo)において、Gaを30原子%Agで置換
した。この場合においても高い保磁力が得られた。
実施例4゜
実施例1と同様の方法で、膜組成MnXGay Inz
(!≦夏≦27.0.5≦2≦50.x十Y+Z−10
0)において、Gaを30原子%Snで置換した。この
場合においても高い保磁力が得られた。
(!≦夏≦27.0.5≦2≦50.x十Y+Z−10
0)において、Gaを30原子%Snで置換した。この
場合においても高い保磁力が得られた。
同様にして、Gaの一部を、それぞれB、 Cu。
Au、 C,Si、 Geによって置換しても、またG
aの一部をAI 、 B、 Ag、 Cu、 Au、
S!!、 C,Si、 Ge (7)うちの2種以上
で置換しても高い保磁力が得られた。
aの一部をAI 、 B、 Ag、 Cu、 Au、
S!!、 C,Si、 Ge (7)うちの2種以上
で置換しても高い保磁力が得られた。
また、上述の各本発明による磁性薄膜において、Fe、
Go、Xiの1種以上を添加することもでき、この場合
は、飽和磁束密度、残留磁束密度を高めることができた
。
Go、Xiの1種以上を添加することもでき、この場合
は、飽和磁束密度、残留磁束密度を高めることができた
。
比較例
MnGaの合金ターゲットを用いて実施例1の条件■の
方法で成膜した。この場合の磁化を前述したと同様の方
法によって測定したところガラス基体自体の反磁性が測
定されたに過ぎなかった。
方法で成膜した。この場合の磁化を前述したと同様の方
法によって測定したところガラス基体自体の反磁性が測
定されたに過ぎなかった。
尚、上述した例では磁性薄膜をスパッタによって形成し
た場合であるが、真空蒸着等によって形成することもで
きるなど、成膜方法等種々の変更を行うことができる。
た場合であるが、真空蒸着等によって形成することもで
きるなど、成膜方法等種々の変更を行うことができる。
[発明の効果コ
本発明による硬質磁性薄膜は、面方向及びこれと直交す
る垂直方向の双方に対して高い保磁力Heを得ることが
できることから、各種磁気記録媒体に適用して高記録密
度化をはかることができる。
る垂直方向の双方に対して高い保磁力Heを得ることが
できることから、各種磁気記録媒体に適用して高記録密
度化をはかることができる。
また、その成膜は、スパッタ、蒸着等によって形成でき
、II+の添加によって低温での結晶化、すなわち結晶
磁気異方性を呈せしめ得るものであり、成膜時に基体を
特別加熱する必要もなく、またその後の熱処理も特別に
は必要としない、したがつてPETフィルム等の耐熱性
の低い基体上への成膜が可能となり、各種磁気記録媒体
の価格の砥廉化をはかることができる。
、II+の添加によって低温での結晶化、すなわち結晶
磁気異方性を呈せしめ得るものであり、成膜時に基体を
特別加熱する必要もなく、またその後の熱処理も特別に
は必要としない、したがつてPETフィルム等の耐熱性
の低い基体上への成膜が可能となり、各種磁気記録媒体
の価格の砥廉化をはかることができる。
第1図は各試料と磁化の有無の測定結果を示した表面、
第2図はスパッタによる磁性薄膜のターゲット組成とス
パッタ条件と高保磁力を示す範囲を示す図、第3図は磁
化の得られる膜組成範囲を示す図、第4図は本発明によ
る硬質磁性薄膜の一例の磁化曲線図、第5図A及びBは
小角X線回折パターンである。
第2図はスパッタによる磁性薄膜のターゲット組成とス
パッタ条件と高保磁力を示す範囲を示す図、第3図は磁
化の得られる膜組成範囲を示す図、第4図は本発明によ
る硬質磁性薄膜の一例の磁化曲線図、第5図A及びBは
小角X線回折パターンである。
Claims (2)
- 1.組成式Mn_xGa_yIn_z(但し、x,y,
zはそれぞれ原子%)で示され、 y≦x≦2y 0.5≦z≦50 x+y+z=100 なる関係を満足する硬質磁性薄膜。 - 2.上記特許請求の範囲第1項の硬質磁性薄膜において
、上記組成式中のGaの一部を、Al,B,Ag,Cu
,Au,Sn,C,Si,Geのうちの少なくとも1種
以上と置換した硬質磁性薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8936688A JPH01260804A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 硬質磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8936688A JPH01260804A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 硬質磁性薄膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01260804A true JPH01260804A (ja) | 1989-10-18 |
Family
ID=13968704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8936688A Pending JPH01260804A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 硬質磁性薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01260804A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1724367A3 (en) * | 2004-10-12 | 2010-02-17 | Heraeus, Inc. | Low oxygen content alloy compositions |
| JP2014228166A (ja) * | 2013-05-20 | 2014-12-08 | Tdk株式会社 | 磁気冷凍装置用磁気作業物質および磁気冷凍装置 |
-
1988
- 1988-04-12 JP JP8936688A patent/JPH01260804A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1724367A3 (en) * | 2004-10-12 | 2010-02-17 | Heraeus, Inc. | Low oxygen content alloy compositions |
| JP2014228166A (ja) * | 2013-05-20 | 2014-12-08 | Tdk株式会社 | 磁気冷凍装置用磁気作業物質および磁気冷凍装置 |
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