JPH01261925A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents

Semiconductor integrated circuit

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JPH01261925A
JPH01261925A JP63090941A JP9094188A JPH01261925A JP H01261925 A JPH01261925 A JP H01261925A JP 63090941 A JP63090941 A JP 63090941A JP 9094188 A JP9094188 A JP 9094188A JP H01261925 A JPH01261925 A JP H01261925A
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timing
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clock signal
holding
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Abstract

PURPOSE:To secure the stable and high speed action of a semiconductor IC by providing a second holding means which holds a logical level signal at the timing of a clock signal and which outputs the holding value to a holding means. CONSTITUTION:The holding circuit 27 consisting of TTR25 and an invertor 26 is provided immediately before the holding circuit 24 consisting of a transfer transistor(TTR)21 and an invertor 23. When the clock signal phi is inputted to the gate of TTR25, an input signal IN is transmitted to the circuit 24 through the circuit 27. At that time, the transfer timing of TTR21 is delayed from the signal but the timing that the signal IN is held by the circuit 27 coincides with the rise of the signal phi. Namely, prescribed non-overlap is secured between the timing that the logical level of the signal IN is decided and that of the signal phi. Even if non-overlap between the transfer timing of TTR21 and the signal phi reduces, transmission data of TTR21 is data decided in the circuit 27, and the logical level of the signal IN which is always decided is held in the circuit 24.

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術       (第6〜8図)発明が解決し
ようとする課題 課題を解決するための手段 作用 実施例 (1)本発明の基本原理   (第1〜3図)(2)本
発明の第1実施例  (第 4 図)(3)本発明の第
2実施例  (第 5 図)発明の効果 〔概要〕 大規模な半導体集積回路に関し、 安定な高速動作を確保した半導体集積回路を提供するこ
とを目的とし、 所定の論理レベルの信号が入力されると、該信号を所定
のクロック信号のタイミングに基づいて保持する保持手
段を備えた半導体集積回路において、前記保持手段の前
段に、前記論理レベル信号を前記クロック信号のタイミ
ングで保持するとともに、該保持値を前記保持手段に出
力する第2の保持手段を設けることにより構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Table of Contents] Overview Industrial Application Fields Prior Art (Figures 6 to 8) Problems to be Solved by the Invention Examples of Means and Actions for Solving the Problems (1) Basics of the Invention Principle (Figures 1 to 3) (2) First embodiment of the present invention (Figure 4) (3) Second embodiment of the present invention (Figure 5) Effects of the invention [Summary] Large-scale semiconductor integrated circuit In this regard, the present invention aims to provide a semiconductor integrated circuit that ensures stable high-speed operation, and includes a holding means for holding a signal at a predetermined logic level based on the timing of a predetermined clock signal when a signal of a predetermined logic level is input. In the semiconductor integrated circuit, a second holding means is provided before the holding means for holding the logic level signal at the timing of the clock signal and outputting the held value to the holding means.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

近時、集積素子数の多い大規模な半導体集積回路が多数
実現されており、特に、ディジタル信号を扱う半導体集
積回路はアプリケーションの拡大に伴って高集積化とと
もに、処理速度の高速化が進む傾向にある。
Recently, many large-scale semiconductor integrated circuits with a large number of integrated elements have been realized, and in particular, semiconductor integrated circuits that handle digital signals tend to have higher integration and faster processing speeds as applications expand. It is in.

ところで、ディジタル信号を扱う場合は信号処理のタイ
ミングが重要であり、各種の信号を所定のタイミングで
処理する必要がある。特に、高速な処理動作が求められ
る場合は微小なタイミングの設定が要求され、例えば、
数ナノ秒の遅延(デイレイ)が問題となる場合もあって
回路設計段階のタイミングと実際の半導体集積回路の動
作タイミングを一致させるためには高度な技術が要求さ
れる。すなわち、信号のデイレイは半導体集積回路を構
成する素子間の配線抵抗や分布容量からなる遅延時定数
の影響によるものと素子自体の応答遅れによるものが主
な要因であるが、信号の遅延時間(デイレイタイム)は
周囲の温度変化あるいは素子のバラつき等によって変動
することがある。
By the way, when dealing with digital signals, the timing of signal processing is important, and it is necessary to process various signals at predetermined timings. In particular, when high-speed processing operations are required, minute timing settings are required; for example,
In some cases, a delay of several nanoseconds becomes a problem, and advanced technology is required to match the timing at the circuit design stage with the actual operating timing of the semiconductor integrated circuit. In other words, the main causes of signal delay are the effects of the delay time constant made up of the wiring resistance and distributed capacitance between the elements that make up the semiconductor integrated circuit, and the response delay of the elements themselves, but the signal delay time ( (delay time) may vary due to changes in ambient temperature or variations in elements.

