JPH01265104A - 光学的走査ヘツドにおける放出光量を調整するための方法及び装置 - Google Patents
光学的走査ヘツドにおける放出光量を調整するための方法及び装置Info
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- JPH01265104A JPH01265104A JP63320798A JP32079888A JPH01265104A JP H01265104 A JPH01265104 A JP H01265104A JP 63320798 A JP63320798 A JP 63320798A JP 32079888 A JP32079888 A JP 32079888A JP H01265104 A JPH01265104 A JP H01265104A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
- G01B11/005—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
- G01B11/007—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor
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- Control Of Non-Electrical Variables (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光学的走査ヘッドにおける放出光量を調整する
方法および装置に関する。
方法および装置に関する。
従来技術
長押測定技術において現舊用いられている光学的距離測
定製蓋は通常は三角法方式で動作する。即ちこの測定装
置は、測定されるべき被検体へ測定光を投射する光源と
、光軸に対して傾斜して配置された軸を有する受信光学
装置とから溝底される。この種の距離測定装置−光学的
走査ヘッドとも称されることが多い−においては主とし
てレーザダイオードが光源として用いられ、さらに受信
器として、信号のアナログ処理部の?&電接続された位
置検出フォトダイオードを用いるか、または多数の隣り
合うように配置された個々のエレメントから成る配列体
受信器たとえばダイオードアレイまたはいわゆるCCD
アレイを用いる。
定製蓋は通常は三角法方式で動作する。即ちこの測定装
置は、測定されるべき被検体へ測定光を投射する光源と
、光軸に対して傾斜して配置された軸を有する受信光学
装置とから溝底される。この種の距離測定装置−光学的
走査ヘッドとも称されることが多い−においては主とし
てレーザダイオードが光源として用いられ、さらに受信
器として、信号のアナログ処理部の?&電接続された位
置検出フォトダイオードを用いるか、または多数の隣り
合うように配置された個々のエレメントから成る配列体
受信器たとえばダイオードアレイまたはいわゆるCCD
アレイを用いる。
例えば前者の形式の受信器の場合、測定精度は受信器が
、工作物表面から反射されて入射される測定光の強さに
依存することに問題がある。
、工作物表面から反射されて入射される測定光の強さに
依存することに問題がある。
受信される光の強さは、測定されるべき工作物の表門の
性質に著しく依存する。そのため光源や強さを調枯する
ことにより、受信される測定光のレベルを一定に維持す
る必要がある。この種の調整装置を有する光学的走査ヘ
ッドは、例えばドイツ連邦共和国特許出願公開益報第3
147129号、第3.119505号、ドイツ連邦共
和国特許公報第3151800号、米国特許第3612
8QO号およびヨーロッパ特許公報第0047250号
に示されている。
性質に著しく依存する。そのため光源や強さを調枯する
ことにより、受信される測定光のレベルを一定に維持す
る必要がある。この種の調整装置を有する光学的走査ヘ
ッドは、例えばドイツ連邦共和国特許出願公開益報第3
147129号、第3.119505号、ドイツ連邦共
和国特許公報第3151800号、米国特許第3612
8QO号およびヨーロッパ特許公報第0047250号
に示されている。
これらの公知の走査ヘッドにおいては前述の調整は次の
ように行なわれる、即ち光源から放出される光の強さは
