JPS628007A - 非接触センサによる断面形状の自動測定方法 - Google Patents

非接触センサによる断面形状の自動測定方法

Info

Publication number
JPS628007A
JPS628007A JP14657085A JP14657085A JPS628007A JP S628007 A JPS628007 A JP S628007A JP 14657085 A JP14657085 A JP 14657085A JP 14657085 A JP14657085 A JP 14657085A JP S628007 A JPS628007 A JP S628007A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cross
section
optical sensor
axis
optical axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14657085A
Other languages
English (en)
Inventor
Yusuke Takagi
勇輔 高木
Yoshio Kojima
小島 吉夫
Tsunehiko Takakusaki
高草木 常彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP14657085A priority Critical patent/JPS628007A/ja
Publication of JPS628007A publication Critical patent/JPS628007A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はレーザ光等を用いた光センサによシ非接触で物
体形状を測定する方法に係シ、特に、指      1
定した断面の輪郭形状を自動測定する方法に関する。
〔発明の背景〕
オプト・エレクトロニクスの目覚しい発展に伴い、物体
形状の測定にレーザ光等を利用した非接触光センサを利
用した装置が開発されている。例えば、センサ技術19
83年2月号の1光点検出センサによる物体形状の測定
”にもその−例が記載されている。         
                1、この種の測定装
置では、予め指定された断面、例えば、平面としては水
平ないし垂直面と任意の傾きをなす断面、また、曲面と
しては円筒断面等、の物体の形状を測定するために用い
られることが多い。しかし、この指定断面に対してセン
サの位置及び光軸の向きを適切に設定しない場合には、
測定点が所期の断面から外れてしまうという問題があっ
た。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、指定断面の輪郭形状を自動測定できる
方法を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、測定点が指定断面を外れるのは、センサの光
軸が指定断面とある角度をなして交わっている場合に起
こり易いことを考慮し、センサの位置及び光軸の向きを
変化させる機構を一定の関係式が成立するように駆動制
御して、光軸全自動的に指定断面内に拘束させるように
したものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を引用しながら説明する。
先ず、第2図は、測定装置の全体構成を示す。三次元駆
動機構1のX方向移動部上に載置された物体2に相対し
て、レーザ光等を利用した光センサ3が配置され、この
先センサ3はSW(振り)軸及びBD(曲げ)軸の二自
由度をもつ角度変化機構4を介して三次元駆動機構1の
2方向移動部に取シ付けられている。また、この2方向
移動部自身は、三次元駆動機構1のy軸方向移動部上に
載置されている。従って、光センサ3は、物体2の周シ
で図中のNで示したセンサの位置を三次元的(x+7t
”軸方向)に移動可能であり、図中の破線の矢印で示し
た光軸の向きを、物体2の形状に応じて任意の方向に変
化させることができる。
第3図は光センサ3の概略構造を示す。光源11よシ噴
出されたレーザ光は照射レンズ12を通って照射光軸上
を進み、物体2の表面の点rに光点管結ぶ。点Pからの
反射光は、照射光軸と一定の角[1−なす受光光軸上に
配置された集光レンズ13によシ集光され、受光器14
によシ検出される。距離測定の原理は、物体2と光セン
サ3との距離tが変化すると、受光器14上の受光位置
が変化するので、この変化を電気的に検出することによ
っている。なお、本センサでは照射光軸上の図中のl 
m i n〜tmaX間の距離を測定可能である。なお
、物体の法線と照射光軸とのなす角度にツイテも、一定
の測定可能範囲がある。
次に、第4図及び第2図によシ、物体形状の測定方法に
ついて説明する。光センサ3の照射光軸の向き(第4図
の太い破線の矢印)は、角度変化機構4によシ鉛直軸(
図中のSW軸)周シに回転可能であシ、水平軸(図中の
BD軸)周シにも回転可能となっている。本実施例では
、光センサ3の照射光軸上でこれら8W及びBD軸が交
点Neもつように構成されている。また、測定機の座標
系0− x y zに対し、SW軸はz軸と平行、BD
軸はz軸と垂直な断面内に設定されている。さらに、S
W軸及びBD軸の回転角度θ、V及びθb4は、照射光
軸がy方向を向いた場合をそれぞれ0度と定義している
本実施例では、物体2の表面の照射点Pの座標(”P*
’/p、 zp )は、センサ位置を示す交点Nの測定
座標系の座標(xN * 3’)i + ”N ) 、
また光センサによる距離の測定値1t−用いて、次式で
書き表わされる。
従って、物体2の周シで、演算制御装置(図示せず)に
よシ光センサの位置と光軸の向きを駆動制御しながら、
必要な間隔で光点Pの座標t−(1)式によシ求めれば
、物体形状はこれら光点の座標の集合として測定できる
次に1本発明による指定断面の輪郭形状の自動測定方法
を説明する。本発明が基本とすることは、指定断面の形
状を測定するにあたシ、先ず、光センサの光軸が指定断
面内となるための光センサの位置と光軸の向きとの関係
を演算し、次いで、本関係が成立するように三次元駆動
機構と角度変化機構とを駆動制御し、この状態で光セン
サによシ距離測定を行なって、(1)式によシ測定点の
座標を計算する点にある。また、これらの演算、駆動制
御及び距離測定等は、全て演算制御装置によシ行なうの
で、指定断面の形状を自動的に測定することができる。
先ず、第5図は本発明による物体2の水平断面の形状の
測定方法を示す。この場合、求める水平断面20の方程
式は、測定機座標系に対して並進量(a* be C)