したがって、所定のタイミングで半導体集積回路を動作
させるためには信号のデイレイタイムとその変動を予め
見込んだ回路設計を行う必要があり、特に高速動作が要
求される場合は、通常問題とならないような微小な信号
の遅延であっても無視することができない。
Therefore, in order to operate a semiconductor integrated circuit at a predetermined timing, it is necessary to design a circuit that takes into account the signal delay time and its fluctuations in advance, and especially when high-speed operation is required, it is necessary to design a circuit that takes into account the delay time of the signal and its fluctuations. Even minute signal delays cannot be ignored.

また、デイレイタイムが動作速度に占める割合は動作の
高速化に伴って増大することになるため、動作タイミン
グが変動してもレーシングやハザードを発生することな
く安定かつ高速に動作する半導体集積回路が求められて
いる。
Additionally, the proportion of delay time in operating speed increases as the operating speed increases, so semiconductor integrated circuits that operate stably and at high speed without causing racing or hazards even when operating timing fluctuates. It has been demanded.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

このような従来の半導体集積回路としては、例えば、第
6〜8図に示すようなものがある。
Examples of such conventional semiconductor integrated circuits include those shown in FIGS. 6 to 8, for example.

第6図は第一の従来例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a first conventional example.

同図において、Nチャネル(Nch)のトランスファト
ランジスタlに入力された信号はクロック信号φ1に従
ってインバータ2に伝達され、インバータ2の出力はN
chのトランスファトランジスタ3を介してインバータ
4の入力容量により保持される。すなわち、クロック信
号φ、がHレベルのとき、トランスファトランジスタ1
がONするので、入力信号INがHレベルであるとする
と、該信号はインバータ2の入力容量を充電(プリチャ
ージ)する。トランスファトランジスタ3による信号の
伝達はANDゲート5の出力に従って行われ、ANDゲ
ート5の出力はクロック信号φ2のタイミングに従って
制御される。クロック信号φ2のタイミングは第7図に
示すように、クロック信号φ、のしレベル期間にHレベ
ルとなるように設定され、かつクロック信号φ1とクロ
ック信号φ2が共にLレベルの期間(以下、ノンオーバ
ラップという) tI % L2が設定されている。
In the figure, a signal input to an N-channel (Nch) transfer transistor l is transmitted to an inverter 2 according to a clock signal φ1, and the output of the inverter 2 is
It is held by the input capacitance of the inverter 4 via the transfer transistor 3 of the channel. That is, when clock signal φ is at H level, transfer transistor 1
is turned on, so if the input signal IN is at H level, this signal charges (precharges) the input capacitance of the inverter 2. Signal transmission by transfer transistor 3 is performed according to the output of AND gate 5, and the output of AND gate 5 is controlled according to the timing of clock signal φ2. As shown in FIG. 7, the timing of the clock signal φ2 is set so that the clock signal φ is at the H level during the positive level period, and the clock signal φ1 and the clock signal φ2 are both at the L level (hereinafter referred to as the non-level period). (referred to as overlap) tI % L2 is set.

すなわち、クロック信号φ2がHレベルになると、トラ
ンスファトランジスタ3がONしてインバータ2の出力
はインバータ4に伝達される。インパーク4の出力はN
chのトランスファトランジスタ6を介してインバータ
7に導かれており、クロック信号φ1がHレベルになる
と、トランスファトランジスタ6がONするのでインバ
ータ4の出力はインバータ7の入力容量によって保持さ
れる。
That is, when clock signal φ2 becomes H level, transfer transistor 3 is turned on and the output of inverter 2 is transmitted to inverter 4. The output of impark 4 is N
The output of the inverter 4 is held by the input capacitance of the inverter 7 because the transfer transistor 6 is turned on when the clock signal φ1 becomes H level.

すなわち、トランスファトランジスタ3はインバータ2
の出力が確定した後にインバータ2の出力をインバータ
4に伝達し、また、トランスファトランジスタ6はイン
バータ4の出力が確定した後にインバータ4の出力をイ
ンバータ7に伝達している。
That is, transfer transistor 3 is connected to inverter 2
Transfer transistor 6 transmits the output of inverter 4 to inverter 7 after the output of inverter 4 is determined.