光源の電流を介して制御されるか、または光源に前置接
続されている電子光学的変調器の透過度を介して制御す
る。
ように行なわれる、即ち光源から放出される光の強さは
光源の電流を介して制御されるか、または光源に前置接
続されている電子光学的変調器の透過度を介して制御す
る。
しかし例えばレーザが光源として用いられる時はこの種
の調整は、得られるダイナミック範囲に関して制限され
る。その理由はレーザダイオードの非直線の電流/出力
特性曲線のため、レーザダイオードが作動される最適な
動作点からのずれが著しくわずかじか許容されないから
である。さらにレーザダイオードの放射特性が変化しそ
のため作動電流が変化すると光の形状が変化する。さら
に低い方の出力領域においてレーザダイオードは気体レ
ーデに比較して、自然放出という高いバックグランド成
分を有する。
の調整は、得られるダイナミック範囲に関して制限され
る。その理由はレーザダイオードの非直線の電流/出力
特性曲線のため、レーザダイオードが作動される最適な
動作点からのずれが著しくわずかじか許容されないから
である。さらにレーザダイオードの放射特性が変化しそ
のため作動電流が変化すると光の形状が変化する。さら
に低い方の出力領域においてレーザダイオードは気体レ
ーデに比較して、自然放出という高いバックグランド成
分を有する。
後者の2つの影響も、電流制御方式で動作きれる時は、
測定精度に対して不利に作用する。
測定精度に対して不利に作用する。
さらに前述の走査ヘッドにおける光源を変調することが
知られている。しかしこの場合は周波の周期持続時間が
一定である。その理由は光源の変調は、変調周波におけ
る相応の検出と関連づけて、測定結果を誤らせるおそれ
のある一定の障害光レベルを抑圧する目的だけに用いら
れるからである。
知られている。しかしこの場合は周波の周期持続時間が
一定である。その理由は光源の変調は、変調周波におけ
る相応の検出と関連づけて、測定結果を誤らせるおそれ
のある一定の障害光レベルを抑圧する目的だけに用いら
れるからである。
発明の解決すべき問題点
本発明の課題は、できるだけ高いダイナミック範囲の得
られるようにしたかつ前述の欠点の除去された、光学的
走査ヘッドにおける光源の放出光量を調整する方法およ
び装置を提供することである。
られるようにしたかつ前述の欠点の除去された、光学的
走査ヘッドにおける光源の放出光量を調整する方法およ
び装置を提供することである。
問題点を解決するための手段
前記課題は、請求項1の特徴部分に示された次の構成に
よシ解決されている。即ち、光源をパルス形式で駆動す
るようにし、さらた沖i定されるべき被検物(工作物)
の表面の性質への光量の適合調整を、パルス持続時間a
の制御により行なうようにした構成によシ解決されてい
る。
よシ解決されている。即ち、光源をパルス形式で駆動す
るようにし、さらた沖i定されるべき被検物(工作物)
の表面の性質への光量の適合調整を、パルス持続時間a
の制御により行なうようにした構成によシ解決されてい
る。
この種の構成によりl O’のダイナミック範囲が簡単
に得られる。放出される光の振幅を即ち光源の電流を調
整するのではなく、調整のために光源の投入接続されて
いる時間間隔を2変化するため、光源が常にその特性曲
線の最適の動作領域で作動させることができる。このこ
とが測定精度および光源の寿命に対して有利に作用する
。
に得られる。放出される光の振幅を即ち光源の電流を調
整するのではなく、調整のために光源の投入接続されて
いる時間間隔を2変化するため、光源が常にその特性曲
線の最適の動作領域で作動させることができる。このこ
とが測定精度および光源の寿命に対して有利に作用する
。
そのため本発明による光の強さの調整は特に光源として
のレーザダイオードと関連づけると′最適である。受信
器としては、蝮数個の個別エレメントから成る分割形の
ダイオード列がまたはいわゆるCCDアレイが好適に用
いられる。
のレーザダイオードと関連づけると′最適である。受信
器としては、蝮数個の個別エレメントから成る分割形の
ダイオード列がまたはいわゆるCCDアレイが好適に用
いられる。
この種の受信器は、読み出しサイクル中に受信される光
量に関して、積算される特性を示し、そのため/4′ル
ス幅を用いての光量調整に関連づけると最適である。
量に関して、積算される特性を示し、そのため/4′ル
