JPH01262448A - 壜の胴部検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は壜の胴部の欠陥を検出する壜の胴部検査方法及
び装置に関する。

〔従来の技術〕

酒類、清涼飲料、食品等を充填するガラス壜は製壜装置
により作られた新しい壜でも回収して再使用する回収場
でも、欠陥が存在するか否かを検査する必要がある。壜
の検査は壜の各部、壜胴、増成、口部、ねじ口部を検査
することになる。このうち壜の胴部の欠陥には異物よご
れなど食品衛生上の問題となるものと、クラック泡など
破損事故につながるおそれのある欠陥があるため、これ
ら欠陥壜を正確に検出して排除する必要がある。

このため透明又は半透明の壜の透過映像をみて、その濃
淡から欠陥を検出する方法が提案されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、単に壜の胴部の透過映像の濃淡をみるだ
けでは、異物の付着や汚れ等の遮光性欠陥に比べてうす
泡、すし、しわ等の屈折性欠陥を検出することが困難で
あるという問題があった。

また、壜の胴部にはｔ＠製造時に生ずる縦長の合わせ目
があり、この合わせ目を屈折性欠陥と区別するのが難し
いという問題があった。

本発明は上記事情を考慮してなされたもので、壜の胴部
における遮光性欠陥とともに屈折性欠陥をも精度よく検
出することができる壜の胴部検査方法及び装置を提供す
ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的は、細長い照明部分を移動させて壜の胴部全体
を照明し、透過光を前記照明部分に同期して移動する細
長い観測部分により観測して壜の胴部全体の透過映像を
観測し、この透過映１象に基づいて欠陥の有無を判定す
ることを特徴とする壜の胴部検査方法によって達成され
る。

上記目的は、細長い照明部分を移動させて壜の胴部全体
を照明する照明部と、前記壜の胴部の透過光を、前記照
明部分に同期して移動するｌ長いｎ側部分により観測し
て前記壜の胴部全体の透過映像をｉ測する観測部と、前
記観測部で観測された壜の透過映像に基づいて欠陥の有
無を判定する判定部とを備えたことを特徴とする壜の胴
部検査装置によって達成される。

〔作　用〕

本発明による壜の胴部検査方法及び装置は、壜の胴部を
４［［１艮い照明部分を移動させるようにして照明し、
この照明部分に同期して移動する細長い観測部分により
透過光を観測し、この透過映像に基づいて欠陥の有無を
判定する。

〔実施例〕

本発明の一実施例による壜の胴部検査装置を第１図に示
す。本実施例では検査されるｊｌ１２は回転台１４上で
回転させられる。壜１２は均一な拡散光を放つ拡散光源
１０により照明される。しかしながら、場１２の全面を
同時に照明するのではなく、拡散光源１０と壜１２の間
に設けられたスリ７ト板１１を介して照明する。したが
って、場１２にはスリット板１１のスリットｌｌａの影
である横方向の細長いライン状の光が当たる。

壜１２の胴部の透過光はスリット板１３を介して二次元
光電変換装置１６に入射される。二次元光電変換装置１
６は透過映像を電気的アナログ信号に変換する平面状の
エリアＣＣＤ　１６　ａと、このエリアＣＣＤ　１６　
ａに透過映像を結像する光学系１６ｂとで構成されてい
る。二次元光電変換装置１６はスリット板１３を介して
透過光を受光するため、ｔ＠１２の透過映像の全部を同
時に受光するのではなく、透過映像の一部である細長い
部分だけを受光する。

スリット板１１と１３はスリット駆動回路１５により上
下に移動される０本実施例では第２図及び第３図に示す
ように、スリット板１１のスリット１１ａの位置とスリ
ット板１３のスリント１３ａの位置か常に同じ高さにな
るように同期して駆動制御される。したがって、第３図
に示すようにスリ・ットｌｌａを通った光は場１２を透
過し、直進する透過光だけが反対側のスリット１３ａを
通って二次元光電変換装置１６のエリアＣＣＤ　１６ａ
に結１象する。