第8図は第2の従来例を示す図であり、第6図に示す従
来例と同一の構成部材には同一符号を付してその説明を
省略する。
FIG. 8 is a diagram showing a second conventional example, and the same constituent members as those in the conventional example shown in FIG. 6 are given the same reference numerals and their explanations will be omitted.

同図において、トランスファトランジスタ3の入力には
データバス11が接続され、データバス11はクロック
信号[に従ってPチャネルのトランジスタ12によりプ
リチャージされるとともに、クロック信号φ2が人力さ
れるANDゲート13の出力に従ってNチャネルのトラ
ンジスタ14によりディスチャージされる。すなわち、
トランスファトランジスタ3はデータバス11のデータ
が確定した後に該データをインバータ4に伝達しており
、クロック信号φ1とクロック信号φ2のタイミングに
は第7図に示すようなノンオーバラップ部分が設けられ
ている。
In the same figure, a data bus 11 is connected to the input of the transfer transistor 3, and the data bus 11 is precharged by a P-channel transistor 12 according to a clock signal, and the output of an AND gate 13 to which a clock signal φ2 is input. Accordingly, it is discharged by the N-channel transistor 14. That is,
The transfer transistor 3 transmits the data to the inverter 4 after the data on the data bus 11 is determined, and a non-overlapping portion as shown in FIG. 7 is provided at the timing of the clock signal φ1 and the clock signal φ2. There is.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、このような従来の半導体集積回路にあっ
ては、トランスファトランジスタ3がANDゲート5に
入力されたクロック信号φ2に基づいて前段からの信号
を伝達する構成となっていたため、回路動作が不安定に
なりやすいという問題点があった。
However, in such a conventional semiconductor integrated circuit, since the transfer transistor 3 is configured to transmit a signal from the previous stage based on the clock signal φ2 inputted to the AND gate 5, the circuit operation becomes unstable. The problem was that it was easy to become

すなわち、クロック信号φ2はANDゲート5を介して
トランスファトランジスタ3のゲートに入力されるため
、ANDゲート5の入出力間には素子の応答速度に応じ
た信号のデイレイが発生する。また、ANDゲート5か
らトランスファトランジスタ3までの間には配線抵抗や
分布容量による遅延時定数が存在するため、ANDゲー
ト5の出力タイミングに対するトランスファトランジス
タ3の入力タイミングにもデイレイが発生ずる。
That is, since the clock signal φ2 is input to the gate of the transfer transistor 3 via the AND gate 5, a signal delay occurs between the input and output of the AND gate 5 depending on the response speed of the element. Further, since there is a delay time constant due to wiring resistance and distributed capacitance between the AND gate 5 and the transfer transistor 3, a delay also occurs in the input timing of the transfer transistor 3 with respect to the output timing of the AND gate 5.

したがって、トランスファトランジスタ3による実際の
トランスファ動作はクロック信号φ2のタイミングより
も遅れるため、クロック信号φ菖とクロック信号φ2の
ノンオーバラップ部分の設定はこれらのデイレイを見込
んで行う必要がある。
Therefore, since the actual transfer operation by the transfer transistor 3 is delayed from the timing of the clock signal φ2, it is necessary to set the non-overlapping portions of the clock signal φ2 and the clock signal φ2 in consideration of these delays.