ス幅を用いての光量調整に関連づけると最適である。
本発明による調整装置を含む走査ヘッドを座標測定装置
において作動させる時は、光源のパルス周波を座標測定
装置のタイミングクロックAルスと同期させると好適で
ある。同じことが、走査ヘッドの光感受信器を作動させ
る読み出しクロック/4’ルスに対してもあてはまる。
において作動させる時は、光源のパルス周波を座標測定
装置のタイミングクロックAルスと同期させると好適で
ある。同じことが、走査ヘッドの光感受信器を作動させ
る読み出しクロック/4’ルスに対してもあてはまる。
何故ならばこの光感受信器の信号が走査ヘッドの距離測
定値を表わすからである。相互間の同期化により、座標
測定装置および走査ヘッドの測定値が同じ時点に得られ
ることを保証する。そのためスリップエラーが回避され
る。
定値を表わすからである。相互間の同期化により、座標
測定装置および走査ヘッドの測定値が同じ時点に得られ
ることを保証する。そのためスリップエラーが回避され
る。
このことに関連して、光源の送出するパルス列のこの種
の同期化が独特の作用を有する。その理由は、光源用の
制御パルスの投入接続縁だけを座標測定装置のタイミン
グクロックパルスと同期化させる時は、走査時に即ち傾
斜した衣表面状態に応じて選定される、光パルスの時間
間隔に依存する。このヒステリシス効果は、工作物から
離れるかまたは工作物へ向かうかに応じて、工作物の距
離に対して異なる測定値が得られるという形で、現われ
る。さらにこのヒステリシス効果は走行速度に即ち走査
ヘッドと工作物との間の相対速度に依存する。
の同期化が独特の作用を有する。その理由は、光源用の
制御パルスの投入接続縁だけを座標測定装置のタイミン
グクロックパルスと同期化させる時は、走査時に即ち傾
斜した衣表面状態に応じて選定される、光パルスの時間
間隔に依存する。このヒステリシス効果は、工作物から
離れるかまたは工作物へ向かうかに応じて、工作物の距
離に対して異なる測定値が得られるという形で、現われ
る。さらにこのヒステリシス効果は走行速度に即ち走査
ヘッドと工作物との間の相対速度に依存する。
本発明によればこのヒステリシス効果は、光源の個々の
パルスの重心と座標測定装置のタイミングクロックパル
スとの間に一定の位相差を形成することにより、阻止さ
れる。このことは、光源用の制御パルスの上昇縁および
下降縁を、ノ4’ルス幅を変化させる場合に、対称的に
時間的に前方へないし後方へ移動させることによシ、達
せられる。そのため座標測定装置が測定を実施する時点
にパルス幅のちょうど半分が経過する。このことは図面
の第1図〜第3図を用いて後述する。
パルスの重心と座標測定装置のタイミングクロックパル
スとの間に一定の位相差を形成することにより、阻止さ
れる。このことは、光源用の制御パルスの上昇縁および
下降縁を、ノ4’ルス幅を変化させる場合に、対称的に
時間的に前方へないし後方へ移動させることによシ、達
せられる。そのため座標測定装置が測定を実施する時点
にパルス幅のちょうど半分が経過する。このことは図面
の第1図〜第3図を用いて後述する。
実施例の説明
次に本発明の実施例につき図面を用いて説明する。
第1図に三角形方式動作する光学的走査ヘッドが示され
ている。この走査ヘッドは座標測定装置の測定アーム6
に取シ付けられている。座標測定装置全体は図示されて
いない。それの相応の実施例は例えば米国特許第458
7622号の示すように構成できる。測定アーム6にお
ける走査ヘッドの垂直方向の変位を測定するスケール7
の一部および、所属の光電読み出しヘッド8だけが、理
解しやすいように示されている。読み出しヘッド8は、
そのほかの2つの座標XおよびYにおける変位方向を測
定するための図示されていない測定装置と同様に、この
座標測定装置の制御部9に接続されている。
ている。この走査ヘッドは座標測定装置の測定アーム6
に取シ付けられている。座標測定装置全体は図示されて
いない。それの相応の実施例は例えば米国特許第458
7622号の示すように構成できる。測定アーム6にお
ける走査ヘッドの垂直方向の変位を測定するスケール7
の一部および、所属の光電読み出しヘッド8だけが、理
解しやすいように示されている。読み出しヘッド8は、
そのほかの2つの座標XおよびYにおける変位方向を測
定するための図示されていない測定装置と同様に、この