だけ平行移動した座標系0−XYZに対して、一般に、
Z=Zcと書き表わせる。
従りて、光センサの位置N (XNI )’NI ZN
 )及び光軸の向きθsv、θb4について、以下の関
係式を満足させる必要がある。
なお、残るXN、 )’N及びθ、、は、測定点の更新
の度に、光センサの距離及び角度の測定可能範囲を満足
する適切な値に設定する。
次いで、第6図及び第7図は、物体2の鉛直断面のうち
、それぞれ測定機座標系のX軸及びy軸に垂直な断面2
1及び22の形状の測定方法を示す。これら各#?面の
方程式は、それぞれX”Xc  及び Y = Yc 
       (8)と書き表わせる。従って、第6図
及び第7図の場合に対し、光センサの位置及び光軸の向
きをそれぞれ次式のように設定する必要がある。
(4) 、 (5)式で、残るYN+zN+θbd  
及びXN、ZN。
0Mの値は、測定点の更新の度に光センサの測定可能範
囲を満足する適切な値に設定する。
これらの実施例にみるように、本発明によれば、光軸が
常゛に指定断面内に拘束されるので、得られる測定点は
必ず指定断面内となる。また、これらの制御は自動的に
行なわれるので、測定機座標系のいずれかの軸に垂直な
断面の形状の測定を、自動的に行なうことができる。
次に、さらに一般的な場合、すなわち、指定断面が測定
機座標系の一つの軸と平行で、かつ、この軸周シに回転
している場合を考える。第1図は、このような例として
、指定断面23が測定機座標系のX軸に平行で、かつ、
X軸(X/ X )周シにA8だけ回転した平面の場合
を示す。この場合、指定断面23の方程式は、回転後の
座標系を0−x/ y/ z/とすれば、一般に、下式
で書き表わせる。
z’ = Z’c               (6
)一方、0−xyzとo−x’y’z’との間には、座
標変更マトリクスを用いて以下の関係が成立する。
本式から、Z’ ?測定機座標系の値で表わすと、Z’
=(Z C) C08AX  ()’  b) 81n
Ax     (8)を得る。従って、式(8)と式(
6)とから、センサ位置N (XN、YN、 Zs)を
断面23内に拘束するためには、以下の関係式を満足さ
せればよいことがわかる。
(ZN  C)CO8AX  (yN−b)SinAI
=Z’C−(9)次に、この場合の光軸の向きが満すべ
き関係式を求める。第8図は、第1図のセンサの位置N
t−座標系o−x’y’z’の原点0に平行移動したも
のである。ベクトルOPが、指定断面23と平行な断面
内にあるためには、 Z’ ” Z C05AX  Y ’ 1nkx = 
O(10)一方、第8図より以下の関係式が成立する。
式α0)及び(11)よシ、光軸を指定断面23内に拘
束するには、SW軸及びBD軸の回転角度θ、W及びθ
b−との間に、 C08AX 5in1944−sinAzcos9.、
 cosθh a = O(12)すなわち、測定機座
標系のX軸に平行、かつ、xMK平行な軸まわシにAx
だけ回転した指定断面の形状を求めるには、光センサの
位置及び光軸の向きを、それぞれ式(9)及び(12)
の関係式を満足するように設定すればよい。
同様にすれば、y軸に平行で、かつ、y軸に平行な軸ま
わシにA丁だけ回転した指定断面の形状を求めるために
は、光センサの位置及び光軸の向きは、それぞれ以下の
関係式で設定すればよいことがわかる。
(zN−C) C03Ay + (XN−a)sinA
y=Z’c −(13)cosAYsinθb4−si
nAysinθ、、cosθb a = O(14)次
いで、第9図は測定機座標系の2軸に平行、かつ、Z軸
に平行な軸周りにAzだけ回転した指定断面の形状を求
める場合について説明したものである。この場合の光セ
ンサの位置N (X N * )’N +ZN) は、
同様な計算により次の関係式で設定すればよいことがわ
かる。
(YN−b)cosAz  (XN−a)sinAz=
Y’c   (15)一方、光軸を指定断面24内に拘
束するためには、図より明らかなように回転角度θ1w
は、次式で設定する必要がある。
θ−v =” A z□μs) なお、式(15)、 (16)中に出てこないZN及び
θbdの値は、測定点の更新の都度、光センサの距離及
び測定表面の法線に対する角度の測定可能範囲を満足す
る適切な値に設定すればよい。
これらの実施例では光軸は常に指定断面内に拘束される
ので、測定点は必ず指定断面内となる。
また、これらの制御は演算制御装置によシ自動的に行な
われるので、形状測定を自動的に行なえる。
さらに、測定機座標系のいずれかの軸に平行に軸周りで
回転した断面を、測定断面として指定できるので、第5
図ないし第7図で説明した例よりもより一般的な測定が
できる。
本発明は、これらの実施例にのみその適用を限定される
ものではもちろんないが、例えば、角度変化機構の自由
度は、本実施例の二軸に限定されるものでなく、物体の
形状に対応三軸とすることも可能である。
また、指定断面が測定機座標系のいずれの軸とも平行で
ない場合についても、センサ位置及び光軸の向きを設定
する関係式は複雑とはなるが、本発明の光軸を指定断面
に拘束する方法が適用可能である。
さらに、実施例では断面が全て平面の場合について記述
したが、直線の集合により形成される円筒断面、双曲線
断面、他の各穐断面の場合にも適用可能であることはい
うまでもない。
これらの実施例では、光センサの光軸を指定断面内に拘
束するにあたり、光センサを最低二自由度の角度変化機
構を介して三次元駆動機構に取り付ける構造を例に取っ
て説明した。しかし、光軸と物体との関係は相対的なも
のであり、光センサの光軸は固定したまま物体を最低二
自由度の角度変化機構を介して、三次元駆動機構に取シ
付ける構造等も可能である。この構造では、断面形状の
測定に関する既述の実施例と同等の効果に加えて、三次
元駆動機構の移動量を半減できるという効果を期待でき
る。
〔発明の効果〕
本発明によれば、センサの位置及び光軸の向きを一定の
関係式により設定して、光軸を常に指定断面内に拘束す
るので、所期の断面の輪郭形状を自動的に測定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の説明図、第2図は形状測定
装置の全体構成図、第3図は光センサの構造図、第4図
は形状測定の原理の説明図、第5図は水平断面の一実施
例の説明図、第6図及び第7図はそれぞれ垂直断面の実
施例の説明図、第8図は光軸の向きの説明図、第9図は
本発明の他の実施例の説明図である。 1・・・三次元駆動機構、2・・・物体、3・・・光セ
ンサ、4・・・角度変化機構、11・・・光源、12・
・・照射レン代理へ 弁理士 tJs川局男 茅l 固 第δ 口 茅2 目 第4 目 N(九す、c) 茅 5 固 茅6 固 ギク目