ところが、予めデイレイを見込んでノンオーバラップ部
分を設定してもデイレイによって信号の立ち上がりと立
ち下がりが訛るため、スレッショルドレベルの影響から
実際のノンオーバラップ幅が狭くなることがある。特に
、高速動作を意図している場合、上記不具合は顕著であ
り、ノンオーバラップ幅が狭くなることによってハザー
ドあるいはレーシングが発生しやすくなる。また、高速
動作においては動作速度に対する遅延時間の占める割合
が動作の高速化に伴って増大するとともに、実際の遅延
時間が極めて微小なものとなるため、ノンオーバラップ
幅の変動を正確に予測することが困難となる。したがっ
て、周囲の温度変化や素子のハラつき等による変動分を
考慮した場合、ハザードやレーシングの発生を回避する
ことのできる所定のノンオーバラップ幅を確保すること
が困難となる場合が多い。この場合、ハザードやレーシ
ングの発生によって半導体集積回路が予め意図した動作
と異なる動作を行う可能性が高くなるため、高速動作に
おける回路動作の安定性が低下することになる。例えば
、前述の第6.8図に示す回路でレーシングが発生する
と、前者ではクロック信号φ1がHレベルの期間、すな
わち、インバータ2およびインバータ7の出力論理レベ
ルが確定していないうちにトランスファトランジスタ3
あるいはトランスファトランジスタ6のONによって不
確定なデータが後段に伝達される。また、後者ではデー
タバス11のプリチャージ中の不確定なデータが同様に
後段に伝達される。
However, even if a non-overlapping portion is set in anticipation of a delay in advance, the rising and falling edges of the signal are distorted by the delay, so the actual non-overlapping width may become narrow due to the influence of the threshold level. In particular, when high-speed operation is intended, the above-described problem is noticeable, and the narrow non-overlapping width makes hazards or racing more likely to occur. In addition, in high-speed operation, the ratio of delay time to operation speed increases as the operation speed increases, and the actual delay time becomes extremely small, so it is difficult to accurately predict fluctuations in non-overlap width. This becomes difficult. Therefore, when considering fluctuations due to changes in ambient temperature, unevenness of elements, etc., it is often difficult to secure a predetermined non-overlapping width that can avoid hazards and racing. In this case, there is a high possibility that the semiconductor integrated circuit will operate in a manner different from the intended operation due to the occurrence of hazards or racing, resulting in a decrease in the stability of circuit operation during high-speed operation. For example, when racing occurs in the circuit shown in FIG. 6.8, in the former case, the transfer transistor 3
Alternatively, by turning on the transfer transistor 6, uncertain data is transmitted to the subsequent stage. Furthermore, in the latter case, uncertain data during precharging of the data bus 11 is similarly transmitted to the subsequent stage.

また、大規模な半導体集積回路ではレイアウトの都合上
、素子間の距離が増加して遅延時定数の増大を招くこと
もあり、このような場合、ノンオ−バランプ幅の確保自
体が困難となることもある。
Furthermore, due to layout considerations in large-scale semiconductor integrated circuits, the distance between elements may increase, leading to an increase in the delay time constant. In such cases, it becomes difficult to ensure a non-overlamp width. There is also.

そこで本発明は、安定な高速動作を確保した半導体集積
回路を提供することを目的としている。
Therefore, an object of the present invention is to provide a semiconductor integrated circuit that ensures stable high-speed operation.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明による半導体集積回路は上記目的達成のため、所
定の論理レベルの信号が人力されると、該信号を所定の
クロック信号のタイミングに基づいて保持する保持手段
を備えた半導体集積回路において、前記保持手段の前段
に、前記論理レベル信号を前記クロック信号のタイミン
グで保持するとともに、該保持値を前記保持手段に出力
する第2の保持手段を設けている。
In order to achieve the above object, a semiconductor integrated circuit according to the present invention is provided with a holding means for holding a signal of a predetermined logic level based on the timing of a predetermined clock signal when a signal of a predetermined logic level is input manually. A second holding means is provided upstream of the holding means for holding the logic level signal at the timing of the clock signal and outputting the held value to the holding means.

〔作用〕[Effect]

本発明では、所定の論理レベルの信号がクロック信号の
タイミングで予め第2の保持手段により保持された後、
該信号が該クロック信号のタイミングに基づいて保持手
段により保持される。
In the present invention, after a signal of a predetermined logic level is held in advance by the second holding means at the timing of a clock signal,
The signal is held by the holding means based on the timing of the clock signal.

したがって、保持手段が保持する信号は予め第2の保゛
持手段によって保持された既に確定した信号となり、レ
ーシングの発生が回避されて高速動作の安定性が確保さ
れる。
Therefore, the signal held by the holding means becomes an already determined signal held in advance by the second holding means, and the occurrence of racing is avoided and stability of high-speed operation is ensured.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面に基いて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

まず、構成を説明するが、最初に第1〜3図を参照して
本発明の基本原理を述べる。
First, the configuration will be explained. First, the basic principle of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3.

第1図において、トランスファトランジスタ21は入力
信号INをANDゲート22の出力に基づいてインバー
タ23に導き、インバータ23の入力容量が該入力信号
の論理レベルを保持する。
In FIG. 1, transfer transistor 21 guides input signal IN to inverter 23 based on the output of AND gate 22, and the input capacitance of inverter 23 maintains the logic level of the input signal.