座標測定装置の制御部9に接続されている。
光学的走査ヘッド1は実質的に、レーザダイオードの形
式の光源2および受信光学装置3から、構成されている
。この受信光学装置の後方に、複数個の個別エレメント
から成る光電受信器4が設けられている。受信器として
、例えばダイオード列−ARLO256S形EG&GR
eti con社−を用いることができる。
式の光源2および受信光学装置3から、構成されている
。この受信光学装置の後方に、複数個の個別エレメント
から成る光電受信器4が設けられている。受信器として
、例えばダイオード列−ARLO256S形EG&GR
eti con社−を用いることができる。
矢印βで示されているように、レーザダイオード2の光
軸と検出光学装置3の光軸とは傾斜している。そのため
光学装置3からダイオード列4へ写される、レーザダイ
オード2が工作物5の表面へ投写する光スポットは、走
査ヘッドlと工作物5との間隔に依存して変位する。ダ
イオード列ヰの相応の測定信号は電子ユニット20にお
ける信号準備処理の後に、同様に座標測定装置の制御部
へ転送される。制御ユニット20はさらに信号UP(第
2図)を供給し、この信号がレーザダイオード2の給電
用の定電流源をスイッチングする。
軸と検出光学装置3の光軸とは傾斜している。そのため
光学装置3からダイオード列4へ写される、レーザダイ
オード2が工作物5の表面へ投写する光スポットは、走
査ヘッドlと工作物5との間隔に依存して変位する。ダ
イオード列ヰの相応の測定信号は電子ユニット20にお
ける信号準備処理の後に、同様に座標測定装置の制御部
へ転送される。制御ユニット20はさらに信号UP(第
2図)を供給し、この信号がレーザダイオード2の給電
用の定電流源をスイッチングする。
制御回路20は座標測定装置の制御部9からのタイミン
グクロックパルスと同期化されている。このことは第1
図において矢印CLKにより示されている。
グクロックパルスと同期化されている。このことは第1
図において矢印CLKにより示されている。
第2図にタイミングクロックツぜルスCLKが方形波パ
ルス列として示されている。それの下知このタイミング
クロックパルスから導出されたパルス列UMが示されて
いる。このパルスUMは、座標測定装置の変位軸におけ
るスケールから送出される測定値が得られる時点を定め
る。
ルス列として示されている。それの下知このタイミング
クロックパルスから導出されたパルス列UMが示されて
いる。このパルスUMは、座標測定装置の変位軸におけ
るスケールから送出される測定値が得られる時点を定め
る。
曲線路ULは、ダイオード列ヰが第3図の制御回路10
により駆動される読み出しサイクルを示す。ダイオード
列の読み出しクロックパルスと機械クロックパルスCL
Kとの間の位相偏差は次のように選定される。即ち、計
・数冊ストロークのパルスUMの現われる時点が、セン
サキの光感面の積算時間のうちの残シの空白部i′の中
間に位置するように、選定される。
により駆動される読み出しサイクルを示す。ダイオード
列の読み出しクロックパルスと機械クロックパルスCL
Kとの間の位相偏差は次のように選定される。即ち、計
・数冊ストロークのパルスUMの現われる時点が、セン
サキの光感面の積算時間のうちの残シの空白部i′の中
間に位置するように、選定される。
レーザダイオード2の光の強さを調整するために、ダイ
オード列牛に対する読み出し回路10の出力側が、線R
を介して制御回路30の入力側と接続されている。この
出力側は、ダイオード列ヰにより受信される光の強さに
比例する信号を送出する。制御回路30は第2図におい
て一番下に示されているノfルス列U、を発生する。こ
の場合、個々のパルスリ、の持続時間aは線路−Rの出
力電圧UstellK比例する。もしレーザダイオード
2を発光させる照明A?ルスU。
オード列牛に対する読み出し回路10の出力側が、線R
を介して制御回路30の入力側と接続されている。この
出力側は、ダイオード列ヰにより受信される光の強さに
比例する信号を送出する。制御回路30は第2図におい
て一番下に示されているノfルス列U、を発生する。こ
の場合、個々のパルスリ、の持続時間aは線路−Rの出
力電圧UstellK比例する。もしレーザダイオード
2を発光させる照明A?ルスU。
間の同期を、ダイオード列の読み出しクロックパルスU