第４図（ａ）に示すように壜１２に遮光性欠陥Ｆａがあ
ると、スリットｌｌａを通った光は遮光性欠陥Ｆａによ
り遮られてスリット１３ａを通らず二次元光電変換装置
１６のエリアＣＣＤ　１６　ａに到達しない、したがっ
て、透過影像上で遮光性欠陥は影として検出される。

第４図（ｂ）に示すように壜１２に屈折性欠陥Ｆｂがあ
ると、スリットｌｌａを通った光は屈折性欠陥Ｆｂによ
り屈折して光の進行方向が曲げられ、はとんどの光がス
リット１３ａを通らず二次元光電変換装置１６のエリア
ＣＣＤ１６ａに到達しない、したがって、屈折性欠陥ら
透過影像上で影として検出される。

スリットｌｌａと１３ａの方向は、壜の縦方向の合わせ
目とは直角な横方向であるので、合わせ目が屈折性欠陥
として誤って検出されることがない。

スリット板１１と１３のスリットｌｌａと１３ａを例え
ば壜１２の種口から底部まで少なくと６１以上の整数回
以上移動させることにより、壜１２全体の透過映１象を
二次元光電変換装！１６のエリアＣＣＤ　１６　ａに結
像させることができる。すなわち、スリットｌｌａの移
動により場１２へのスリットｌｌａによる細長い照明が
上から下に移動し、同時にスリット１３ａが上から下に
同期して移動する。エリアＣＣＤ　１６　ａ上にはスリ
ット１３ａを通った透過映像の細長い部分が下から上に
移動して、最終的に第５図に示すような透過映像全体が
エリアＣＣＤ１６ａ上に結像される。なお、透過影像上
において、Ｆａは遮光性欠陥であり、Ｆｂは屈折性欠陥
である。

Ａ／Ｄ変換器１８は二次元光電変換装置１６からのアナ
ログ映像信号を所定ビット数のディジタル映像信号に変
換する。このディジタル映像信号は検査領域検査ゲート
設定回路２０とモニタ表示用ＲＡ　Ｍ回路２２と欠陥検
出回路２４に出力される。

検査領域検査ゲート設定回路２０は、第５図に示すよう
な透過映像からｔ表述する欠陥検出回路２４で欠陥を検
出する検査領域を定めるための回路である。壜１２の形
状に応じて、壜１２上下端のエツジから検査領域を定め
、この検査領域内を複数の検査ゲートに分けて設定する
。第５図では壜１２の全体を検査領域とし、この検査領
域を場１２の形状に応じて５つの検査ゲート１．２．３
．４．５に分けている。検査領域検査ゲート設定回路２
０からは、エリアＣＣＤ　１６　ａの現在の読出しライ
ンの位置が検査領域内のどの検査ゲートであるかを示す
検査ゲート信号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２、欠陥検
出回路２４、マスク処理回路２６、判定回路２８に出力
される。

なお、ｔ＠１２の像の外縁がはっきりしない場合には、
検査領域検査ゲート設定回路２０により、検査領域、及
び検査ゲート１．２．３．４．５を予め定めておいても
よい。

欠陥検出回路２４は、Ａ／Ｄ変換回路１８からのディジ
モル映（ｔ＝　（８号に基づいて、垂直方向及び水平方
向にある一定距Ｎｕれな複数点の明るさを比較すること
により欠陥の検出を行なう。

複数点の明るさを比較する欠陥検出方式には、２点の明
るさを比較して欠陥を検出する２点欠陥検出方式と３点
の明るさを比較して欠陥を検出する３点欠陥検出方式と
がある。第６図は２点欠陥検出方式の説明図であり、第
７図は３点欠陥検出方式の説明図である。