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光を用いて物体との距離を測定する光センサと、前
    記光センサの光軸の向きを変化させる最低二自由度の角
    度変化機構と、前記光センサの位置を三次元的に変化さ
    せる三次元駆動機構と、前記光センサによる距離の測定
    値と前記光センサの前記光軸の向き及び前記光センサの
    位置とを入力して演算し、前記三次元駆動機構の動きを
    制御する演算制御装置とで構成し、この測定装置により
    予め指定された任意の断面に対する物体の形状を測定す
    る方法において、 前記演算制御装置を用いて前記光センサの前記光軸が前
    記指定断面内となるための前記光センサの位置と前記光
    軸の向きとの関係を演算し、本関係が成立するように三
    次元駆動機構と角度変化機構を駆動制御して指定断面に
    対する物体の形状を測定することを特徴とする非接触セ
    ンサによる断面形状の自動測定方法。
JP14657085A 1985-07-05 1985-07-05 非接触センサによる断面形状の自動測定方法 Pending JPS628007A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14657085A JPS628007A (ja) 1985-07-05 1985-07-05 非接触センサによる断面形状の自動測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14657085A JPS628007A (ja) 1985-07-05 1985-07-05 非接触センサによる断面形状の自動測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS628007A true JPS628007A (ja) 1987-01-16