Lとタイミングクロッ、クツぐルスCLにとの間の同期
化と同様に行なうとすると即ちパルス列の上昇縁の間の
一定の位相偏差だけt形成することにより行なうとする
と、走査作動中に即ち走査ヘッド1が工作物5に対して
連続的に運動される時に、測定エラーが生ずる。このこ
とを次に第1図を用いて説明する: 走査ヘッド1が測定方向zsの方向へ相対運動する場合
、ダイオード外生の上における測定スポットの像の位1
4が、走査ヘッド1と工作物5との間の相対速度の大き
さに依存して偏位される。そのためダイオード外生のエ
レメントは11fll+定サイクル中に受信された光量
を積算して個々のダイオード信号から、データ整理によ
り測定値を発生する。光パルスのスタート縁を装置クロ
ックパルスヘ位相固定的に結合する場合は、ダイオード
列4の上に写される光スポットの位置は、レーザダイオ
ード2が光を放射する時間間隔中に走査ヘッドが工作物
に対して走行した変位に依存する。このスリップエラー
は前述のように走行速度とダイオード2の光・にルスの
パルス持続時間aに依存する。例えば走行方向Xと45
°の角度で傾斜する表面が40朋/SeCの速度で走査
され、かつレーザダイオード2の光量に4整一によりパ
ルス長さが2.5msだけ変化されると、0.1属貫の
測定エラーが生じ得る。この種の測定エラーは、数マイ
クロメータの範囲における測定の不確実性しか有しては
ならない座標測定装置の場合は、許容できない。
Lとタイミングクロッ、クツぐルスCLにとの間の同期
化と同様に行なうとすると即ちパルス列の上昇縁の間の
一定の位相偏差だけt形成することにより行なうとする
と、走査作動中に即ち走査ヘッド1が工作物5に対して
連続的に運動される時に、測定エラーが生ずる。このこ
とを次に第1図を用いて説明する: 走査ヘッド1が測定方向zsの方向へ相対運動する場合
、ダイオード外生の上における測定スポットの像の位1
4が、走査ヘッド1と工作物5との間の相対速度の大き
さに依存して偏位される。そのためダイオード外生のエ
レメントは11fll+定サイクル中に受信された光量
を積算して個々のダイオード信号から、データ整理によ
り測定値を発生する。光パルスのスタート縁を装置クロ
ックパルスヘ位相固定的に結合する場合は、ダイオード
列4の上に写される光スポットの位置は、レーザダイオ
ード2が光を放射する時間間隔中に走査ヘッドが工作物
に対して走行した変位に依存する。このスリップエラー
は前述のように走行速度とダイオード2の光・にルスの
パルス持続時間aに依存する。例えば走行方向Xと45
°の角度で傾斜する表面が40朋/SeCの速度で走査
され、かつレーザダイオード2の光量に4整一によりパ
ルス長さが2.5msだけ変化されると、0.1属貫の
測定エラーが生じ得る。この種の測定エラーは、数マイ
クロメータの範囲における測定の不確実性しか有しては
ならない座標測定装置の場合は、許容できない。
この種のエラーを回避するために第3図に示された調整
回路30は次のように動作する。即ち・Pルス長さが変
化する場合でも、レーザダイオード2の光ノeルスの中
央が計数器ストロークのパルスUMとその都度一致する
ように動作する。このことは次のようにして達成される
:タイミングクロックパルスCLKにより回路30にお
いてのこぎり波発生器がスタートされる。こののこぎり
波は電圧U0に対称でがっ時間的に直線的に上昇する電
圧USを供給する。
回路30は次のように動作する。即ち・Pルス長さが変
化する場合でも、レーザダイオード2の光ノeルスの中
央が計数器ストロークのパルスUMとその都度一致する
ように動作する。このことは次のようにして達成される
:タイミングクロックパルスCLKにより回路30にお
いてのこぎり波発生器がスタートされる。こののこぎり
波は電圧U0に対称でがっ時間的に直線的に上昇する電
圧USを供給する。
のこぎり波発生器は簡単例示されておシミ流源12とコ
ンデンサ13から形成される。このコンデンサは周期的
に時間発生器11により制御されて、スイッチ15を介
して充電されさらにスイッチ14を介して短絡される。
ンデンサ13から形成される。このコンデンサは周期的
に時間発生器11により制御されて、スイッチ15を介
して充電されさらにスイッチ14を介して短絡される。
時間発生器11の出力側におけるスイッチングパルスは
第2図においてUDで示さ九ている。のこぎり波電圧U