ANDゲート22にはクロック信号φが入力されており
、ANDゲート22の出力にはクロック信号ΦがHレベ
ルの期間にトランスファトランジスタ2゛1のトランス
ファ動作を指示する信号が現れる。例えば、入力信号I
NおよびANDゲート22の入力信号ENがHレベルの
ときにクロック信号φがHレベルになると、ANDゲー
ト22の出力はクロック信号ΦがHレベルの期間だけH
レベルになる。この場合、ANDゲート22出力はAN
Dゲート22の応答速度骨だけ入力に対する応答が遅れ
る。また、ANDゲート22の出力からトランスファト
ランジスタ21のゲートまでの配線抵抗およびトランス
ファトランジスタ21のゲート容量を含む分布容量の積
で決まる遅延時定数の影響があるため、前述のように、
トランスファトランジスタ21のゲートの信号にはAN
Dゲート22の出力よりもさらに遅れが発生ずる。した
がって、入力信号INの論理レベルが確定するタイミン
グとクロック信号φによるトランスファ動作の間のノン
オーバラップタイムが減少して同図(’a)に示す回路
ではレーシングが発生しやすくなる。そこで、同図(b
)に示すように、トランスファトランジスタ21とイン
バータ23からなる保持回路24の直前にトランスファ
トランジスタ25とインバータ26からなる第2の保持
回路27を設け、トランスファトランジスタ25のゲー
トにクロック信号φを入力すると、入力信号INは第2
の保持回路27を介して保持回路24に伝達される。こ
のとき、トランスファトランジスタ21のトランスファ
タイミングは前述のようにクロック信号φよりも遅れて
いるものの、入力信号INが第2の保持回路27に保持
されるタイミングはクロック信号φの立ち上がりと一致
する。
A clock signal φ is input to the AND gate 22, and a signal instructing the transfer operation of the transfer transistor 2'1 appears at the output of the AND gate 22 while the clock signal φ is at the H level. For example, input signal I
When the input signal EN of the N and AND gate 22 is at the H level and the clock signal φ goes to the H level, the output of the AND gate 22 goes to the H level only while the clock signal Φ is at the H level.
become the level. In this case, the AND gate 22 output is AN
The response speed of the D gate 22 is delayed in its response to the input. In addition, as described above, there is an effect of the delay time constant determined by the product of the distributed capacitance including the wiring resistance from the output of the AND gate 22 to the gate of the transfer transistor 21 and the gate capacitance of the transfer transistor 21.
The signal at the gate of the transfer transistor 21 is AN.
A further delay occurs than the output of the D gate 22. Therefore, the non-overlap time between the timing at which the logic level of the input signal IN is determined and the transfer operation by the clock signal φ is reduced, and racing is likely to occur in the circuit shown in FIG. Therefore, the same figure (b
), a second holding circuit 27 consisting of a transfer transistor 25 and an inverter 26 is provided immediately before the holding circuit 24 consisting of a transfer transistor 21 and an inverter 23, and a clock signal φ is input to the gate of the transfer transistor 25. The input signal IN is the second
The signal is transmitted to the holding circuit 24 via the holding circuit 27 . At this time, although the transfer timing of the transfer transistor 21 is delayed from the clock signal φ as described above, the timing at which the input signal IN is held in the second holding circuit 27 coincides with the rising edge of the clock signal φ.

すなわち、入力信号INの論理レベルが確定するタイミ
ングとクロック信号φのタイミング間には予め設定され
ている所定のノンオーパラ・ノブが確保される。したが
って、トランスファトランジスタ21のトランスファタ
イミングとクロ・ツク信号φの間のノンオーバラップが
減少してもトランスファトランジスタ21が伝達するデ
ータは第2の保持回路27に保持された既に確定したデ
ータであることから常に確定した入力信号INの論理レ
ベルが保持回路24によって保持されることになる。
That is, a predetermined non-operational knob is secured between the timing when the logic level of the input signal IN is determined and the timing of the clock signal φ. Therefore, even if the non-overlap between the transfer timing of the transfer transistor 21 and the clock signal φ is reduced, the data transmitted by the transfer transistor 21 is already fixed data held in the second holding circuit 27. The logic level of the input signal IN, which has been determined since then, is always held by the holding circuit 24.

このように、デイレイが発生する以前のクロ・ツク信号
φのタイミングで入力信号INを予め保持する第2の保
持回路27を設けることにより、常に所定のノンオーバ
ラップを維持してレーシングの発生を回避し、高速動作
時の安定性を確保することを意図するものである。
In this way, by providing the second holding circuit 27 that holds the input signal IN in advance at the timing of the clock signal φ before the delay occurs, it is possible to always maintain a predetermined non-overlap and prevent racing from occurring. This is intended to avoid this problem and ensure stability during high-speed operation.