Family

ID=15410670

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14657085A Pending JPS628007A (ja) 1985-07-05 1985-07-05 非接触センサによる断面形状の自動測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS628007A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01265104A (ja) * 1987-12-21 1989-10-23 Carl Zeiss:Fa 光学的走査ヘツドにおける放出光量を調整するための方法及び装置
JPH0317502A (ja) * 1989-03-24 1991-01-25 Celette Sa 車両における測定点の位置検査装置
KR100471273B1 (ko) * 2002-11-08 2005-03-08 현대자동차주식회사 휴대용 3차원 좌표 측정장치
CN1304816C (zh) * 2005-06-10 2007-03-14 北京工业大学 纸杯测量仪

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01265104A (ja) * 1987-12-21 1989-10-23 Carl Zeiss:Fa 光学的走査ヘツドにおける放出光量を調整するための方法及び装置
JPH0317502A (ja) * 1989-03-24 1991-01-25 Celette Sa 車両における測定点の位置検査装置
KR100471273B1 (ko) * 2002-11-08 2005-03-08 현대자동차주식회사 휴대용 3차원 좌표 측정장치
CN1304816C (zh) * 2005-06-10 2007-03-14 北京工业大学 纸杯测量仪

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101282823B (zh) 确定虚拟工具中心点的方法及用于该方法的装置
JP3522710B2 (ja) 反射体を用いた微小6自由度運動の測定装置
JPH03282203A (ja) ターゲット及びこれを用いた三次元位置姿勢計測システム
JP2542631B2 (ja) 非接触ならい方法
JPS628007A (ja) 非接触センサによる断面形状の自動測定方法
JP3600763B2 (ja) ウェッジプリズムの照射位置制御方法および装置
JPH0810134B2 (ja) 平面基板と3センサによる回転中心位置の自動検出法及び検出装置
JPH01188254A (ja) 非接触倣いデジタイジング方法
JPH01109058A (ja) 非接触ならい制御装置
JPH0621767B2 (ja) 曲面形状測定方法およびその装置
JP3705863B2 (ja) 高さ測定装置及び高さ測定方法
JPH04523B2 (ja)
JPS6281508A (ja) 光学式3次元位置計測装置
JP2005181023A (ja) 平面間の高低差と傾斜角度の測定装置及び方法
JPH0712893Y2 (ja) 非接触3次元位置計測装置
JP2679236B2 (ja) 非接触式形状測定装置
JP2758810B2 (ja) 形状測定方法
JPS60218007A (ja) 物体形状の非接触倣い測定法
JP2572936B2 (ja) 形状測定機
JP2617392B2 (ja) 二重コーナキューブと二重コーナキューブによる移動体の方位、位置および姿勢計測法
JPS62174605A (ja) 非接触形状測定装置の指定断面上の寸法,形状の測定方法
JPS63187103A (ja) 三次元形状の非接触計測方法
Luo et al. Error analysis of robot detecting system with laser sensors in unknown environment
SU717534A1 (ru) Способ фотограмметрической калибровки систем оптического сканировани
JPS63253206A (ja) 形状計測装置