8は2つの比較器16.17の入力側へ供給される。
第2図においてUDで示さ九ている。のこぎり波電圧U
8は2つの比較器16.17の入力側へ供給される。
比較器16の第2入力端に、ダイオード列により受信さ
れた光量から導出される制御電圧Ustell が加
えられる。第2比較器17の第2入力端に反転段15に
より反転された負の制御電圧−Ustellが加えられ
る。各比較器16゜17は、のこぎり波電圧U、と各制
御電圧Ustell 、−Llstellとが等しくな
る時に、その都度に導通接続される。
れた光量から導出される制御電圧Ustell が加
えられる。第2比較器17の第2入力端に反転段15に
より反転された負の制御電圧−Ustellが加えられ
る。各比較器16゜17は、のこぎり波電圧U、と各制
御電圧Ustell 、−Llstellとが等しくな
る時に、その都度に導通接続される。
両方の比較器16.17の出力側はフリップフロップ1
8へ導びかれている。この場合、比較器17から発生さ
れるパルスの正の側縁がフリップフロップ18を導通さ
せ、比較器16から発生されるパルスの負の側縁が7リ
ツプフロツプ18をリセットさせる。このようにしてフ
リップフロップ18は出力側にパルスU、を供給する。
8へ導びかれている。この場合、比較器17から発生さ
れるパルスの正の側縁がフリップフロップ18を導通さ
せ、比較器16から発生されるパルスの負の側縁が7リ
ツプフロツプ18をリセットさせる。このようにしてフ
リップフロップ18は出力側にパルスU、を供給する。
この/4’ルスのスタート−およびストップ側縁は、パ
ルス長さが異なる場合も、のこぎり波電圧U8が電圧U
。と交差する時点に対して常に対称である。
ルス長さが異なる場合も、のこぎり波電圧U8が電圧U
。と交差する時点に対して常に対称である。
このi?ルスU、により、レーザダイオード2のための
電流源19が、簡単にスイッチ21として示されている
制御トランジスタを介して、導通接続される。電流源1
9はレーザダイオード2の特性曲線へ最適に適合調整さ
れる。そのためレーザダイオードは常に最適の動作領域
において作動される。
電流源19が、簡単にスイッチ21として示されている
制御トランジスタを介して、導通接続される。電流源1
9はレーザダイオード2の特性曲線へ最適に適合調整さ
れる。そのためレーザダイオードは常に最適の動作領域
において作動される。
前述の構成によシ達成されることは、光パルスの中間値
が、座標測定装置のスケールの測定値による計数状態が
読み出される時点と常に一致することである。そのため
前述のヒステリシスが即ちこれから生ずる速度に依存す
るスリップエラーが回避される。
が、座標測定装置のスケールの測定値による計数状態が
読み出される時点と常に一致することである。そのため
前述のヒステリシスが即ちこれから生ずる速度に依存す
るスリップエラーが回避される。
図示した実施例にはアナログ形式で動作する調整電子装
置が示されている。しかしディノタル形式だけで構成さ
れる調整電子装置を使用することもできることは明らか
である。
置が示されている。しかしディノタル形式だけで構成さ
れる調整電子装置を使用することもできることは明らか
である。
発明の効果
本発明により、ダイナミック範囲の大きい、走査ヘッド
と工作物との間に生ずる不所望のヒステリシスの回避さ
れた光学的走査ヘッドにおける光源の放出光量を調愁す
る精密な測定を可能とする構成が提供される。
と工作物との間に生ずる不所望のヒステリシスの回避さ
れた光学的走査ヘッドにおける光源の放出光量を調愁す
る精密な測定を可能とする構成が提供される。
81!1図は座標測定装置の測定アームに取シ付けられ
た光学的走査ヘッドの簡単な基本構成図、第2図は第1
図の光学的走査ヘッドの制御回路20における各種の信
号の時間経過を示すダイヤグラム図、第、3図は第1図
のセンサ電子装置20のブロック図を示す。 1・・・光学的走査ヘッド、2・・・光源、3・・・受
信光学装冒、養・・・光電受信器、5・・・工作物、6
・・・測定アーム、7・・・スケール、8・・・光電読
み出しヘッド、9・・・制御部、10・・・制御回路、
11・・・時間発生器、15・・・反転段、16.17
・・・比較器、18・・・フリツゾ70ツブ、19・・
・電流源、20・・・電子ユニット。
た光学的走査ヘッドの簡単な基本構成図、第2図は第1