２点欠陥検出方式では、比較演算する２点Ａ、Ｂの明る
さをＱＡ　、ＱＢとして、次式が成立すれは欠陥あつと
する。

ＩＱＡ−ＱＢ＋≧（定数Ａ） 第６図の場合、エリアＣＣＤ　１６　ａの走査線上の点
Ａ１とＢ１　、Ａ２とＢ２の明るさをそれぞれＱＡＩ、
ＱＢｌ、ＱＡ２、ＱＢ２として、次式により比較演算す
ることにより欠陥の検出を行う。

Ｉ　ＱＡ１−ＱＢｌ１　　≧Ａ １　ＱＡ２−ＱＢ２１　　≧Ａ なお、定数Ａは壜の種類等に基づいて予め決めておく、
第６図ｆａ）に示すように走査線上の透過映像の明るさ
が均一であれば、 ＱＡＩ−ＱＢｌ＞Ａ ＱＡ２−　ＱＢ２＝　０ が成立し、点Ｂ１が欠陥点であることがわかる。

このように明るさが均一であれば、この２点欠陥検出方
式が有効である。しかし、第６図（ｂ）に示すように走
査線上の透過映像の明るさが不均一であると、 Ｉ　ＱＡＩ−Ｃ８１１＜　Ａ Ｉ　ＱＡ２−ＱＢ２１　＜Ａ となり、点Ｂ１の欠陥を検出できないおそれがある。

３点欠陥検出方式はこのような場合でも確実に検出でき
る。３点欠陥検出方式では、比較演算する３点Ａ、Ｂ、
Ｃの明るさをＱ＾、ＱＢ　、ＱＣとして、次式により比
較演算して欠陥を検出する。

ｌ　ＱＢ　−（ｆＱＡ　＋ＱＣ）／２１　＋≧（定数Ｂ
）なお、定数Ｂは壜の種類等に基づいて予め定めておく
。

第７図の場合、エリアＣＣＤ１６ａの走査線上の点Ａ１
とＢ１とＣ１、Ａ２とＢ２とＣ２の明るさをそれぞれＱ
ＡＩ、ＱＢｌ、ＱＣｌ、ＱＡ２、ＱＢ２ＱＣ２として、
次式により比較演算することにより欠陥の検出を行なう
。

ｌ　ＱＢｌ−（（ＱＡ１＋ＱＣ１）／２１　　ｌ≧ＢＩ
　ＱＢ２−（（ＱＡ２＋ＱＣ２）／２　＋　ｌ≧Ｂ中間
の点Ｂ１　、Ｂ２の明るさと比較する明るさが両側の点
Ａ１とＣ１、Ａ２とＣ２の明るさの算術平均であるので
、明るさが均一である第７図（ａ）の場合も、明るさが
不均一である第７図（ｂ）の場合も正確に欠陥点Ｂ１が
検出できる。

２点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例を第８図
に示す。２点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次入力されるシフトレジスタ２４ａのシフ
ト幅により定まる。このシフト幅はシフト幅設定部２４
ｂにより定められる。

比較部２４ｃは現在入力されているディジタル映像信号
とシフト幅だけ裔のディジタル映像信号であるシフトレ
ジスタ２４ａの出力信号とを比較し、その差の絶対値が
感度設定部２４ｄに設定された感度（即ち、定数Ａ）よ
り大きいか否かを判断して欠陥検出信号を出力する。定
数Ａは検査ゲートにより異なるため、感度設定部２４ｄ
は入力する検査ゲート信号により適切な定数Ａを比較部
２４Ｃに出力する。

３点欠陥検出方式の欠陥検出回路２４の具体例を第９図
に示す。３点間の距離をどの位にするかは、ディジタル
映像信号が順次入力されるシフトレジスタ２４ｅ、２４
ｆのシフト幅により定まる。

