JPH01278973A - スポット溶接方法 - Google Patents

スポット溶接方法

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Publication number
JPH01278973A
JPH01278973A JP63106860A JP10686088A JPH01278973A JP H01278973 A JPH01278973 A JP H01278973A JP 63106860 A JP63106860 A JP 63106860A JP 10686088 A JP10686088 A JP 10686088A JP H01278973 A JPH01278973 A JP H01278973A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
welding
value
current
electrodes
spot
Prior art date
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Pending
Application number
JP63106860A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Aramaki
荒巻 卓博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Motors Corp
Original Assignee
Mitsubishi Motors Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Motors Corp filed Critical Mitsubishi Motors Corp
Priority to JP63106860A priority Critical patent/JPH01278973A/ja
Publication of JPH01278973A publication Critical patent/JPH01278973A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、スポット溶接方法に関し、特に各溶接打点ご
とに溶接電流制御を行なうスポット溶接方法に関する。
〔従来の技術〕
スポット溶接は、一対の電極としての溶接チップ間に溶
接する材料を挟持して一定の電流を流し、材料と溶接チ
ップとの間の接触抵抗による熱の発生で材料を溶融させ
て接着させるものであり、第2図(りの特性曲線に示す
ように、溶接打点ごとの接触抵抗Rは、時間Tとともに
変化する。
スポット溶接の打始めの1000打点程度の時期には、
具体的数値は打つ材料や溶接チップの材料によって異な
るものの、正常な溶接が行なわれていると、通電時間に
対する溶接チップ間の抵抗値は最初やや高い値を示し、
すぐに低下して、その後最初の抵抗値よりも上昇して、
最後にΔRの値だけ低下する。
このような溶接抵抗値の変化において、最初その値がや
や高いのは、溶接チップの先端径が小さく、十分な溶接
電流密度が得られるためであり、次いでこの値が低下し
、その後材料の溶融とともに抵抗値が上昇し、材料があ
る範囲溶融してナゲツトが十分生成されると、接触面積
が大きくなって抵抗値が下がるため、ΔRが生ずると考
えられる。
したがって、ΔRを測定することにより、溶接が正しく
行なわれたことの確認を得ることができる。
ところで、溶接打点が次第に増加していくと、第2図(
b)の特性曲線に示すように、初期抵抗値が若干減少し
、その後の抵抗値の上昇に続くΔRの値も小さくなる。
このような傾向を示すのは、溶接チップの先端径が消耗
により次第に大きくなり、ペタ当たりになることと、そ
の結果、溶接電流密度が低下して熱の発生が少なくなり
、ナゲツトの生成が十分に行なわれなくなるためである
と考えられている。
こうしたことから、従来、ΔRを測定して、このΔRの
値が十分に大きい(通常20μΩ〜30μΩ程度)時に
は溶接が正常に行なわれていると判定し、ΔRの値が不
足した場合には溶接不良が生じたと判定して、次の溶接
打点において溶接電流値を上げる(例えば、1万アンペ
アで溶接していた場合には1万1千アンペアに上げる)
ステップアップ操作が行なわれている。このようなステ
ップアップ操作が行なわれた場合の特性曲線は第2図(
c)に示すようになる。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上述のような従来の溶接電流の制御方法
では、溶接不良を発見してから、次の溶接打点で電流を
上げるという操作になるので、その間に溶接不良の打点
が1〜2打点生じてしまうという不具合がある。そこで
、これに対処すべ〈従来は、溶接不良の打点が生じるの
を予め見越して、その分だけ溶接打点を多く(例えば、
1割程度多く)設定している。
本発明は、このような問題点の解決をはかろうとするも
ので、各打点ごとの通電初期の電極間抵抗の大小が通電
中の以後の抵抗値の減少(ΔR)の有無に密接に関連す
ることに着目し、各打点ごとに通電初期の電極間抵抗の
大小により、通電中の以後の溶接電流値を制御すること
で、溶接不良打点の発生を未然に防止するとともに、溶
接打点数の減少をはかれるようにしたスポット溶接方法
を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上述の目的を達成するため、本発明のスポット溶接方法
は互いに対向する一対の電極により所要材料を挟持して
スポット溶接を行なうに際し、上記材料における溶接打
点ごとに上記一対の電極間における基準電流に対応した
初期抵抗を計測して、その計測値を基準値と比較し、次
いで上記計測値が上記基準値よりも低い場合に上記一対
の電極間に流す電流を上記基準電流よりも増加させる溶
接電流制御を行なってから、当該溶接打点より上記一対
の電極の挟持を解放させることを特徴としている。
〔作  用〕
上述の本発明のスポット溶接方法では、各溶接打点ごと
に通電初期の電極間抵抗を計測し、その計測値を基準値
と比較し、計測値が基準値よりも低い場合にその打点内
で溶接電流を増加させる操作が行なわれ、また計測値が
基準値以上の場合には溶接電流の増加操作は行なわれな