図の光学的走査ヘッドの制御回路20における各種の信
号の時間経過を示すダイヤグラム図、第、3図は第1図
のセンサ電子装置20のブロック図を示す。 1・・・光学的走査ヘッド、2・・・光源、3・・・受
信光学装冒、養・・・光電受信器、5・・・工作物、6
・・・測定アーム、7・・・スケール、8・・・光電読
み出しヘッド、9・・・制御部、10・・・制御回路、
11・・・時間発生器、15・・・反転段、16.17
・・・比較器、18・・・フリツゾ70ツブ、19・・
・電流源、20・・・電子ユニット。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光学的走査ヘッドにおける光源の放出光量を調整す
る方法において、光源(2)をパルス形式で駆動するよ
うにし、さらに測定されるべき被検物(工作物5)の表
面の性質への光量の適合調整を、パルス持続時間(a)
の制御により行なうようにしたことを特徴とする光学的
検出ヘッドにおける放出光量を調整する方法。 2、座標測定装置(6)と組合されて作動される走査ヘ
ッド(1)の場合は、パルス周波を座標測定装置の時限
クロックパルス(CLK)と同期化するようにした請求
項1記載の方法。 3、同期化を、光源(2)の個々のパルス(U_P)の
中心ないし重心が座標測定装置(6)のタイミングクロ
ックパルス(CLK)に対して一定の位相関係となるよ
うに、実施した請求項2記載の方法。 4、走査ヘッド(1)が受信器としてダイオード列(4
)を有するようにし、さらに該ダイオード列の読み出し
クロックパルス(U_L)も、座標測定装置のタイミン
グクロックパルス(CLK)に同期化した請求項2記載
の方法。 5、光源(2)および光感受信器(4)を備え、さらに
測定されるべき被検体(5)の表面状態に依存して光源
(2)の放出光量を調整する装置(20)を備えている
光学的走査ヘッド(1)において、光源(2)がレーザ
であるようにし、受信器(4)が複数個の相並ぶ個別エ
レメントから成る配列体受信器(ダイオード列4)であ
るようにし、さらに調整装置(20)が可変パルス幅の
パルス(U_P)を供給するようにしたことを特徴とす
る光学的走査ヘッド。 6、走査ヘッド(1)を座標測定装置(6)に取り付け
るようにし、さらに調整装置(20)のパルス列(U_
P)を座標測定装置(6)のタイミングクロックパルス
(CLK)と同期化した請求項5記載の光学的走査ヘッ
ド。 7、調整装置(20)のパルス列(U_P)を配列体受
信器(4)の読み出しクロックパルス(U_L)と同期
化した請求項5記載の光学的走査ヘッド。 8、光源(2)から送出される光パルスの強さを一定に
した請求項5記載の光学的走査ヘッド。 9、調整装置(20)のパルス列(U_P)をタイミン
グクロツクパルス(CLK)ないし配列体受信器(4)
の読み出しクロックパルス(U_L)と同期化するよう
にし、この同期化において光源(2)の個々のパルスの
重心ないし中央とタイミングクロックパルス(CLK)
との間の位相関係を一定にした請求項6又は7記載の光
学的走査ヘッド。 10、調整装置(20)が基準電圧(U_O)に対称的
な電圧(−Ustell、+Ustell)を発生する
ようにし、該対称的な電圧の値を、発生されるべきパル
スの持続時間に比例するようにし、さらに調整装置(2
0)は時間的に直線的に上昇する電圧列(U_S)を発
生するようにし、該電圧列はタイミングクロックパルス
(CLK)にないし配列体受信器(4)の読み出しクロ
ックパルス(U_L)に同期化されるようにし、調整装
置(20)がさらに比較器段(16/17)を有するよ
うにし、該比較器段には対称的な電圧(−Ustell
、+Ustell)および時間的に直線的な電圧(U_
S)が供給されるようにし、さらに該比較器段は電圧の
比較から信号を供給するようにし、該信号が可変持続時
間のパルスに対して開始時点および終了時点を定めるよ
うにした請求項9記載の光学的走査ヘッド。 11、調整装置が、発生されるべきパルスの持続時間に
比例する電圧(U_P)と、電圧(U_O)に対称的な
かつ時間的に直線的な2つの電圧とを発生するようにし
、該2つの電圧の周波数をタイミングクロツクパルス(
CLK)にないし配列体受信器の読み出しクロックパル
スに同期化するようにし、さらに調整装置が比較段を含