シフトレジスタ２４ｅ、２４ｆのシフト幅はシフト幅設
定部２４ｇにより定められる。この具体例では２つのシ
フトレジスタ２４ｅ、２４ｆのシフト幅は同じシフト幅
に設定される。演算回路２４ｈは現在入力しているディ
ジタル映像信号とシフトレジスタ２４ｆから出力される
ディジタル映像信号との算術平均を演算する。これによ
り現在走査している映像の平均の明るさが計算される比
較回路２４ｉは演算回路２４ｈにより演算された平均の
明るさと、シフトレジスタ２４ｅからのディジタル映像
信号とを比較し、その差の絶対値が感度設定部２４Ｊに
設定された感度（即ち、定数Ｂ）より大きいか否かを判
断して欠陥検出信号を出力する。定数Ｂは検査ゲートに
より異なるため、感度設定部２４ｊは入力する検査ゲー
ト信号により適切な定数Ｂを比較部２４ｉに出力する。

第８図、第９図における２点間又は３点間の明るさの比
較は、エリアＣＣＤ　１６　ａ上の縦と横の両方向、す
なわち場１２の縦方向と横方向について行う。

欠陥検出回路２４から出力される欠陥検出信号はマスク
処理回路２６によりマスク処理される。

欠陥検出回路２４で欠陥の検出ミスを防止するため感度
を上げると、欠陥でない部分をも欠陥点であると誤って
検出してしまうことがある。マスク処理はかかる欠陥検
出信号を除くために行なう処理である。実際の欠陥箇所
ではその大きさに応じた欠陥検出信号が連続して現れる
のに対し、その他の欠陥でない部分では欠陥検出信号が
離散的に現れる。そこでこのマスク処理では孤立した欠
陥検出信号やある設定値以下しか連続しない欠陥検出信
号は、実際には欠陥ではないとして削除する。

判定回路２８は、マスク処理回路２６によりマスク処理
された欠陥検出信号に基づいて欠陥の有無を判定する０
例えば、欠陥検出信号の数をスキャン毎に計数し、その
計数値が所定の設定値を越えるとエラースキャン（欠陥
走査線）とする。更に、そのエラースキャンが連続する
数を計数し、その計数値が所定の設定Ｌ１！−越えた場
合に欠陥種であると判定する。この判定信号は壜１２の
搬送系（図示せず）に送出され、搬送系はその判定結果
に応じて、例えば欠陥種を排除するようにする。

基準信号発生回路３０は場位置検出器３２からの壜位置
信号に基づいて、スリット駆動信号、検査期間信号、Ｒ
ＡＭ書込信号を生成して出力する。

スリット駆動信号は、例えば壜１２の一回転中にＣＣＤ
１６ａのスキャンに応じてスリット板１１と１３を上か
ら下まで動かすようにするための信号で、スリット駆動
回路１５に出力される。スリット駆動口ｉ？８１５はこ
のスリット駆動信号に基づいてスリット板１１と１３を
移動させる。検査期間信号は、スリット板１１と１３が
動いている間である検査期間を指示するための信号で、
判定回路２８に出力される。ＲＡＭ書込信号は、モニタ
表示用ＲＡ　Ｍ回路２２にディジタル映像信号を書込む
べきタイミングを指示するだめの信号である。

なお、基準信号発生回路３０ではスリット駆動信号、検
査期間信号、ＲＡＭ＠込信号全信号するのにＰＬＡを用
いる。即ち、壜位置信号をアドレスとして各アドレスに
予めスリット駆動信号、検査期間信号、ＲＡＭ書込信号
を書込んでおくことにより、壜位置信号をアドレスとし
て入力すると適切なスリット駆動信号、検査期間信号、
ＲＡ　Ｍ書込信号を得ることができる。

基準信号発生回路３０からの検査期間信号は例えば判定
回路２８に出力される０判定回路２８は検査期間信号が
ハイレベルの期間中に入力する欠陥検出信号だけを有効
として、ｔｌ！１２が欠陥種であるか否かを判断する。

なお、この検査期間信号を検査領域検査ゲート設定回路
２０、欠陥検出回路２４又はマスク処理回路２６に出力
し、検査期間信号がハイレベルの期間中に入力する信号
だけを有効とするようにしてもよい。