なお、保持回路24.27は第2図に示すようなりタイ
プのフリップフロップ28で置換することも可能であり
、入力端子りに入力信号INを入力するとともに、クロ
ック端子CKにANDゲート22の出力あるいはクロッ
ク信号φを入力し、出力Qあるいは反転出力Qから次段
に伝達する信号を取り出すようにしてもよい。
Note that the holding circuits 24 and 27 can also be replaced with flip-flops 28 of the type shown in FIG. Alternatively, the clock signal φ may be input and the signal to be transmitted to the next stage may be taken out from the output Q or the inverted output Q.

また、第3図に示すようにクロックドゲート31.32
を用いることも可能である。クロックドゲート31.3
2は一対のクロック信号CKおよびCKの入力によって
出力の伝達あるいは遮断を行うものであり、クロック信
号CKがHレベルのとき出力を伝達し、クロック信号C
KがLレベルのとき出力を遮断する。すなわち、同図(
a)の回路ではANDゲート33の出力からクロック信
号CKを、ANDゲート33の出力からインバータ34
を介してクロック信号CKを得ており、クロックドゲー
ト31の動作タイミングには第1図に示す回路と同様に
クロック信号φのタイミングよりも遅れが発生する。し
たがって、レーシングの発生する可能性が高くなるが、
同図(b)に示すようにクロックドゲート31の前段に
第2のクロックドゲート32を設けることにより、クロ
ックドゲート31が保持する信号を予め第2のクロック
ドゲート32に保持させて前述のような回路動作の安定
化を意図するものである。
In addition, as shown in FIG. 3, clocked gates 31 and 32
It is also possible to use clocked gate 31.3
2 transmits or cuts off the output by inputting a pair of clock signals CK and CK, transmitting the output when the clock signal CK is at H level, and transmitting the output when the clock signal CK is at the H level.
The output is cut off when K is at L level. In other words, the same figure (
In the circuit a), the clock signal CK is supplied from the output of the AND gate 33, and the clock signal CK is supplied from the output of the AND gate 33 to the inverter 34.
The clock signal CK is obtained through the clock signal φ, and the operation timing of the clocked gate 31 is delayed from the timing of the clock signal φ, similarly to the circuit shown in FIG. Therefore, the possibility of lacing occurring increases, but
By providing a second clocked gate 32 at the front stage of the clocked gate 31 as shown in FIG. It is intended to stabilize circuit operation such as.

第4図は上記基本原理に基づく本発明の第1実施例を示
す図であり、第6図に示す第1の従来例に本発明を適用
したものである。なお、同図において、第1の従来例と
同一構成の部材には同一符号を付してその説明を省略す
る。
FIG. 4 is a diagram showing a first embodiment of the present invention based on the above basic principle, in which the present invention is applied to the first conventional example shown in FIG. In addition, in the figure, members having the same configuration as those of the first conventional example are given the same reference numerals and their explanations will be omitted.

トランスファトランジスタ3およびインバータ4からな
る保持手段41の前段にはインバータ2の出力をクロッ
ク信号φ2のタイミングで保持する第2の保持手段42
が設けられる。第2の保持7段42はトランスファトラ
ンジスタ43およびインバータ44からなり、トランス
ファトランジスタ43のゲートにはANDゲート5に入
力されるクロツタ信号φ2と同じ信号(すなわち、クロ
ック信号φ2と同一極性、同一周期、同一パルス幅の信
号)が図示されないクロックジェネレータにより入力さ
れる。
A second holding means 42 for holding the output of the inverter 2 at the timing of the clock signal φ2 is provided before the holding means 41 consisting of the transfer transistor 3 and the inverter 4.
will be provided. The second holding seven stages 42 consists of a transfer transistor 43 and an inverter 44, and the gate of the transfer transistor 43 receives the same signal as the clock signal φ2 input to the AND gate 5 (that is, the same polarity and the same period as the clock signal φ2). (signals with the same pulse width) are input by a clock generator (not shown).