いので、結果として、各打点ごとの溶接電流の増減が行
なわれることとなり、常にナゲツト生成に必要な溶接電
流の供給が各溶接打点ごとに行なわれるようになる。
〔実施例〕
次に本発明の実施例について説明すると、第1図は本発
明の一実施例としてのスポット溶接方法における電極と
しての溶接チップ間の抵抗値の時間変化を示すもので、
(りは正常溶接時、(b)は溶接不良防止時を示してい
る。
本発明の一実施例としてのスポット溶接方法は、互いに
対向する一対の電極としての溶接チップにより、自動車
のボディー等の所要材料を挟持してスポット溶接を行な
うに際し、ボディー等の材料における各溶接打点ごとに
溶接チップ間における基準電流(例えば1万アンペア)
に対応した初期抵抗1を計測して、その計測値を基準値
と比較し、次いで計測値が基準値よりも低い場合に溶接
チップ間に流す電流を例えば1万2千アンペアに増加さ
せる溶接電流制御を行なってナゲツトの生成を十分に行
なわせてから、当該溶接打点よりの溶接チップの挟持の
解放を行なわせている。
このようにして溶接が行なわれると、打始めの一定期間
は正常な溶接が行なわれて、第1図(a)に示すように
溶接チップによる材料の挟持時にはチップ間の抵抗値は
やや高い値を示し、すぐに低下して、その後最初の抵抗
値よりも上昇し、最後にΔRの値だけ低下する。このよ
うな溶接が行なわれている限り、初期抵抗値が基準値を
下まわることはないので溶接電流は一定に保持される。
ところで、溶接打点が次第に増加していくと、第1図(
b)の特性曲線に示すように、初期抵抗値が若干減少す
る打点が現れ始める。そして、ある打点において初期抵
抗値が基準値を下まわると、直ちにその通電中の以後の
溶接電流が1万2千アンペアに増加される。この操作に
よって、本来第1図(b)の点線に示す経過をたどるで
あろう抵抗値が、実線に示すような抵抗値を示すように
なり、溶接が良好に行なわれたことを裏付ける十分なΔ
Rの値が確認されるようになる。
上述のように、本発明の一実施例としてのスポット溶接
方法によれば各打点ごとの溶接電流の増減が行なわれる
ので、常にナゲツトの生成に必要な溶接電流の供給が各
溶接打点ごとに行なわれるようになり、溶接不良打点の
発生が未然に防止される。
以上、本発明の一実施例について、その方法のみを詳述
したが、この方法を実施する装置としては、従来の装置
に、初期抵抗を計測する手段、基準値を設定する手段、
計測値と基準値とを比較し必要に応じて電流制御信号を
発する手段およびその信号によって電流を制御する手段
を付加すればよく、これらの手段は従来公知のものを用
いて実施可能なものである。
〔発明の効果〕
以上詳述したように、本発明のスポット溶接方法によれ
ば、スポット溶接の各溶接打点ごとに通電初期の電極間
抵抗の大小により通電中の以後の溶接電流の制御が行な
われるので、溶接不良打点の発生を未然に防止すること
ができる効果が得られるほか、それに伴い溶接打点数の
減少をはかることで溶接に要する時間の短縮をはかるこ
ができる利点も得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例としてのスポット溶接方法に
おける電極としての溶接チップ間の抵抗値の時間変化を
示すもので、(8)は正常溶接時、(b)は溶接不良防
止時を示すものであり、第2図は従来のスポット溶接方
法における電極としての溶接チップ間の抵抗値の時間変
化を示すもので、(1)は正常溶接時、(b)は溶接不
良時、(c)は溶接電流値ステップアップ後を示してい
る。 T・・通電時間、R・・電極間抵抗値。 代理人 弁理士 飯 沼 義 彦 同 阿部英幸 第1図 (a) (b) 第 2 図 (b) (C)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 互いに対向する一対の電極により所要材料を挟持してス
    ポット溶接を行なうに際し、上記材料における溶接打点
    ごとに上記一対の電極間における基準電流に対応した初
    期抵抗を計測して、その計測値を基準値と比較し、次い
    で上記計測値が上記基準値よりも低い場合に上記一対の
    電極間に流す電流を上記基準電流よりも増加させる溶接
    電流制御を行なってから、当該溶接打点より上記一対の
    電極の挟持を解放させることを特徴とする、スポット溶
    接方法。
JP63106860A 1988-04-28 1988-04-28 スポット溶接方法 Pending JPH01278973A (ja)

Priority Applications (1)

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JP63106860A JPH01278973A (ja) 1988-04-28 1988-04-28 スポット溶接方法

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JP63106860A JPH01278973A (ja) 1988-04-28 1988-04-28 スポット溶接方法

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ID=14444326

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6218638B1 (en) 1997-06-12 2001-04-17 Yazaki Corporation Method for inspecting the quality in resistance welding

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS594982A (ja) * 1982-06-29 1984-01-11 Dengensha Mfg Co Ltd 抵抗溶接用電流制御方法、装置
JPS6178579A (ja) * 1984-09-21 1986-04-22 Dengensha Mfg Co Ltd スポツト溶接用制御方法
JPS6254584A (ja) * 1985-08-31 1987-03-10 Toyota Motor Corp 抵抗点溶接機制御方法

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