基準信号発生回路３０からのＲＡＭ書込信号はモニタ表
示用ＲＡＭ回路２２に出力される。このＲＡＭ書込信号
に基づいてＡ／Ｄ変換回路１８からのディジタル映像信
号がモニタ表示用ＲＡＭ回路２２に書込まれる。モニタ
表示用ＲＡＭ回路２２にはＲＡＭ書込信号の他にマスク
処理回路２６から欠陥検出信号と判定回路２８からのエ
ラースキャン信号及び判定結果信号と検査領域検査ゲー
ト設定回１？３２０からの検査ゲート信号が入力されて
いる。欠陥検出信号及びエラースキャン信号に基づいて
欠陥点やエラースキャンをモニタ表示用ＲＡＭ回Ｆ！＠
２２に書込む、また検査ゲート信号に基づいてモニタ３
６上に検査ゲートを表示する。

モニタ表示用ＲＡＭ回路２２は２つのフレームメモリを
有し、これら２つのフレームメモリを交互に用いて、検
査中の壜１２のディジモル映１象信号と前回検査した場
１２のディジタル映像信号とを記憶する。通常は検査中
の壜１２のディジタル映像信号を順々にモニタ３６に表
示するが、判定回路２８からの欠陥種であるとの判定信
号が入力されると、その欠陥種のディジタル映像信号を
記憶したフレームメモリの内容をモニタ３６に表示し、
欠陥の状態を詳細に検査することができる。

このように本実施例によれば遮光性欠陥も屈折性欠陥も
感度よく検出することができる。

上記第１の実施例では、スリット板１１のスリットｌｌ
ａの位置とスリット板１３のスリット１３ａの位置とを
同じ高さの位置にしたが、第１０図の変形例に示すよう
に互いに所定距離だけずらしてもよい、スリット１３ａ
の位置は、スリット１１ａを通って直進した光がスリッ
ト１３ａを通らずスリット板１３により遮られるぎりぎ
りに近い位置とするのが望ましい、欠陥がない箇所では
スリットＩｌａを通った光はスリット板１３により遮ら
れる。しカル、壕１２に屈折性欠陥Ｆｂかあると、第１
０図に示すようにスリットｌｌａを通った光は屈折性欠
陥Ｆｂにより曲げられてスリット１３ａを通る。したが
って、欠陥点は、第１１図、第１２図に示すように池の
点より明るい欠陥点Ｂ１として現れ、屈折性欠陥は、第
１３図に示すように透過映像中に明るい領域である屈折
性欠陥Ｆｂとして現れる。なお、この変型例では遮光性
欠陥Ｆａは検出されない。

この変型例によれば、第１１図、第１２図に示すように
第１の実施例と同様に欠陥点を２点欠陥検出方式（第１
１図）または３点欠陥検出方式（第１２図）によって検
出する。ただし、この変型例では欠陥点が明るいことが
第１の実施例とは異なる。

本発明の第２の実施例による壜の胴部検査装置を第１４
図に示す。同一の構成要素には同一の符号を付して説明
を省略する。本実施例は、第１の実施例におけるスリッ
ト板１１．１３のような機械的に動く部分をなくしたこ
とを特徴とするものである。

拡散光ａ１０とスリット板１１の代わりに、本実施例で
は第１５図に示すような光源４０を用いている。この光
ａ４０は、多数の発光タイオード４０ａをマトリックス
状に配列して構成したものである。スリット板１１を移
動させる代わりに、光源制御回路４２によって発光ダイ
オード４０ａの発光を制御する。すなわち、発光ダイオ
ード４０ａを例えば上から下に向かって順番に一列ずつ
光らせる。これにより、細長い発光部分が上から下に移
動し、第１の実施例においてスリットを移動させたのと
同じになる。第１５図は４列目の発光ダイオードが発光
した状態を示している。

スリット１３の代わりに、本実施例では光電変換装置制
御回路４４により二次元光電変換装置１６におけるエリ
アＣＣＤ１６ａの掃出し、読出しを制御する。すなわち
、第１６図に示すように、蓄積電荷を掃出ずように制御
する掃出制御ラインＬｄを下から上に移動させ、蓄積電
荷を読出すように制御する続出制御ラインＬｒを掃出制
御ラインＬｄを追いかけるよう下から上に移動させる。