むようにし、該比較段へ前記対称的なかつ時間的に直線
的な電圧および電圧(U_S)が導びかれるようにし、
さらに該比較段は電圧の比較から信号を供給するように
し、該信号が可変持続時間のパルスに対して開始時点お
よび終了時点を定めるようにした請求項9記載の光学的
走査ヘッド。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3743363.6 | 1987-12-21 | ||
| DE19873743363 DE3743363A1 (de) | 1987-12-21 | 1987-12-21 | Verfahren und einrichtung zur regelung der emissionslichtmenge in einem optischen tastkopf |
| DEP3743363.6 | 1987-12-21 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01265104A true JPH01265104A (ja) | 1989-10-23 |
| JP2716489B2 JP2716489B2 (ja) | 1998-02-18 |
| JP2716489B6 JP2716489B6 (ja) | 2004-10-13 |
Family
ID=
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010197210A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Tokyo Gas Co Ltd | 表面形状測定方法及びその装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58150876A (ja) * | 1982-03-03 | 1983-09-07 | Mitsubishi Electric Corp | 反射形光センサ |
| JPS58216903A (ja) * | 1982-06-11 | 1983-12-16 | Toshiba Corp | 厚さ測定装置 |
| JPS628007A (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-16 | Hitachi Ltd | 非接触センサによる断面形状の自動測定方法 |
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58150876A (ja) * | 1982-03-03 | 1983-09-07 | Mitsubishi Electric Corp | 反射形光センサ |
| JPS58216903A (ja) * | 1982-06-11 | 1983-12-16 | Toshiba Corp | 厚さ測定装置 |
| JPS628007A (ja) * | 1985-07-05 | 1987-01-16 | Hitachi Ltd | 非接触センサによる断面形状の自動測定方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010197210A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Tokyo Gas Co Ltd | 表面形状測定方法及びその装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0322676B1 (de) | 1993-02-10 |
| DE3878434D1 (de) | 1993-03-25 |
| US4934810A (en) | 1990-06-19 |
| EP0322676A3 (en) | 1990-04-25 |
| JP2716489B2 (ja) | 1998-02-18 |
| DE3743363A1 (de) | 1989-07-06 |
| EP0322676A2 (de) | 1989-07-05 |
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Legal Events
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