上記構成において、クロック信号φ、とクロック信号φ
2には予め、所定のノンオーバラップ部分が設けられて
いるので、トランスファトランジスタ43によるトラン
スファ動作はトランスファトランジスタ1によるトラン
スファ動作が完了してインバータ2の出力論理レベルが
確定した後に確実に行われる。すなわち、第2の保持手
段42の出力論理レベルは前段に位置するインバータ2
の出力論理レベルが確定して所定のノンオーバラップタ
イムが経過すると第2の保持手段42に入力されたイン
バータ2の出力論理レベルに応じて確定することになる
。したがって、ノンオーバラップタイムが減少するよう
な要因がないのでトランスファトランジスタ1からイン
バータ4の間ではレーシングが発生することはない。イ
ンバータ4の出力は保持手段41を介して後段の回路、
すなわち、トランスファトランジスタ6を介してインバ
ータ7に伝達されるが、トランスファトランジスタ3の
ゲートにはクロック信号φ2に基づくANDゲート5出
力が導かれており、ANDゲート5の出力は前述のよう
にANDゲート5の応答遅れや配線による遅延時定数の
影響からクロック信号φ2のタイミングよりも遅れが発
生する。したがって; トランスファトランジスタ43
よりもトランスファトランジスタ3のほうがトランスフ
ァ動作を遅れて行うことになるが、予め確定したインバ
ータ2の出力を第2の保持手段42によって確実に保持
しているので、保持手段41はインバータ2の不確定な
出力論理値を保持するこ″とがない。すなわち、AND
ゲート5の応答遅れや配線による遅延時定数が変動した
場合であっても、。
In the above configuration, the clock signal φ and the clock signal φ
Since a predetermined non-overlapping portion is provided in advance in inverter 2, the transfer operation by transfer transistor 43 is reliably performed after the transfer operation by transfer transistor 1 is completed and the output logic level of inverter 2 is determined. That is, the output logic level of the second holding means 42 is the same as that of the inverter 2 located at the previous stage.
When the output logic level of the inverter 2 is determined and a predetermined non-overlap time has elapsed, the output logic level of the inverter 2 is determined according to the output logic level of the inverter 2 inputted to the second holding means 42. Therefore, since there is no factor that reduces the non-overlap time, racing does not occur between the transfer transistor 1 and the inverter 4. The output of the inverter 4 is passed through the holding means 41 to the subsequent circuit.
That is, it is transmitted to the inverter 7 via the transfer transistor 6, but the output of the AND gate 5 based on the clock signal φ2 is led to the gate of the transfer transistor 3, and the output of the AND gate 5 is connected to the AND gate as described above. The timing of the clock signal φ2 is delayed from the timing of the clock signal φ2 due to the influence of the response delay of 5 and the delay time constant due to the wiring. Therefore; transfer transistor 43
The transfer transistor 3 performs the transfer operation later than the previous one, but since the second holding means 42 reliably holds the predetermined output of the inverter 2, the holding means 41 It does not hold a logical output value, i.e., AND
Even if the response delay of the gate 5 or the delay time constant due to wiring fluctuates.

第2の保持手段42が予め前段の出力を保持しているの
で保持手段41がレーシングの発生によって不確定なデ
ータを保持することがない。したがって、予め設定した
タイミングに従って確実な動作を行うことができる。ま
た、第2の保持手段42と前段の回路、すなわち、トラ
ンスファトランジスタ1の動作タイミングは予め設定さ
れているノンオーバラップタイムを維持しつつ行われる
ので、高速動作時であってもレーシングが発生すること
はなく、高速動作時の安定性を確保することができる。
Since the second holding means 42 holds the output of the previous stage in advance, the holding means 41 will not hold uncertain data due to the occurrence of racing. Therefore, reliable operation can be performed according to preset timing. Further, since the operation timing of the second holding means 42 and the preceding stage circuit, that is, the transfer transistor 1, is performed while maintaining a preset non-overlap time, racing does not occur even during high-speed operation. This ensures stability during high-speed operation.

第5図は本発明の第2実施例を示す図であり、第8図に
示す第2の従来例に本発明を適用したものである。なお
、同図において、第1実施例および第2の従来例と同一
構成の部材には同一符号を付してその説明を省略する。
FIG. 5 is a diagram showing a second embodiment of the present invention, in which the present invention is applied to the second conventional example shown in FIG. In the figure, members having the same configuration as those of the first embodiment and the second conventional example are designated by the same reference numerals, and their explanations will be omitted.