あるラインにおける制御のタイミングを第１７図に示す
。時刻ｔ１で掃出しパルスを発生させると、今まで蓄積
された電荷が掃出されて空になる。その後入射する光に
応じて電荷を蓄積する。予め定められた蓄積時間′Ｆ後
の時刻ｔ２で読出しパルスを発生させると、蓄積時間Ｔ
の間に蓄積された電荷が信号として読出される。蓄積時
間Ｔに応じて決まる掃出制御ラインＬｄと続出制御ライ
ンＬｒの間隔が、スリット１３ａの間隔に相当すること
になる。

基準信号発生回路３０から光源制御回路４２と光電変換
装置制御回路４４に制御信号を送って、光′ｔＡ４０に
おいて発光させる発光ダイオード列と、エリアＣＣＤ　
１６　ａにおける掃出制御ラインＬｄと読出制御ライン
Ｌｒとを同期させて制御する。

たとえば、第１８図に示すように、壜１２の透過映像の
うち発光している発光ダイオード列により照明された部
分の像が丁度エリアＣＣＤ　１６　ａにおける掃出制御
ラインＬｄと続出制御ラインＬｒの中間に結像するよう
に制御を同期させる。これが第１の実施例における第３
図の場合（スリット１１ａとスリット１３ａの位置を一
致させる場合）に対応する。第１０図の場合（スリット
ｌｌａとスリット１３ａの位置をずらせる場合）のよう
にするには、発光させる発光ダイオード列の結像位置と
、掃出制御ラインＬｄと続出制御ラインＬｒに挾まれる
光蓄積領域の位置を少しずらせばよい。

本実施例によれば、機械的に動く箇所かないので精密な
位置合せが簡単にでき、かつ故障の発生を低く抑えらる
ことができる。

上記第２の実施例では、光源４０を発光ダイオードをマ
トリックス状に配列して構成したが、細長い照明部分を
順次切り換えられるものであればいかなる構成でもよい
。例えば、マトリックス状に束ねたファイバで光を誘導
し、このファイバで照明してもよい。また、レーザ光を
捜査して細長い照明部分を切り換えるようにしてもよい
。

本発明では上記実施例に限らず種々の変形が可能である
。たとえば、上記実施例では固定位置で回転する１１２
ｆ！−検査したが、回転しながら連続して移動する壜１
２に対しても振動レンズや振動ミラーを設けることによ
り検査が可能である。

また、欠陥検出方式ら上記実施例に示したしのに限らず
種々の変形が可能である０例えば、比較？ｔ１ｎする２
点の明るさをＱＡ　、ＱＢとして、次式のいずれかが成
立すれば欠陥あつとしてもよい。

ＱＡ　／ＱＢ≧（定数Ｃ） ＱＡ・ＱＢ≦１．／（定数Ｃ） また比較する３点の明るさを、ＱＡ　、ＱＢ　、　ＱＣ
として、次式のいずれかが成立すれば欠陥あつとしても
よい。

ＱＢ　／（（Ｑ＾＋ＱＣ）／２１≧（定数Ｄ）ＱＢ　／
（（Ｑ＾＋ＱＣ）／２　）≦１／（定数Ｄ）なお定数Ｃ
１定数りは１以上の数である。

さらに、第１の実施例と第２の実施例を組合わせてもよ
い、すなわち、照明部として第１の実施例のように拡散
光源とスリット板を用い、観測部として第２の実施例の
ようにエリアＣＣＤを制御してもよい、逆に照明部とし
て第２の実施例のように発光ダイオードからなる光源を
用い、観測部として第１の実施例のようにスリ７ト板を
用いてらよい。

また、上記実施例では照明部の相長い照明部分も観測部
の細長い観測部分ら、検査する場に対して真横の方向で
あったが、真横以外の方向、例えば斜めの方向でもよい
し、直線ではなく曲線状の照明部分及び観測部分でもよ
い。

壜はガラス壜でもプラスチック壜でもよく、さらにガラ
ス容器の側面の検査にも本発明を適用することができる
。

〔発明の効果〕

以上の通り本発明によれば壜の胴部の特に屈折性欠陥を
精度よく検出することがかできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例による壜の胸部検査装置
のブロック図、第２図、第３図は同型の胴部検査装置の
光学検出系を示す図、第４図は同型の胴部検査装置にお
ける検査原理の説明図、第５図は同型の胴部検査装置に
おける検査領域と検査ゲートを示す図、第６図、第７図
は同型の胴部検査装置における欠陥検出方式の説明図、
第８図、第９図はこれら欠陥検出方式を実現する欠陥検
出回路の具体例を示すブロック図、第１０図は第１の実
施例の変形例の検査原理の説明図、第１１図、第１２図
は同変形例における欠陥検出方式の説明図、第１３図は
同変形例における透過映像の具体例を示す図、第１４図
は本発明の第２の実施例による壜の胸部検査装置のブロ
ック図、第１５図は同型の胴部検査装置の光源を示す斜
視図、第１６図、第１７図は同型の胴部検査装置におけ
るエリアＣＣＤの制御を説明するだめの図、第１８図は
同型の胴部検査装置の光学検出系を示す図である。 １０・・・拡散光源、１１．１３・・・スリット板、１
】ａ、１３ａ・・・スリット、１２・・・壜、１４・・
・回転台、１５・・・スリット駆動回路、１６・・・二
次元光電変換装置、１６ａ・・・エリアＣＣＤ、１８・
・・Ａ／Ｄ変換回路、２０・・・検査領域検査ゲート設
定回路、２２・・・モニタ表示用ＲＡＭ回路、２４・・
・欠陥検出回路、２６・・・マスク処理回路、２８・・
・判定回路、３０・・・基準信号発生回路、３２・・・
壜位置検出器、３６・・・モニタ、４０・・・光源、・
４２・・・光源制御回路５．４＝１・・・光電変換装置
制御回路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、細長い照明部分を移動させて壜の胴部全体を照明し
   、壜の胴部の透過光を、前記照明部分に同期して移動す
   る細長い観測部分により観測して壜の胴部全体の透過映
   像を観測し、この透過映像に基づいて欠陥の有無を判定
   することを特徴とする壜の胴部検査方法。 ２、細長い照明部分を移動させて壜の胴部全体を照明す
   る照明部と、 前記壜の胴部の透過光を、前記照明部分に同期して移動
   する細長い観測部分により観測して前記壜の胴部全体の
   透過映像を観測する観測部と、前記観測部で観測された
   壜の透過映像に基づいて欠陥の有無を判定する判定部と
   を備えたことを特徴とする壜の胴部検査装置。 ３、請求項２記載の壜の胴部検査装置において、 前記照明部は、照明光を発する光源と、前記光源の照明
   光の一部を通す照明用スリットと、前記照明用スリット
   を移動させる移動手段とを有することを特徴とする壜の
   胴部検査装置。 ４、請求項２又は３記載の壜の胴部検査装置において、 前記観測部は、前記壜の透過光を通す観測用スリットと
   、前記観測用スリットを移動させる移動手段と、前記観
   測用スリットを通つた光を受光する受光手段とを有する
   ことを特徴とする壜の胴部検査装置。 ５、請求項２又は４記載の壜の胴部検査装置において、 前記照明部は、複数の細長い発光部分と、前記複数の細
   長い発光部分を所定の順序で発光させる制御手段とを有
   することを特徴とする壜の胴部検査装置。 ６、請求項２、３又は５記載の壜の胴部検査装置におい
   て、 前記観測部は、複数の細長い受光部分と、前記複数の細
   長い受光部分を所定の順序で受光状態にする制御手段と
   を有することを特徴とする壜の胴部検査装置。