データバス11のデータはトランスファトランジスタ5
1およびインバータ52からなる第2の保持手段53を
介して保持手段41に伝達され、第2の保持手段53に
よる伝達はクロック信号φ2のHレベルを受けて行われ
る。したがって、トランスフ、アトランジスタ3は第2
の保持手段53によって保持された確定したデータバス
11上のデータをインバータ4に伝達することができ、
第1実施例と同様の作用効果を得ることができる。
The data on the data bus 11 is transferred to the transfer transistor 5.
1 and an inverter 52 to the holding means 41, and the transmission by the second holding means 53 is performed in response to the H level of the clock signal φ2. Therefore, the transfer transistor 3 is the second
The determined data on the data bus 11 held by the holding means 53 can be transmitted to the inverter 4,
The same effects as in the first embodiment can be obtained.

〔効果〕〔effect〕

本発明によれば、所定の論理レベルの信号をクロック信
号のタイミングで保持する第2の保持手段を設け、第2
の保持手段が所定の論理レベルの信号を予め保持するよ
うにしているので、レーシングの発生を回避することが
でき、安定な高速動作を確保した半導体集積回路を得る
ことができる。
According to the present invention, the second holding means for holding a signal at a predetermined logic level at the timing of a clock signal is provided;
Since the holding means holds a signal at a predetermined logic level in advance, it is possible to avoid the occurrence of racing, and it is possible to obtain a semiconductor integrated circuit that ensures stable high-speed operation.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1〜3図は本発明の基本原理を示す図であり、第1図
はその第1の回路図、 第2図はその保持回路の一例を示す図、・第3図はその
第2の回路図、 第4図は本発明に係る半導体集積回路の第1実施例を示
すその構成を示す回路図、 第5図は本発明に係る半導体集積回路の第2実施例を示
すその構成を示す回路図、 第6〜8図は従来の半導体集積回路を示す図であり、 第6図はその第1の従来例を示す回路図、第7図はその
動作タイミングを示すタイミングチャート、 第8図はその第2の従来例を示す回路図である。 41・・・・・・保持手段、   。 42.53・・・・・・第2の保持手段。 6ノ                       
   ′−′″\、ノ 構 第2の従来例を: 第8 示す回路図 図
Figures 1 to 3 are diagrams showing the basic principle of the present invention. Figure 1 is the first circuit diagram, Figure 2 is an example of the holding circuit, and Figure 3 is the second circuit diagram. Circuit diagram: FIG. 4 is a circuit diagram showing the configuration of a first embodiment of the semiconductor integrated circuit according to the present invention; FIG. 5 is a circuit diagram showing the configuration of the semiconductor integrated circuit according to the second embodiment of the present invention. 6 to 8 are diagrams showing conventional semiconductor integrated circuits, FIG. 6 is a circuit diagram showing the first conventional example, FIG. 7 is a timing chart showing its operation timing, and FIG. is a circuit diagram showing the second conventional example. 41... Holding means. 42.53...Second holding means. 6 no
′−′″\, ノ Structure Second conventional example: No. 8 Circuit diagram showing

Claims (1)

【特許請求の範囲】  所定の論理レベルの信号が入力されると、該信号を所
定のクロック信号のタイミングに基づいて保持する保持
手段を備えた半導体集積回路において、 前記保持手段の前段に、 前記論理レベル信号を前記クロック信号のタイミングで
保持するとともに、該保持値を前記保持手段に出力する
第2の保持手段を設けたことを特徴とする半導体集積回
路。
[Scope of Claims] A semiconductor integrated circuit comprising a holding means for holding a signal of a predetermined logic level based on the timing of a predetermined clock signal when a signal of a predetermined logic level is input, the semiconductor integrated circuit comprising: at a stage preceding the holding means; A semiconductor integrated circuit comprising second holding means for holding a logic level signal at the timing of the clock signal and outputting the held value to the holding means.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002047267A1 (en) * 2000-12-04 2002-06-13 Hitachi, Ltd Semiconductor integrated circuit device
US6771558B2 (en) 2001-12-21 2004-08-03 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5034434A (en) * 1973-07-30 1975-04-02
JPS5954331A (en) * 1982-09-22 1984-03-29 Sanyo Electric Co Ltd Two-input gate circuit
JPS6316710A (en) * 1986-07-09 1988-01-23 Nec Corp Latch circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5034434A (en) * 1973-07-30 1975-04-02
JPS5954331A (en) * 1982-09-22 1984-03-29 Sanyo Electric Co Ltd Two-input gate circuit
JPS6316710A (en) * 1986-07-09 1988-01-23 Nec Corp Latch circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002047267A1 (en) * 2000-12-04 2002-06-13 Hitachi, Ltd Semiconductor integrated circuit device
US6771558B2 (en) 2001-12-21 2004-08-03 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device

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